To accurately confirm, in an operation terminal, configuration information of a server system, as to a configuration management testing method and program by the operation terminal of the server system provided with a plurality of partitions and server system control parts. 本発明は複数のパーティションとサーバシステム管理部を備えたサーバシステムの操作端末による構成管理試験方法及びプログラムに関し,サーバシステムの構成情報を設定した場合に操作端末において正確に確認することができることを目的とする。 - 特許庁
To acquire a highly-accurate measurement result in a tire testing machine having a spindle device 2 for holding rotatably a test tire T and provided with a detector 29 capable of measuring a load generated from the test tire T to the spindle device 2. 供試タイヤTを回転自在に保持するスピンドル装置2を有し、このスピンドル装置2に対して供試タイヤTから発生される荷重を測定可能な検出器29が設けられたタイヤ試験機において、高精度の測定結果を得ることができるようにする。 - 特許庁
To provide a serial communication apparatus test device for specifying which circuit out of a plurality of circuits in a serial communication card for performing transmitting/receiving processing of a serial communication apparatus generates a trouble and to provide a method for testing the serial communication apparatus. シリアル通信装置の送受信処理を行なうシリアル通信カードにおいて、そのシリアル通信カード上の複数の回路のうちいずれの回路に不具合があるかの特定する、シリアル通信装置試験装置及びシリアル通信装置の試験方法を提供する。 - 特許庁
To provide a device and method for testing semiconductor integrated circuit device by which test items can be set more efficiently by setting the items based on test results and, consequently, an object to be measured can be tested efficiently. 試験結果に基づいて試験項目を設定することにより効率的に試験項目を設定することができ、その結果として効率的に被測定対象の試験をすることができる半導体集積回路試験装置及び試験方法を提供する。 - 特許庁
To provide a marking materials and security markings, a method for integrating these into a paper web of documents, bond paper, banknotes, packaging and goods, and a method for testing the electroconductive marking substances and security markings integrated in this way. 標識物質と安全標識、およびこれらを文書、有価証券、銀行券、包装および商品の紙料ウエブに統合するための方法、ならびにこうして統合された導電性標識物質および安全標識を試験するための方法を提供する。 - 特許庁
The synchronous semiconductor integrated circuit device receiving an external clock signal ext.CLK in a testing operation mode executes a writing operation and a reading operation under the control of an internal clock regulator 200 for generating an internal clock signal int.CLK having a high frequency. 同期型半導体記憶装置1000は、テスト動作モードにおいて、外部クロック信号ext.CLKを受けて、周波数の高い内部クロック信号int.CLKを生成する内部クロック調整回路200に制御されて、書込み動作および読出動作を行う。 - 特許庁
A comparison and determination circuit 50 compares an output signal for testing from the selected output circuit, with an output signal for reference from the reference output circuit block 41, and determines whether or not the selected output circuit is faulty, based on the comparison result. 比較判定回路50は、選択された出力回路からのテスト用出力信号と、参照出力回路ブロック41からの参照用出力信号とを比較し、その比較結果に基づき、選択された出力回路が不良か否かを判定する。 - 特許庁
To provide a material testing machine capable of performing control for holding the plastic strain amplitude of a test piece to required magnitude under automatic operation and capable of reducing the load of an operation and eliminating the possibility to perform the test error caused by an artificial mistake. 試験片の塑性歪み振幅を所要の大きさに維持する制御を自動運転のもとに行うことができ、オペレータの負担の軽減並びに人為的ミスに起因する誤った試験の行う可能性をなくすことのできる材料試験機を提供する。 - 特許庁
To provide a device and method for testing of rubber, capable of reproducing the behavior of rubber in actual abrasion with higher precision, thereby allowing the measured degree of abrasion and abrasion form of the rubber to be more precisely matched with actual abrasion results. 実際の摩耗時におけるゴムの挙動をより高精度に再現することができ、これにより、測定されるゴム摩耗度および摩耗形態を、実際の摩耗結果に、より精度良く対応させることが可能なゴム試験機およびゴム試験方法を提供する。 - 特許庁
To provide a device for measuring and testing a transformation plasticity coefficient and a method for identifying a transformation plasticity coefficient, which easily detect a deformation quantity of a test piece in a temperature change associated with phase transformation, and can identify a compressed transformation plasticity coefficient based on the deformation quantity. 相変態をともなう温度変化中の試験片の変形量を容易に検出し、それに基づいて圧縮の変態塑性係数を同定することができる変態塑性係数測定試験装置および変態塑性係数同定方法を提供する。 - 特許庁
To diagnose a service provision status of an image formation system while network connection for operating the image formation system is kept as it is without changing a connection configuration or the like without installing a testing device, and without performing test packet transmission work by a user. 画像形成システムを運用するネットワーク接続のままの状態で、接続構成等を変更することなく、試験用の装置を設置することなく、ユーザによるテストパケット送信作業もなく、画像形成システムのサービス提供状況を診断すること。 - 特許庁
To provide a device for testing a semiconductor that facilitates verification as to whether control and measurement of unintended DUT are executed mistakenly, out of the DUTs in a plurality subjected to simultaneous measurement, in the case when the DUTs are subjected to the simultaneous measurement. 複数のDUTを同時測定している場合、同時測定している複数のDUTのうち、誤って意図しないDUTに対しての制御および測定を行っていないかを容易に検証することが可能な半導体試験装置を実現する。 - 特許庁
The hail impact testing apparatus in which an ice ball is launched from a launcher tube through gas pressure is characterized in that it has an on-off valve and a gas introducing pipe which is connected to the launcher tube and of which the inner diameter is smaller than that of the launcher tube. 気体の圧力により発射筒より氷球を発射するヘイルインパクト試験装置において、開閉弁と気体導入管を有し、気体導入管は発射筒に接続されており、気体導入管が発射筒の内径より細い事を特徴とする。 - 特許庁
To provide a flat display device and a method for testing the flat display device which are applied, for example, to a liquid crystal display device with a driving circuit integrally formed on an insulating substrate, so as to simply and certainly detect a defect related to a potential failure. 本発明は、フラットディスプレイ装置及びフラットディスプレイ装置の試験方法に関し、例えば絶縁基板上に駆動回路を一体に形成した液晶表示装置に適用して、電位欠陥に係る不良を簡易かつ確実に検出することができるようにする。 - 特許庁
A solder wettability testing apparatus comprises a holding member 3 inserted into an inner cylinder of a cylindrical component 2 and having a central hole 3a and a slit 3c provided as gassing passages so as not to store a gas of the flux in the component 2 at the time of dipping in the solder tank. 筒状部品2の内筒に挿入されて当該部品を保持する保持部材3において、はんだ槽への浸漬時に筒状部品2の内部にフラックスのガスが溜まらないように、ガス抜き用通路としての中心孔3a、スリット3cを設ける。 - 特許庁
The hot-cold shock testing device includes first control means for stopping at least one of the refrigerator, the first heater and the second heater to start a test interruption before starting the next hot-cold cycle operation after the end of the high temperature exposure state. 冷熱衝撃試験装置は、高温さらし状態が終了した後、次の冷熱サイクル動作を開始する前に、冷凍機、第1加熱器および第2加熱器のうちの少なくとも1つを停止させて試験の中断を開始する第1制御手段を備える。 - 特許庁
A continuity inspection display unit 33 is arranged and a person in charge confirms that the prize winning sensor is connected by displaying the number of prize winning balls (1, 2, etc.), which enter prize winning ports in the unit 33 for testing in a test mode. 導通検査用表示器33を配置し、テストモードのときは、導通検査用表示器33にテストのために入賞口に入れた球の入賞球数を表示(例えば、1、2・・・)することで、係員は該当の入賞センサが導通していることを確認する。 - 特許庁
To provide a deformed disk for testing which is obtained by deforming a disk, like a DVD disk, formed by bonding two substrates to each other in order to prevent deformation to a desired shape and a method of deforming the disk which is capable of easily and surely yielding such deformed disk. DVDディスクのように変形を防ぐため2枚の基板を張り合わせて形成したディスクを所望の形状に変形させたテスト用の変形ディスク及びそのような変形ディスクを簡単、確実に得ることの出来るディスク変形方法を提供すること。 - 特許庁
To provide a device for conducting a restoring test of a base isolation floor capable of safely and smoothly conducting the test without generating a flight substance in load tripping by applying a testing load to the base isolation floor, then quickly releasing the load. 免震床に試験負荷をかけ、次いでその負荷を急激に開放することにより、その免震床の復元試験を行う装置において、負荷引き外し時に飛翔物が発生することなく、安全に且つ円滑に試験を行うことができる装置の提供。 - 特許庁
In the LSI tester for testing whether an LSI for outputting an analog signal waveform is good or not, at least a part of an arithmetic processing part for processing an output signal from an LSI to be tested (DUT) is configured by logical synthesis based on an FPGA. アナログ信号波形を出力するLSIの良否をテストするLSIテスタにおいて、被測定対象LSI(DUT)の出力信号を処理する演算処理部の少なくとも一部がFPGAによる論理合成で構成されたことを特徴とするもの。 - 特許庁
In a multilayer interconnection substrate constituting a part of a wafer collective contact board used for collectively testing semiconductor devices formed on a wafer in multiple numbers, a resistor, for example, is provided on each I/O branch wiring 17 branching from an I/O common wiring. ウエハ上に多数形成された半導体デバイスの試験を一括して行うために使用されるウエハ一括コンタクトボードの一部を構成する多層配線基板において、例えば、I/O共通配線から分岐した各I/O分岐配線17上に抵抗を設ける。 - 特許庁
Further, the burn-in testing can be efficiently performed by automatically determining the result of the burn-in tests of both of the logic circuit 403 and the hard macro 402. スキャンテストを用いたロジック回路403のバーンインテストと同時にハードマクロ402のバーンインテストをBIST回路401を用いて行い、また、ロジック回路403およびハードマクロ402のバーンインテストの結果を自動判定することにより、効率的にバーンインテストを行うことができる。 - 特許庁
To provide a high-reliability IC testing device by using a semiconductor relay, and to provide a semiconductor integrated circuit enabling a high speed test by applying a voltage to terminals to suppress the capacity between output terminals at the off-time of the semiconductor relay. 半導体リレーを用いることで、信頼性の高いIC試験装置を提供すること及び、半導体リレーがOFF時に端子に電圧を印加し、出力端子間容量を抑えることで、高速な試験を可能とする半導体集積回路試験装置を提供する。 - 特許庁
To provide a test circuit and method of a semiconductor integrated circuit capable of testing whether a through via formed in a single chip on a wafer is defective, and whether a through via formed in a semiconductor integrated circuit packaged is defective. ウェハ上の単一チップに形成された貫通ビアの不良の可否をテストすることができ、またパッケージングされた半導体集積回路に形成された貫通ビアの不良の可否をテストすることができる半導体集積回路のテスト回路及び方法を提供する。 - 特許庁
This red-corpuscle reagent for testing blood-group antibodies in blood is characterized in that red corpuscles are suspended in an aqueous medium including a gelatinizer, and gelated by being refrigerated to keep a solid form while returning to a liquid state at use temperatures. 血液中の血液型抗体を試験するための赤血球試薬であって、ゲル化剤を含む水性媒質中に赤血球を懸濁させ、冷蔵保存によりゲル化して固形を維持する一方、使用時の温度では液状に復帰することを特徴とする。 - 特許庁
To provide a low price semiconductor integrated circuit that can write a physical position in the wafer state to a semiconductor integrated circuit without use of a laser repair apparatus, and also to provide a semiconductor integrated circuit testing apparatus that can write the physical position in the semiconductor integrated circuit. レーザーリペア装置を用いることなく、半導体集積回路にウェハ状態時の物理位置を書き込める安価な半導体集積回路、及び該半導体集積回路に前記物理位置を書き込む半導体集積回路検査装置を提供する。 - 特許庁
To provide a closing device capable of automatically pinching a hose 14 after discharging air inside the hose 14 and securely closing a predetermined position of the hose 14 when testing pressure resistance and presence of leak of the hose 14. ホース14の耐圧性能や漏れの有無の試験に際し、試験の対象となるホース14内の空気を排出し、然る後ホース14内の圧力により自動的にホース14をピンチして、ホース14の所定位置を確実に閉鎖することのできる閉鎖装置を提供する。 - 特許庁
The testing device includes an input terminal IN, an output terminal OUT, and a control terminal CTRL, and tests a semiconductor device 1 including operation in which the output terminal is in a high impedance state based on a control signal applied on the control terminal CTRL. 試験装置は、入力端子IN、出力端子OUTおよび制御端子CTRLを含み、制御端子CTRLに印加された制御信号に基づき出力端子がハイインピーダンス状態となる動作を含む半導体装置1を試験する。 - 特許庁
In the adhesive property testing method for evaluating adhesive properties by adding force to the adherend and the material to be tested adhered thereto, the primer is applied to the surface to be adhered of the adherend in coincidence with the adhesive surface of the adherend with the material to be tested. 被着体とこれに接着した被試験材とに力を加えて接着性を評価する接着性試験方法において、被着体と被試験材との接着面に一致させて被着体の被着面にプライマーを塗布することを特徴とする方法とする。 - 特許庁
To prevent an inner cylinder from being displaced in a direction orthogonal to the axis of a rubber bush when a static load is imposed on the outer circumference of the rubber bush in a jig for testing characteristics of the rubber bush, and to accurately measure a static spring constant of the rubber bush in the direction orthogonal to the axis. ラバーブッシュの特性試験装置用治具において、ラバーブッシュの外周に軸直方向の静荷重を付与したときにその静荷重で内筒が軸直方向にずれるのを防止し、ラバーブッシュの軸直方向の静ばね定数を正確に測定する。 - 特許庁
To provide an inspection system which stores SPD data stored in a personal computer to an inspection device which cannot be connected to the personal computer in a short time, to improve the operation efficiency in testing a substrate such as DIMM, and which can be constructed at low cost. パソコンに保存されたSPDデータをパソコンに接続できない検査装置に保存する作業を短時間で簡単に行い、DIMM等の基板検査の作業効率を向上させることができる低コストで構築可能な検査システムを提供する。 - 特許庁
The environmental testing device 1 includes: a sample arrangement part 2 at which a heat generation sample body W generating heat is arranged; an air blower 12; a heating means 13; an air replacement means 21 capable of replacing heated air with outside air; and at least one cooling means. 環境試験装置1は、発熱する発熱試料体Wが配置される試料配置部2と、送風機12と、加熱手段13と、加熱された空気を外部の空気と置換可能な空気置換手段21と、少なくとも1つの冷却手段とを有している。 - 特許庁
To provide an adhesive property testing method which enables the adhesive properties in the same state as in a state where an object, obtained by adhering a sealing material or the like to an adherend such as a building member coated with a primer or the like, is actually used to be simply and properly evaluated. プライマーを塗布した建築用部材等の被着体にシーリング材等を接着したものが実際に使用される状況と同様の状況での接着性を、簡易かつ適切に評価することのできる接着性試験方法を提供する。 - 特許庁
The vibration testing device includes: a servo control unit 4 for controlling the shaker 2; an excitation control unit 3 for controlling the servo control unit; a load sensor 11 for detecting a load applied from the shaker to the table; and a displacement sensor 5 and an acceleration sensor 6 for detecting the displacement of the table. 加振機を制御するサーボ制御装置4と、このサーボ制御装置を制御する加振制御装置3と、テーブルに加振機から加えられる荷重を検出する荷重センサ11と、テーブルの変位を検出する変位センサ5および加速度センサ6とを備える。 - 特許庁
To provide a radiation performance testing device of a radiator which is used for cooling an engine of, for example, a vehicle and can safely and promptly collects cooling water of the radiator, and a method for collecting the radiator cooling water. 車両等のエンジン冷却用に用いられるラジエータの放熱性能試験装置に関し、安全で迅速にラジエータの冷却水の回収が行えるラジエータの放熱性能試験装置及びラジエータ冷却水の回収方法を提供することを課題とする。 - 特許庁
A bending deflection shape measuring device incorporated into the three-point bending testing device includes a movable noncontact displacement gage 4, its sending device 5, a sending amount control device 6, a sending amount measuring device 7, a data recording device 8 and a data analyzer 9. 3点曲げ試験装置に組み込まれた曲げたわみ形状測定装置であり、移動可能な非接触変位計4と、その送り装置5と、送り量制御装置6と、送り量測定装置7と、データ収録装置8と、データ解析装置9からなる。 - 特許庁
Namely, the displacement detector 60 detects the moving amount of the load transmission shaft 36 to measure the amount (recessed depth) of an indenter 21 which is connected to a distal end of the load transmission shaft 36, being pushed in with a test piece 100 by applying the testing force. すなわち、この変位検出器60は、負荷伝達軸36の移動量を検出することで、負荷伝達軸36の先端に接続された圧子21が、試験力が与えられたことにより試験片100に押し込まれた量(くぼみ深さ)を計測している。 - 特許庁
To provide a friction test device capable of correctly analyzing μ-S characteristic between an object to be tested and a road surface having various conditions, and particularly accurately analyzing the relationship between the object to be tested having a high temperature dependence and the road surface on a testing machine. 被試験体と様々な条件の路面との間のμーS特性を正確に解析し、特に温度依存性の高い被試験体と路面との関係を精度良く、試験機上にて解析することができる摩擦試験装置を提供することを目的とする。 - 特許庁
To provide a load testing machine for performing a plurality of tests, such as a test for simultaneously applying loads of a plurality of weights to a test object and a test for applying a load to the test object while increasing the load in steps, without requiring any attachment/detachment of a dedicated tool. 被試験物に複数の分銅の荷重を同時に負荷する試験、被試験物に荷重を段階的に増加させて負荷する試験等複数の試験を専用の治具の着脱を要することなく行うことができる荷重試験機を提供する。 - 特許庁
To provide a peritoneal function testing method and a peritoneal dialysis planning apparatus utilizable for future diagnosis prescription by accurately analyzing the peritoneal function (peritoneal hyperergasia mechanism) of a peritoneal dialysis patient while using various data based on a conventional method. 従来法に基づく各種データを用いながら、腹膜透析患者の腹膜機能(腹膜機能亢進機序)を正確に分析し、将来的な診断処方に活かせることのできる腹膜機能検査方法および腹膜透析プランニング装置を提供する。 - 特許庁
To provide a disc-type tire testing machine of a simple constitution capable of performing tests, even at large steering angles and forming snow and ice surfaces in a short time by a reduced amount of energy for cooling, in tests on snow and ice surfaces. 本発明は、簡素な構成で、大きな操行角度でも試験が行うことができ、また、氷雪面での試験においても、冷却するためのエネルギーが少なく、且つ短時間で氷雪面を形成できるディスク式タイヤ試験機を提供することを目的とする。 - 特許庁
The apparatus (100 and 210) includes a polymer interdispersed with an electrically conductive additive such that the apparatus provides the necessary electrical loading to the RF coils (56 and 144) for testing and calibration of the MRI system (10) but is free of liquid. 装置(100、210)は、導電性添加物を内部分散させたポリマーを含んでおり、これによって本装置はMRIシステム(10)の試験及び較正のためにRFコイル(56、144)に対して必要な電気的負荷を提供する一方で液体を含んでいない。 - 特許庁
To evaluate the lift amount of a coil without manufacturing a test piece by utilizing an electromagnetic analysis device, and to obtain a material constant directly from the testing material to dealing with the time sequential change of the metallic material or the material difference adjacent to a crack. 試験片を製作することなく、電磁気解析装置を利用し、テストコイルの浮き上がり量を評価すること、また、金属材料の時系列変化、あるいはき裂近傍の材料の違いにも対応するために、被検査材から直接材料定数を求めること。 - 特許庁
In the testing apparatus for the temperature characteristic of the electronic component, the characteristic of the electronic component is tested in a state that the electronic component is maintained at a prescribed temperature, the electronic component is brought into contact with a temperature control unit which is maintained at the prescribed temperature, and the temperature of the electronic component is controlled. 電子部品を所定温度に維持した状態で該電子部品の特性を試験する電子部品の温度特性試験装置において、前記電子部品を所定温度に維持された温度調節ユニットに接触させ、該電子部品の温度を制御する。 - 特許庁
A comparison circuit 20 stores the comparison result data between the pulse width time of the pulse of an input signal IS for testing inputted to the delay circuit 10, and the delay time of delay signals PM-PN outputted from taps PM-PN in the delay circuit 10 in a comparison result register 30. 比較回路20は、遅延回路10に入力されたテスト用入力信号ISのパルスのパルス幅時間と、遅延回路10のタップPM〜PNから出力される遅延信号PM〜PNの遅延時間との比較結果データを、比較結果レジスタ30に記憶する。 - 特許庁
Such a detector allows the servo circuit to compensate for a reversed-connected read/write head, and thus allows a manufacturer to forego time-consuming and costly testing to determine whether the head is correctly connected to the servo circuit. このような検知器は、サーボ回路が逆接続された読取・書込ヘッドを補償することを可能とし、従って、ヘッドがサーボ回路へ正しく接続されるか否かを決定するために時間がかかりコスト高となるテスト製造業者が見送ることを可能とする。 - 特許庁
Accordingly, signal lines for a test signal can be reduced as compared with prior art in which one signal generating circuit is provided at a center of a semiconductor substrate and test signals are given from the generating circuit to the two testing circuits, and hence its chip area may be small. したがって、半導体基板の中央に1つの信号発生回路を設け、その信号発生回路から2つのテスト回路にテスト信号を与えていた従来に比べ、テスト信号用の信号線を削減することができ、チップ面積が小さくて済む。 - 特許庁
The testing device 4 of power transmission mechanism 5 comprises:the motor 2 connected to the transmission mechanism 5; the simulator 3 for calculating the actual indicated torque of the real internal combustion engine; the motor control means 6 for controlling the output of the motor 2, based on the indicated torque. 動力伝達機構5の試験装置4であって、動力伝達機構5に接続されるモーター2と、実機の内燃機関の図示トルクを算出するシミュレーター3と、図示トルクに基づいて、モーター2の出力を制御するモーター制御手段6と、を備える。 - 特許庁
To provide a method and apparatus capable of accurately testing the capacity of an viscoelastic object for feeding or frictionally separating a sheet for a short time and excellent in reproducibility. 本発明は、シートを搬送或いは摩擦分離するための粘弾性体の性能試験を短時間で且つ正確に行うことが出来、再現性に優れた粘弾性体の試験方法及び粘弾性体の試験装置を提供することを可能にすることを目的としている。 - 特許庁
We agreed that supervisors should have strong and unambiguous mandates, sufficient independence to act,appropriate resources, and a full suite of tools and powers to proactively identify and address risks, including regular stress testing and early intervention.
我々は,強固で明確なマンデート,行動に当たっての十分な独立性,適切な資源,定期的なストレステスト及び早期介入を含めたリスクを事前に特定し対処するための一揃いの手法と権限を監督当局が持つべきであることに合意した。 - 財務省