「Testing」を含む例文一覧(14414)
＜前へ 1 2 .... 258 259 260 261 262 263 264 265 266 .... 288 289 次へ＞- To prevent damage due to losses and falls of specimens when a lid is opened by enabling the visual recognition of the spots where the specimens are located in a cassette in a process for preparing the specimens for testing pathological tissues and previously drawing workman's attention.
病理組織検査標本をつくる工程において検体がカセット内のどこにあるかを視認できるようにし、作業者にあらかじめ注意を促すことができるようにして、開蓋時の検体の紛失や落下による損傷を防止する。 - 特許庁 - To provide a semiconductor integrated circuit in which an influence of phase noise of a sampling clock on transfer characteristics of a DAC and an ADC can be detected and the quality of a loop-back test can be improved, and to provide a method of testing the same.
サンプリングクロックの位相ノイズがＤＡＣおよびＡＤＣの変換特性に与える影響を検出することができ、ループバックテストのテスト品質を向上させることができる半導体集積回路およびそのテスト方法を提供する。 - 特許庁 - Because the vertical force from the mount 3 supporting the work of the assembled rotation boy is distributed on the whole region of the piezoelectric plastic sheet 2, the load per unit area is small, therefore, the durability of the dynamic balance testing machine can be improved.
組立回転体ワークを支持する架台３からの鉛直方向の力が圧電プラスティックシート２の全領域に分散して付勢されるため、単位面積当たりの負荷が小さくなり、動釣合試験機の耐久性の向上を図ることができる。 - 特許庁 - The display controller 81 of the slot machine 10 is connected with a second relay terminal board 202 through an electric wire such as a harness, and the second relay terminal board 202 is connected with the performance testing machine 301 through an electric wire such as a harness.
また、スロットマシン１０の表示制御装置８１と第２中継端子基板２０２とをハーネス等の電気配線を通じて接続し、該第２中継端子基板２０２と性能試験機３０１とをハーネス等の電気配線を通じて接続する。 - 特許庁 - To provide a semiconductor-testing device capable of successively storing, in a normal order, code data being continuously outputted from a DUT (a device to be tested) in an interleave type digital capture memory without depending on the conditions of a pattern program.
ＤＵＴから連続的に出力されるコードデータを受けてインターリーブ方式のデジタル・キャプチャー・メモリへの格納をパターンプログラムの条件に依存することなく正常な順番で順次格納可能とする半導体試験装置を提供する。 - 特許庁 - Because of acquiring the measurement data from the existing measuring devices, the testing scenario and sequence can be easily produced at low cost with various communication protocols as targets without needing to construct a mechanism for acquiring measurement data of the various communication protocols.
既存の測定器から測定データを取得するので、さまざまな通信プロトコルの測定データを取得するしくみを構築する必要はなく、さまざまな通信プロトコルを対象として、安価で容易に試験用シナリオおよびシーケンスを作成できる。 - 特許庁 - The joining strength of respective fillets 14 are quantitatively estimated by measuring the height of respective fillets 14 or the like depending on the image of respective fillets 14 obtained by receiving the testing light at a light receiving part 5 installed at the other side of the connecting structure 10.
連接構造体１０の他方の側で受光部５により検査光を受光して得られる各フィレット１４の画像に基づいて、各フィレット１４の高さなどを測定し、各フィレット１４の接合強度を定量的に評価する。 - 特許庁 - The testing apparatus carries out function tests for network relays installed in respective circuits of the network, in which a plurality of circuits led out via respective transformers are connected to a common network bus separately via a protective breaker.
本発明は、それぞれ変圧器を介して導出された複数の回線がそれぞれ保護遮断器を介して共通のネットワーク母線に接続されるネットワークの各回線ごとに設けられたネットワークリレーの機能試験を行う試験装置に関する。 - 特許庁 - To provide a technique for improving maintenance and inspection practices of a suction nozzle changing device which selectively positions one of a plurality of suction nozzles at a normal use position, and surface mounting equipment and component testing equipment equipped with the same device.
複数の吸着ノズルのうちの１つを選択的に通常使用位置に位置決めする吸着ノズル変更装置、同装置を装備する表面実装機および部品試験機において、保守点検性を向上させる技術を提供する。 - 特許庁 - The substrate 1 for testing of the semiconductor integrated circuit is formed by laminating a lowest layer substrate 11, a second layer substrate 12, a third layer substrate 13, a top layer substrate 14, each of the substrates being a multilayer wiring board and having connectors 2 on a top surface of its outer periphery.
半導体集積回路試験用基板１は、それぞれが多層配線基板であり、その外周部上面にコネクタ２を備える、最下層基板１１、２層目基板１２、３層目基板１３、最上層基板１４を積層する。 - 特許庁 - To provide a method for estimating such a factor that a contact force between a pad of a semiconductor device and a probe of a tester is changed concerning a method for manufacturing the semiconductor device, a method for testing the semiconductor device, the tester of the semiconductor device, and the semiconductor device.
半導体装置の製造方法、半導体装置の試験方法、半導体装置の試験装置、及び半導体装置に関し、半導体装置のパッドと試験装置のプローブとの接触力が変化した要因を推定する方法の提供。 - 特許庁 - In addition, oil removed from the transmission, after testing moves the oil pan is always stored at a fixed side to a lower part of the transmission to be fixed, and attachment and detachment of the oil pan adhering oil are enabled in a simple manner, in a short time.
また、試験後の変速機からの油抜きも、常時固定側に収納されたオイルパンを変速機の下部に移動させて固定することで可能となり、油の付着したオイルパンの取り付け、取外しも短時間で簡単に可能となるものである。 - 特許庁 - To provide a bending fatigue testing device capable of executing accurately a bending fatigue test, without generating local plastic strains, when restoring bending due to an abnormal force and repeated bending caused by a friction force, or the like, in a test piece.
被試験体に摩擦力等に起因する異常な応力、繰返し曲げによる曲げ戻し時に局部的な塑性ひずみを発生させることなく、より正確な曲げ疲労試験を実施することができる曲げ疲労試験装置を提供する。 - 特許庁 - To provide a roller testing method capable of objectively grasping roughness of a circumferential surface of a roller which is made of a porous elastic body, improving efficiency of a quality judging work and suppressing variations in quality judgements.
多孔質弾性体からなるローラにおける外周面の粗さを客観的に把握することができ、その結果、品質判定作業の効率を向上できるとともに品質判定のばらつきを抑さえることができるローラの検査方法を提供する。 - 特許庁 - To allow decreasing the number of pads in a semiconductor device along with its manufacturing method, which comprises a first circuit connected to a connection pad and a second circuit which requires testing.
接続パッドに接続された第１の回路部とテストが必要とされた第２の回路部とを有する半導体装置及びその製造方法に関し、パッド数を削減できる半導体装置及びその製造方法を提供することを目的とする。 - 特許庁 - Based on testing data td and the detected failure list ta outputted from the failure detection system 30, a failure kind-classified state model sn indicating statistical data of a state of the service provision system is generated in each kind of the failure.
試験用データｔｄ及び障害発見システム３０から出力される発見障害リストｔａに基づいて、障害の種類毎にサービス提供システムの状態の統計データを示す障害種類別状態モデルｓｎが生成される。 - 特許庁 - This device is made up of an inspecting cup ring unit A that is structured by mounting an annular outer magnet member 3 on the inside circumferential side of a cup-shape portion 1, a motor 4 that rotates the inspecting coupling unit A in the circumferential direction, a testing base 10, and a measuring means B.
カップ状部１の内周側にリング状のアウターマグネット部材３が装着されてなる検査用カップリング体Ａと、該検査用カップリング体Ａを円周方向に回転させるモータ４と、テスト台１０と、計測手段Ｂとからなること。 - 特許庁 - In this superconducting coil vertical vibration testing device, the superconducting coil 1 is equipped with an vibration rod 21 fixed to a simulated external vessel 4 by the load support materials 2, 3, and a hydraulic exciter 26 to which the vibration rod 21 is connected through a vacuum vessel 12.
超電導コイル上下加振試験装置において、超電導コイル１が、荷重支持材２，３によって模擬外槽４に固定される加振ロッド２１と、この加振ロッド２１が真空槽１２を貫通して連結される油圧加振機２６とを具備する。 - 特許庁 - To obtain testing equipment for a radio terminal and a base station which can realize improvement in the accuracy of reproduction of a radio environment in a real field, by enabling reduction of an error in the direction of arrival of a path and increase of the total electric power of the path being reproduced.
パス到来方向の誤差の減少および再現するパスの総電力の増大を可能とすることにより、実フィールドにおける電波環境の再現精度向上を実現可能な、無線端末および基地局用の試験装置を得ること。 - 特許庁 - In testing an LED driver 44, the analog switches 36 to 43 are switched on/off, and enables the input/output operation functions of the input/output circuit 56 are invalidated, and a connection path from external terminals 4, 5 to the LED driver 44 is formed.
ＬＥＤドライバ４４をテストする場合、アナログスイッチ３６〜４３のオンオフを切り換えるとともに、入出力回路５６の入出力動作機能を有効化し、外部端子４、５からＬＥＤドライバ４４までの接続経路を形成する。 - 特許庁 - To output the determined result of a test to the outside without increasing the number of pins to test a successive approximation type A/D converter mounted on an LSI, to execute the test of the A/D converter and the test of other circuits in parallel, and to shorten time for testing the LSI.
LSI に搭載された逐次比較型A/D コンバータのテストを行なうためにピン数を増やすことなくテストの判定結果を外部へ出力し、A/D コンバータのテストを他の回路のテストと並行に実行でるようにし、LSI のテスト時間の短縮を実現する。 - 特許庁 - The application testing system includes an OS holding part; a selective start signal receiving part; a selective start part; an application receiving part; an application introducing part; and a remote control signal receiving part.
本発明は、ＯＳ保持部と、選択起動信号受信部と、選択起動部と、アプリケーション受信部と、アプリケーション導入部と、遠隔操作信号受信部と、を有するアプリケーション試験装置であり、本発明によって前記課題を解決するものである。 - 特許庁 - This scratch testing machine used for evaluating a film formed on the surface of a base board is provided with a probe 2 abutting to the film and a pressing mechanism pressing the probe 2 to the film when the tip part of the probe 2 is brought into contact with the film.
基板の表面に形成された膜の評価に使用する引掻き試験機であって、膜に当接する探針２と、探針２の先端部が膜に当接した状態において探針２を膜に押圧する押圧機構４とを備えている。 - 特許庁 - To provide an in-situ permeability testing device which can measure in-situ coefficients of permeability of a rolled ground stratum quickly, easily, and at multiple points, and can control water permeability necessary for earth materials with good accuracy, and to provide an in-situ permeability measuring system.
圧地盤層の透水係数を原位置で迅速・簡易かつ多点的に計測することができ、材料の要求される透水性能を精度良く管理することができる原位置透水試験装置および原位置透水性計測システムを提供する。 - 特許庁 - To provide a device for performing a highly accurate test by suppressing abnormality generation in a torque sensor, in a testing device for performing a test of a prime mover by realizing a state where the prime mover is loaded simulatively on a vehicle by connecting a dynamometer to the prime mover to apply a load torque.
原動機に動力計を連結して負荷トルクを印加し、擬似的に原動機を車両に搭載した状態を実現して原動機の試験を行う試験装置において、トルクセンサの異常発生を抑制して高精度の試験を行う。 - 特許庁 - To provide a signal generating circuit of a semiconductor testing device that is capable of reducing the data transmission amount for skew correction when an operation mode is switched, and to allow concurrent use of respective format channels without reducing the number of effective channels.
動作モードを切り替えたときのスキュー補正用のデータ転送量を減らし、有効なチャンネル数を減少させることなく各フォーマットチャンネルを同時に使用することができる半導体試験装置の信号発生回路を提供すること。 - 特許庁 - When the machine type data of the given game machine is input, the processing part 322 of the game machine testing device 2 reads out the data possibly inputted corresponding to the machine type data from the memory 321 to present the types of the test data outputted from the game machine involved.
遊技機試験装置２の処理部３２２は、所定の遊技機の機種データが入力されると、当該機種データに対応する入力可能データをメモリ部３２１から読み出して、当該遊技機から出力される試験データの種類を提示する。 - 特許庁 - By this, it is possible to determine the susceptibility of even the functional films, evaluated as of the same hardness (for example, 3H) on the basis of 'pencil scratch values' of the 'testing methods for paints' in JIS (Japanese Industrial Standard) K5400, to flaws on the basis of the sizes of measured projections and recessions.
これにより、ＪＩＳ Ｋ５４００「塗料一般試験方法」の「鉛筆引っ掻き値」に基づき同一の硬度(例えば３Ｈ)と評価された機能性フィルムでも、計測された起伏の大きさの大小によって、傷の付きやすさを判別できる。 - 特許庁 - Each of the semiconductor chips 10 has: an internal circuit 11; a plurality of electrode pads connected to a terminal for inputting and outputting an external device; and testing wirings for connecting this internal circuit 11 to the electrode pads of the other semiconductor chips.
そして、各半導体チップ１０は、内部回路１１と、外部との入出力を行う端子に接続される複数の電極パットと、この内部回路１１と他の半導体チップの電極パットとを接続するテスト用配線とを有することとした。 - 特許庁 - To provide a semiconductor IC contact structure suitable for testing a high frequency characteristic because its signal path is shorter than that of a conventional one, manufacturable at a low cost, and sufficiently applicable for a fine-pitch arrangement solder ball.
従来よりも信号経路が短くて高周波特性の検査に適し、しかも安価に製作することができ、さらに、半田ボールの配列ピッチが微細なものでも十分に対応することができる半導体ＩＣのコンタクト構造を提供する。 - 特許庁 - A thermal shock testing device 1 has a high temperature tank 2 and a low temperature tank 3, and is able to alternatively perform heating test control in which a sample body is exposed under a high temperature atmosphere and cooling test control in which the sample body is exposed under a low temperature atmosphere.
冷熱衝撃試験装置１は、高温槽２と低温槽３を有し、試料体を高温の雰囲気温度にさらす加熱試験制御と、低温の雰囲気温度にさらす冷却試験制御とを交互に実行することができる。 - 特許庁 - The testing member for optical films 10 is equipped with a base material 11 and a jointing material 12, laminated on one face 11a of the base material 11, characterized in that, at least either one of these base material 11 and the jointing material 12 has masking effect.
光学フィルム用検査部材１０は、基材１１と、基材１１の一方の面１１ａに積層された接着部材１２とを備えており、基材１１および接着部材１２の少なくとも一方が遮光性を有することを特徴とする。 - 特許庁 - After performing segmentation in a card shape, when printing is performed to the thermosensitive recording layer 16 by using a thermosensitive printing testing device, red color is developed by low applied energy, black color is developed by high applied energy and printing quality is excellent.
カード状に切り出した後、この感熱記録層１６に感熱印字試験装置を使用して印字したところ、低い印加エネルギーでは赤発色が生じ、高い印加エネルギーでは黒発色を行うことができ、印字品質は良好であった。 - 特許庁 - By supplying the DC voltages to the first and second terminals, the signal for allowing the testing control circuit and the inner circuit to operate is generated so that it is possible to perform the burn-in of the plurality of semiconductor circuits that operate by receiving the high frequency signals.
直流電圧を第１および第２端子に供給することで、テスト制御回路が内部回路を動作させる信号を生成するため、高周波信号を受けて動作する複数の半導体集積回路のバーンインを同時に実施できる。 - 特許庁 - Thus, by electrically connecting a plurality of connect pins 20 of the testing device with the wide wiring part 17, electric conduction is reliably tested while preventing a connection failure, and damage of an important part such as a semiconductor laser part is prevented.
したがって、検査装置の複数の接続ピン２０が拡幅配線部１７と電気的に接続することによって、接続不良を回避して確実に導通検査を行い、かつ半導体レーザ部などの重要部の破損を防ぐことができる。 - 特許庁 - To stably shorten the measurement waiting time generated due to dielectric absorption and to stably reduce a steady leakage electric current so as to improve the measurement accuracy of minute electric current and minute current fluctuation in a testing device for a semiconductor wafer.
半導体ウェハの試験装置における微少電流や微少な電流変動の測定精度を向上させるため、誘電吸収のために生じる測定待ち時間を安定に短くし、定常漏れ電流を安定に減少させる。 - 特許庁 - In the case of testing the DRAM etc., after externally inputted writing data or incorporated pattern data are written, data for one row are read and compared with the writing data or externally inputted reference data to determine whether a device passes or fails.
DRAM等のテストに際して、外部入力した書き込みデータあるいは内蔵したパターンデータを書き込んだ後、１行分のデータを読み出し、書き込みデータあるいは外部入力した参照データと比較することにより良否(Pass/Fail) 判定を行う。 - 特許庁 - To provide a mm wave radar testing apparatus that is incorporated into a mm wave radar apparatus for measuring the distance between mobile units and the relative speed especially by using an FM-CW system regarding the mm wave radar apparatus, and can perform an analog test singly by the apparatus.
ミリ波レーダ装置に関し、特にＦＭ−ＣＷ方式を用いて移動体間の車間距離及び相対速度を測定するミリ波レーダ装置に組み込まれ、装置単体でアナログ試験が可能なミリ波レーダ試験装置を提供する。 - 特許庁 - To provide a method and a device for testing the liquefaction and dynamic properties of ground in situ by utilizing a borehole, which can provide dynamic deformation properties with respect to a repeated load on a soil layer in an arbitrary position in the ground by using the simple method.
地盤内の任意の位置の土層の繰り返し荷重に対する動的な変形特性を簡易な方法で得ることができるボーリング孔を利用した原位置での地盤の液状化および動的特性試験方法および試験装置を提供する。 - 特許庁 - To provide a method and a system for evaluating whether adjustment factors used in a process of testing or monitoring an operation system need to be updated or varied and varying and updating those adjustment factors when so.
運転システムを試験又は監視するプロセスで使用される調整因子を更新又は変更する必要があるか否かを評価し、且つ必要又は希望がある場合にはそれらの調整因子を変更し、更新する方法及びシステムを提供する。 - 特許庁 - To suppress the increase of the test time even if the number of chips on a wafer increases, differently from a conventional method of testing the chips on the wafer one by one and marking the chips to identify good/defective products or storing information about the good/defective products.
ウェハー上のチップを１個ずつテストし、良品/不良品の識別が出来るようにマークをつけていくか、良品/不良品の情報を記憶していく従来の方式では、ウェハー上のチップ数が増えるに従ってテスト時間が増える。 - 特許庁 - To provide a stress measuring and testing method, capable of easily extracting a sample to be measured from dies without the adhesion of part of the sample to be measured to the surface of a tester, such as a die or a rotating shaft after the completion of stress measurement and test.
応力測定試験終了後の被測定試料の一部がダイあるいは回転軸など試験機の表面に付着することなく、被測定試料をダイから簡単に取り出すことができる応力測定試験方法を提供する。 - 特許庁 - The inspecting apparatus for a semiconductor device for testing durability of the semiconductor device against a temperature, comprises: a match plate; and a contact module connected with the match plate, and having a radiating part radiating the heat generating from the semiconductor device to the outside and a test part for press-contact of lead wires of the semiconductor device.
このように正確なテストが行われ、テスト時発生する半導体素子の熱によって良品の半導体素子を不良品と判定する誤判定が抑制されることにより、生産性向上及び費用を節減することができる。 - 特許庁 - To provide an interface circuit capable of reducing its manufacturing cost and accurately performing functional test and debugging by reducing the number of input terminals from the exterior of a miniaturized semiconductor device, and provide a testing method and a debugging method using the same for the semiconductor device.
小型化された半導体装置外部からの入力端子数を少なくし製造コストを抑制、かつ、機能テスト、デバッグを的確に行うことができるインターフェース回路及びそれを用いた半導体装置のテスト方法とデバッグ方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a servo signal-testing device which can conduct quality evaluation, analysis, investigation of defects and so on concerning a servo signal more properly and in more detail since it can test a specific location of a servo signal in the direction of the width of a magnetic tape.
サーボ信号の磁気テープ幅方向の特定の位置を検査することができ、従って、サーボ信号の品質評価や解析、欠陥原因の究明等を、より好適かつ詳細に行うことが可能なサーボ信号検査装置を提供する。 - 特許庁 - To provide examination techniques compatible with each tooth and periodontal tissue including those of utilizing reagents for testing each tooth and periodontal tissue in high accuracy, particularly utilizing reagents for culturing bacteria, namely media used for culturing bacteria.
個々の歯牙や歯周組織を精度良く検査する試薬を有効利用する技術であり、とくに細菌を培養する試薬すなわち細菌培養に供する培地を有効利用する技術など、個々の歯牙や歯周組織に対応する検査技術の提供。 - 特許庁 - To provide a semiconductor testing device capable of producing a test program which can shorten a test time even without having the knowledge about multithreading and capable of shortening the time required for preparation and debugging of the test program.
マルチスレッドに関する知識を有しなくとも試験時間を短縮し得る試験プログラムを作成することができるとともに、その試験プログラムの作成及びデバッグに要する時間を短縮することができる半導体試験装置を提供する。 - 特許庁 - To provide a method for testing therapeutic or preventive effect of a sample for diseases selected from a group consisting of arteriosclerosis, diabetes, thrombosis, inflammation, immune abnormality, allergy and metastasis of cancer and obtain a DNA used for the method.
動脈硬化、糖尿病、血栓、炎症、免疫異常、アレルギー、癌および癌の転移からなる群から選択される疾患に対する、被験物質の治療または予防効果を試験する方法および該方法に用いられるＤＮＡを提供する。 - 特許庁 - To efficiently judge whether a semiconductor device is good or not without depending on the number of comparator pins provided at a tester regarding the semiconductor device having a structure which is suitable for efficiently testing a plurality of semiconductor devices.
本発明は複数の半導体装置の試験を効率的に行う上で好適な構造を有する半導体装置に関し、テスターが備えるコンパレータピンの数に依存することなく、効率的な良否判定の実行を可能とすることを目的とする。 - 特許庁 - To provide a tool for generating test data on a corresponding cycle base having a format characteristic to specific ATE for testing a physical serial device by extracting and removing timing irregularity such as drift or jitter from simulation test data on an event base.
イベントベースのシミュレーション試験データからドリフトやジッタなどのタイミング不規則性を抽出及び除去し、物理的シリアルデバイスを試験する特定のＡＴＥに固有のフォーマットを有する対応するサイクルベースの試験データを生成するツールを提供する。 - 特許庁
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