「Defect」を含む例文一覧(18306)
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転写箔欠点検査装置 - 特許庁 - DEFECT DETECTING OPTICAL SYSTEM AND SURFACE DEFECT INSPECTING APPARATUS
欠陥検出光学系および表面欠陥検査装置 - 特許庁 - DEFECT INSPECTION DEVICE AND DEFECT INSPECTION METHOD OF CRT PANEL
ＣＲＴパネルの欠陥検査装置及び欠陥検査方法 - 特許庁 - MEDIUM DEFECT INSPECTION DEVICE AND MEDIUM DEFECT INSPECTION METHOD
媒体欠陥検査装置、および媒体欠陥検査方法 - 特許庁 - DEFECT INSPECTION DEVICE AND DEFECT INSPECTION METHOD OF CIRCUIT PATTERN
回路パターンの欠陥検査装置および欠陥検査方法 - 特許庁 - PATTERN DEFECT DETECTING METHOD AND PATTERN DEFECT DETECTOR
パターン欠陥検出方法およびパターン欠陥検出装置 - 特許庁 - CRYSTAL DEFECT DETECTING METHOD
結晶欠陥検出方法 - 特許庁 - EVALUATION METHOD OF INTERNAL DEFECT
内部欠陥の評価方法 - 特許庁 - SURFACE DEFECT DETECTION METHOD
表面欠陥検出方法 - 特許庁 - DEFECT INSPECTION METHOD AND DEFECT INSPECTION DEVICE FOR METAL COMPONENT
金属部品の欠陥検査方法及び欠陥検査装置 - 特許庁 - DEFECT INSPECTION DEVICE AND DEFECT INSPECTION METHOD FOR DISPLAY DEVICE
表示体の欠陥検査装置および欠陥検査方法 - 特許庁 - METHOD FOR CORRECTING OPC MASK DEFECT AND DEFECT CORRECTION DEVICE
ＯＰＣマスク欠陥修正方法及び欠陥修正装置 - 特許庁 - OPTICAL DISK DEFECT PROCESSING DEVICE
光ディスク欠陥処理装置 - 特許庁 - BONDING DEFECT DETECTOR AND BONDING DEFECT DETECTION METHOD
接合不良検知装置、並びに、接合不良検知方法 - 特許庁 - DEFECT OBSERVATION METHOD FOR SUBSTRATE
基板の欠陥観察方法 - 特許庁 - SURFACE DEFECT INSPECTION METHOD AND SURFACE DEFECT INSPECTION DEVICE
表面欠陥検査方法および表面欠陥検査装置 - 特許庁 - SURFACE DEFECT INSPECTION DEVICE AND SURFACE DEFECT INSPECTION METHOD
表面欠陥検査装置および表面欠陥検査方法 - 特許庁 - DEFECT INSPECTION DEVICE AND METHOD FOR SETTING THRESHOLD OF DEFECT INSPECTION
欠陥検査装置および欠陥検査の閾値設定方法 - 特許庁 - DEFECT INSPECTION METHOD AND DEFECT INSPECTION APPARATUS OF MICROSTRUCTURE
微細構造物の欠陥検査方法及び欠陥検査装置 - 特許庁 - DEFECT INFORMATION STORAGE DEVICE AND DEFECT INFORMATION STORAGE METHOD
不良情報保存装置および不良情報保存方法 - 特許庁 - ARTICLE DEFECT INSPECTION APPARATUS AND ARTICLE DEFECT INSPECTION METHOD
物品の欠陥検査装置、及び、物品の欠陥検査方法 - 特許庁 - SUBSTRATE DEFECT INSPECTION SYSTEM AND SUBSTRATE DEFECT DETECTING METHOD
基板の欠陥検査システム及び基板の欠陥検出方法 - 特許庁 - SURFACE DEFECT INSPECTION METHOD AND SURFACE DEFECT INSPECTION SYSTEM
表面欠陥検査方法及び表面欠陥検査システム - 特許庁 - IMAGING APPARATUS, DEFECT CORRECTING CIRCUIT, AND DEFECT CORRECTING METHOD
撮像装置と欠陥補正回路および欠陥補正方法 - 特許庁 - SUBSTRATE DEFECT INSPECTION METHOD AND SUBSTRATE DEFECT INSPECTION SYSTEM
基板の欠陥検査方法および基板の欠陥検査システム - 特許庁 - DEFECT INFORMATION MANAGEMENT SYSTEM AND DEFECT INFORMATION MANAGEMENT METHOD
不具合情報管理システム及び不具合情報管理方法 - 特許庁 - DEFECT-INSPECTION OPTICAL SYSTEM AND SURFACE-DEFECT INSPECTION APPARATUS
欠陥検出光学系および表面欠陥検査装置 - 特許庁 - COLOR FILTER DEFECT INSPECTING METHOD
カラーフィルタ欠陥検査方法 - 特許庁 - A defect-full-length measuring means 10 measures the entire length of the defect based on the defect position information and the area of the defect.
欠陥全長測定手段１０は欠陥位置情報及び欠陥の面積から欠陥の全長を測定する。 - 特許庁 - DISPLAY DEVICE, DEFECT DETECTING SYSTEM AND DEFECT DETECTING METHOD
表示装置、欠陥検出システムおよび欠陥検出方法 - 特許庁 - DEFECT INSPECTION DEVICE FOR FACE PLATE
面板の欠陥検査装置 - 特許庁 - CIRCUIT DEFECT-DETECTING SYSTEM AND METHOD FOR DETECTING CIRCUIT DEFECT
回路欠陥検出システム及び回路欠陥検出方法 - 特許庁 - PATTERN DEFECT CORRECTION METHOD AND PATTERN DEFECT CORRECTION DEVICE
パターン欠陥修正方法およびパターン欠陥修正装置 - 特許庁 - TRANSPARENT PLATE DEFECT INSPECTION APPARATUS
透明板欠陥検査装置 - 特許庁 - DEFECT DETECTION APPARATUS, DEFECT DETECTION METHOD, AND COMPUTER PROGRAM
欠陥検出装置、欠陥検出方法及びコンピュータプログラム - 特許庁 - DEFECT INSPECTION APPARATUS AND DEFECT INSPECTION METHOD USING THE SAME
欠陥検査装置およびそれを用いた欠陥検査方法 - 特許庁 - METHOD FOR REPAIRING CASTING DEFECT
鋳物欠陥の補修方法 - 特許庁 - POLYIMIDE FILM HAVING LITTLE DEFECT
欠陥の少ないポリイミドフィルム - 特許庁 - DEFECT DETECTING DEVICE, DEFECT DETECTING METHOD, AND COMPUTER PROGRAM
欠陥検出装置、欠陥検出方法及びコンピュータプログラム - 特許庁 - METHOD FOR DETERMINING PHOTOMASK DEFECT
フォトマスク欠陥判定方法 - 特許庁 - SURFACE LAYER DEFECT DETECTION DEVICE
表層欠陥検出装置 - 特許庁 - DEFECT INSPECTION DEVICE AND DEFECT INSPECTION METHOD USING IT
欠陥検査装置およびそれを用いた欠陥の検査方法 - 特許庁 - UNDERWATER DEFECT INSPECTION DEVICE AND UNDERWATER DEFECT INSPECTION METHOD
水中欠陥検査装置及び水中欠陥検査方法 - 特許庁 - SURFACE DEFECT DETECTING METHOD
表面欠陥検出方法 - 特許庁 - A defect detection and correction part 40 is composed so that defect detection processing has a plurality of defect detection modes and defect correction processing has a plurality of defect correction modes.
欠陥検出修正部４０は、欠陥検出処理は複数の欠陥検出モードを有し、欠陥修正処理は複数の欠陥修正モードを有する。 - 特許庁 - To provide a defect inspection method capable of capturing surely a deformation defect, and discriminating easily the deformation defect and the other defect such as a foreign matter defect, and a defect inspection device.
変形欠陥の捕捉が確実に行えるとともに、変形欠陥と異物欠陥など他の欠陥との判別が容易に行える欠陥検査方法および欠陥検査装置の提供。 - 特許庁 - APPARATUS FOR ANALYZING SEMICONDUCTOR DEFECT
半導体不良解析装置 - 特許庁 - CYLINDRICAL BODY DEFECT INSPECTION APPARATUS
円筒体欠陥検査装置 - 特許庁 - METHOD OF ESTIMATING DEPTH OF DEFECT
欠陥深さの推定方法 - 特許庁 - CALCULATION METHOD OF DEFECT DENSITY
欠陥密度の算出方法 - 特許庁
- 特許庁
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