「Optical microscope」を含む例文一覧(1392)
＜前へ 1 2 .... 5 6 7 8 9 10 11 12 13 .... 27 28 次へ＞- OPTICAL MICROSCOPE CONDENSER FOR BRIGHT AND/OR DARK FIELD ILLUMINATION
光顕微鏡用の明視野照明および／または暗視野照明のためのコンデンサ装置 - 特許庁 - METHOD TO GRASP AT LEAST ONE SAMPLE REGION USING OPTICAL RASTER MICROSCOPE
光ラスタ顕微鏡を用いて少なくとも一つの試料領域を把握するための方法 - 特許庁 - To provide a motor-driven microscope capable of making easy an operation when replacing an optical element.
光学素子を交換する際の操作が簡単な電動顕微鏡を提供すること。 - 特許庁 - This invention can be applied, for instance to the microscope including a plurality of the lighting optical systems.
本発明は、例えば、複数の照明光学系を備える顕微鏡に適用できる。 - 特許庁 - To provide an optical microscope for obtaining a bright image, and an observation method.
明るい画像を得ることができる光学顕微鏡、及び観察方法を提供する。 - 特許庁 - SCANNING PROBE MICROSCOPE AND METHOD AND AUXILIARY JIG FOR ADJUSTING OPTICAL AXIS THEREOF
走査型プローブ顕微鏡、その光軸調整方法、および光軸調整用補助具 - 特許庁 - To enable a DNA chip showing strong contrast to be observed with an optical microscope.
強いコントラストを示すＤＮＡチップの光学顕微鏡による観察を可能とすること。 - 特許庁 - The invention is related to the image forming optical system of an operation microscope (100), for example.
本発明は、たとえば手術用顕微鏡（１００）の結像光学系に関する。 - 特許庁 - ELECTRON BEAM ADJUSTING METHOD, CHARGED PARTICLE OPTICAL SYSTEM CONTROL DEVICE, AND SCANNING ELECTRON MICROSCOPE
電子ビームの調整方法，荷電粒子光学系制御装置、及び走査電子顕微鏡 - 特許庁 - DISK, AND CELL COUNTING AND OBSERVATION APPARATUS OF CELLS BY OPTICAL MICROSCOPE USING DISK
ディスク及び該ディスクを用いた光学式顕微鏡による細胞の計数観察装置 - 特許庁 - To perform correction of machine difference for every optical system of an electron microscope without complicating it.
電子顕微鏡の電子光学系毎の機差補正を複雑にすることなく行う。 - 特許庁 - MOTOR DRIVEN TURRET DEVICE AND MICROSCOPE HAVING THE SAME AND METHOD OF POSITIONING OPTICAL ELEMENT
電動ターレット装置及びこれを備えた顕微鏡及び光学素子の位置決め方法 - 特許庁 - A revolver dark field-lighting optical path R2 and an observation optical path R1 are ensured in the state where an objective lens optical axis coincides with a microscope optical path.
対物レンズ光軸ＯＬと顕微鏡光軸ＲＬとが一致している状態ではレボルバ暗視野照明光路Ｒ２と観察光路Ｒ１とは確保されている。 - 特許庁 - In the inverted microscope, each of optical paths is set so that an optical path P15 and an optical path P17 of an image forming optical system 202 are orthogonally intersect each other when viewed from above.
倒立顕微鏡では、結像光学系２０２の光路P１５と光路P１７とが、上方から見たときに、互いに直交するように、各光路が設定されている。 - 特許庁 - This scanning probe microscope having the optical microscope capable of observing a prove is equipped with an image sensor for taking in an optical microscope image as a digital image; and a processing device processing the image taken in.
プローブを観察することができる光学顕微鏡を備えた走査型プローブ顕微鏡において、光学顕微鏡像をデジタル画像として取り込むための撮像素子と、取り込まれた画像を処理することのできる処理装置を備える。 - 特許庁 - NEAR FIELD LIGHT GENERATION EQUIPMENT, NEAR FIELD OPTICAL MICROSCOPE USING THE SAME, OPTICAL RECORDING AND REPRODUCING DEVICE, AND SENSOR
近接場光発生器およびそれを用いた近接場光学顕微鏡および光記録／再生装置およびセンサ - 特許庁 - To provide a microscope device capable of being smoothly switched from a visible light optical system to an ultraviolet ray optical system.
可視光光学系と紫外光光学系の切換えを円滑に行なうことができる顕微鏡装置を提供する。 - 特許庁 - To easily measure a deviation of an optical axis of an optical microscope used in an alignment sensor or an overlay inspecting instrument.
アライメントセンサー又はオーバーレイ検査装置で使用される光学式顕微鏡の光軸ずれを簡単に測定すること。 - 特許庁 - To achieve the reduction of cost and the miniaturization of a color scanning microscope equipped with a confocal optical system and a white light optical system.
共焦点光学系と白色光光学系とを備えて、カラーの走査顕微鏡のコストダウンと小型化を図る。 - 特許庁 - To obtain an illuminating device for a microscope which prevents the efficiency of coupling with an optical fiber from lowering due to deviation of an optical axis occurring on and after a coupling lens.
カップリングレンズ以降において発生した光軸ズレによる光ファイバへの結合効率の低下を防止する。 - 特許庁 - METHOD OF EVALUATING CELL FUNCTION, EVALUATION SYSTEM OF CELL FUNCTION, FLUORESCENCE MICROSCOPE SYSTEM, OPTICAL TREATMENT METHOD AND OPTICAL TREATMENT SYSTEM
細胞機能の評価方法、細胞機能の評価システム、蛍光顕微鏡システム、光治療方法、及び光治療システム - 特許庁 - After drawing the optical fiber, the optical fiber is cut, and the hole diameters d and the intervals A between holes are measured with an electron microscope.
光ファイバ線引き後、その光ファイバを切断し、電子顕微鏡で孔径ｄ及び孔間隔Ａを測定した。 - 特許庁 - To provide an inverted microscope capable of selecting a plurality of branched optical paths without deteriorating rigidity and optical performance.
剛性と光学性能を劣化させることなく、複数の分岐光路を選択できる倒立顕微鏡を提供する。 - 特許庁 - Moreover, the microscope is equipped with angle changing means 26-28 changing the angle of the incident optical axis O2 that the light is made incident on the microscope for the assistant 3.
また、助手用顕微鏡３に入射させる入射光軸Ｏ２の角度を変更する角度変更手段２６−２８を備えている。 - 特許庁 - To realize a laser microscope and a color laser microscope with which a high resolution sample image is picked up without using an expensive acoustic optical element.
高価な音響光学素子を用いることなく、高解像度の試料像を撮像できるレーザ顕微鏡及びカラーレーザ顕微鏡を実現する。 - 特許庁 - The surgical microscope regulating an observation optical path where a beam splitter is disposed is the microscope of a system where the optical path of a camera is regulated by the beam splitter and the camera is disposed in the optical path of the camera.
ビームスプリッタが配設される観察光路を規定する手術用顕微鏡であって、該ビームスプリッタによってカメラ光路が規定され、かつ該カメラ光路にカメラが配設される形式の手術用顕微鏡を提供する。 - 特許庁 - To provide a scanning type optical microscope which can have its confocal pinhole position easily aligned with the optical axis of the light from a sample and a confocal pinhole adjusting method for the scanning type optical microscope.
共焦点ピンホール位置を簡単に標本からの光の光軸に一致させることが可能な走査型光学顕微鏡および該走査型光学顕微鏡の共焦点ピンホール調整方法を提供する。 - 特許庁 - At least one partition 32 out of the partitions 31 to 33 is held in the optical path so that it can move between an insertion position where it is arranged in the optical path of the microscope and a retreat position where it is retreated from the optical path of the microscope.
光路隔壁の少なくとも一部（３２）は、顕微鏡の光路中に配置される挿入位置と、顕微鏡光路から退避した退避位置との間で移動可能に光路内に保持されている。 - 特許庁 - The focal position, i.e. the position of the microscope sample with respect to an objective lens is measured by using an objective lens type reflective optical system of a numerical aperture ≥1.3 under the optical microscope.
光学顕微鏡下において、開口数１.３以上の対物レンズ型全反射光学系を用いて、焦点位置、つまり、対物レンズに対する顕微試料の位置を計測する。 - 特許庁 - In the sample producing apparatus, a position adjusting process of an optical microscope 15 and a position adjusting process of a shield 12 using the optical microscope 15 are carried out before working the sample.
図１の試料作製装置においては、試料加工前に、光学顕微鏡１５の位置調整と、その光学顕微鏡１５を用いた遮蔽材１２の位置調整が行われる。 - 特許庁 - To provide an illuminator for an optical microscope, the illuminator using a silicone based resin enclosure type LED element as a light source, or to provide the optical microscope having such an illuminating part.
光源としてシリコン系樹脂封入型ＬＥＤ素子を用いた光学顕微鏡用の照明装置又はそのような照明部を有する光学顕微鏡を提供を提供すること。 - 特許庁 - The electron microscope 5 for observing a defect detected by the optical defect inspection device or the optical appearance inspection device has a constitution wherein an optical microscope 14 for re-detecting the defect is loaded, and a distribution polarization element and a space filter are inserted onto a pupil surface when performing dark field observation by the optical microscope 14.
光学式欠陥検査装置または光学式外観検査装置で検出した欠陥を観察する電子顕微鏡5において、欠陥を再検出する光学顕微鏡14を搭載し、この光学顕微鏡14で暗視野観察する際に瞳面に分布偏光素子及び空間フィルタを挿入する構成とする。 - 特許庁 - An electronic microscope 5, for observing defects detected by an optical defect inspection apparatus or an optical visual inspection apparatus, is configured in such a manner that an optical microscope 14 for redetecting defects is mounted thereupon and that a distribution polarization element and a spatial filter are inserted in its pupil surface, when the optical microscope 14 is used to observe dark field.
光学式欠陥検査装置または光学式外観検査装置で検出した欠陥を観察する電子顕微鏡5において、欠陥を再検出する光学顕微鏡14を搭載し、この光学顕微鏡14で暗視野観察する際に瞳面に分布偏光素子及び空間フィルタを挿入する構成とする。 - 特許庁 - An optical element module packaging part 26, an optical element module lens part 27, a microscope and a centering device 21 are prepared for the method of manufacturing the optical element module 22.
光素子モジュール２２の製造方法は、光素子モジュールパッケージ部２６と光素子モジュールレンズ部２７と顕微鏡及び調心装置２１とを準備する。 - 特許庁 - The apparatus is further equipped with a wavelength selective optical filter, spatial optical filter, condenser, proximity scanning optical microscope apparatus, and a mask for photolithography.
本装置はさらに波長選択光学フィルター、空間光学フィルター、集光器、近接走査光学顕微鏡装置，およびフォトリソグラフィーマスクをも備える。 - 特許庁 - To provide an optical axis correcting method for a microscope, capable of automatically measuring a shift amount of an optical axis between magnifications in a microscope having a zoom lens, and automatically correcting the position of an imaged object in each magnification of the microscope according to the measured shift amount of the optical axis.
ズームレンズを備える顕微鏡における倍率間の光軸のずれ量を自動的に測定し、測定された光軸のずれ量に基づいて顕微鏡の各倍率における被撮像物の位置を自動的に補正することができるような顕微鏡の光軸補正方法を提供する - 特許庁 - A front case 800A and a rear case 800B are attached to the base housing part 50 so as to cover over the atomic force microscope 10, the optical microscope 20 and the microscope coupling member 40.
ベース筐体部５０には、原子間力顕微鏡１０、光学顕微鏡２０および顕微鏡連結部材４０を覆うように、フロントケース８００Ａおよびリアケース８００Ｂが取り付けられる。 - 特許庁 - To identify a cell to be observed using an electron microscope among floating cells in a liquid, by using an optical microscope, and observe the identified cell in detail by using the electron microscope.
液体中に浮遊している浮遊細胞の中から、電子顕微鏡の観察対象とすべき細胞を、光学顕微鏡を用いて特定し、その特定した細胞を電子顕微鏡で詳細に観察する。 - 特許庁 - A state of a probe tip is observed therein by an optical microscope, an electron microscope or an ion microscope, and the rotation of the low-vibration stepping motor is stopped when the micro sample is directed along a desired direction.
この時プローブ先端の様子を工学顕微鏡、電子顕微鏡、あるいはイオン顕微鏡により観察し、微小試料が所望の向きになった時点で低振動ステッピングモータの回転を止める。 - 特許庁 - OPTICAL SYSTEM ADJUSTING METHOD, OPTICAL RECORDING AND REPRODUCING DEVICE UTILIZING THE SAME, MICROSCOPE DEVICE, AND MACHINING DEVICE
光学系調整方法、並びにその光学系調整方法を利用した光記録再生装置、顕微鏡装置及び加工装置 - 特許庁 - The microscope 1 for surgical operation includes an illumination optical system 20, an observation optical system 30 and a controller 60.
手術用顕微鏡装置１は、照明光学系２０、観察光学系３０及び制御部６０を含んで構成される。 - 特許庁 - The unpredictable brightness unevenness which is caused by an optical system and the like of the optical microscope 300 can be corrected.
これにより、光学顕微鏡３００の光学系等に起因する予測することが難しい明度ムラを補正することができる。 - 特許庁 - To provide an optical system of a reduced noise having a long WD, and an optical apparatus such as a near-field microscope using the same.
ＷＤが長く、ノイズの少ない光学系及びそれを用いた近接場顕微鏡等の光学装置を提供すること。 - 特許庁 - An operator performs alignment between the optical elements, while detecting the position of the mark 11a-2 with an optical microscope.
作業者は、そのマーク１１ａ−２の位置を光学顕微鏡によって検出しながら、光学素子間の位置合わせを行う。 - 特許庁 - Consequently, the optical axis of the eyepiece lens of the microscope 20 corresponds with the optical axis of the imaging lens of the data visual presenter 100.
これにより、顕微鏡２０の接眼レンズの光軸と資料提示装置１００の撮像レンズの光軸が一致する - 特許庁 - OPTICAL WAVEGUIDE PROBE, ITS MANUFACTURE, AND SCANNING NEAR-FIELD ATOMIC FORCE MICROSCOPE USING SAME OPTICAL WAVEGUIDE PROBE
光導波路プローブおよびその製造方法、並びにその光導波路プローブを用いた走査型近接場原子間力顕微鏡 - 特許庁 - Then, a working position of the sample is determined by using the optical microscope whose position is adjusted.
その後、位置調整が行われた光学顕微鏡が用いられて試料加工位置が決められる。 - 特許庁 - To realize a high-sensitivity optical microscope capable of observing a dark sample image with the naked eye.
暗い標本像を肉眼で観察することが可能な高感度光学顕微鏡を実現する。 - 特許庁 - To provide an optical microscope, which makes autofocusing possible by a light source for observation of an object.
対象物の観察用光源によりオートフォーカスできる光学式顕微鏡を提供すること。 - 特許庁 - To provide an optical microscope whose initial state can easily and precisely be set.
初期状態の設定を簡単に、精度よく行なうことができる光学顕微鏡を提供する。 - 特許庁
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