「Defect」を含む例文一覧(18306)
＜前へ 1 2 .... 12 13 14 15 16 17 18 19 20 .... 366 367 次へ＞- SURFACE DEFECT INSPECTING DEVICE FOR STEEL PLATE
鋼板の表面欠陥検査装置 - 特許庁 - DEFECT OBSERVATION METHOD AND ITS DEVICE
欠陥観察方法及びその装置 - 特許庁 - DEFECT CORRECTION METHOD FOR GRADATION MASK
階調マスクの欠陥修正方法 - 特許庁 - DEFECT OBSERVATION DEVICE AND METHOD THEREOF
欠陥観察装置及びその方法 - 特許庁 - INSPECTION APPARATUS AND DEFECT INSPECTION METHOD
検査装置及び欠陥検査方法 - 特許庁 - INSPECTION DEVICE AND DEFECT INSPECTION METHOD
検査装置及び欠陥検査方法 - 特許庁 - DEFECT INSPECTION METHOD AND INSPECTION DEVICE
欠陥検査方法及び検査装置 - 特許庁 - In this defect detection method of the elongate member, the external defect, the surface defect and the internal defect of the elongate member 1 having the fixed sectional shape are detected.
断面形状が一定の細長部材１の外形欠陥、表面欠陥及び内部欠陥を検出する細長部材の欠陥検出方法。 - 特許庁 - STRUCTURE AND DEFECT SENSING DEVICE
構造体および損傷検知装置 - 特許庁 - DEFECT INSPECTION METHOD FOR HOLLOW FIBER MEMBRANE
中空糸膜の欠陥検査方法 - 特許庁 - DEFECT REVIEWING METHOD AND DEVICE THEREFOR
欠陥レビュー方法およびその装置 - 特許庁 - SPOT DEFECT DETECTION METHOD AND DEVICE
シミ欠陥検出方法及び装置 - 特許庁 - DEFECT INSPECTION DEVICE OF PERIODIC PATTERN
周期性パターンの欠陥検査装置 - 特許庁 - DEFECT INSPECTION METHOD AND ITS APPARATUS
欠陥検査方法およびその装置 - 特許庁 - INSPECTING SYSTEM AND DEFECT ANALYSIS APPARATUS
検査システム、及び、欠陥解析装置 - 特許庁 - DARK DEFECT CONCEALMENT METHOD OF IMAGE SENSOR
イメージセンサの暗欠陥隠蔽方法 - 特許庁 - An image of a detected defect is supplied to defect classifying means (36), and the defect is classified based on a shape of the defect image and brightness distribution.
検出された欠陥の画像は、欠陥分類手段（３６）に供給され、欠陥画像の形状及び輝度分布に基づいて欠陥が分類される。 - 特許庁 - METHOD FOR CORRECTING PHOTOMASK DEFICIENCY DEFECT
フォトマスク欠損欠陥修正方法 - 特許庁 - METHOD AND APPARATUS FOR INSPECTION OF DEFECT
欠陥検査方法及びその装置 - 特許庁 - INSPECTING DEVICE AND DEFECT INSPECTING METHOD
検査装置及び欠陥検査方法 - 特許庁 - DEFECT INSPECTING DEVICE AND INSPECTING METHOD
欠陥検査装置及び検査方法 - 特許庁 - DEFECT OBSERVATION METHOD AND ITS APPARATUS
欠陥観察方法及びその装置 - 特許庁 - DEFECT INSPECTION DEVICE OF PRESS FORMED ARTICLE
プレス成形品の欠陥検査装置 - 特許庁 - METHOD OF REPAIRING ILLUMINATED DEFECT OF PHOTOMASK
フォトマスクの白欠陥修正方法 - 特許庁 - DEFECT DETECTION METHOD OF METAL COMPONENT
金属部品の欠陥検出方法 - 特許庁 - I am having trouble with this defect right now.
今この不具合に困っています。 - Weblio Email例文集 - surgical correction of a defect of the palate
口蓋の異常の外科的矯正 - 日本語WordNet - APPARATUS AND METHOD FOR DEFECT INSPECTION
欠陥検査装置およびその方法 - 特許庁 - DEFECT CLASSIFICATION METHOD AND APPARATUS THEREFOR
欠陥分類方法及びその装置 - 特許庁 - IRREGULARITY DEFECT DETECTING METHOD AND APPARATUS
ムラ欠陥検出方法及び装置 - 特許庁 - EVALUATING METHOD OF INTERNAL DEFECT OF SAMPLE
試料内部欠陥の評価方法 - 特許庁 - DEFECT INSPECTION METHOD, AND DEVICE THEREFOR
欠陥検査方法およびその装置 - 特許庁 - DEFECT SORTING METHOD AND ITS DEVICE
欠陥分類方法及びその装置 - 特許庁 - DEFECT INSPECTION DEVICE AND ITS METHOD
欠陥検査装置およびその方法 - 特許庁 - DEFECT INSPECTION METHOD AND ITS DEVICE
欠陥検査方法およびその装置 - 特許庁 - DEFECT INSPECTING METHOD AND ITS DEVICE
欠陥検査方法およびその装置 - 特許庁 - SYSTEM AND METHOD FOR DEFECT INSPECTION
欠陥検査装置およびその方法 - 特許庁 - DEFECT CLASSIFICATION METHOD AND ITS DEVICE
欠陥分類方法及びその装置 - 特許庁 - METHOD AND APPARATUS FOR INSPECTING DETERIORATION IN DEFECT STATE OF DEFECT SECTOR
ディフェクトセクタのディフェクト状況の悪化を検査するための方法及び装置 - 特許庁 - IMAGE DEFECT INSPECTION METHOD, IMAGE DEFECT INSPECTION DEVICE, AND EXTERNAL APPEARANCE INSPECTION DEVICE
画像欠陥検査方法、画像欠陥検査装置及び外観検査装置 - 特許庁 - ON-LINE DEFECT REMOVING DEVICE OF METALLIC STEEL STRIP AND ITS DEFECT REMOVING METHOD
金属鋼帯のオンライン欠陥除去装置及びその欠陥除去方法 - 特許庁 - To evaluate defect detection sensitivity in inspection of a defect of a mask pattern.
マスクパターンの欠陥検査における欠陥検出感度の評価を行う。 - 特許庁 - DEFECT DETECTOR FOR LAMINATE FILM, AND METHOD OF DETECTING DEFECT OF LAMINATE FILM
ラミネートフィルムの欠陥検出装置及びラミネートフィルムの欠陥検出方法 - 特許庁 - METHOD FOR CORRECTING DEFECT OF PHOTOMASK, MANUFACTURING METHOD, AND DEFECT CORRECTION DEVICE
フォトマスクの欠陥修正方法、製造方法および欠陥修正装置 - 特許庁 - DEFECT CORRECTION DEVICE, DEFECT CORRECTION METHOD, AND PATTERN SUBSTRATE MANUFACTURING METHOD
欠陥修正装置、欠陥修正方法、及びパターン基板の製造方法 - 特許庁 - IMAGE DEFECT INSPECTION METHOD, IMAGE DEFECT INSPECTION DEVICE AND VISUAL INSPECTION DEVICE
画像欠陥検査方法、画像欠陥検査装置及び外観検査装置 - 特許庁 - DEFECT INSPECTION APPARATUS, DEFECT INSPECTION METHOD, AND MANUFACTURING METHOD FOR SEMICONDUCTOR DEVICE
欠陥検査装置、欠陥検査方法、及び半導体装置の製造方法 - 特許庁 - SEMICONDUCTOR DEFECT ANALYZING DEVICE AND DEFECT MODE CLASSIFYING METHOD USING THE SAME
半導体不良解析装置及びそれを用いた不良モード分類方法 - 特許庁 - IMAGE DEFECT INSPECTION METHOD, IMAGE DEFECT INSPECTION APPARATUS, AND APPEARANCE INSPECTION APPARATUS
画像欠陥検査方法、画像欠陥検査装置及び外観検査装置 - 特許庁 - COATING DEFECT INSPECTING METHOD, AND COATING DEVICE HAVING COATING DEFECT INSPECTION DEVICE
塗工欠陥検査法と、塗工欠陥検査装置を備えた塗工装置 - 特許庁
