「Optical microscope」を含む例文一覧(1392)
＜前へ 1 2 .... 7 8 9 10 11 12 13 14 15 .... 27 28 次へ＞- To provide a microscope having a zooming mechanism and moving an aperture diaphragm in the direction of an optical axis when zooming.
ズーム機構を有し、ズーム時に開口絞りが光軸方向へ移動可能な顕微鏡を提供する。 - 特許庁 - GAS FIELD IONIZATION ION SOURCE, SCANNING CHARGED PARTICLE MICROSCOPE, OPTICAL AXIS ADJUSTMENT METHOD, AND SAMPLE OBSERVATION METHOD
ガス電界電離イオン源，走査荷電粒子顕微鏡，光軸調整方法、及び試料観察方法 - 特許庁 - DEVICE FOR CONVERGING WAVELENGTH OR WAVELENGTH REGION ON OPTICAL IRRADIATION PATH OF MICROSCOPE UNDER CONTROL
顕微鏡の照射光路における波長または波長領域を調整下で集束化するための装置 - 特許庁 - Of this reflected light, the light transmitted by the half mirror 23 is incident on the lens of an optical microscope 21.
この反射光のうち、ハーフミラー２３を透過した光は光学顕微鏡２１のレンズに入射する。 - 特許庁 - To provide an optical microscope that can accurately measure spectra in a short time, and to provide a method of measuring the spectra.
精度の高いスペクトル測定を短時間で行うことができる光学顕微鏡を提供すること。 - 特許庁 - The assembly 8 is provided with an interface 9 for connecting to an illumination/detection optical path 4 of the microscope.
アッセンブリ（８）は顕微鏡の照明・検出光路（４）への接続のためのインターフェース（９）を有している。 - 特許庁 - The optical diffractometer, much like the electron microscope, needs to be carefully aligned and calibrated.
光学回折計は電子顕微鏡とほぼ同じように、注意深く調節および較正される必要がある。 - 科学技術論文動詞集 - The crossover acts as an effective electron source for the electron optical system of the electron microscope.
クロスオーバは、電子顕微鏡の電子光学系に対して事実上の電子光源として働く(作用する)。 - 科学技術論文動詞集 - To provide a near-field light sensing optical system, whose noise level is low and by which a clear optical contrast can be obtained and to improve the reproducing resolution of an optical recording and reproducing apparatus and a near-field optical microscope.
ノイズレベルが低く鮮明な光学コントラストが得られる近接場光検出光学系を提供し、光記録再生装置および近接場光学顕微鏡の再生分解能を向上する。 - 特許庁 - To provide a near-field optical probe manufacturing method capable of analyzing fine optical properties of samples with a near-field optical microscope and recording high-density light with an optical information storage device.
近接場光顕微鏡で試料の微細光特性を分析することができ、光情報記憶装置で高密度の光を記録することが可能な近接場光プローブの製作方法を提供する。 - 特許庁 - METHOD AND APPARATUS FOR PRODUCING NEAR-FIELD OPTICAL PROBE, NEAR-FIELD OPTICAL PROBE, NEAR-FIELD OPTICAL MICROSCOPE, NEAR-FIELD MICRO MACHINING DEVICE AND NEAR- FIELD OPTICAL RECORDING REPRODUCING DEVICE
近接場光プローブの作製方法と近接場光プローブの作製装置、及び近接場光プローブ、近接場光学顕微鏡、近接場光微細加工装置、近接場光記録再生装置 - 特許庁 - By containing it, or by using it, for example, a three-dimensional memory material and a three-dimensional recording medium, an optical control material and an optical control element, a photocuring material and an optical modeling system, a fluorescence material for multiphoton fluorescence microscope, and a multiphoton fluorescence microscope, are constructed.
これを含有するか、用いて、例えば、三次元メモリ材料と三次元記録媒体、光制限材料と光制限素子、光硬化材料と光造形システム、多光子蛍光顕微鏡用蛍光材料と多光子蛍光顕微鏡を構成する。 - 特許庁 - The microscope has one or more optical elements (21a, 21b) having a micromirror alignment (80) having a lot of micromirrors (82) which are controllable and adjustable, and the selective optical deflection and/or division of an optical path passing through the microscope are available.
多数の制御、調節可能なマイクロミラー（８２）を有するマイクロミラー配列（８０）とした１以上の光学要素（２１ａ、２１ｂ）を有し、顕微鏡を通過する光線路の選択的な光学的偏向及び／又は分割が可能な顕微鏡。 - 特許庁 - To provide an optical apparatus system which has a microscope, etc., and with which the repair work, such as the specification of a failure point and the exchange of failure components is carried out immediately without moving optical apparatus in case of the occurrence of the failure in the optical apparatus system having a microscope, etc.
顕微鏡等を備えた光学機器システムおいて、故障が生じた場合に、光学機器を移動させずに、即座に、故障個所の特定、故障部品の交換等の修理作業を行うことができる光学機器システムを提供する。 - 特許庁 - To provide a total focus reflection type optical microscope capable of focusing on all the surface at the time of observing a super thin film sample on a substrate through a reflection type microscope.
基板上の超薄膜試料を反射型顕微鏡で観察する際に、全面に焦点が合うような全焦点反射型光学顕微鏡を提供する。 - 特許庁 - The microscopic observation device 100 has a laser scanning confocal microscope 110 and four optical scanning systems 130 for feeding exciting beams to the confocal microscope 110.
顕微鏡観察装置１００は、レーザー走査型共焦点顕微鏡１１０と、これに励起光のビームを供給する四系統の光走査系１３０を有している。 - 特許庁 - To provide an observation device capable of quickly specifying an observation position in case of a change from observation with an optical microscope into observation with an electron microscope.
光学顕微鏡による観察から電子顕微鏡による観察に切り換える場合に、観察位置を速やかに特定することができる観察装置を提供する。 - 特許庁 - The electric insulating member arranged on an optical axis between the microscope objective 1 and the microscope main body 2 and having the same screw diameter on both sides is used.
顕微鏡対物レンズ１と顕微鏡本体２との間の光軸上に配置され、両側が同一のネジ径を有する電気絶縁部材を用いることができる。 - 特許庁 - In the laser microscope, a line shaped optical beam generator (12) is used to convert laser beams into non-coherent optical beams that have divergence along one direction.
本発明では、レーザビームを一方向に発散性を有する非コヒーレントな光ビームに変換するライン状光ビーム発生装置(12)を用いる。 - 特許庁 - In one embodiment, an optical gadget to be fixed at a prescribed location in the central optical axis of an orthogonal operating system, such as a microscope, is provided.
一つの実施態様では、顕微鏡などの直交動作システムの中心光軸内の所定位置に固定する光学装置を提供する。 - 特許庁 - NEAR-FIELD OPTICAL PROBE UNIT, ITS PRODUCING SYSTEM AND METHOD, NEAR-FIELD OPTICAL MICROSCOPE AND METHOD FOR MEASURING SAMPLE USING NEAR-FIELD LIGHT
近接場光プローブユニット、その作製装置および作製方法、近接場光顕微鏡ならびに近接場光による試料測定方法 - 特許庁 - To provide an optical microscope system which allows disalignment of an optical axis to be corrected with an observation object kept still on a stage.
本発明では、ステージ上の観察対象物を静止させたまま光軸ずれを補正することができる光学顕微鏡システムを提供する。 - 特許庁 - To provide a positioning device for an optical member suppressing vibration when positioning an optical member, and to provide a microscope having the same.
光学部材を位置決めする際の振動を抑制することができる光学部材の位置決め装置と、これを有する顕微鏡を提供すること。 - 特許庁 - The probe microscope 1 is equipped with: a cantilever 2 with a probe 21; a displacement detecting optical system 3; an observing optical system 4; and objective lens 6A.
プローブ顕微鏡１は、探針２１を有するカンチレバー２と、変位検出光学系３と、観察光学系４と、対物レンズ６Ａとを備える。 - 特許庁 - To provide a microscopic optical system and microscope, capable of changing the focal distance of an imaging optical system, without having to replace an imaging lens.
結像レンズを交換することなく、結像光学系の焦点距離を変更可能な顕微鏡光学系及び顕微鏡を提供する。 - 特許庁 - This is related to the manipulator for an optical instrument, especially for a particle optical instrument, especially a lens stop manipulator in an electron microscope or a sample manipulator.
本発明は光学機器、特に粒子光学機器用マニピュレータ、特に電子顕微鏡における絞りマニピュレータまたは試料マニピュレータに関する。 - 特許庁 - To provide a compact transmission electron microscope allowing a fluorescent plate to be disposed on an optical axis of an electron beam and to be retreated from the electron beam optical axis.
蛍光板を電子線光軸上に配置および電子線光軸上から退避できるコンパクトな透過電子顕微鏡を提供する。 - 特許庁 - The electric microscope 1 includes an optical element switching device 31 that switches between observation cubes 29-1 and 29-2 disposed on an observation optical axis OA2.
電動顕微鏡１は、観察光軸ＯＡ２上に配置する観察キューブ２９−１，２を切り換える光学素子切換装置３１を備える。 - 特許庁 - As a focusing optical system adjusting device, a microscope object lens 21 is arranged opposing an exposure object lens 1 of the optical disk master exposure machine.
フォーカス光学系調整装置として、光ディスク原盤露光機の露光対物レンズ１に対向して、顕微鏡対物レンズ２１を配置する。 - 特許庁 - The microscope system is equipped with a stage, an objective optical system, an imaging optical system, an imaging section, a driving mechanism, a calibration controller, and an image processing section.
本発明の顕微鏡システムは、ステージ、対物光学系、結像光学系、撮像部、駆動機構、較正制御部、および画像処理部を備える。 - 特許庁 - To provide a scanning laser microscope attaining the synchronization of the scanning position of a 1st scanning optical system and the scanning position of a 2nd scanning optical system.
第一走査光学系の走査位置と第二走査光学系の走査位置の同期が図られた走査型レーザー顕微鏡を提供する。 - 特許庁 - To facilitate a focusing operation for an optical microscope or the like onto a sample surface or a backface of a cantilever, to allow automatic focusing by a simple method, and to make a focusing method suitable for automatic measurement, in a scanning type probe microscope compounded with the optical microscope.
光学顕微鏡等が複合された走査型プローブ顕微鏡で、試料表面やカンチレバーの背面への光学顕微鏡等の焦点合せ操作を容易に行え、簡易な方法で自動的な焦点合せを可能とし、測定の自動化に適した焦点合せ方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a thin layer oblique illumination method capable of detecting substances and molecules with high sensitivity by use of light and observing these with a low background and high sensitivity with an optical microscope by using an optical system equivalent to that of a microscope.
顕微鏡と同等の光学系を用いて光を使って物質や分子の高感度検出と光学顕微鏡における低背景・高感度観察が可能な薄層斜光照明法を提供する。 - 特許庁 - It is proposed that at least one optical element in the first microscope (2R) has a different optically effective diameter compared to at least one corresponding optical element in the second microscope (2L).
第１の顕微鏡（２Ｒ）における少なくとも１つの光学素子は、第２の顕微鏡（２Ｌ）における少なくとも１つの対応する光学素子に比べて、異なる光学的有効径を有することが提案される。 - 特許庁 - This device is provided with an optical microscope aligning mark 76, that is a guiding mark for controlling a position of a measuring cantilever C2 with respect to a specimen measuring terminal face using the optical microscope, on a back face of a measuring cantilever C2.
計測用カンチレバー［Ｃ２］の背面に、光学顕微鏡を用いて被検体測定端子面に対するカンチレバーの位置を制御するためのガイド用のマークである光学顕微鏡位置合せマーク［７６］を設けた。 - 特許庁 - This optical deflection unit 5 is insertably and removably disposed within the optical paths of the vertically illuminating light projection tube, differential interference microscope and polarizing microscope, by which the inexpensive vertically illuminating light projection tube, differential interference microscope and polarizing microscope capable of making the sharp color observation can be achieved without providing the space and mechanical structure for arranging the phase plate 2, such as the sharp color plate.
この光偏向ユニット５を落射投光管、微分干渉顕微鏡、偏光顕微鏡の光路内外に挿脱可能に備えることで、安価で、鋭敏色板等の位相射板を配置するスペースやメカ構造を設けることなく鋭敏色観察を行うことが可能な落射投光管、微分干渉顕微鏡、偏光顕微鏡を達成することができる。 - 特許庁 - To inexpensively provide an optical microscope without any irregular illumination while securing a large numerical aperture and a wide field.
大きな開口数と広い視野を確保しつつ、照明ムラのない光学顕微鏡を安価で提供すること。 - 特許庁 - It is preferable to carry out the measurement of the conductive particles by using an optical microscope in a scale factor of 200 times.
導電性粒子の計測が、２００倍の光学顕微鏡を用いて行うものであると好ましい。 - 特許庁 - An image processing section detect contact based on the image of the probe group 8 picked up by means of an optical microscope 10.
画像処理部は、光学顕微鏡１０が撮像した触針群８の画像に基づいて接触を検知する。 - 特許庁 - To provide an optical microscope that achieves lightening of mass of a portion to be driven without causing complication of a structure.
構造の複雑化を招くことなく被駆動部分の質量を軽量化できる光学顕微鏡を提供する。 - 特許庁 - To provide an optical microscope capable of carrying out measurement with high resolution, and a spectral measurement method.
高い分解能の測定を行うことができる光学顕微鏡、及び分光測定方法を提供すること。 - 特許庁 - A light outputted from the light source 170 is supplied through an optical cable 152 to the microscope 153.
光源装置１７０から出力される光は、光ケーブル１５２を介して顕微鏡１５３に供給される。 - 特許庁 - To reduce the size and production costs of an optical microscope blocking light or maintaining the specimen environment.
遮光または試料環境を維持することが可能な光学顕微鏡の小型化および低コスト化を図る。 - 特許庁 - To provide a microscope system for visually recognizing a weak optical image of a biological sample in a live image.
生体試料の微弱光画像をライブ画像中で視認することができる顕微鏡システム等を提供する。 - 特許庁 - To optimize a non-confocal detection optical system in accordance to a setting of a multi-photon excitation microscope.
多光子励起顕微鏡の設定に応じて、非共焦点検出光学系を最適化する技術を提供する。 - 特許庁 - To provide an optical scanning type confocal microscope capable of spectrally detecting fluorescence with sufficient light intensity.
蛍光の分光検出を十分な光強度で行なえる光走査型共焦点顕微鏡を提供する。 - 特許庁 - NEAR-FIELD OPTICAL PROBE AND ITS MANUFACTURING METHOD, AND MICROSCOPE, RECORDING/REPRODUCING DEVICE, AND FINE- MACHINING DEVICE USING THEM
近接場光プローブとその作製方法、及びこれらを用いた顕微鏡、記録再生装置、微細加工装置 - 特許庁 - This eyecup can be used in other optical devices, such as an astronomical telescope and binoculars, besides a microscope 1 used for an operation.
また、手術顕微鏡１の他に天体望遠鏡や双眼鏡などの他の光学装置にも適用できる。 - 特許庁 - To provide an optical microscope suitable to observe a transparent sample in real time in a non-destructive state.
透明な標本を非破壊でリアルタイム性をもって観察するのに好適な光学顕微鏡を提供する。 - 特許庁 - To provide a near-field optical microscope whose sensitivity is excellent and which is constituted so that feedback control can be precisely executed.
優れた感度をもち、正確にフィードバック制御することができる近視野光学顕微鏡を提供する。 - 特許庁
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