「Defect」を含む例文一覧(18306)
＜前へ 1 2 .... 10 11 12 13 14 15 16 17 18 .... 366 367 次へ＞- DEFECT DETECTING METHOD AND DEVICE
欠陥検出方法および装置 - 特許庁 - SEAMING DEFECT INSPECTION METHOD OF CAN
缶の巻締め不良検査方法 - 特許庁 - The non-reviewed defect is supplied with the defect class having the identical definition, by using a defect data set which relates to defects of an inspection apparatus at a defect detection event, and the defect class of the reviewed defect given by an ADC of a review system.
欠陥検出時の検査装置の欠陥に関する欠陥データとレビュー済み欠陥のレビュー装置のADCで与えられた欠陥クラスを用いて，レビューしていない欠陥に対して同じ定義の欠陥クラスを付与する。 - 特許庁 - To provide a defect signal generating circuit capable of detecting a dark defect and a bright defect of an optical disk more exactly as a defect.
光ディスクの暗欠陥及び明欠陥をディフェクトとしてより正確に検出することが可能なディフェクト信号生成回路を提供する。 - 特許庁 - METHOD FOR DETECTING DEFECT IN SILICON WAFER
シリコンウェハの欠陥検出方法 - 特許庁 - DEFECT INSPECTION METHOD OF SEMICONDUCTOR DEVICE
半導体装置の不良検査法 - 特許庁 - A defect list for reproducing the defect management information from the defect management area is provided and the defect list is registered to a primary defect list to which the address of a defect found at the time of initialization is registered (step 21).
欠陥管理領域から欠陥管理情報を再生するための欠陥リストを備えて、この欠陥リストを、初期化時に発見された欠陥のアドレスを登録した一次欠陥リストに登録する（ステップ２１）。 - 特許庁 - DEFECT CONTROL BY OXIDATION OF SILICON
シリコンの酸化による欠陥低減 - 特許庁 - APPARATUS AND METHOD FOR DETECTION OF DEFECT
欠陥検出装置及び方法 - 特許庁 - CONSTRUCTION STRUCTURE DEFECT SENSOR
建築構造物損傷検知装置 - 特許庁 - DEFECT INSPECTION METHOD AND DEVICE
欠陥検査方法及びその装置 - 特許庁 - NONDESTRUCTIVE INSPECTION DEVICE FOR CONCRETE DEFECT
コンクリート欠陥非破壊検査装置 - 特許庁 - DEFECT DETECTION METHOD OF PRESS COMPONENT
プレス部品の欠陥検出方法 - 特許庁 - DEFECT DETECTION METHOD AND PROGRAM THEREFOR
欠陥検出方法及びプログラム - 特許庁 - DEFECT DETECTION METHOD FOR SPECTACLE LENS
眼鏡レンズの欠陥検出方法 - 特許庁 - DEFECT DETECTION SELECTION CORRECTION SYSTEM
欠陥検出選別修正システム - 特許庁 - DEFECT INSPECTION DEVICE FOR DISPLAY DEVICE
ディスプレイ装置の欠陥検査装置 - 特許庁 - PHOTORECEPTOR MEMBER DEFECT INSPECTION DEVICE
感光体部材欠陥検査装置 - 特許庁 - DEFECT MARKING SYSTEM TO THIN STEEL SHEET
薄鋼板への欠陥マーキングシステム - 特許庁 - DEFECT INSPECTING DEVICE OF LIQUID CRYSTAL PANEL
液晶パネルの欠陥検査装置 - 特許庁 - FILTER DESIGN METHOD, FILTER, DEFECT INSPECTION METHOD AND DEFECT INSPECTION DEVICE
フィルタの設計方法、フィルタ、欠陥検査方法および欠陥検査装置 - 特許庁 - PATTERN DEFECT ANALYSIS SUPPORT APPARATUS AND PATTERN DEFECT ANALYSIS SUPPORT PROGRAM
パターン欠陥解析支援装置およびパターン欠陥解析支援プログラム - 特許庁 - DEFECT REVIEW SYSTEM, DEFECT REVIEW METHOD AND METHOD FOR MANUFACTURING ELECTRONIC EQUIPMENT
欠陥レビューシステム、欠陥レビュー方法、及び電子装置の製造方法 - 特許庁 - SELF DISCHARGE DEFECT DETECTION DEVICE AND SELF DISCHARGE DEFECT DETECTION METHOD
自己放電不良検出装置および自己放電不良検出方法 - 特許庁 - HOLE FILLER DEFECT INSPECTION SYSTEM OF PRINTED BOARD AND DEFECT INSPECTION METHOD
プリント基板の穴充填部欠陥検査システム及び欠陥検査方法 - 特許庁 - CAM CAPABLE OF RESTORING COLUMN DEFECT AND COLUMN DEFECT RESTORATION METHOD
カラム欠陥復旧が可能なＣＡＭ及びカラム欠陥復旧方法 - 特許庁 - PAINTED SURFACE DEFECT INSPECTION METHOD AND PAINTED SURFACE DEFECT INSPECTION DEVICE
塗装表面欠陥検査方法及び塗装表面欠陥検査装置 - 特許庁 - A defect signal and defect position data are input to an FPGA-B 57.
欠陥信号、欠陥位置データはＦＰＧＡ−Ｂ５７に入力される。 - 特許庁 - DEFECT DETECTION METHOD FOR TRANSPARENT CONDUCTIVE FILM AND DEFECT DETECTION DEVICE THEREOF
透明導電膜の欠陥検出方法および欠陥検出装置 - 特許庁 - DESIGN METHOD OF FILTER, FILTER, DEFECT INSPECTION METHOD, AND DEFECT INSPECTION DEVICE
フィルタの設計方法、フィルタ、欠陥検査方法および欠陥検査装置 - 特許庁 - To efficiently detect a defect, while enhancing the accuracy of defect detection.
欠陥検出の精度を高めつつ、効率良く欠陥を検出する。 - 特許庁 - DEFECT INSPECTION METHOD AND DEFECT INSPECTION DEVICE OF SEALED HONEYCOMB STRUCTURE
目封止ハニカム構造体の欠陥検査方法及び欠陥検査装置 - 特許庁 - DEFECT INSPECTION METHOD AND DEFECT INSPECTION DEVICE FOR HONEYCOMB FILTER
ハニカムフィルタの欠陥の検査方法、及び、ハニカムフィルタの欠陥の検査装置 - 特許庁 - COATING DEFECT ANALYZING SYSTEM, COATING DEFECT ANALYZING METHOD AND COMPUTER PROGRAM
塗装欠陥解析システム、塗装欠陥解析方法及びコンピュータプログラム - 特許庁 - METHOD FOR DETECTING CONCRETE DEFECT DURING PLACING AND INSPECTION DEVICE OF THE DEFECT
打設中のコンクリート欠陥検出方法及び該欠陥の検査装置 - 特許庁 - METHOD FOR ANALYZING DEFECT OF MULTILAYER WIRING STRUCTURE AND DEFECT ANALYZING DEVICE
多層配線構造の不良解析方法および不良解析装置 - 特許庁 - DEFECT RECOGNIZING METHOD, DEFECT OBSERVING METHOD, AND CHARGED PARTICLE BEAM SYSTEM
欠陥認識方法、欠陥観察方法、及び荷電粒子ビーム装置 - 特許庁 - DEFECT MARK MARKING METHOD, AND METAL STRIP WITH DEFECT MARK MARKED THEREON
欠陥マークのマーキング方法および欠陥マークをマーキングした金属帯 - 特許庁 - To reliably correct a short-circuiting defect even when the defect is minute.
短絡欠陥が微小であっても、その欠陥を確実に修正する。 - 特許庁 - FOLDING DEFECT DETECTING METHOD, FOLDING DEFECT DETECTING DEVICE AND FOLDING MACHINE
折り不良検出方法及び折り不良検出装置並びに折り機 - 特許庁 - To provide a defect inspection device, a defect inspection system and a defect inspection method that use defect data for analysis without lowering the number of samples of a defect with a high killer rate.
キラー率が高い欠陥のサンプリング数を低下させずに欠陥データを解析に用いることが可能な欠陥検査装置、欠陥検査システム及び欠陥データ処理方法を提供する。 - 特許庁 - DEFECT PART MARKING METHOD AND DEVICE
欠陥部マーキング方法および装置 - 特許庁 - DISPLAY DEVICE FOR IC DEFECT ANALYSIS
ＩＣ不良解析用表示装置 - 特許庁 - DEFECT INSPECTING METHOD AND ITS APPARATUS
欠陥検査方法及びその装置 - 特許庁 - DEFECT INSPECTING METHOD FOR DRIVE BELT
駆動用ベルトの欠陥検査方法 - 特許庁 - INSPECTION DEVICE AND INSPECTION METHOD OF DEFECT
キズ検査装置および検査方法 - 特許庁 - DEFECT CORRECTING DEVICE FOR DISPLAY DEVICE
表示装置の欠陥修正装置 - 特許庁 - ANTIREFLECTION FILM DEFECT INSPECTION DEVICE
反射防止フィルム欠陥検査装置 - 特許庁 - DEFECT INSPECTION METHOD AND DEVICE THEREFOR
欠陥検査方法及びその装置 - 特許庁 - DEFECT REVIEW METHOD AND ITS DEVICE
欠陥レビュー方法及びその装置 - 特許庁
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