「Optical microscope」を含む例文一覧(1392)
＜前へ 1 2 .... 6 7 8 9 10 11 12 13 14 .... 27 28 次へ＞- MICROSCOPE EQUIPPED WITH OPTICAL ELEMENT PROVIDED WITH ANTIREFLECTION FILM AND IMAGING APPARATUS USED THEREFOR
反射防止膜を設けた光学素子を備えた顕微鏡及びこれに用いられる撮像装置 - 特許庁 - The inverted microscope body 1 is provided with an optical path switching prism 13 below the revolver stand 6.
倒立顕微鏡本体１はレボルバー保持台６の下方に光路切換プリズム１３を備えている。 - 特許庁 - To facilitate a work of achieving an optical image and an electron microscope image at the same display size.
同一の表示サイズでの光学画像と電子顕微鏡画像の取得作業を容易にする。 - 特許庁 - CONDENSING METHOD, CONDENSING DEVICE, NEAR-FIELD OPTICAL MICROSCOPE APPLYING THEM, AND STORAGE DEVICE
集光方法、集光装置、これらを適用した近接場光学顕微鏡及びストレージ装置 - 特許庁 - INFORMATION PROCESSOR, INFORMATION PROCESSING METHOD, PROGRAM, AND IMAGING APPARATUS WITH OPTICAL MICROSCOPE MOUNTED THEREON
情報処理装置、情報処理方法、プログラム、及び光学顕微鏡を搭載した撮像装置 - 特許庁 - The wave-optical theory of electron microscope images can be expressed in terms of a two-stage Fourier transform.
電子顕微鏡像の波動光学理論は、2段階のフーリエ変換で表わすことができる。 - 科学技術論文動詞集 - To eliminate an adverse effect exerted on an inverted microscope when an observation device such as a heavy image pickup device is arranged at an optical path under the inverted microscope.
大重量の撮像装置などの観察装置を倒立顕微鏡の下方の光路に配置する場合に、倒立顕微鏡への悪影響をなくす。 - 特許庁 - This microscope has a structure that the light path of the central visual axis (optical axis) of the microscope is made to take a detour once by using mirrors 14, 151 to 15m and return.
本発明では、ミラー１４，１５１〜１５ｍを使って顕微鏡の中心視線（光軸）の光路を一旦迂回させて戻すという構造をとる。 - 特許庁 - The microreactor may be combined with an optical microscope in order to inspect by a scanning transmission type electron microscope and inspect by a soft X-ray in the range of 250-300 eV.
当該マイクロリアクターは、走査型透過電子顕微鏡での検査、250-300eV範囲での軟X線での検査等のため、光学顕微鏡と併用されて良い。 - 特許庁 - To provide an inverted microscope where an ocular is positioned at height at which an observer can easily observe and a stage is low in height while the inverted microscope is a simple optical system.
簡単な光学系でありながら、観察者が観察しやすい高さに接眼レンズがあり、かつ、ステージの高さの低い倒立顕微鏡を提供する。 - 特許庁 - To provide a relay optical system with which an image pickup unit is attached to a microscope without causing structural interference between the microscope and the image pickup unit.
顕微鏡と撮像装置とが構造的な干渉を起こすことなく顕微鏡に撮像装置を装着できるようにするリレー光学系を提供する。 - 特許庁 - To provide an infrared microscope which uses an optical microscope and a CCD camera, is relatively inexpensive, and can observe the inner side of an electronic component, etc., without destruction.
光学顕微鏡とＣＣＤカメラを用いた比較的安価で、電子部品等の内部を非破壊で観察可能な赤外顕微鏡を提供する。 - 特許庁 - The user also retrieves an observed region of the sample with the atomic force microscope during observing the sample with the optical microscope (step S2b).
また、使用者は、光学顕微鏡による試料の観察時に原子間力顕微鏡による試料の観察対象領域の探索も行う（ステップＳ２ｂ）。 - 特許庁 - Instead of changing the magnification of the microscope by switching an objective mirror or objective lens, the magnification is changed by switching an imaging optical system in the microscope.
対物鏡あるいは対物レンズを切り替えて顕微鏡の倍率を変更する替りに、顕微鏡内部の結像光学系を切り替えて倍率を変更する。 - 特許庁 - The microscope 150 is placed by the microscope stage moving table 113 so that its optical axis approximately coincides with a rotation axis 116 of the air spindle 102.
顕微鏡１５０は、顕微鏡ステージ移動テーブル１１３により、その光軸がエアースピンドル１０２の回転軸１１６と概略一致するように配置される。 - 特許庁 - The optical inspection instrument, for instance, a change device for a microscope includes a changing optical element which includes two optical paths for a first optical image and is rotatably arranged in the change device.
光学検査装置、例えば顕微鏡用の変更装置は、第１の光学像用の２つの光路を含み、変更装置内に回転可能に配置された変更光学素子を備える。 - 特許庁 - To provide an optical element for optical dispersion which permits the easy spectroscopic analysis of an observed image simply by being inserted into an optical path of a microscope and can easily coordinate the observed image and a spectral image and an optical microscope using the same.
顕微鏡の光路内に挿入するだけで容易に観察像のスペクトル分光解析が可能であり、観察像とスペクトル像との対応付けも容易な光分散用光学素子とその光分散用光学素子を利用する光学顕微鏡を提供する。 - 特許庁 - The heat generating part is matched with an optical axis of the optical microscope 7 and found within a high magnification visual field based on the located position of the heat generating part, and irradiated by a laser beam in the same optical axis as the optical microscope 7 to segmentize the short part which is the heat generating part.
求められた発熱箇所の位置に基づき発熱箇所を光学顕微鏡７の光軸に一致させて高倍率視野内に捉えるとともに、光学顕微鏡７と同一の光軸でレーザを照射して発熱箇所であるショート箇所を分断する。 - 特許庁 - To provide a stereoscopic microscope such as a microscope for medical operation, etc., where the size of the mirror can be made almost equal to that of a normal microscope consisting of two optical axes, a good picture free from crosstalk can be provided and miniaturization and easiness to adjust are realized compared with a normal microscope consisting of the two optical axes.
鏡体の大きさを通常の２本光軸で構成されたものと同程度で済み、且つクロストークのない良好な画像を提供でき、更には、２本光軸で構成された通常の顕微鏡に比べてさらに小型化、調整し易さを実現できる手術用顕微鏡などの実体顕微鏡を提供する。 - 特許庁 - The scanning tunneling microscope emission converging apparatus includes a scanning tunneling microscope and a plurality of optical fibers 2 arranged radially about the end of a scanning tunneling microscope probe 1 and around the scanning tunneling microscope probe 1 to converge emission caused by the operation of the scanning tunneling microscope.
走査トンネル顕微鏡発光集光装置において、走査トンネル顕微鏡と、この走査トンネル顕微鏡の操作での発光を集光するために、前記走査トンネル顕微鏡探針１の先端を中心として前記走査トンネル顕微鏡探針１の周りに放射状に配置される複数の光ファイバー２を具備する。 - 特許庁 - To stably displace the focal position of an optical microscope under an optical microscope at a high speed without causing overshooting and vibration.
光学顕微鏡下において、その焦点位置をオーバーシュートや振動を起こすことなく高速、かつ、安定に変位させることを可能にする顕微鏡ステージ、および焦点位置計測装置・システムを提供すること。 - 特許庁 - Furthermore, it is equipped with moving means 21 to 25 moving the incident optical axis O2 on the microscope for the assistant 3 in a direction nearly orthogonal to the incident optical axis O1 of the master side microscope 2.
さらに、助手用顕微鏡３への入射光軸Ｏ２を主側顕微鏡２の入射光軸Ｏ１に対して略直交する方向に移動させる移動手段２１−２５を備えている。 - 特許庁 - Furthermore, because the optical microscope 15 is out of a vacuum chamber, when an ion etching process of the sample 6 is carried out, no stain caused by particles dispersed from the sample in the ion etching process is formed on a lens of the optical microscope 15.
また、試料６のイオンエッチングの際には光学顕微鏡１５が真空チャンバ外にあるので、イオンエッチングによって試料から飛散した粒子で光学顕微鏡１５のレンズが汚れることはない。 - 特許庁 - A band filter 27 for intercepting illumination light from an optical microscope is placed between the scintillator 21 and the incident side surface 23a of the photomultiplier 23, thereby it is possible to perform simultaneous observation with the optical microscope.
シンチレーター２１とフォトマルチプライヤー２３の入射側面２３ａとの間には、光学顕微鏡の照明光を遮断するバンドフィルター２７を配置し、光学顕微鏡との同時観察を可能とする。 - 特許庁 - STRUCTURE OF PROXIMITY FIELD OPTICAL PROBE, METHOD FOR POSITIONING LIGHT INCIDENT ON MICRO OPENING OF PROXIMITY FIELD OPTICAL PROBE, SCANNING PROXIMITY FIELD OPTICAL MICROSCOPE AND PROXIMITY FIELD OPTICAL RECORDER USING PROXIMITY FIELD OPTICAL PROBE
近接場光プローブの構造、近接場光プローブの微小開口に入射する光の位置決め方法、走査型近接場光顕微鏡装置及び近接場光プローブを用いた近接場光記録装置 - 特許庁 - This microscope is equipped with cylindrical optical path partitions 31, 32 and 33 partitioning an observation optical path O1 near the optical axis of an objective lens from an illumination optical path for vertical dark-field O2 around the optical path O1, and realizes a vertical dark-field observation.
対物レンズの光軸近傍の観察光路（Ｏ１）とその周辺の落射暗視野用照明光路（Ｏ２）とを隔てる筒状の光路隔壁（３１、３２、３３）を備えており、落射暗視野観察が可能である。 - 特許庁 - When a microscope 9 is moved in its optical axis direction, the processing unit 18 calculates the correction amount in the X-direction and the Y-direction of the microscope 9 on the basis of the deviation amount, a microscope and CCD drive system 12 is controlled, and the microscope 9 is driven by its correction amount portion.
そして、光軸方向に顕微鏡８を移動させる際には、ズレ量に基づいて演算処理装置１８が顕微鏡８のＸ、Ｙ方向の補正量を算出し、顕微鏡・ＣＣＤ駆動系１２を制御して顕微鏡８を補正量分駆動する。 - 特許庁 - To provide a laser microscope having a confocal optical system, where the mechanical drive in a Z-axis direction is eliminated, and that is free from optical aberrations.
本発明は、Z軸の機械的駆動なくし、かつ光学収差もない共焦点光学系を有するレーザ顕微鏡を提供する。 - 特許庁 - To provide a microscope illumination optical system capable of satisfactorily correcting chromatic aberration without making the whole optical system large in size.
光学系全体の大型化を招くことなく、色収差を良好に補正し得る顕微鏡用の照明光学系を提供する。 - 特許庁 - To provide a compact observation optical system where telescopic amount of an afocal section is large, and to provide a microscope including the observation optical system.
コンパクトで且つアフォーカル部の伸縮量の大きな観察光学系及びそれを備えた顕微鏡を提供することを課題とする。 - 特許庁 - To provide a surgical microscope which is capable to image structures having different optical characteristics in the human eye, and to provide a method to image the structures having different optical characteristics during an ophthalmic surgery.
人間の目において異なる光学特性を有する構造を結像することが可能な外科用顕微鏡を提供する。 - 特許庁 - A confocal laser scanning microscope for acquiring a confocal image of a sample is provided with an optical microscope optical system which radiates illuminating light emitted from a light source, to the sample and detects measurement light from the sample to acquire a non-confocal image of the sample, and the optical microscope optical system has optical systems corresponding to at least two observation methods and can be switched to either of the optical systems.
試料の共焦点画像を取得する共焦点レーザスキャニング顕微鏡は、光源から出射された照明光を試料に照射し、試料からの測定光を検出して試料の非共焦点画像を取得する光学顕微鏡光学系を備え、光学顕微鏡光学系は、少なくとも２種の観察法に対応する各光学系を有し、いずれか１つの前記光学系に切り換えられる。 - 特許庁 - The microscope is provided with a multi-photon microscope 1, an optical fiber bundle 20 disposed with its one end face at the focal plane of a first objective lens 14 possessed by the multi-photon microscope 1, and a second objective lens 57 arranged to use the other end face of the optical fiber bundle 20 as a light source.
多光子顕微鏡１と、この多光子顕微鏡１が有する第１対物レンズ１４の焦点面に一端面が配された光ファイバ束２０と、この光ファイバ束２０の他端面を光源とするように配置された第２対物レンズ５７とを備える。 - 特許庁 - To provide a sample holder for a scanning electron microscope which can use a slide glass using for observation by an optical microscope as an observation sample as it is, and also to provide the scanning electron microscope on which the sample holder is mounted.
光学顕微鏡での観察に使用したスライドガラスをそのまま観察試料として使用可能な、走査電子顕微鏡用試料ホルダおよび当該試料ホルダを搭載した走査電子顕微鏡を提供する。 - 特許庁 - An optical-microscope unit 24, which detects reflected light while emitting light in an oblique direction to the observation face of a scanning electron microscope, is provided inside or outside a sample chamber of the scanning electron microscope.
走査電子顕微鏡の試料室外もしくは試料室内に、走査電子顕微鏡の観察面に対して斜め方向に光を照射して反射光を検出する光学顕微鏡ユニット２４を設ける。 - 特許庁 - To provide a scan microscope securing coupling without loss and aberration for the inside of an adaptive optical system illumination optical path and/or the inside of a detection optical path.
走査顕微鏡を、適応光学系の照明光路内及び、又は検出光路内への、損出のない、収差のない結合が保証されるように改良する。 - 特許庁 - A heat generating picture microscope uses a probe 1 having an optical fiber 16 which takes in infrared rays generated by heat generation at its center.
発熱による赤外線を取り込む光ファイバー１６を中心に有する探針１を用いる。 - 特許庁 - To provide an optical microscope configured to perform observation by making an objective lens come very close to an observation object disposed in the interior of a container.
容器内部に配置された観察対象物に対物レンズを近接させて観察を行う。 - 特許庁 - To provide a probe for near field optical microscope having a reduced background.
本発明の目的はバックグラウンドを低減した近接場光学顕微鏡用プローブを提供することにある。 - 特許庁 - A system is provided with an optical microscope having a sensor that supplies electric signals representing a field of view.
このシステムは、視野を表す電気信号を供給するセンサを有する光学顕微鏡を備える。 - 特許庁 - METHOD AND DEVICE FOR STABILIZING TEMPERATURE OF OPTICAL PARTS AND SCANNING MICROSCOPE EQUIPPED WITH STABILIZING MEANS
光学部品の温度を安定化するための方法、装置および安定化手段を備えた走査型顕微鏡 - 特許庁 - The assistant's microscope 7 can rotate around an axis parallel with an optical axis O of an objective lens 15.
助手用顕微鏡７は、対物レンズ１５の光軸Ｏに平行な軸を中心に回転可能である。 - 特許庁 - To provide a microscope system capable of securely removing spot flare, and to provide a flare preventing optical apparatus.
スポットフレアを確実に除去することができる顕微鏡システム及びフレア防止光学装置を提供する。 - 特許庁 - To provide an optical microscope capable of shortening a measurement time, and to provide a spectrum measuring method.
測定時間を短縮することができる光学顕微鏡、及びスペクトル測定方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a near-field optical microscope capable of performing further accurate measurement.
本発明の目的は、測定をより正確に行なえる近接場光学顕微鏡を提供することにある。 - 特許庁 - To provide a microscope which permits easy and reliable exchanging of optical components arranged in a holding apparatus.
担持装置に配された光学要素を簡単かつ確実に交換することができる顕微鏡の提供。 - 特許庁 - To provide a confocal optical microscope controlling caged-state release of a caged compound.
Ｃａｇｅｄ化合物のＣａｇｅｄ解除を制御可能な共焦点光学顕微鏡を提供する。 - 特許庁 - To provide a near-field optical microscope device capable of detecting light generation out of an excitation area.
励起エリア外の発光を検出することができる近接場光学顕微鏡装置を提供する。 - 特許庁 - The sample is moved along a substantially straight passage in the Z-axis (optical axis of the transmission electron microscope).
標本は、Ｚ軸（透過型電子顕微鏡の光軸）における実質的な直線通路を移動する。 - 特許庁 - The optical system (4, 5, 6, 7, 8) of the confocal scanning microscope is arranged at the side of the first face.
前記第１の面側に共焦点走査顕微鏡光学系（４，５，６，７，８）が配置されている。 - 特許庁
- 特許庁
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