「Defect」を含む例文一覧(18306)

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  • MATERIAL DEFECT DETECTING METHOD AND DEVICE
    材料欠陥検出方法および装置 - 特許庁
  • METHOD FOR REDUCING DEFECT CONCENTRATION IN CRYSTAL
    結晶中の欠陥濃度低減方法 - 特許庁
  • METHOD OF INSPECTING PLASTIC MOLDED PRODUCT FOR DEFECT
    プラスチック成型品の欠陥検査方法 - 特許庁
  • INSPECTION METHOD OF PATTERN DEFECT AND INSPECTION DEVICE THEREOF
    パターン欠陥検査方法および装置 - 特許庁
  • IMAGE PROCESSING DEVICE AND DEFECT INSPECTION DEVICE
    画像処理装置及び欠陥検査装置 - 特許庁
  • SURFACE DEFECT DETECTION METHOD AND DEVICE
    表面欠陥検出方法及び装置 - 特許庁
  • AUTOMATIC DEFECT INSPECTION DEVICE FOR FILM SURFACE
    フィルム表面の自動欠陥検査装置 - 特許庁
  • DEFECT DETECTION METHOD AND IMAGE PICKUP DEVICE
    欠陥検出方法および撮像装置 - 特許庁
  • MANUFACTURING METHOD FOR DEFECT-MARKED COIL
    欠陥マーキングされたコイルの製造方法 - 特許庁
  • METHOD AND APPARATUS FOR INSPECTION OF DEFECT
    欠陥検査方法と欠陥検査装置 - 特許庁
  • DEFECT MEASURING DEVICE AND METHOD OF SPECIMEN
    試料の欠陥測定装置及び方法 - 特許庁
  • METHOD FOR INSPECTING DEFECT OF DISPLAY PANEL
    ディスプレイパネルの欠陥を検査する方法 - 特許庁
  • DEFECT INSPECTING APPARATUS AND METHOD
    欠陥検査装置及び欠陥検査方法 - 特許庁
  • SURFACE DEFECT EVALUATION METHOD OF SILICON WAFER
    シリコンウェーハの表面欠陥評価方法 - 特許庁
  • METHOD FOR CORRECTING PIXEL DEFECT OF IMAGE PICKUP DEVICE
    撮像素子の画素欠陥補正方法 - 特許庁
  • To provide a defect inspection method and a defect inspection device with high detection sensitivity.
    検出感度の高い欠陥検査方法および欠陥検査装置を提供する。 - 特許庁
  • DEFECT ANALYZSIS DEVICE, METHOD, AND PROGRAM
    不良解析装置と方法及びプログラム - 特許庁
  • MICROSCOPE DEVICE WITH FUNCTION OF CORRECTING DEFECT
    欠陥修正機能付き顕微鏡装置 - 特許庁
  • DEFECT INSPECTION METHOD AND APPARATUS
    欠陥検査方法及び欠陥検査装置 - 特許庁
  • INFORMATION MEDIUM USING DEFECT INFORMATION
    欠陥情報を利用した情報媒体 - 特許庁
  • Hereby, the defect signal for showing the defect on the substrate 2 becomes easy to detect.
    これにより、基板２上の欠陥を表す欠陥信号が検出し易くなる。 - 特許庁
  • DEVICE, METHOD, AND PROGRAM FOR DEFECT DETECTION
    欠陥検出装置、方法、及びプログラム - 特許庁
  • DEFECT SURVEYING DEVICE FOR FLUID CONVEYING PIPE
    流体輸送管の欠陥部探査装置 - 特許庁
  • METHOD OF MEASURING DEFECT DENSITY IN SINGLE CRYSTAL
    単結晶の欠陥密度測定方法 - 特許庁
  • METHOD FOR DETECTING DEFECT USING LEAKAGE SURFACE ACOUSTIC WAVE, AND DEFECT DETECTING DEVICE
    漏洩弾性表面波を用いた欠陥検出方法及び欠陥検出装置 - 特許庁
  • METHOD OF DETECTING DEFECT IN SEMICONDUCTOR WAFER
    半導体ウェーハの欠陥検出方法 - 特許庁
  • DEFECT INSPECTING METHOD OF SUBSTRATE, AND PROGRAM
    基板の欠陥検査方法及びプログラム - 特許庁
  • METHOD FOR REMOVING DEFECT IN LIQUID CRYSTAL COLOR FILTER AND LIQUID CRYSTAL PANEL WITH DEFECT REMOVED
    液晶カラーフィルタの欠陥除去方法および欠陥除去された液晶パネル - 特許庁
  • Thereby, only a spot defect image 41, an allowable defect image 42, and a stain defect image 53 remain in the composite image 60, to thereby detect a defect surely.
    これにより、合成画像６０には、ブツ欠陥画像４１、許容欠陥画像４２、ヨゴレ欠陥画像５３のみが残り、欠陥を確実に検出することができる。 - 特許庁
  • DEFECT MANAGEMENT ENABLED PIRM AND METHOD
    欠陥管理可能ＰＩＲＭ及び方法 - 特許庁
  • To an entry registered in a TLB, "a defect frequency" and "a defect threshold " are added.
    ＴＬＢに登録されるエントリに「障害回数」、及び、「障害閾値」を追加する。 - 特許庁
  • METHOD AND DEVICE FOR PICTURE DEFECT DETECTION, AND PROGRAM FOR PICTURE DEFECT DETECTION
    画面欠陥検出方法及び装置並びに画面欠陥検出のためのプログラム - 特許庁
  • DEFECT DETECTION METHOD AND DEVICE OF SCREEN
    画面の欠陥検出方法及び装置 - 特許庁
  • STORAGE DEVICE FOR DETECTING DEFECT IN RECORDING MEDIUM, DEFECT DETECTING METHOD, AND PROGRAM
    記録媒体の欠陥を検出する記憶装置、欠陥検出方法、及びプログラム - 特許庁
  • To surely detect any defect at the time of detecting an image defect by template matching.
    テンプレートマッチングによる画像欠陥検出において欠陥を確実に検出する。 - 特許庁
  • APPARATUS AND METHOD FOR DEFECT-POSITION-INPUT SUPPORT
    欠陥位置入力支援装置・方法 - 特許庁
  • DEFECT INSPECTION DEVICE AND METHOD
    欠陥検査装置及び欠陥検査方法 - 特許庁
  • DEFECT INSPECTION METHOD AND DEVICE
    欠陥検査方法及び欠陥検査装置 - 特許庁
  • METHOD OF REPAIRING HALFTONE DEFECT OF PHOTOMASK
    フォトマスクのハーフトーン欠陥修正方法 - 特許庁
  • ARTICLE DEFECT INFORMATION DETECTOR AND ARTICLE DEFECT INFORMATION DETECTING/PROCESSING PROGRAM
    物品欠陥情報検出装置及び物品欠陥情報検出処理プログラム - 特許庁
  • DEFECT INSPECTION METHOD OF GLASS TUBE FOR VESSELS
    管球用ガラス管の欠陥検査方法 - 特許庁
  • SEMICONDUCTOR MEMORY DEFECT ANALYSIS DISPLAY SYSTEM
    半導体メモリ不良解析表示システム - 特許庁
  • LIQUID IMMERSION MICROSCOPE AND DEFECT INSPECTION APPARATUS
    液浸顕微鏡、及び欠陥検査装置 - 特許庁
  • DEFECT RELEVANCE DISPLAYING APPARATUS, SUBSTRATE TESTING APPARATUS, AND DEFECT RELEVANCE DISPLAYING METHOD
    欠陥関連性表示装置、基板検査装置、および欠陥関連性表示方法 - 特許庁
  • DEFECT ANALYSIS METHOD OF SILICON SINGLE CRYSTAL
    シリコン単結晶の欠陥解析方法 - 特許庁
  • DEFECT ANALYSIS METHOD FOR SEMICONDUCTOR DEVICE AND DEFECT ANALYSIS METHOD FOR SEMICONDUCTOR DEVICE
    半導体装置の不良解析方法及び半導体装置の不良解析システム - 特許庁
  • There is such a thing as a defect in a story.
    物語の欠陥のようなものです。 - 映画・海外ドラマ英語字幕翻訳辞書
  • An irregular defect is detected in image data wherein the point/strain defect is repaired in the point/strain defect repair process ST200 (irregular defect detection process ST300).
    点・シミ欠陥修補工程ＳＴ２００にて点欠陥・シミ欠陥が修補された画像データにおいてムラ欠陥を検出する（ムラ欠陥検出工程ＳＴ３００）。 - 特許庁
  • DEFECT DETECTION METHOD AND APPARATUS OF SCREEN
    画面の欠陥検出方法及び装置 - 特許庁
  • SURFACE DEFECT INSPECTION DEVICE FOR BAND LIKE BODY
    帯状体の表面欠陥検査装置 - 特許庁
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