「Testing」を含む例文一覧(14405)
＜前へ 1 2 .... 262 263 264 265 266 267 268 269 270 .... 288 289 次へ＞- Therefore, the “period during which the patented invention was unable to be worked” means either “the period of time spent conducting the testing necessary to obtain a disposition plus the period between the date on which the disposition was filed for and the date of the disposition”, or “the period between the date of patent registration and the date of the disposition”, whichever is shorter.
このため、処分を受けるのに必要な試験に要した期間と処分の申請から処分を受けるまでの期間を合わせた期間のうち、特許権の設定登録の日以降の期間が、｢特許発明の実施をすることができなかった期間｣となる。 - 特許庁 - In this heat degradation testing machine for performing a heat degradation test of a plurality of test pieces S, while circulating heated air in a test vessel 1, a plurality of cells 5 openable at the upper and lower ends and capable of storing the test pieces S respectively in the test vessel 1 are provided.
試験槽１内で加熱した空気を循環させながら複数の試験片Ｓの熱老化試験を行うようにした熱老化試験機において、試験槽１内に試験片Ｓをそれぞれ収容可能な、上下が開口する複数のセル５を設置する。 - 特許庁 - A DB retrieving part 9 retrieves a test execution situation stored in the DB 8, and a test place to a test object program module is presented by such a manner that information notified a test place outputting part 10 is supplied to a program module testing device 11.
ＤＢ検索部９によってＤＢ８に記憶された試験実施状況が検索され、試験箇所出力部１０に通知された情報がプログラムモジュール試験装置１１に供給されることで試験対象プログラムモジュールに対する試験箇所が提示される。 - 特許庁 - The testing vessel 5 is arranged with the first and second gas feedback ducts 21, 22 having tip openings 21a, 22a arranged in the vicinity of a front wall 9 inner than horizontal guide rails 12, 13, and having rear end openings connected to the gas suction ports 18, 19.
試験槽５には先端開口２１ａ、２２ａが水平案内レール１２、１３よりも前壁９の近傍に配置され、後端開口が気体吸い込み口１８、１９に接続されている第１、第２気体還流用ダクト２１、２２が配置されている。 - 特許庁 - When test output data 6 and hash values 7 are returned from the server 3 for testing, the test output data 6 are compared with the contents of test output specifications, which are described in test specifications 1d, by a test result determination means 1c to determine whether the test is acceptable.
テスト用サーバ３からテスト出力データ６とハッシュ値７とが返されると、テスト結果判定手段１ｃにより、テスト出力データ６と、テスト仕様書１ｄに記述されているテスト仕様出力内容とが比較され、テストの合否が判定される。 - 特許庁 - Thereby, since all the processes to be performed up to the bump formation can be implemented in a fab line, the problems of contamination etc. will not occur; and tests for electrical characteristics can be preformed, using inexpensive probe cards by using the bumps for testing as test objects.
これにより、バンプ形成までの全ての過程がファブライン（ｆａｂ ｌｉｎｅ）で成されるため、汚染などの問題が発生せず、テスト用バンプをテスト対象にすることによって、低廉なテスト用プローブカードを用いて電気的な特性テストを遂行することができる。 - 特許庁 - To provide a semiconductor integrated circuit mounting a non-volatile memory capable of performing characteristic testing of the non-volatile memory via an external terminal, and further of preventing a surge voltage from being communicated to the non-volatile memory even in the case that the surge voltage is applied to the external terminal.
不揮発性メモリを搭載した半導体集積回路において、外部端子を通して不揮発性メモリの特性テストを実施し、更に、その外部端子にサージ電圧が印加された場合であっても、そのサージ電圧が不揮発性メモリに伝わることを防止する。 - 特許庁 - The system for generating cryptographic keys includes: a calculation unit for reconstructing a large number of small primes; a sieving unit for checking the divisibility of an integer by small primes; a recoding unit for changing the representation of an integer; and a primality testing unit.
暗号鍵の生成システムは、多数の小さい素数を再構成するための演算ユニット、小さい素数によって整数が割り切れるかを点検するための篩ユニット、整数の表現を変えるための再符号化ユニット、及び素数性判定テストユニットを備える。 - 特許庁 - Then, in the automatic testing devices 11-1m, the operation test of a call processing is executed with the user side systems 31-3n according to the procedure and contents of the test described in the test file and log information obtained in the execution process is stored.
そして、自動試験装置１１〜１ｍにおいて、上記試験用ファイルに記述された試験の手順と内容に従い、ユーザ側システム３１〜３ｎとの間で呼処理の動作試験を実行し、その実行過程で得られるログ情報を蓄積するようにしたものである。 - 特許庁 - A device for testing the thermal fatigue crack development includes a heating furnace capable of covering and heating the whole test body relative to a circular test body, a cooling pipe bonded to the test body, and a coolant sending mechanism for circulating a coolant into the cooling pipe.
環状の試験体に対して、その試験体の全体を覆って加熱可能な加熱炉と、 前記試験体と結合される冷却用パイプと、 その冷却用パイプのパイプ内に冷媒を流す冷媒送流機構とを備える熱疲労き裂進展試験装置である。 - 特許庁 - This semiconductor testing apparatus is provided with a plurality of holding implements 11 for respectively holding a plurality of semiconductor packages 10, a test board 12 where the plurality of holding implements 11 are arranged, and a fluid feed portion 13 for feeding fluid F for heating or cooling the semiconductor packages 10.
複数の半導体パッケージ１０をそれぞれ保持する複数の保持治具１１と、複数の保持治具１１が配置されるテストボード１２と、半導体パッケージ１０を加熱又は冷却するための流体Ｆを供給する流体供給部１３とを備える。 - 特許庁 - To provide a link layer device with testing circuit for eliminating usual inconvenience by enabling to measure the AC timing by a link layer device single body and enabling to measure by changing measuring conditions such as temperature and source voltage by using a general purpose board.
リンク層デバイス単体でＡＣタイミング測定ができるようにし、これにより従来の不都合を解消でき、かつ、汎用ボードを使用して温度、電源電圧等の測定条件を変えてその測定できるようにしたテスト回路付きリンク層デバイスを提供すること。 - 特許庁 - Based on a potential detected at one GND terminal by the GND sense line 6 during inspection of the device 12 to be measured, a potential correction circuit 8 corrects a potential level of a testing signal input for the inspection from the semiconductor sensor 10 into the device 12 to be measured.
被測定デバイス１２の検査中にＧＮＤセンスライン６で検知した１つのＧＮＤ端子における電位に基づいて、電位補正回路８が検査のために半導体テスタ１０から被測定デバイス１２に入力されるテスト信号の電位レベルを補正する。 - 特許庁 - Then, an image quality degradation notification controlling section 107 orders the image forming section 102 to print out a record medium on which a pattern image for testing is formed when the comparison determination section 106 determines that the toner cartridge 40 is the one filled with non-genuine toner.
そして、画質劣化通知制御部１０７は、比較判定部１０６による判定結果が、非純正品トナーが充填されたトナーカートリッジ４０である場合に、テスト用のパターン画像が形成された記録媒体を、画像形成部１０２に印字出力させる。 - 特許庁 - The drainage testing device is provided with: a power supply part (2) for driving a drain pump based on the power voltage; and an information part (3) for informing the operation of a float switch (11) by being connected to the float switch (11) detecting the level of the drain in the drain pan of the indoor unit.
前記電源電圧に基づいて前記ドレンポンプを駆動させる電源供給部（２）と、前記室内機のドレンパン内のドレン水位を検知するフロートスイッチ（１１）と接続されることにより当該フロートスイッチ（１１）の作動を知らせる報知部（３）とを備えている。 - 特許庁 - To provide a test instrument for an optical element package which enable easy, efficient test operation and can perform high-precision testing, evaluation, or measurement by transmitting a high-frequency signal from a test signal generator as it is to an optical element package to be tested.
試験操作を簡単かつ能率的に行え、試験信号発生器からの高周波試験信号を、そっくりそのまま、試験対象の光素子パッケージに伝送して、高精度の試験評価又は測定ができる、光素子パッケージの試験器具を提供すること。 - 特許庁 - To solve the problem that a testing circuit in a chip applied by a conventional test facilitation designing technique must inspect whether an input/ output circuit for outputting a signal to an external terminal or capturing a signal from an external terminal is normally operated or not by using a circuit tester.
従来のテスト容易化設計技術を適用してチップ内にテスト回路の構成では、外部端子へ信号を出力したり外部からの信号を取り込む入出力回路が正常に動作するか否かの検査はテスタを用いて行なわざるを得ない。 - 特許庁 - As a result, the amount of testing gas used per sensor can be reduced, and a period for replacing the gas can be reduced thereby shortening the necessary working hours, and the amount of gas to be used can be reduced thereby reducing its cost and executing the sensor processes accurately.
この結果、センサ１個あたりの検査用ガスの使用量を減少できるため、ガス置換時間の短縮により作業所要時間を短縮でき、また、ガス使用量の現象によるコストの低減を図ることができ、さらに精度良くセンサ処理を実行できる。 - 特許庁 - The apparatus for testing the model structure, for example, measures a variation in pressure occurring when the model mobile object 1 passes through the model structure 2 and also measures a stream of air occurring at the aperture 2e when the model mobile object 1 passes through the model structure 2.
試験装置は、例えば、模型構造物２内を模型移動体１が通過するときに発生する圧力変動を測定したり、模型構造物２内を模型移動体１が通過するときに開口部２ｅから発生する気流を測定したりする。 - 特許庁 - In the method of identifying the transparent object or testing the authenticity of the transparent object utilizing an absorption spectrum, the object to be identified is formed of material containing at least one, preferably at least two light absorbing substances (coloring agents).
吸収スペクトルを利用して透明物体を同定する、又は透明物体の真偽を試験する方法において、同定される物体は、少なくとも一つのそして好ましくは少なくとも二つの光吸収物質（着色剤）を含有する材料から成る。 - 特許庁 - This conveying carrier tool for the semiconductor device testing device includes at least one first linear support part extending along a first direction, and at least one second linear support part extending along a second direction orthogonal to the first direction.
半導体装置試験装置用搬送キャリア冶具は、第１の方向に沿って延在する少なくとも一つの第１の線状支持部と、第１の方向に直交する第２の方向に沿って延在する少なくとも一つの第２の線状支持部とを備える。 - 特許庁 - The metallic microsphere preferably shows a deformation resistance of ≤3,500 mN for a displacement magnitude of 10% when measured at room temperature using a micro compression testing machine comprising an upper trapezoid diamond indenter and a lower pressure plate made of an SKS plate.
また、本発明の金属微小球は上部台形型ダイアモンド圧子とＳＫＳ平板である下部加圧板とからなる微小圧縮試験器を用い、室温において測定した際の変位量１０％における変形抵抗が３５００ｍＮ以下であることが好ましい。 - 特許庁 - The testing system includes a functional block 31 for monitoring the fluctuations in the power supply voltage, in the internal region of the semiconductor device, and a control timing adjusting function for adjusting the control timing of a load current-correcting means 15, based on the fluctuation monitored by the block.
半導体装置内部領域の電源電圧変動をモニタするための機能ブロック３１と、機能ブロックによりモニタした電源電圧変動に基づいて負荷電流補正手段１５を制御するタイミングを調整する制御タイミング調整機能とを有する。 - 特許庁 - This evaluation device for the closing material for the molten metal tapping hole comprises a high-frequency induction furnace 1 for forming and storing the molten metal 11, and a closing material pushing-out device 2 for pushing out the testing closing material 7 into the molten metal 11 through an immersion tube 9.
溶融金属出湯口用閉塞材の評価装置は、溶融金属１１を形成・収容する高周波誘導炉１と、該溶融金属１１中に試験用閉塞材７を浸漬管９を通して押し出す閉塞材押し出し装置２とからなる。 - 特許庁 - To provide a dark fiber supervisory testing method and apparatus capable of preventing disabled optical transmission utilizing a dark fiber in advance due to deterioration in the dark fiber by properly supervising the optical transmission characteristic of the dark fiber and informing a user of the dark fiber about it.
ダークファイバの光伝送特性を適確に監視して、ダークファイバの利用者に通知することによりダークファイバを利用した光伝送がダークファイバの劣化により不可能になるような事態を未然に防止し得るダークファイバ監視試験方法および装置を提供する。 - 特許庁 - A material test is performed using a material testing machine 1 equipped with a load/displacement measuring means for applying load to a test piece 2 to measure the load and displacement of the test piece 2 and a continuity detection means for detecting the presence of continuity and the test piece 2 having a thin film pattern formed thereto.
試験片２に荷重を加えてその荷重、変位を測定する荷重／変位測定手段と導通の有無を検知する導通検知手段を備えた材料試験装置１と薄膜パターンが形成された試験片２を用いて材料試験を行う。 - 特許庁 - The measuring electrode 19d is positioned between the insertion hole on the housing 1 and each of a plurality of clip pieces in the terminal fitting 19, so that end of the core wire 35 in the lead 33 can enter therein, but the measuring electrode 19d is made to contact the end of a continuity testing conductor.
測定用電極１９ｄを、ケース１に設けた挿入孔２７と端子金具１９の複数の挟持片との間に、リード線３３の芯線３５の端部の進入を許容するが、導通試験用導体の端部と接触するように配置する。 - 特許庁 - In the case of starting IP connection service from a service provider to a user home via an ATM network 100, an ATM line simple IP connection testing device 10 is directly connected to an ATM line connected to the user home to execute an IP connection test.
サービスプロバイダから、ユーザ宅へＡＴＭ回線網１００を介してＩＰ接続サービスを開始するとき、ユーザ宅に導入されているＡＴＭ回線にＡＴＭ回線簡易ＩＰ接続試験装置１０を直接接続し、ＩＰ接続試験を実施する。 - 特許庁 - In the abnormal test for short-circuiting a terminal T1 of a primary coil L1 and a terminal T5 of a secondary coil L2 in a transformer 10, a limiting resistor R1 for limiting a current flowing in a testing resistor R10 is provided between the secondary coil L2 and the terminal T5.
トランス１０の１次側コイルＬ１の端子Ｔ１と２次側コイルＬ２の端子Ｔ５とを短絡させる異常試験において、試験用抵抗Ｒ１０に流れる電流を制限するための制限抵抗Ｒ１を、２次側コイルＬ２と、端子Ｔ５との間に設ける。 - 特許庁 - In mod p groups, an even h is chosen of value approximately (9/16)(log_2n)^2, values r and n are determined using sieving and primality testing on r and n, and a value t is found to compute p=tn+1 where p is prime.
ｍｏｄ ｐ群において、偶数ｈが約（９／１６）（ｌｏｇ_2ｎ）^2の値として選択され、値ｒとｎは、ｒとｎに対するふるいと素数性テストを使用して判定され、値ｔが、ｐが素数の場合に、ｐ＝ｔｎ＋１を計算するために見出される。 - 特許庁 - A test pattern data is input into a data input of the IP core 12, an output data output from a data output of the IP core 12 is compared with an expected value for the test pattern data, and the power source noise resistance is inspected when testing a function of the IP core 12.
ＩＰコア１２のデータ入力にはテストパターンデータが印加され、ＩＰコア１２のデータ出力から出力される出力データとテストパターンデータに対する期待値と比較してＩＰコア１２のファンクションテスト時に電源ノイズ耐性の検査を行う。 - 特許庁 - A processing crack is intentionally applied onto the coat membrane of the spectacle lens by using at least one method among following methods (1) to (3), and the spectacle lens is inputted into an acceleration testing machine for weather resistance or the like as long as an optional period, and then the coat membrane adhesive performance of the spectacle lens is evaluated.
下記（１）から（３）の少なくとも一つの方法を用いて眼鏡レンズのコート膜上に意図的に加工クラックを施し、該眼鏡レンズを耐候性等の加速試験機へ任意の期間投入した後、該眼鏡レンズのコート膜密着性能を評価する。 - 特許庁 - To provide a forming method and forming device of an elastic-body break surface for rapidly and surely forming a desired broken-out surface suitable for analysis on an elastic body serving as a testing object, without requiring worker skills, and to provide an analysis method of the elastic body.
作業者の熟練を必要とせずに、試験対象となる弾性体に対して分析に適した所望の破断面を迅速かつ確実に形成することができる、弾性体破断面の形成方法及び形成装置、弾性体の分析方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a circuit for testing cores for which requires fewer development man-hours the rise of cost is suppressed, and which easily copes with version-up of the core by the updating an instruction set held by an instruction memory inside a core without adding the correction to the inside of a core.
開発工数が少なくて済み、コストを抑えることができるとともに、コア内部に修正を加える必要がなく、コア内部の命令メモリが保持する命令セットを更新してコアのバージョンアップを行う際の対処が容易であるコアテスト回路を提供する。 - 特許庁 - To provide a gear testing apparatus dispensing with re-adjustment after the revolution of either one of a drive shaft or a follower shaft is adjusted, capable of continuously changing a parameter, enabling the reduction of trouble and the shortening of time in a test and capable of performing a test nearer to mounting.
駆動軸と従動軸とのいずれかを回動調整した後の再調整を不要で、連続的にパラメータを変化させることができ、かつ試験の手数、時間を短縮することが可能で、より実裝に近い試験が出来る歯車試験装置を提供する。 - 特許庁 - When the testing device 100 transmits the signal to be measured, a mobile terminal RLC control part 109 notifies an RLC part 152 of the transmission stop of a signaling signal, and on the basis of the notice, the RLC part 152 stops transmitting the signaling signal and transmits only the signal to be measured.
被測定用信号の伝送の際、移動端末ＲＬＣ制御部１０９は、ＲＬＣ部１５２にシグナリング信号の送信停止を通知し、ＲＬＣ部１５２は、この通知に基づいてシグナリング信号の送信を停止し、被測定用信号のみを送信する。 - 特許庁 - The start testing apparatus is constituted in such a way that a starter model part which simulates a starter characteristic in advance is installed at a controller used to control the dynamometer and that the engine is started by the output signal of the starter model part until the detected shaft torque characteristic of the engine is inverted and finishes the start.
ダイナモメータを制御する制御装置に予めスタータ特性を模擬したスタータモデル部を設け、検出されたエンジンの軸トルク極性が反転し、始動完了までスタータモデル部の出力信号によって始動するように構成したものである。 - 特許庁 - The charge and discharge control terminal and a testing fuse are used to select one of voltage levels "L", "H", and "M" input to the charge and discharge control terminal so as to switch among the normal application state, charge and discharge inhibiting state and the test state.
充放電制御用端子とテスト用ヒューズを用いて、該制御端子に入力された電圧のレベル「Ｌ」、「Ｈ」、「Ｍ」のいずれかを選択することによって、通常応用状態、充放電禁止状態とテスト状態のいずれかに切り替えを可能になる。 - 特許庁 - To provide a method for activating a gas diffusion electrode by which the initial performance is improved, the performance is improved with the operating time, and the service life is stably prolonged and to furnish a testing method by which the quality of the electrode is confirmed in a short time, and the service life is predicted.
初期性能が優れているとともに、運転時間と共に性能が良くなり、安定した長寿命のガス拡散電極の活性化方法を提供し、また短時間で電極の品質確認と寿命予測を行える試験方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a probe card capable of testing the electrical property of an object under test correctly by contacting all the probe pins surely corresponding electrode pads when overdriven, without damage of probe pins and semiconductor elements, even when the object, such as an IC chip, is integrated highly and grown in size.
ICチップ等の被検査体が高集積化、大型化しても、プローブピンや半導体素子が損傷を受けることなく、オーバードライブ時に全てのプローブピンを対応する電極パッドに確実に接触させて、被検査体の電気的特性の検査を正確に行うこと。 - 特許庁 - A test process 20 to be performed by a test system 100 includes: a test class thread 31 for performing a test class 30 in which a method for testing a device is described; and a tool thread 11 for performing a tool 10 which includes a function that can be used for the test of the device.
試験システム１００で実行される試験プロセス２０は、デバイスの試験方法を記述したテストクラス３０を実行するためのテストクラス・スレッド３１と、デバイスの試験に利用可能な関数を含むツール１０を実行するためのツール・スレッド１１と、を含む。 - 特許庁 - To provide a durability testing method of coating member and a test device therefor that enable the sufficient simulation of the test condition of a coating member against the working condition of an actual machine, the investigation for more detailed damage mechanism of the coating member, and more accurate life evaluation.
コーティング部材の試験条件を実機使用条件に十分に模擬することが可能であり、コーティング部材のより詳細な損傷メカニズムの解明と、より高精度な寿命評価とを可能にするコーティング部材の試験方法および試験装置を提供する。 - 特許庁 - The NQR testing method which enables the test of a sample having at least one NQR characteristic to be changed together with a given environmental parameter is composed of a method which enables the sample to be excited so as to energize NQR resonance and an NQR response signal to be detected.
所与の環境パラメータと共に変化する少なくとも１つのＮＱＲ特性を有する試料をテストするＮＱＲテスト方法において、試料に励起を与えてＮＱＲ共鳴を付勢し、ＮＱＲ応答信号を検出することからなる方法。 - 特許庁 - To provide a method for manufacturing a probe card which has a high probe density, a high contact stability with an electric circuit during testing, which can test a wafer, which can execute a large deformation of the probe, and which can rapidly test in a high frequency and to provide the probe card.
プローブ密度が高く、ウェーハのテストが可能で、プローブの大幅変形を実施可能で、試験中電気回路の間との接触安定性が高く、プローブで高周波テストおよび高速テストが可能なプローブカードの製造方法およびプローブカードを提供する。 - 特許庁 - The marking device is mounted on an apparatus for testing the painted surface of the vehicle, which has a CCD camera 6 for scanning / photographing the outside painted surface of the vehicle and an image processing device 8 automatically detecting a microdefects generated in the painted surface from photographed signals.
マーキング装置は、車両外面の車両塗面を撮像走査するＣＣＤカメラ６と、その画像信号の変化から車両塗面に生じている微小欠陥を自動的に検知する画像処理装置８とを備えた車両塗面検査装置に付属する。 - 特許庁 - To provide a semiconductor apparatus which is downsized and can perform a test of electric signal between semiconductor apparatuses as a stack structure, in relation to a semiconductor apparatus whose testing terminal is formed on a substrate on which a semiconductor chip is mounted.
本発明は、半導体チップが実装される基板にテスト用端子が配設された半導体装置に関し、小型化を図ると共に、スタック構造とされた半導体装置間の電気的信号のテストを行うことのできる半導体装置を提供することを課題とする。 - 特許庁 - To provide a belt-type tire testing machine of a simple constitution, capable of performing tests even at large steering angles and forming snow and ice surfaces in a short time by a reduced amount of energy for cooling, in tests on snow and ice surfaces.
本発明は、簡素な構成で、大きな操行角度でも試験が行うことができ、また、氷雪面での試験においても、冷却するためのエネルギーが少なく、且つ短時間で氷雪面を形成できるベルト式タイヤ試験機を提供することを目的とする。 - 特許庁 - The semiconductor testing apparatus 1 is provided with a controller 11, a converter 12, and a pin electronics section 13 which functions as an interface to a DUT 40 and tests the DUT 40, on the basis of signals obtained by applying test signals to the DUT 40.
半導体試験装置１は、制御装置１１、変換装置１２、及びＤＵＴ４０に対するインターフェイスとして機能するピンエレクトロニクス部１３を備えており、ＤＵＴ４０に試験信号を印加して得られる信号に基づいてＤＵＴ４０の試験を行う。 - 特許庁 - To provide a blood clinical testing device for performing blood coagulation test, biochemical test, or immune serum test capable of speedily heating specimens and reagents housed in reaction containers to a reaction temperature and further efficiently perfuming tests.
血液の凝固検査、生化学検査あるいは免疫血清検査を行う臨床検査装置であって、反応容器に収容した検体および試薬を反応温度まで迅速に加温でき、一層効率的に検査を実施し得る血液の臨床検査装置を提供する。 - 特許庁 - To provide a lubricity test method of a lubricant and a friction testing device, capable of evaluating simply and quantitatively the lubricity of the lubricant by reproducing the lubrication state on a friction face between a tool and a processing material during processing.
加工中における工具と加工材料との摩擦面における潤滑状態を再現し、潤滑剤の潤滑性能を簡単かつ定量的に評価することができる潤滑剤の潤滑性能試験方法および摩擦試験装置を提供する。 - 特許庁
