「Optical microscope」を含む例文一覧(1392)
＜前へ 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 .... 27 28 次へ＞- ILLUMINATION OPTICAL SYSTEM AND MICROSCOPE PROVIDED WITH THE SAME
照明光学系及び照明光学系を備えた顕微鏡 - 特許庁 - CONFOCAL OPTICAL MICROSCOPE AND ANALYTICAL METHOD USING IT
共焦点光学顕微鏡およびそれを用いた分析方法 - 特許庁 - OPTICAL PATH-SELECTING DEVICE, ILLUMINATION DEVICE HAVING THE SAME, AND MICROSCOPE
光路選択装置と、これを有する照明装置と、顕微鏡 - 特許庁 - ILLUMINATING SYSTEM AND ILLUMINATING METHOD FOR HIGH- RESOLUTION OPTICAL MICROSCOPE
高解像光顕微鏡用の照明系及び照明方法 - 特許庁 - LENS HOLDING STRUCTURE, OBJECTIVE LENS, OPTICAL MICROSCOPE, AND ASSEMBLY METHOD
レンズ保持構造、対物レンズ、光学顕微鏡および組立方法 - 特許庁 - OBJECTIVE OPTICAL SYSTEM AND MICROSCOPE WITH THE SAME
対物光学系およびその対物光学系を備えた顕微鏡 - 特許庁 - POSITIONING DEVICE AND NEAR-FIELD OPTICAL MICROSCOPE USING THE SAME
位置決め装置、及びそれを用いた近接場光学顕微鏡 - 特許庁 - OPTICAL DEVICE TO BE DETACHABLY ATTACHED TO MICROSCOPE
顕微鏡に取外し可能に取り付けるための光学的な装置 - 特許庁 - microscope consisting of an optical instrument that magnifies the image of an object
物体の像を拡大する光学装置からなる顕微鏡 - 日本語WordNet - FOCUSING POINT DETECTING METHOD AND OPTICAL MICROSCOPE USING THE SAME
合焦点検出方法及びそれを用いた光学顕微鏡 - 特許庁 - SCANNING TYPE CONFOCAL MICROSCOPE AND ITS OPTICAL AXIS CHECKING METHOD
走査型共焦点顕微鏡およびその光軸チェック方法 - 特許庁 - PRECISION MACHINING METHOD USING NEAR FIELD SCANNING OPTICAL MICROSCOPE
近接場走査光学顕微鏡を用いた精密加工方法 - 特許庁 - To provide a multilayer observation type real time optical microscope.
多層観察型リアルタイム光学顕微鏡を構成しようとする。 - 特許庁 - LASER SCANNING TYPE FLUORESCENCE MICROSCOPE AND UNIT OF OPTICAL DETECTION SYSTEM
レーザ走査型蛍光顕微鏡および検出光学系ユニット - 特許庁 - Further, good images can be obtained by utilizing the optical system to the optical microscope or the fluorescent microscope.
さらに、この光学系を光学顕微鏡あるいは蛍光顕微鏡へ利用することによって、良好な画像が得られるようにする。 - 特許庁 - METHOD FOR OBSERVING SAMPLE BY SCANNING PROXIMITY FIELD OPTICAL MICROSCOPE AND ULTRA-FLAT SAPPHIRE SUBSTRATE FOR SCANNING PROXIMITY FIELD OPTICAL MICROSCOPE
走査近接場光学顕微鏡による試料観測方法および走査近接場光学顕微鏡用超平坦サファイア基板 - 特許庁 - To provide a probe sharpening method capable of arbitrarily forming the taper angle of the leading end of a probe for STM(scanning tunnel microscope), AFM(atomic force microscope) and SNOM(scanning near field optical microscope).
ＳＴＭ、ＡＦＭ、ＳＮＯＭ用のプローブ先端のテーパー角を任意に形成可能なプローブの尖鋭化方法を提供する。 - 特許庁 - UNIFORM ILLUMINATION OPTICAL UNIT, UNIFORM ILLUMINATION OPTICAL SYSTEM, PATTERN INSPECTING DEVICE AND MICROSCOPE
均一照明光学ユニット、均一照明光学系、パターン検査装置及び顕微鏡 - 特許庁 - REFLECTION TYPE NEAR-FIELD LIGHT DETECTION OPTICAL SYSTEM AND REFLECTION TYPE NEAR-FIELD OPTICAL MICROSCOPE
反射型近接場光検出光学系及び反射型近接場光学顕微鏡 - 特許庁 - A laser microscope body 1 includes a first optical system and a second optical system.
レーザ顕微鏡本体１は、第一の光学系と第二の光学系とを有している。 - 特許庁 - LASER SCAN TYPE MICROSCOPE HAVING COLLIMATOR OPTICAL SYSTEM AND/OR PIN HOLE OPTICAL SYSTEM
視準器光学系および／またはピンホール光学系を有するレーザ走査型顕微鏡 - 特許庁 - INTERMEDIATE LENS BARREL HAVING PROJECTION OPTICAL SYSTEM, AND MICROSCOPE HAVING PROJECTION OPTICAL SYSTEM
投影光学系を有する中間鏡筒及び投影光学系を有する顕微鏡 - 特許庁 - The probe scanning apparatus 1 has an atomic force microscope 10 and an optical microscope 20 integrally.
プローブ走査装置１は、原子間力顕微鏡１０および光学顕微鏡２０を一体的に備える。 - 特許庁 - This infrared microscope comprises a microscope optical system 10, a digital recording system 11, and a monitor 12.
本発明に係る赤外顕微鏡は、顕微鏡光学系１０、デジタル記録系１１、モニタ１２からなる。 - 特許庁 - To provide a stage for a microscope capable of correcting the divergence of focus of a microscope due to heat and the like, accurately adjusting its angle to the optical axis of the microscope and moving in the optical axis direction of the microscope, and a microscope which uses the stage.
熱などによる顕微鏡のピントズレを補正することができ、かつ高精度で顕微鏡の光軸に対する角度調整および顕微鏡の光軸方向に移動できる顕微鏡ステージおよびそれを用いた顕微鏡を提供する。 - 特許庁 - OPTICAL FIBER PROBE, SCANNING NEAR-FIELD OPTICAL MICROSCOPE DEVICE AND OPTICAL RECORDING MEDIUM REPRODUCING DEVICE AND MANUFACTURING METHOD OF OPTICAL FIBER PROBE
光ファイバプローブ、走査近接場光顕微鏡装置及び光記録媒体再生装置並びに光ファイバプローブの製造方法 - 特許庁 - SUPER-RESOLUTION MICROSCOPE AND SPATIAL MODULATION OPTICAL ELEMENT USED THEREIN
超解像顕微鏡およびこれに用いる空間変調光学素子 - 特許庁 - WIDE-FIELD SUPER-RESOLUTION OPTICAL MICROSCOPE USING SPATIAL LIGHT MODULATOR
空間光変調器を用いた広視野超解像光学顕微鏡 - 特許庁 - OPTICAL DISPLACEMENT DETECTION MECHANISM, AND PROBE MICROSCOPE USING THE SAME
光学式変位検出機構及びそれを用いたプローブ顕微鏡 - 特許庁 - HEIGHT MEASURING METHOD, CONFOCAL SCANNING OPTICAL MICROSCOPE, AND PROGRAM
高さ測定方法、共焦点走査型光学顕微鏡、及びプログラム - 特許庁 - SPECIMEN OBSERVATION METHOD, OPTICAL MICROSCOPE, AND FLUORESCENT CORRELATION ANALYZER
試料観測方法、光学顕微鏡及び蛍光相関分析装置 - 特許庁 - CONFOCAL SCANNING OPTICAL MICROSCOPE, HEIGHT MEASURING METHOD AND PROGRAM
共焦点走査型光学顕微鏡、高さ測定方法、及びプログラム - 特許庁 - OPTICAL DETECTING CIRCUIT AND LASER MICROSCOPE WITH THE SAME
光検出回路および該光検出回路を備えたレーザ顕微鏡 - 特許庁 - To eliminate distortions of the images obtained by a scanning optical microscope.
走査型光学顕微鏡により得られる画像の歪みを無くす。 - 特許庁 - NEAR-FIELD OPTICAL MICROSCOPE AND PROBLE FOR IT
近接場光顕微鏡および近接場光顕微鏡用探針 - 特許庁 - IMAGING OPTICAL SYSTEM AND CONFOCAL SCANNING MICROSCOPE USING THE SAME
結像光学系、及びそれを用いた共焦点走査型顕微鏡 - 特許庁 - MICROSCOPE HAVING PIVOTABLE HOLDING APPARATUS FOR A PLURALITY OF OPTICAL COMPONENTS
複数の光学要素のための枢動担持装置を有する顕微鏡 - 特許庁 - MICROPLATE, CLEANING PLATE, OPTICAL ANALYSIS DEVICE AND INVERSION TYPE MICROSCOPE
マイクロプレート、クリーニングプレート、光分析装置および倒立型顕微鏡 - 特許庁 - OPTICAL SCANNING MICROSCOPE WITH MOVABLE PERFORATED DISK, AND USE THEREOF
可動有孔ディスク付き光走査型顕微鏡およびそれの使用 - 特許庁 - PARTICLE OPTICAL DEVICE, ELECTRON MICROSCOPE SYSTEM, AND ELECTRONIC LITHOGRAPHY SYSTEM
粒子光学装置、電子顕微鏡システムおよび電子リソグラフィーシステム - 特許庁 - OPTICAL PATH INTERRUPTING DEVICE AND MICROSCOPE FURNISHED WITH THE SAME
光路遮断装置及びその光路遮断装置を備える顕微鏡 - 特許庁 - LIGHT INTENSITY DETECTION DEVICE, OPTICAL DEVICE PROVIDED WITH SAME, AND MICROSCOPE
光強度検出装置とこれを有する光学装置、顕微鏡 - 特許庁 - The surface-measuring instrument integrated scanning probe microscope is equipped with an optical microscope 7, which is the surface- measuring instrument and a probe microscope 8.
表面測定器一体型走査型プローブ顕微鏡は、表面測定器である光学顕微鏡７とプローブ顕微鏡８とを備えている。 - 特許庁 - OPTICAL ELEMENT, SPATIAL OPTICAL FILTER, PROBE FOR SCAN TYPE NEAR FIELD OPTICAL MICROSCOPE, AND MASK FOR PHOTOLITHOGRAPHIC PRINT
光学素子、空間光学フィルタ、走査型近接場光学顕微鏡用プローブおよび写真平版印刷用マスク - 特許庁 - To provide a compound microscope capable of analyzing shape information acquired by an optical microscope or physical property information acquired by a scanning type probe microscope irrespective of a measurement mode, and to provide a measuring method of the compound microscope.
測定モードに関係なく光学顕微鏡により取得される形状情報又は走査型プローブ顕微鏡により取得される物性情報を解析すること。 - 特許庁 - A sample on a prepared specimen 1 is observed by a microscope 2, and the optical image of the microscope 2 is picked up by a CCD camera 4.
プレパラート上の標本を顕微鏡で観察し、顕微鏡の光学画像をＣＣＤカメラで撮像する。 - 特許庁 - CANTILEVER FOR NEAR-FIELD OPTICAL MICROSCOPE, PLASMA ENHANCED FLUORESCENCE MICROSCOPE USING THE SAME, AND FLUORESCENCE DETECTION METHOD
近接場光学顕微鏡用カンチレバー、それを用いたプラズモン増強蛍光顕微鏡及び蛍光検出方法 - 特許庁 - To facilitate the operation for setting an optical fiber axis in parallel with an optical axis of an interference microscope, when an end surface of the optical fiber is to be observed with the interference microscope.
干渉顕微鏡により光ファイバ端面を観察する際のその光ファイバ軸を干渉顕微鏡の光軸に平行にセットする作業を容易化する。 - 特許庁 - To provide such an optical system which enables a user to make fluorescent observation over the entire part of cells and an optical microscope or fluorescent microscope using the optical system.
細胞全体にわたって蛍光観察を行えるような光学系、および、この光学系を用いた光学顕微鏡あるいは蛍光顕微鏡を提供する。 - 特許庁 - NEAR FIELD OPTICAL PROBE, MANUFACTURING METHOD FOR THE SAME, AND NEAR FIELD OPTICAL MICROSCOPE USING THE SAME
近接場光プローブ及びその製造方法、並びにそれを用いた近接場光顕微鏡 - 特許庁
