METHOD OF MANUFACTURING PHASESHIFT MASK BLANK AND METHOD OF MANUFACTURING PHASESHIFT MASK 位相シフトマスクブランクの製造方法及び位相シフトマスクの製造方法 - 特許庁
PHASESHIFT MASK BLANK, PHASESHIFT MASK AND METHOD FOR MANUFACTURING THEM 位相シフトマスクブランク及び位相シフトマスク並びにそれらの製造方法 - 特許庁
METHOD FOR EXPOSURE AND PHASESHIFT MASK 露光方法および位相シフトマスク - 特許庁
In the event of a phaseshift photomask, the double-sided photomask is equipped with a phaseshift layer. 位相シフトマスクの場合、両面フォトマスクは位相シフト層を備える。 - 特許庁
METHOD OF MANUFACTURING PHASESHIFT MASK BLANK AND PHASESHIFT MASK 位相シフトマスクブランクの製造方法、及び位相シフトマスクの製造方法 - 特許庁
BLANKS FOR HALF TONE TYPE PHASESHIFT MASK AND HALF TONE TYPE PHASESHIFT MASK ハーフトーン型位相シフトマスク用ブランクス及びハーフトーン型位相シフトマスク - 特許庁
PHOTOMASK, PHASESHIFT MASK AND EXPOSURE APPARATUS フォトマスク、位相シフトマスク、露光装置 - 特許庁
PHASESHIFT MASK BLANK, PHASESHIFT MASK, AND METHOD FOR FABRICATING THEM 位相シフトマスクブランクおよび位相シフトマスクならびにこれらの製造方法 - 特許庁
LITHOGRAPHY METHOD USING PHASESHIFT MASK 位相シフトマスクを用いたリソグラフ法 - 特許庁
PHASE-SHIFT QUANTITY CORRECTION DEVICE AND PHASE-SHIFT QUANTITY CORRECTION SYSTEM OF PHASED-ARRAY RADAR フェイズドアレイレーダの移送量補正装置及び移送量補正システム - 特許庁
DEFECT INSPECTION APPARATUS OF PHASESHIFT MASK 位相シフトマスクの欠陥検査装置 - 特許庁
DATA CORRECTING METHOD FOR PHASESHIFT MASK 位相シフトマスク用データ補正方法 - 特許庁
HALFTONE TYPE PHASESHIFT MASK, BLANK FOR HALFTONE TYPE PHASESHIFT MASK, AND PRODUCTION OF HALFTONE TYPE PHASESHIFT MASK ハーフトーン型位相シフトマスク、ハーフトーン型位相シフトマスク用ブランク及びハーフトーン型位相シフトマスクの製造方法 - 特許庁
SPUTTERING TARGET, METHOD FOR PRODUCING THE SAME, PHASESHIFT MASK BLANK AND PHASESHIFT MASK スパッタリングターゲット、その製造方法、位相シフトマスクブランクおよび位相シフトマスク - 特許庁
METHOD OF MANUFACTURING PHASESHIFT MASK BLANK AND APPARATUS FOR MANUFACTURING PHASESHIFT MASK BLANK 位相シフトマスクブランクの製造方法、及び位相シフトマスクブランクの製造装置 - 特許庁
MANUFACTURING METHOD OF PHASESHIFT MASK BLANK AND MANUFACTURING METHOD OF PHASESHIFT PHOTOMASK 位相シフトマスクブランクの製造方法及び位相シフトフォトマスクの製造方法 - 特許庁
HALFTONE PHASESHIFT MASK BLANK AND HALFTONE PHASESHIFT MASK USING THE SAME ハーフトーン型位相シフトマスクブランク及びそれを用いたハーフトーン型位相シフトマスク - 特許庁
PHASESHIFT MASK AND SEMICONDUCTOR DEVICE 移相マスクおよび半導体デバイス - 特許庁
HALFTONE PHASESHIFT MASK AND BLANK ハーフトーン型位相シフトマスクおよびブランク - 特許庁
METHOD AND DEVICE FOR MEASUREMENT OF PHASE DIFFERENCE OF PHASESHIFT MASK 位相シフトマスクの位相差測定方法および装置 - 特許庁
The phaseshift amount of the phase shifter 22b is -π/4. 位相シフタ22bの位相シフト量は−π/4である。 - 特許庁
The 1st phase shifter 34 uses two APF 3, 4 whose phaseshift is fixed to form 90-degree phaseshift, while the 2nd phase shifter 35 uses an APF1 whose phaseshift is fixed and an APF2 whose phaseshift is adjustable to form a phaseshift. 第1移相器34は、位相量が固定の2つのAPF3、4で90度移相を形成しているが、第2移相器35は、位相量が固定のAPF1と位相調整できるAPF2で移相を形成する。 - 特許庁
HALFTONE TYPE PHASESHIFT MASK AND BLANK ハーフトーン型位相シフトマスクおよびブランク - 特許庁
PRODUCTION OF STRONG PHASE-SHIFT MASK 強い位相シフトマスクを製造する方法 - 特許庁
DEFECT CORRECTION METHOD FOR PHASESHIFT MASK 位相シフトマスクの欠陥修正方法 - 特許庁
PHASESHIFT MASK AND ITS DESIGN METHOD 位相シフトマスクおよびその設計方法 - 特許庁
PHASESHIFT MASK AND ITS MANUFACTURING METHOD 位相シフトマスク及びその製造方法 - 特許庁
PHASESHIFT MASK AND ITS MANUFACTURING METHOD 位相シフトマスクおよびその製造方法 - 特許庁
PHASESHIFT MASK AND PATTERN FORMING METHOD 位相シフトマスク及びパターン形成方法 - 特許庁
PATTERN FORMING METHOD AND PHASESHIFT MASK パターン形成方法及び位相シフトマスク - 特許庁
HALFTONE PHASESHIFT MASK BLANK AND METHOD FOR MANUFACTURING HALFTONE PHASESHIFT MASK ハーフトーン型位相シフトマスクブランク及びハーフトーン型位相シフトマスクの製造方法 - 特許庁
PHASESHIFT MASK AND SEMICONDUCTOR DEVICE PRODUCED BY USING THIS PHASESHIFT MASK 位相シフトマスクおよびその位相シフトマスクを用いて製造された半導体装置 - 特許庁
HALFTONE TYPE PHASESHIFT MASK BLANK AND METHOD OF MANUFACTURING HALFTONE TYPE PHASESHIFT MASK BLANK ハーフトーン型位相シフトマスクブランク、及びハーフトーン型位相シフトマスクの製造方法 - 特許庁
METHOD FOR DETERMINING ALIGNMENT WHEN PHASESHIFT REGION IS FORMED IN MANUFACTURE OF PHASESHIFT MASK 位相シフトマスクの製造における位相シフト領域形成時のアライメント決 - 特許庁
METHOD FOR PRODUCING HALFTONE PHASESHIFT MASK BLANK, HALFTONE PHASESHIFT MASK BLANK, HALFTONE PHASESHIFT MASK AND METHOD FOR TRANSFERRING PATTERN ハーフトーン位相シフトマスクブランクの製造方法、ハーフトーン位相シフトマスクブランク、ハーフトーン位相シフトマスク及びパターン転写方法 - 特許庁
HALFTONE PHASESHIFT MASK BLANK AND HALFTONE PHASESHIFT MASK USING THE SAME ハーフトーン型位相シフトマスク用ブランク及びそれを用いたハーフトーン型位相シフトマスク - 特許庁
HALFTONE PHASESHIFT MASK BLANK AND HALFTONE PHASESHIFT MASK USING THE SAME ハーフトーン型位相シフトマスク用ブランク、及びそれを用いたハーフトーン型位相シフトマスク - 特許庁
METHOD FOR MANUFACTURING PHASESHIFT MASK, PHASESHIFT MASK, AND METHOD FOR TRANSFERRING PATTERN 位相シフトマスクの製造方法及び位相シフトマスク並びにパターン転写方法 - 特許庁
Note that the terms 'frequency shift keying' and 'phase shift keying' are effectively synonymous with frequency modulation and phase modulation.
用語「周波数変位方式」('frequency shift keying')および「位相シフトキーイング」('phase shift keying')は,事実上,周波数変調と位相変調と同義語であることに注意してください. - コンピューター用語辞典
A phase selection section 102 selects a symbol phase at which a phaseshift is minimized. 位相選択部102で、位相ズレが最小となるシンボル位相を選択する。 - 特許庁
PRODUCTION OF PHASESHIFT MASK AND METHOD FOR MEASURING PHASE DIFFERENCE 位相シフトマスクの製造方法および位相差測定方法 - 特許庁
METHOD FOR MEASURING PHASE DIFFERENCE AND METHOD FOR MANUFACTURING PHASESHIFT MASK 位相差測定方法及び位相シフトマスク製造方法 - 特許庁
The phase-shift quantity table may be provided on each phase shifter. 移相量テーブルは移相器毎に設けてもよい。 - 特許庁
METHOD FOR MANUFACTURING HALFTONE PHASESHIFT MASK ハーフトーン型位相シフトマスクの製造方法 - 特許庁
PHASESHIFT MASK AND METHOD OF MANUFACTURING THE SAME 位相シフトマスク及びその製造方法 - 特許庁
PHASESHIFT MASK, AND METHOD OF MANUFACTURING THE SAME 位相シフトマスク及びその製造方法 - 特許庁
HALFTONE TYPE PHASESHIFT MASK AND MASK BLANK ハーフトーン型位相シフトマスク及びマスクブランク - 特許庁
MODULATOR OF PHASESHIFT MODULATION TYPE 位相偏移変調方式の変調器 - 特許庁
HALFTONE PHASESHIFT MASK BLANK AND MASK ハーフトーン型位相シフトマスクブランク及びマスク - 特許庁
VORTEX PHASESHIFT MASK FOR PHOTOLITHOGRAPHY 光学リソグラフィー用ボルテックス位相シフトマスク - 特許庁