「Defect」を含む例文一覧(18306)
＜前へ 1 2 .... 41 42 43 44 45 46 47 48 49 .... 366 367 次へ＞- DEVICE AND METHOD OF DETECTING DEFECT IN OF TAPE CARRIER
テープキャリアの欠陥検出装置および欠陥検出方法 - 特許庁 - The optical disk 1 includes a defect management area (DMS).
光ディスクには、一時的欠陥管理領域(DMA)が存在する。 - 特許庁 - SYSTEM FOR DISPLAYING AND CONTROLLING DEFECT IN OPTICAL RECORDING MEDIUM
光記録媒体における欠陥表示及び管理方式 - 特許庁 - DEFECT INSPECTING METHOD OF INTEGRATED CIRCUIT PATTERN, AND DEVICE FOR SAME
集積回路パターンの欠陥検査方法、及びその装置 - 特許庁 - APPARATUS AND METHOD FOR DETECTING SURFACE DEFECT
表面欠陥検出装置及び表面欠陥検出方法 - 特許庁 - DEFECT ANALYZING METHOD IN SEMICONDUCTOR PRODUCT MANUFACTURING PROCESS
半導体製品製造工程における欠陥解析方法 - 特許庁 - To provide a method that guarantees a defect or occurrence of a defect on a semiconductor wafer to be recognized at an early time.
半導体ウェーハ上のディフェクト又はディフェクト発生を早期に認識することを保証可能とする方法の提供。 - 特許庁 - To provide a silicon wafer having controlled defect distribution.
制御された欠陥分布を有するシリコンウェーハを提供する。 - 特許庁 - DEFECT DETECTION AND COMPENSATION APPARATUS, PROGRAM AND STORAGE MEDIUM
欠陥検出補正装置、及びプログラム、並びに記憶媒体 - 特許庁 - AUTOMATIC INSPECTION METHOD AND AUTOMATIC INSPECTION DEVICE OF CRYSTAL DEFECT
結晶欠陥の自動検査方法及び自動検査装置 - 特許庁 - To re-construct and operate a system without allowing the defect of one door to affect the defect of the entire part of the system.
１つの扉の不具合がそのままシステム全体の不具合に波及することなくシステムを再構築して運用する。 - 特許庁 - To provide an image display device whose pixel defect is inconspicuous.
画素の欠陥が目立たない画像表示装置を実現する。 - 特許庁 - METHOD AND APPARATUS FOR INSPECTING PIEZOELECTRIC CERAMICS FOR DEFECT
圧電セラミックスの欠陥検査方法及び欠陥検査装置 - 特許庁 - DETECTING METHOD FOR CRYSTALLINE DEFECT OF SILICON SINGLE CRYSTAL WAFER
シリコン単結晶ウェーハの結晶欠陥の検出方法 - 特許庁 - METHOD OF INSPECTING DEFECT IN CIRCUIT BOARD FOR FLAT PANEL DISPLAY, METHOD OF MANUFACTURING THIS CIRCUIT BOARD AND DEFECT INSPECTION DEVICE
フラットパネルディスプレイ用パネル回路基板の欠陥検査方法、当該パネル回路基板の製造方法及び欠陥検査装置 - 特許庁 - Thus, the address of the defect part can be accurately taken.
これにより、正確に欠陥部のアドレスを取ることができる。 - 特許庁 - To form a defect-free III nitride thin film/insulating film.
欠陥のないIII族窒化物薄膜／絶縁膜を形成する。 - 特許庁 - AUTOMATIC INSPECTING APPARATUS AND AUTOMATIC INSPECTING METHOD OF CRYSTAL DEFECT
結晶欠陥の自動検査装置及び自動検査方法 - 特許庁 - In a first defect check, the photographed image is converted in size, and the image is averaged in a prescribed size, and the defect is checked.
第１欠陥検査は、撮像画像をサイズ変換し、該画像を所定サイズで平均化処理して欠陥を検査する。 - 特許庁 - COMPOUND-EYE IMAGING APPARATUS AND CORRECTION METHOD OF IMAGING DEFECT PLACE
複眼撮像装置、及び撮像欠陥箇所の補正方法 - 特許庁 - To accurately detect the defect of the surface of a spherical transparent body, such as a glass ball, regardless of the shape of the defect.
例えばガラス玉などの球状透明体表面の欠陥を、その欠陥の形状によらず正確に検出する。 - 特許庁 - To provide an inspection apparatus and an inspection method for simultaneously detecting a phase defect and a pattern defect or a foreign substance.
位相欠陥と、パターン欠陥または異物とを、同時に検出可能な検査装置および検査方法を提供する。 - 特許庁 - To shorten a period of time required to acquire a signal for use in defect detection, without lowering the precision of defect detection.
欠陥の検出精度を下げることなく、欠陥検出に用いる信号を取得されるまでの時間を短縮する。 - 特許庁 - To provide a defect detector and a defect detection method having improved accuracy in detecting defects in a formed part.
成形部の欠陥の検出精度を向上させた欠陥検出装置および欠陥検出方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a method of ultrasonic flaw detection/examination for improving defect detection by facilitating detection of a defect waveform.
欠陥波形の検出を容易に行い、欠陥の探傷を向上できる超音波探傷試験方法を提供する。 - 特許庁 - A dual charged-particle beam system is automatically navigated to the vicinity of defect location using information from the defect file.
複式荷電粒子ビームシステムが、欠陥ファイルからの情報を用いて、自動的にその欠陥位置の近傍にナビゲートされる。 - 特許庁 - (A) Data for defect quantity estimation are previously found which show a relation between the defect quantities of the inspected body and the size of the reflected wave.
（Ａ）検査体の欠損量と反射波の大きさとの関係を示す欠損量推定用データを予め求める。 - 特許庁 - THIN FILM TRANSISTOR MATRIX SUBSTRATE AND DEFECT REPAIRING METHOD THEREOF
薄膜トランジスタマトリクス基板及びその欠陥修復方法 - 特許庁 - REPETITIVE PATTERN ERASING METHOD, DEFECT INSPECTION METHOD AND DEVICE
繰り返しパターン消去方法、欠陥検査方法及び装置 - 特許庁 - APPARATUS AND METHOD FOR DETECTION OF COATING DEFECT
塗装欠陥検出装置及び塗装欠陥検出方法 - 特許庁 - DEFECT EVALUATING APPARATUS OF UNDERGROUND STRUCTURE, DEFECT EVALUATING METHOD AND PROGRAM FOR MAKING COMPUTER EXECUTE THE SAME
土中構造物の欠陥評価装置、欠陥評価方法および欠陥評価方法をコンピュータに実行させるプログラム - 特許庁 - To detect a minute real defect on an optical proximity effect correction mask while suppressing the occurrence of a pseudo-defect.
擬似欠陥の発生を最大限抑えながら、光学近接効果補正マスク上の微細な実欠陥を検出する。 - 特許庁 - To execute an accurate defect fatalness evaluation, a yield prediction and a fault position specification in an in-line defect checking step.
インラインの欠陥検査工程において、高精度な欠陥致命性評価、歩留まり予測、故障個所特定を行うこと。 - 特許庁 - ORGANIC LIGHT EMITTING DISPLAY DEVICE AND DEFECT INSPECTION METHOD OF THE SAME
有機発光表示装置及びその欠陥検査方法 - 特許庁 - The edge defect detection device 1 includes a control device 6.
エッジ欠陥検出装置１は、制御装置６を備える。 - 特許庁 - PICTURE SIGNAL PROCESSOR AND METHOD FOR DETECTING PIXEL DEFECT
画像信号処理装置及び画素欠陥の検出方法 - 特許庁 - METHOD AND DEVICE FOR EVALUATING CRYSTAL DEFECT
結晶欠陥の評価方法及び結晶欠陥評価装置 - 特許庁 - PRODUCTION OF STAINLESS STEEL STRIP SMALL IN SURFACE MICRO- DEFECT
表面微小欠陥の少ないステンレス鋼帯の製造法 - 特許庁 - SEMICONDUCTOR DEVICE, AND METHOD FOR ANALYZING DEFECT OF SEMICONDUCTOR DEVICE
半導体装置及び半導体装置の不良解析方法 - 特許庁 - CONTACT DEFECT INSPECTING METHOD FOR SEMICONDUCTOR DEVICE, AND DEVICE THEREOF
半導体デバイスのコンタクト不良検査方法及びその装置 - 特許庁 - To make defect correction with sufficient accuracy even to the defect wherein complicated correction work is required and its difficulty is high.
複雑な修正作業を要する難易度の高い欠陥に対しても精度良く欠陥修正を行えるようにする。 - 特許庁 - To prevent paper wrinkling and a defect in fixation (hence, an image defect) by improving conveying properties for a paper and a belt.
用紙及びベルトの搬送性を向上させ、用紙のしわ及び定着不良（したがって画像不良）を防止すること。 - 特許庁 - OBSERVATION METHOD OF SURFACE DEFECT OF NITRIDE COMPOUND SEMICONDUCTOR
ナイトライド系化合物半導体の表面欠陥観察法 - 特許庁 - METHOD FOR REGISTERING DEFECT OF MAGNETIC DISK, AND MAGNETIC DISK APPARATUS
磁気ディスクの欠陥登録の方法及び磁気ディスク装置 - 特許庁 - Further, when the operator conducts it inputting with visually checking existence of a surface defect, defect marking is done to a corresponding position.
そして、オペレータが表面欠陥の存在を目視確認して入力すると、対応する位置に欠陥マーキングがなされる。 - 特許庁 - Data of leak current values are totaled for the entire wafer, and a degree of a defect for the entire wafer is calculated as a defect rate.
リーク電流値のデータをウェハ全体で集計し、ウェハ全体の不良の度合いを不良率として算出する。 - 特許庁 - To measure an internal defect of a sample with high resolution without breaking the sample.
試料の内部欠陥を高い分解能で測定する。 - 特許庁 - A recipe is then determined for further analysis of the defect.
次いで、欠陥の更なる分析のためにレシピが決められる。 - 特許庁 - To provide an AIN layer of large area with small defect density.
欠陥密度が小さく且つ大面積のＡｌＮ層を得る。 - 特許庁 - To provide a semiconductor device having a structure that can detect a short-circuit defect and an opening defect of a through electrode in a chip or a wafer.
貫通電極のショート不良およびオープン不良をチップまたはウェハ状態で検出可能な構造とする。 - 特許庁
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