「Testing」を含む例文一覧(14405)
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半導体集積回路試験用基板１は、それぞれが多層配線基板であり、その外周部上面にコネクタ２を備える、最下層基板１１、２層目基板１２、３層目基板１３、最上層基板１４を積層する。 - 特許庁 - To allow decreasing the number of pads in a semiconductor device along with its manufacturing method, which comprises a first circuit connected to a connection pad and a second circuit which requires testing.
接続パッドに接続された第１の回路部とテストが必要とされた第２の回路部とを有する半導体装置及びその製造方法に関し、パッド数を削減できる半導体装置及びその製造方法を提供することを目的とする。 - 特許庁 - Based on testing data td and the detected failure list ta outputted from the failure detection system 30, a failure kind-classified state model sn indicating statistical data of a state of the service provision system is generated in each kind of the failure.
試験用データｔｄ及び障害発見システム３０から出力される発見障害リストｔａに基づいて、障害の種類毎にサービス提供システムの状態の統計データを示す障害種類別状態モデルｓｎが生成される。 - 特許庁 - Because of acquiring the measurement data from the existing measuring devices, the testing scenario and sequence can be easily produced at low cost with various communication protocols as targets without needing to construct a mechanism for acquiring measurement data of the various communication protocols.
既存の測定器から測定データを取得するので、さまざまな通信プロトコルの測定データを取得するしくみを構築する必要はなく、さまざまな通信プロトコルを対象として、安価で容易に試験用シナリオおよびシーケンスを作成できる。 - 特許庁 - The joining strength of respective fillets 14 are quantitatively estimated by measuring the height of respective fillets 14 or the like depending on the image of respective fillets 14 obtained by receiving the testing light at a light receiving part 5 installed at the other side of the connecting structure 10.
連接構造体１０の他方の側で受光部５により検査光を受光して得られる各フィレット１４の画像に基づいて、各フィレット１４の高さなどを測定し、各フィレット１４の接合強度を定量的に評価する。 - 特許庁 - The testing apparatus carries out function tests for network relays installed in respective circuits of the network, in which a plurality of circuits led out via respective transformers are connected to a common network bus separately via a protective breaker.
本発明は、それぞれ変圧器を介して導出された複数の回線がそれぞれ保護遮断器を介して共通のネットワーク母線に接続されるネットワークの各回線ごとに設けられたネットワークリレーの機能試験を行う試験装置に関する。 - 特許庁 - The floor material testing apparatus consists of a pair of test rods 2 for applying load to the floor material 1 and a test rod driving device 3 for moving a pair of the test rods 2 up and down alternately to apply load to the surface of the floor material 1 alternately by the leading ends of the test rods 2.
床材１に荷重を加える一対の試験棒２と、一対の試験棒２を交互に上下させて試験棒２の先端で床材１の表面に交互に荷重を加えるようにした試験棒駆動装置３とから成る。 - 特許庁 - Output of the write data DO 1 to 8 to the flash memory 1 is performed by using the input/output terminals IO 1 to 8 of the testing equipment 2, and the completion signal BUSY outputted from the flash memory 1 is monitored at the input/output terminal IO 9.
フラッシュメモリ１に対する書込みデータＤＯ１〜８の出力は、試験装置２の入出力端子ＩＯ１〜８を使って行い、入出力端子ＩＯ９ではフラッシュメモリ１から出力される完了信号ＢＵＳＹを監視する。 - 特許庁 - To provide a spraying corrosion testing device having a hermetically sealing structure by water, capable of preventing mist of corrosive liquid generated in a test tank from leaking to the outside of the test tank, and performing a test excellent in reproducibility and work efficiency in an energy saving state.
試験槽内で生成させた腐食液のミストが前記試験槽外に漏洩するのを防止し、省エネルギーで、再現性と作業性の優れた試験ができる、水による密閉シール構造を具備した噴霧腐食試験装置を提供すること。 - 特許庁 - iv) Description of flight and date and time of the relevant flight (Flight altitude in the civil training and testing area as well as the planned time to enter the civilian training and test air space and the planned time to leave the relevant air space shall be clarified.
四 飛行の内容及び当該飛行を行う日時（民間訓練試験空域における飛行高度並びに民間訓練試験空域への入域の予定時刻及び当該空域からの出域の予定時刻を明らかにすること。） - 日本法令外国語訳データベースシステム - Article 11 (1) A person who intends to import a Class I Specified Chemical Substance shall obtain permission from the Minister of Economy, Trade and Industry; provided, however, that this shall not apply to the case where a person intends to import a Class I Specified Chemical Substance for testing and research purposes.
第十一条 第一種特定化学物質を輸入しようとする者は、経済産業大臣の許可を受けなければならない。ただし、試験研究のため第一種特定化学物質を輸入しようとするときは、この限りでない。 - 日本法令外国語訳データベースシステム - A thermal shock testing device 1 has a high temperature tank 2 and a low temperature tank 3, and is able to alternatively perform heating test control in which a sample body is exposed under a high temperature atmosphere and cooling test control in which the sample body is exposed under a low temperature atmosphere.
冷熱衝撃試験装置１は、高温槽２と低温槽３を有し、試料体を高温の雰囲気温度にさらす加熱試験制御と、低温の雰囲気温度にさらす冷却試験制御とを交互に実行することができる。 - 特許庁 - After performing segmentation in a card shape, when printing is performed to the thermosensitive recording layer 16 by using a thermosensitive printing testing device, red color is developed by low applied energy, black color is developed by high applied energy and printing quality is excellent.
カード状に切り出した後、この感熱記録層１６に感熱印字試験装置を使用して印字したところ、低い印加エネルギーでは赤発色が生じ、高い印加エネルギーでは黒発色を行うことができ、印字品質は良好であった。 - 特許庁 - By supplying the DC voltages to the first and second terminals, the signal for allowing the testing control circuit and the inner circuit to operate is generated so that it is possible to perform the burn-in of the plurality of semiconductor circuits that operate by receiving the high frequency signals.
直流電圧を第１および第２端子に供給することで、テスト制御回路が内部回路を動作させる信号を生成するため、高周波信号を受けて動作する複数の半導体集積回路のバーンインを同時に実施できる。 - 特許庁 - Thus, by electrically connecting a plurality of connect pins 20 of the testing device with the wide wiring part 17, electric conduction is reliably tested while preventing a connection failure, and damage of an important part such as a semiconductor laser part is prevented.
したがって、検査装置の複数の接続ピン２０が拡幅配線部１７と電気的に接続することによって、接続不良を回避して確実に導通検査を行い、かつ半導体レーザ部などの重要部の破損を防ぐことができる。 - 特許庁 - The testing member for optical films 10 is equipped with a base material 11 and a jointing material 12, laminated on one face 11a of the base material 11, characterized in that, at least either one of these base material 11 and the jointing material 12 has masking effect.
光学フィルム用検査部材１０は、基材１１と、基材１１の一方の面１１ａに積層された接着部材１２とを備えており、基材１１および接着部材１２の少なくとも一方が遮光性を有することを特徴とする。 - 特許庁 - To stably shorten the measurement waiting time generated due to dielectric absorption and to stably reduce a steady leakage electric current so as to improve the measurement accuracy of minute electric current and minute current fluctuation in a testing device for a semiconductor wafer.
半導体ウェハの試験装置における微少電流や微少な電流変動の測定精度を向上させるため、誘電吸収のために生じる測定待ち時間を安定に短くし、定常漏れ電流を安定に減少させる。 - 特許庁 - In the case of testing the DRAM etc., after externally inputted writing data or incorporated pattern data are written, data for one row are read and compared with the writing data or externally inputted reference data to determine whether a device passes or fails.
DRAM等のテストに際して、外部入力した書き込みデータあるいは内蔵したパターンデータを書き込んだ後、１行分のデータを読み出し、書き込みデータあるいは外部入力した参照データと比較することにより良否(Pass/Fail) 判定を行う。 - 特許庁 - To provide a mm wave radar testing apparatus that is incorporated into a mm wave radar apparatus for measuring the distance between mobile units and the relative speed especially by using an FM-CW system regarding the mm wave radar apparatus, and can perform an analog test singly by the apparatus.
ミリ波レーダ装置に関し、特にＦＭ−ＣＷ方式を用いて移動体間の車間距離及び相対速度を測定するミリ波レーダ装置に組み込まれ、装置単体でアナログ試験が可能なミリ波レーダ試験装置を提供する。 - 特許庁 - To provide a method and a device for testing the liquefaction and dynamic properties of ground in situ by utilizing a borehole, which can provide dynamic deformation properties with respect to a repeated load on a soil layer in an arbitrary position in the ground by using the simple method.
地盤内の任意の位置の土層の繰り返し荷重に対する動的な変形特性を簡易な方法で得ることができるボーリング孔を利用した原位置での地盤の液状化および動的特性試験方法および試験装置を提供する。 - 特許庁 - To provide an interface circuit capable of reducing its manufacturing cost and accurately performing functional test and debugging by reducing the number of input terminals from the exterior of a miniaturized semiconductor device, and provide a testing method and a debugging method using the same for the semiconductor device.
小型化された半導体装置外部からの入力端子数を少なくし製造コストを抑制、かつ、機能テスト、デバッグを的確に行うことができるインターフェース回路及びそれを用いた半導体装置のテスト方法とデバッグ方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a servo signal-testing device which can conduct quality evaluation, analysis, investigation of defects and so on concerning a servo signal more properly and in more detail since it can test a specific location of a servo signal in the direction of the width of a magnetic tape.
サーボ信号の磁気テープ幅方向の特定の位置を検査することができ、従って、サーボ信号の品質評価や解析、欠陥原因の究明等を、より好適かつ詳細に行うことが可能なサーボ信号検査装置を提供する。 - 特許庁 - To provide a method and a system for evaluating whether adjustment factors used in a process of testing or monitoring an operation system need to be updated or varied and varying and updating those adjustment factors when so.
運転システムを試験又は監視するプロセスで使用される調整因子を更新又は変更する必要があるか否かを評価し、且つ必要又は希望がある場合にはそれらの調整因子を変更し、更新する方法及びシステムを提供する。 - 特許庁 - To suppress the increase of the test time even if the number of chips on a wafer increases, differently from a conventional method of testing the chips on the wafer one by one and marking the chips to identify good/defective products or storing information about the good/defective products.
ウェハー上のチップを１個ずつテストし、良品/不良品の識別が出来るようにマークをつけていくか、良品/不良品の情報を記憶していく従来の方式では、ウェハー上のチップ数が増えるに従ってテスト時間が増える。 - 特許庁 - To provide a stress measuring and testing method, capable of easily extracting a sample to be measured from dies without the adhesion of part of the sample to be measured to the surface of a tester, such as a die or a rotating shaft after the completion of stress measurement and test.
応力測定試験終了後の被測定試料の一部がダイあるいは回転軸など試験機の表面に付着することなく、被測定試料をダイから簡単に取り出すことができる応力測定試験方法を提供する。 - 特許庁 - The inspecting apparatus for a semiconductor device for testing durability of the semiconductor device against a temperature, comprises: a match plate; and a contact module connected with the match plate, and having a radiating part radiating the heat generating from the semiconductor device to the outside and a test part for press-contact of lead wires of the semiconductor device.
このように正確なテストが行われ、テスト時発生する半導体素子の熱によって良品の半導体素子を不良品と判定する誤判定が抑制されることにより、生産性向上及び費用を節減することができる。 - 特許庁 - In this testing device, a center hole jack 16 is set on the lower side of a hollow pipe material 10, and a tensile force is applied to the hollow pipe material 10 to measure the drawing adhesion resistance between the pipe material 10 and a hardened hardenable material 12 hardened and adhered thereto.
試験装置は、中空管体１０の下端側に、センターホールジャッキ１６を設置して、中空管体１０に引張り力を加えて、中空管材１０と、硬化付着された硬化性物質１２との間の引抜き付着抵抗を測定する。 - 特許庁 - A connecting structure 10 is irradiated from one side by a light emission part 4 so that a testing light passes through both sides of respective electrode plates 11 of the connecting structure 10 of which, the plurality of electrode plates 11 are vertically jointed to a current collection plate 12.
複数枚の極板１１が集電板１２に垂直に接合された連接構造体１０の各極板１１の両側を検査光が通過するように、連接構造体１０を一方の側から照明部４により照明する。 - 特許庁 - A light assembly comprises a light source, an optically transmissive self-supporting substrate, and coupled with but unattached to the substrate, a voided high Tg semi-crystalline polymeric optical diffuser film that shrinks less than 1% as a result of thermal shrinkage testing.
光源、光学的透過性の自己支持性基体、及び、基体と一体にされるが付着しておらず、熱収縮試験の結果として１％未満で収縮するボイドを含む高Ｔｇ半結晶ポリマー光学ディフューザーフィルムを備える光アセンブリ。 - 特許庁 - To provide an operation control method and a device which is provided with a semiconductor switching means for low-voltage load, capable of precisely and continuously following to the load control value, without using industrial water and is capable of maintaining the value at the load characteristic testing for an electric generator and the like.
発電機等の負荷特性試験において、工業用水を使用せずに負荷制御値に連続的に精度よく追従し、その値を持続できる半導体開閉手段を備えた低圧負荷演算制御方法及び装置の提供。 - 特許庁 - With this, by a simple operation of plugging in the change-over plug into the bridge connector, the connection of the second electronic part and the first electronic part is cut off, and at the same time, a third electronic part such as a testing device can be connected there with the second electronic part.
これによって、切替えプラグをブリッジコネクタに差し込む簡単な操作により、第２の電子部と第１の電子部との接続を切り離すと共に、そこに試験装置などの第３の電子部を第２の電子部と接続することができる。 - 特許庁 - To solve the problem that in testing an application running asynchronously to a unit test tool by use of the unit test tool, the application cannot be accurately tested since the application is tested by the unit test tool asynchronously with completion of the application.
単体テストツールを用いて単体テストツールとは非同期で動作するアプリケーションのテストを行う場合、単体テストツールでテストの合否を判断するタイミングとアプリケーションの動作完了のタイミングが一致しないため、正しく合否判定ができないこと。 - 特許庁 - In this carry-testing medium 10, the surface of a base material 11 is formed with an electroconductive layer 12, and the surface of the electroconductive layer 12 is formed with a geometric pattern by two kinds of ink, i.e., a high-friction ink material 13 and a low-friction ink material 14.
搬送テスト用媒体１０は、基材１１の表面に導電層１２が形成され、さらに動電層１２の表面に高摩擦インク材１３と、低摩擦インク材１４との２種類のインクで幾何学的模様が形成されている。 - 特許庁 - Data generators 104A, 104B, 104C for testing a CAM are inserted between an APG 101 for RAM and CAM-macros 105A, 105D, 105E, write-in data of the CAM-macros is generated from an address signal 12 directly or by decoding.
ＲＡＭ用ＡＰＧ１０１とＣＡＭマクロ１０５Ａ，１０５Ｄ，１０５Ｅの間にＣＡＭテスト用データジェネレータ１０４Ａ，１０４Ｂ，１０４Ｃを挿入し、アドレス信号１２から直接、あるいはデコードしてＣＡＭマクロの書き込みデータを生成する。 - 特許庁 - In addition, a pair of bearing housings are fixed on a bearing support member, and a load sensor for measuring force transmitted from the tires of the vehicle to the flat belt mechanism is arranged between a base of the travelling testing device for the vehicle and the bearing support member.
また、上記一対の軸受のハウジングは軸受支持部材に固定され、車両のタイヤからフラットベルト機構に伝達される力を計測する荷重センサは、車両用走行試験装置のベースと軸受支持部材との間に配置される。 - 特許庁 - When a person in charge of a building site operates an input part 52 of the acceptance-testing terminal device 5 to perform reading operation of the IC tag, the control part 51 reads data recorded in the IC tag embedded in the building member used in a building.
建築現場の担当者が検収用端末装置５の入力部５２を操作してＩＣタグの読み取り操作を行うと、制御部５１は、建築物に使用された建築部材に埋め込まれたＩＣタグに記録されたデータを読み取る。 - 特許庁 - This IC socket for mounting detachably a device to be measured on a test board is equipped with a signal generation part for a test for generating a signal for the test based on a control command from a testing device body, and outputting it to the device to be measured.
被測定デバイスをテストボード上に着脱自在に実装するＩＣソケットにおいて、試験装置本体からの制御指令に基づいて試験用信号を発生して被測定デバイスに出力する試験用信号発生部を備える。 - 特許庁 - In this embodiment, a balance merit grade of G 100 or less based on JIS B0905, is set to a rotary body, for example, an input shaft, a disc and a power roller for constituting the toroidal continuously variable transmission, by using, for example, a balance testing machine 200.
本発明の実施形態では、例えば釣合い試験機２００を用いて、トロイダル型無段変速機を構成する回転体、例えば入力軸、ディスク、パワーローラに対してＪＩＳ Ｂ０９０５に基づくＧ１００以下の釣合い良さ等級を設定している。 - 特許庁 - The semiconductor testing apparatus reads out all of the 5-bit from a one-time readout, from the storage positions of data storage sections 108a, 108b and 108c according to the constraint of the readout with a data arithmetic section 110 and performs determination processing of data with a determining section 111.
そして、データ演算部１１０により読み出しの制限に従ってデータ格納部１０８ａ，１０８ｂ，１０８ｃの格納位置から１回の読み出しで５ビット全てのデータを読み出し、判定部１１１によりデータの判定処理を行う。 - 特許庁 - To enable temperature of cooling water inside a pipe fitting 6 connected to an inlet or an outlet of a radiator to be measured by equalizing a temperature distribution of the cooling water and to reduce a water flow resistance inside the pipe fitting 6 as low as possible in testing a cooling performance of the radiator.
ラジエータの冷却性能試験において、ラジエータの出入口に接続される配管６内の冷却水の水温分布を均一にして水温を測定することができ、かつ、この配管６内の通水抵抗を極力低くする。 - 特許庁 - This device is made up of an inspecting cup ring unit A that is structured by mounting an annular outer magnet member 3 on the inside circumferential side of a cup-shape portion 1, a motor 4 that rotates the inspecting coupling unit A in the circumferential direction, a testing base 10, and a measuring means B.
カップ状部１の内周側にリング状のアウターマグネット部材３が装着されてなる検査用カップリング体Ａと、該検査用カップリング体Ａを円周方向に回転させるモータ４と、テスト台１０と、計測手段Ｂとからなること。 - 特許庁 - In this superconducting coil vertical vibration testing device, the superconducting coil 1 is equipped with an vibration rod 21 fixed to a simulated external vessel 4 by the load support materials 2, 3, and a hydraulic exciter 26 to which the vibration rod 21 is connected through a vacuum vessel 12.
超電導コイル上下加振試験装置において、超電導コイル１が、荷重支持材２，３によって模擬外槽４に固定される加振ロッド２１と、この加振ロッド２１が真空槽１２を貫通して連結される油圧加振機２６とを具備する。 - 特許庁 - To obtain testing equipment for a radio terminal and a base station which can realize improvement in the accuracy of reproduction of a radio environment in a real field, by enabling reduction of an error in the direction of arrival of a path and increase of the total electric power of the path being reproduced.
パス到来方向の誤差の減少および再現するパスの総電力の増大を可能とすることにより、実フィールドにおける電波環境の再現精度向上を実現可能な、無線端末および基地局用の試験装置を得ること。 - 特許庁 - In testing an LED driver 44, the analog switches 36 to 43 are switched on/off, and enables the input/output operation functions of the input/output circuit 56 are invalidated, and a connection path from external terminals 4, 5 to the LED driver 44 is formed.
ＬＥＤドライバ４４をテストする場合、アナログスイッチ３６〜４３のオンオフを切り換えるとともに、入出力回路５６の入出力動作機能を有効化し、外部端子４、５からＬＥＤドライバ４４までの接続経路を形成する。 - 特許庁 - To output the determined result of a test to the outside without increasing the number of pins to test a successive approximation type A/D converter mounted on an LSI, to execute the test of the A/D converter and the test of other circuits in parallel, and to shorten time for testing the LSI.
LSI に搭載された逐次比較型A/D コンバータのテストを行なうためにピン数を増やすことなくテストの判定結果を外部へ出力し、A/D コンバータのテストを他の回路のテストと並行に実行でるようにし、LSI のテスト時間の短縮を実現する。 - 特許庁 - The application testing system includes an OS holding part; a selective start signal receiving part; a selective start part; an application receiving part; an application introducing part; and a remote control signal receiving part.
本発明は、ＯＳ保持部と、選択起動信号受信部と、選択起動部と、アプリケーション受信部と、アプリケーション導入部と、遠隔操作信号受信部と、を有するアプリケーション試験装置であり、本発明によって前記課題を解決するものである。 - 特許庁 - This scratch testing machine used for evaluating a film formed on the surface of a base board is provided with a probe 2 abutting to the film and a pressing mechanism pressing the probe 2 to the film when the tip part of the probe 2 is brought into contact with the film.
基板の表面に形成された膜の評価に使用する引掻き試験機であって、膜に当接する探針２と、探針２の先端部が膜に当接した状態において探針２を膜に押圧する押圧機構４とを備えている。 - 特許庁 - To provide an in-situ permeability testing device which can measure in-situ coefficients of permeability of a rolled ground stratum quickly, easily, and at multiple points, and can control water permeability necessary for earth materials with good accuracy, and to provide an in-situ permeability measuring system.
圧地盤層の透水係数を原位置で迅速・簡易かつ多点的に計測することができ、材料の要求される透水性能を精度良く管理することができる原位置透水試験装置および原位置透水性計測システムを提供する。 - 特許庁 - To provide a device for performing a highly accurate test by suppressing abnormality generation in a torque sensor, in a testing device for performing a test of a prime mover by realizing a state where the prime mover is loaded simulatively on a vehicle by connecting a dynamometer to the prime mover to apply a load torque.
原動機に動力計を連結して負荷トルクを印加し、擬似的に原動機を車両に搭載した状態を実現して原動機の試験を行う試験装置において、トルクセンサの異常発生を抑制して高精度の試験を行う。 - 特許庁 - To provide a signal generating circuit of a semiconductor testing device that is capable of reducing the data transmission amount for skew correction when an operation mode is switched, and to allow concurrent use of respective format channels without reducing the number of effective channels.
動作モードを切り替えたときのスキュー補正用のデータ転送量を減らし、有効なチャンネル数を減少させることなく各フォーマットチャンネルを同時に使用することができる半導体試験装置の信号発生回路を提供すること。 - 特許庁
- 特許庁
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- ※この記事は「日本法令外国語訳データベースシステム」の2010年9月現在の情報を転載しております。
