「Optical microscope」を含む例文一覧(1392)
＜前へ 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 .... 27 28 次へ＞- To provide an optical system, in particular a microscope comprising an optical unit (17) and a collimator (1).
光学ユニット（１７）およびコリメータ（１）を備える光学システム、特に、顕微鏡を提供する。 - 特許庁 - FOCUS DETECTOR AS WELL AS OBJECTIVE LENS, OPTICAL MICROSCOPE OR OPTICAL TEST APPARATUS HAVING THE SAME
焦点検出装置、及びそれを備えた対物レンズ、光学顕微鏡又は光学検査装置 - 特許庁 - SEMICONDUCTOR LASER, BIO-IMAGING SYSTEM, MICROSCOPE, OPTICAL DISK DEVICE, OPTICAL PICKUP, PROCESSING MACHINE, AND ENDOSCOPE
半導体レーザ、バイオイメージングシステム、顕微鏡、光ディスク装置、光ピックアップ、加工装置および内視鏡 - 特許庁 - An optical microscope 10 includes an observing optical system for optically observing a specimen S.
光学顕微鏡１０は標本Ｓを光学的に観察するための観察光学系を有する。 - 特許庁 - SCATTERING NEAR-FIELD OPTICAL PROBE AND NEAR-FIELD OPTICAL MICROSCOPE INCLUDING THE SAME
散乱型近接場光プローブ、散乱型近接場光プローブを備えた近接場光学顕微鏡 - 特許庁 - The front case 800A and the rear case 800B do not come into contact with the atomic force microscope 10, the optical microscope 20, and the microscope coupling member 40.
フロントケース８００Ａおよびリアケース８００Ｂは、原子間力顕微鏡１０、光学顕微鏡２０および顕微鏡連結部材４０に接触していない。 - 特許庁 - The optical system of the microscope is penetrated through holes 211, 221 and 251.
また、孔２１１，２２１，２５１により顕微鏡の光学系が透過される。 - 特許庁 - CONFOCAL OPTICAL SYSTEM AND SCANNING CONFOCAL MICROSCOPE USING THE SAME
共焦点光学系及びこれを用いた走査型共焦点顕微鏡 - 特許庁 - ANGLE OF INCIDENCE DETERMINING METHOD, AND SCAN NEAR- FIELD OPTICAL MICROSCOPE
入射角度決定方法及び走査型近接場光学顕微鏡 - 特許庁 - DEVICE FOR OBSERVING SAMPLE WITH PARTICLE BEAM AND OPTICAL MICROSCOPE
粒子ビーム及び光を用いる顕微鏡で試料を観察する装置 - 特許庁 - MANUFACTURING METHOD AND OBSERVATION METHOD OF SAMPLE FOR OPTICAL MICROSCOPE OBSERVATION
光学顕微鏡観察用試料の製造方法及び観察方法 - 特許庁 - OPTICAL SCANNING MICROSCOPE OF DOTWISE LIGHT SOURCE DISTRIBUTION TYPE, AND USE THEREOF
点状光源分布式の光走査型顕微鏡およびそれの使用 - 特許庁 - An assistant microscope 7 to which an objective optical system 15, a zoom optical system 16 and an eyepiece optical system 18 are independently provided with respect to the microscope main body 2, are mounted onto a taking-in port 3 of the microscope main body 2.
顕微鏡本体２の取入口３に、顕微鏡本体２とは別の対物光学系１５、ズーム光学系１６、接眼光学系１８を独立して有するアシスタント顕微鏡７が、取付けられている。 - 特許庁 - METHOD FOR IMAGE ACQUISITION OF OBJECT BY MEANS OF OPTICAL SCANNING MICROSCOPE
光走査型顕微鏡による対象物の画像捕捉のための方法 - 特許庁 - SCANNING NEAR FIELD OPTICAL MICROSCOPE AND PROBE FOR IT
近接場光学顕微鏡および近接場光学顕微鏡用探針 - 特許庁 - OPTICAL ARRANGEMENT IN MICROSCOPE FOR ADJUSTING WAVELENGTH OR WAVELENGTH REGION OF IRRADIATION LIGHT IN IRRADIATION OPTICAL PATH OF MICROSCOPE FOR CONVERGENCE
顕微鏡の照射光路における照射光の波長または波長領域を調整して集束化するための顕微鏡内の光学配置 - 特許庁 - OPTICAL ADDRESS SPATIAL LIGHT MODULATOR AND MICROSCOPE SYSTEM USING THE SAME
光アドレス型空間光変調器及びそれを用いた顕微鏡装置 - 特許庁 - OPTICAL ELEMENT WITH DIELECTRIC MULTI-LAYERED FILM AND MICROSCOPE USING SAME
誘電体多層膜を有する光学素子及びそれを用いた顕微鏡 - 特許庁 - OPTICAL ELEMENT, MICROSCOPE USING THE SAME AND MANUFACTURING METHOD THEREOF
光学素子およびそれを用いた顕微鏡並びに光学素子の製法 - 特許庁 - LIGHT DEFLECTOR AND SCANNING OPTICAL MICROSCOPE USING THE SAME
光偏向器およびこの光偏向器を用いた走査型光学顕微鏡 - 特許庁 - NEAR-FIELD OPTICAL MICROSCOPE AND POLARIZATION EVALUATING METHOD USING THE SAME
近接場光学顕微鏡及びそれを用いた偏光評価方法 - 特許庁 - Left and right photographing optical systems of this video type stereoscopic microscope comprise object optical systems 210, 220, 230 and relay optical systems 240, 250.
左右の撮影光学系は、対物光学系２１０，２２０，２３０と、リレー光学系２４０，２５０とから、構成されている。 - 特許庁 - METHOD AND APPARATUS FOR EVALUATING OPTICAL FIBER PROBE, NEAR-FIELD OPTICAL MICROSCOPE AND NEAR-FIELD OPTICAL PROCESSING APPARATUS
光ファイバープローブ評価方法、光ファイバープローブ評価装置、近接場光学顕微鏡、及び近接場光加工装置 - 特許庁 - OPTICAL MICROSCOPE SYSTEM, OPTICAL AXIS CORRECTION METHOD USING SAME, OPTICAL AXIS CORRECTION PROGRAM, AND RECORDING MEDIUM HAVING THE PROGRAM RECORDED THEREIN
光学顕微鏡システム、これを用いた光軸補正方法、光軸補正プログラム、及びこのプログラムを記録した記録媒体 - 特許庁 - To provide a color imaging apparatus for a microscope, a color imaging program for a microscope, and a color imaging method for a microscope by which faithful color reproduction can be achieved regardless of the state of an optical source for lighting of the microscope, the state of optical elements of the microscope or the color imaging apparatus for the microscope or variation with time of a camera.
顕微鏡の照明光源の状態や、顕微鏡や顕微鏡用カラー撮像装置の光学素子の状態、またカメラの経時変化によらず、忠実な色再現を実現できる顕微鏡用カラー撮像装置、顕微鏡用カラー撮像プログラムおよび顕微鏡用カラー撮像方法を提供すること。 - 特許庁 - LIGHT EMITTING DIODE ILLUMINATION DEVICE FOR OPTICAL OBSERVATION INSTRUMENT SUCH AS STEREO MICROSCOPE OR STEREO SURGICAL MICROSCOPE IN PARTICULAR
とりわけステレオ顕微鏡又はステレオ手術用顕微鏡等の光学観察装置のための発光ダイオード照明装置 - 特許庁 - METHOD FOR RELATIVELY ADJUSTING LAMP LIGHTING OPTICAL PATH OF MICROSCOPE AND MICROSCOPE SUITABLE FOR IMPLEMENTATION OF THE METHOD
顕微鏡の照明光路に対してランプを相対的に調整する方法及び該方法の実施に適した顕微鏡 - 特許庁 - To provide an optical microscope achieving the shortening of measuring time.
測定時間を短縮することができる光学顕微鏡を提供すること。 - 特許庁 - WITHSTAND VOLTAGE OPTICAL FIBER FOR ULTRA-HIGH VOLTAGE ELECTRON MICROSCOPE AND MANUFACTURING METHOD THEREOF
超高圧電子顕微鏡用耐圧光ファイバー及びその製造方法 - 特許庁 - ULTRAHIGH-WAVENUMBER TRANSMITTING ELEMENT AND NEAR-FIELD OPTICAL MICROSCOPE USING THE SAME
超高波数伝達素子およびそれを用いた近接場光学顕微鏡 - 特許庁 - PROBE OPENING-CREATING APPARATUS AND NEAR-FIELD OPTICAL MICROSCOPE USING THE SAME
プローブ開口作製装置、及びそれを用いた近接場光学顕微鏡 - 特許庁 - TRANSMISSION DEVICE FOR OPTICAL OBSERVATION UNIT OF OPERATION MICROSCOPE OR THE LIKE
手術用顕微鏡などの光学的観察ユニットのための伝送装置 - 特許庁 - FLUORESCENCE CUBE, AND INCIDENT-LIGHT FLOODLIGHTING PIPE OR OPTICAL MICROSCOPE PROVIDED WITH THE SAME
蛍光キューブ及びそれを備えた落射投光管又は光学顕微鏡 - 特許庁 - OPTICAL OBSERVATION DEVICE, SCANNING TYPE MICROSCOPE AND ENDOSCOPIC OBSERVATION DEVICE
光学的観察装置、走査型顕微鏡及び経内視鏡的観察装置 - 特許庁 - APPARATUS FOR MEASURING OPENING OF PROBE AND NEAR-FIELD OPTICAL MICROSCOPE USING THE SAME
プローブ開口作製装置、及びそれを用いた近接場光学顕微鏡 - 特許庁 - To provide a spectral type nonlinear optical microscope having high detecting sensitivity.
検出感度の高い分光型の非線形光学顕微鏡を提供する。 - 特許庁 - STRUCTURED ILLUMINATING OPTICAL SYSTEM AND STRUCTURED ILLUMINATING MICROSCOPE HAVING THE SAME
構造化照明光学系、及びそれを備えた構造化照明顕微鏡 - 特許庁 - To provide a lens optical system achieving the miniaturization of a pen type microscope or the like.
ペン型顕微鏡等の小型化を図れるレンズ光学系を提供する。 - 特許庁 - OPTICAL MICROSCOPE, AUTOFOCUS METHOD AND OBSERVING METHOD USING THE SAME
光学顕微鏡及びオートフォーカス方法ならびにそれを用いた観察方法。 - 特許庁 - To provide an optical axis correcting apparatus for correcting a deviation of an optical axis of both a microscope body and a confocal microscope head when the head is connected to the body.
顕微鏡本体に共焦点顕微鏡ヘッドを接続させる場合、両者の光軸のずれを補正する光軸補正装置を提供する。 - 特許庁 - To provide an apparatus for microscope observation and/or microscope detection through a microscope objective lens of an optical scanning microscope with linear illumination for a sample which is at least partially transparent.
少なくとも部分的には透明である試料に対し、線形照明を持つ光走査型顕微鏡の顕微鏡対物レンズを通じて顕微鏡観察および/または顕微鏡検出するための装置 - 特許庁 - To provide a position determination method capable of easily determining the position of a measuring object in electron microscope observation from position information or the like of the measuring object acquired by observation by a first microscope such as an optical microscope, a phase contrast microscope, a differential interference microscope or a polarization microscope.
光学顕微鏡、位相差顕微鏡、微分干渉顕微鏡または偏光顕微鏡等の第１の顕微鏡で観察した測定対象物の位置情報等から電子顕微鏡観察における測定対象物の位置を簡単に求めることができる位置決定方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a near-field optical microscope that can obtain a high- resolution near-field optical image.
高分解能の近接場光学像を得ることができる近接場光学顕微鏡を提供すること。 - 特許庁 - To provide an optical element replacement device for a microscope, which prevents erroneous recognition when an optical element is replaced.
光学素子交換時の誤認識を防止可能な顕微鏡の光学素子交換装置を提供する。 - 特許庁 - NEAR-FIELD LIGHT PROBE AND NEAR-FIELD OPTICAL MICROSCOPE USING IT AND OPTICAL RECORDING REPRODUCING UNIT
近接場光プローブおよびそれを用いた近接場光学顕微鏡および光記録再生装置 - 特許庁 - NEAR-FIELD LIGHT PROBE AND ITS MANUFACTURING METHOD AND OPTICAL RECORDING REPRODUCING UNIT AND NEAR-FIELD OPTICAL MICROSCOPE
近接場光プローブとその製造方法と光記録再生装置及び近接場光顕微鏡 - 特許庁 - To provide a compact objective optical system for a microscope, the optical system having satisfactory optical performance for achieving a wide field of view at a long operation distance, and to provide a microscope that has the objective optical system and a variable power optical system.
長作動距離で広視野を実現する良好な光学性能を有するコンパクトな顕微鏡用対物光学系、及び、その対物光学系と変倍光学系とを備えた顕微鏡を提供することを課題とする。 - 特許庁 - The electron microscope 5 for observing the defect detected by an optical defect inspection device is mounted with an optical microscope 6 for re-detecting the defect, and has a constitution where, when focusing of the optical microscope 6 is performed, a lighting position and a detecting position of the optical microscope 6 to a sample 1 are not changed.
光学式欠陥検査装置で検出した欠陥を観察する電子顕微鏡５において、欠陥を再検出する光学式顕微鏡６を搭載し、この光学式顕微鏡６の焦点合わせを行う時に、試料１に対して光学式顕微鏡６の照明位置と検出位置を変化させない構成とする。 - 特許庁 - As the optical filter 19 is one transmission type optical filter, the optical filter 19 can be fixed to a narrow irradiation port 16 of the microscope 1.
一枚の透過式の光学フィルター１９であるため、顕微鏡１の狭い照射口１６にも固定することができる。 - 特許庁 - In the microscope system, a user mounts a sample on a sample mounting stand of an atomic force microscope (step S1), and observes the sample with an optical microscope (step S2).
顕微鏡システムにおいて、使用者は、原子間力顕微鏡の試料載置台上に試料を載置し（ステップＳ１）、光学顕微鏡による試料の観察を行う（ステップＳ２）。 - 特許庁
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