「Testing」を含む例文一覧(14405)

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  • When the machine type data of the given game machine is input, the processing part 322 of the game machine testing device 2 reads out the data possibly inputted corresponding to the machine type data from the memory 321 to present the types of the test data outputted from the game machine involved.
    遊技機試験装置２の処理部３２２は、所定の遊技機の機種データが入力されると、当該機種データに対応する入力可能データをメモリ部３２１から読み出して、当該遊技機から出力される試験データの種類を提示する。 - 特許庁
  • By this, it is possible to determine the susceptibility of even the functional films, evaluated as of the same hardness (for example, 3H) on the basis of 'pencil scratch values' of the 'testing methods for paints' in JIS (Japanese Industrial Standard) K5400, to flaws on the basis of the sizes of measured projections and recessions.
    これにより、ＪＩＳ Ｋ５４００「塗料一般試験方法」の「鉛筆引っ掻き値」に基づき同一の硬度(例えば３Ｈ)と評価された機能性フィルムでも、計測された起伏の大きさの大小によって、傷の付きやすさを判別できる。 - 特許庁
  • Each of the semiconductor chips 10 has: an internal circuit 11; a plurality of electrode pads connected to a terminal for inputting and outputting an external device; and testing wirings for connecting this internal circuit 11 to the electrode pads of the other semiconductor chips.
    そして、各半導体チップ１０は、内部回路１１と、外部との入出力を行う端子に接続される複数の電極パットと、この内部回路１１と他の半導体チップの電極パットとを接続するテスト用配線とを有することとした。 - 特許庁
  • To provide a semiconductor IC contact structure suitable for testing a high frequency characteristic because its signal path is shorter than that of a conventional one, manufacturable at a low cost, and sufficiently applicable for a fine-pitch arrangement solder ball.
    従来よりも信号経路が短くて高周波特性の検査に適し、しかも安価に製作することができ、さらに、半田ボールの配列ピッチが微細なものでも十分に対応することができる半導体ＩＣのコンタクト構造を提供する。 - 特許庁
  • To provide a test method for relevancy testing of an identifier able to be transmitted to a communication means by way of a communication network in a message, a test module therefore and a generating module for building a relevancy table provided for the testy method.
    メッセージ中にあり、通信ネットワークを介して通信手段への伝達が可能な識別子の関連性テストのためのテスト法、そのためのテストモジュール及び上記のテスト法のために提供される関連表を作り上げる作成モジュールの提供。 - 特許庁
  • A value obtained by adding an offset amount to a maximum value of the response waveform is set as a drive limit value before starting testing.
    加振機の特性を目標波形と応答波形より計算した伝達関数を計測し、加振する目標波形から予想される応答波形を計算し、その応答波形の最大値にオフセット量を加えた値を駆動限界値として試験開始前に事前に設定する。 - 特許庁
  • The polyimide film is continuously manufactured at a width of at least 1,000 mm and gives a distortion ratio of a specified value or less over the entire width when subjected to a trouser tear testing in the MD direction.
    幅１０００ｍｍ以上で連続的に生産されるポリイミドフィルムであり、ＭＤ方向のトラウザー引き裂き試験を行った場合、全幅においてずれ率が一定の値以下となるようなポリイミドフィルムの製造方法により得られるポリイミドフィルムを提供する。 - 特許庁
  • To execute an improved test with higher precision at higher speed, concerning a testing device of a semiconductor integrated circuit including an A/D conversion circuit or a D/A conversion circuit and a test method of the semiconductor integrated circuit using the device.
    Ａ／Ｄ変換回路またはＤ／Ａ変換回路を含んだ半導体集積回路の試験装置およびこれを用いた半導体集積回路の試験方法において、試験を、より高精度、より高速度で実行できるよう、改良する。 - 特許庁
  • To provide a transformation plastic coefficient testing device for measuring successively deformation of a test piece during a rapid cooling time by assuming rapid-cooling thermal treatment after heating a material, and identifying a transformation plastic coefficient from the deformation.
    材料を加熱した後に急速冷却する熱処理を想定し、急速冷却時の試験片の変形量を逐次測定可能とし、その変形量から変態塑性係数を同定することができる変態塑性係数試験装置を提供する。 - 特許庁
  • The method for preparing and testing specimens for high-throughput screening assays for identifying bonding between a chemical target and a library compound and the use of a calorimeter device for measuring reaction enthalpy on the bonding are disclosed.
    薬剤標的とライブラリ化合物の間の結合の同定のための、ハイスループットスクリーニングアッセイ用の標本調製および検査のための方法、結合に関する反応エンタルピーを測定する熱量計装置を用いた使用について開示される。 - 特許庁
  • To provide an electric connection device provided with contacts different in arrangements capable of testing a plurality of types of electronic devices different in specifications of the size, number, arrangement and the like of electrodes, and capable of saving space for arranging the contacts.
    電極の大きさ、数、配列などの仕様の異なる複数種類の電子デバイスを試験することができる異なる配列の接触子を備え、それらの接触子を配列するスペースを節約することができる電気的接続装置を提供する。 - 特許庁
  • If a semiconductor integrated circuit 3 under test has a less required number of terminals for tests, a plurality of testers corresponding to the semiconductor integrated circuit 3 under test one to one are used for testing a plurality of semiconductor integrated circuits 3 at once.
    試験対象となる半導体集積回路の、試験で必要とされる端子が少なかった場合に、半導体集積回路と一対一に対応づけられた複数の試験装置を用いて、複数の半導体集積回路を同時に試験する。 - 特許庁
  • To provide a semiconductor testing device which shortens time required for a test or achieves flexible correspondence in accordance with a DUT, by generating a steeply-changing test signal or a mildly-changing test signal.
    急峻に変化する試験信号或いは緩やかに変化する試験信号を生成することができ、これにより試験に要する時間の短縮やＤＵＴに合わせた柔軟な対応を図ることができる半導体試験装置を提供する。 - 特許庁
  • To provide examination techniques compatible with each tooth and periodontal tissue including those of utilizing reagents for testing each tooth and periodontal tissue in high accuracy, particularly utilizing reagents for culturing bacteria, namely media used for culturing bacteria.
    個々の歯牙や歯周組織を精度良く検査する試薬を有効利用する技術であり、とくに細菌を培養する試薬すなわち細菌培養に供する培地を有効利用する技術など、個々の歯牙や歯周組織に対応する検査技術の提供。 - 特許庁
  • To provide a semiconductor testing device capable of producing a test program which can shorten a test time even without having the knowledge about multithreading and capable of shortening the time required for preparation and debugging of the test program.
    マルチスレッドに関する知識を有しなくとも試験時間を短縮し得る試験プログラムを作成することができるとともに、その試験プログラムの作成及びデバッグに要する時間を短縮することができる半導体試験装置を提供する。 - 特許庁
  • To provide a semiconductor testing device capable of improving yield of a semiconductor device, and saving the labor and the time required from start until finish of an interface test of the semiconductor device even when an abnormality occurs.
    半導体デバイスの歩留まりの向上を図ることができるとともに、異常が発生したときにおいても半導体デバイスのインターフェーステストを開始してから終了するまでにかかる手間と時間とを省くことができる半導体試験装置を提供する。 - 特許庁
  • The method and the device for data analysis according to various aspects are so constituted that a statistical outlier which includes a local outlier for showing an outlier in a subset of larger data population at testing data of a component can be identified.
    様々な局面に従ったデータ解析のため方法および装置は、より大きなデータ母集団のサブセットの中の外れ値を表す、局所的外れ値を含む、コンポーネントの試験データの中の統計的外れ値を識別するように構成される。 - 特許庁
  • To provide an attachment for sockets capable of automatically adapting to the performance test of IC devices and increasing thermal radiation from IC devices while curving increases in size, and also to provide a semiconductor device testing apparatus having the same.
    本発明は、ＩＣデバイスの性能試験の自動化に対応することができ、また、サイズの大型化を抑制しつつ、ＩＣデバイスからの熱放出を高めることができるソケット用アタッチメント及びそれを有する半導体デバイス試験装置を提供する。 - 特許庁
  • The circuit 124 sets up the data pattern of diagnosis testing data in each of an address output register 115, a data output register 117 and a bus control output register 119 and instructs the output of the data pattern to respective buses 101 to 103.
    バスインターフェース制御回路１２４は診断試験用データのデータパターンをアドレス出力レジスタ１１５と、データ出力レジスタ１１７と、バス制御出力レジスタ１１９とのそれぞれにセットし、各バス１０１，１０２，１０３への出力を指示する。 - 特許庁
  • Next, the test disk 30 is mounted in a test object drive, and a testing device inquires of the test object drive, a start position of the middle area, a recording end position of file data, a recordable start position of the disk and a recordable capacity (spare capacity).
    このテストディスク３０を検査対象ドライブに装着し、ミドルエリアの開始位置、ファイルデータの記録終了位置、当該ディスクの追記開始位置および追記可能容量（空き容量）を、検査装置から検査対象ドライブに問い合わせる。 - 特許庁
  • To provide a method and a device which is provided with semiconductor switching means for calculation control for high-voltage load, capable of precisely and continuously tracking the load control value, without using industrial water and is capable of maintaining the value at the load characteristic testing for an electric generator and the like.
    発電機等の負荷特性試験において、工業用水を使用せずに負荷制御値に連続的に精度よく追従し、その値を持続できる半導体開閉手段を備えた高圧負荷演算制御方法及び装置の提供。 - 特許庁
  • To provide a creep testing machine allowing a person to precisely know the point of time a test piece is actually loaded to a test piece and obtain precise data even for a material having a deforming characteristic sensitive to the loading of a resin or the like.
    試験片に対して荷重が実際に負荷される時点を正確に知ることができ、樹脂等の負荷に対して敏感な変形特性を有する材料にでも、正確なデータを得ることができるクリープ試験機の提供を課題とする。 - 特許庁
  • Then, when the operation to alter the order of the thumbnail images is performed through an operational part, the image testing device alters by rewriting the image number attached to the medical images of the thumbnail images related to the alteration operation in accordance with the altered order (Step S16).
    そして、前記サムネイル画像の並び順を変更する操作が操作部を介してなされると、変更された並び順に応じて、変更操作に係るサムネイル画像の医用画像に付帯されている画像番号を書き換えて変更する（ステップＳ１６）。 - 特許庁
  • To provide a material testing device and an external output method for a measured load therein, capable of generating a sufficient processing time in a servo loop as far as possible, and of outputting a detected signal proportional to the load as far as possible.
    サーボループにおける処理時間に余裕を極力生じさせるとともに、負荷に極力比例した検出信号を出力することができる材料試験装置における計測負荷の外部出力方法および材料試験装置を提供する。 - 特許庁
  • A line type environment tester 40 comprises a low- and high- temperature test tanks 42, 43 for testing a plurality of boards 1 with adapters at once during transporting of the boards housed in a transport box 20 via the test tanks.
    ライン型環境試験装置４０は低温試験槽４２および高温試験槽４３を備え、アダプタ付き基板１は一度に複数枚が搬送ボックス２０に収納された状態でこれらの試験槽を経由して搬送され、試験が行われる。 - 特許庁
  • A testing device 100 decides test items and when performing the wireless transmission characteristic test, a layer-3 signal is transmitted between the device and mobile terminal equipment 150 to realize wireless connection by a CDMA wireless interface, thereby transmitting a signal to be measured.
    試験装置１００は、試験項目を判断し、無線送信特性試験を行う場合には、移動端末装置１５０との間でレイヤ３信号を伝送してＣＤＭＡ無線インターフェースによる無線接続を実現し、被測定用信号を伝送する。 - 特許庁
  • When an external circuit is connected to the outside balls 2 of IC 1 by IC socket and testing is performed, a plurality of contact terminals 3 made of spherical conductive material are provided at the IC socket and these contact terminals 3 are disposed to press the outside ball.
    ＩＣソケットによってＩＣ１の外部ボール２に外部回路を接続し、試験を行なう際、ＩＣソケットに球形の導電材で作られた複数の接触端子３を設け、この接触端子３が外部ボール２に接圧されるよう構成する。 - 特許庁
  • Additional protease inhibitors, reducing agents, stabilizers and buffering agents may be combined with the disclosed compositions in devices for sampling or testing biological fluids for levels of peptides of interest, or methods therefor.
    追加のプロテアーゼ阻害物質、還元剤、安定剤、および緩衝剤が、興味の対象であるペプチドのレベルについて生物学的液体をサンプリングもしくはテストするための装置、またはそのための方法において、開示された組成物と併用されてもよい。 - 特許庁
  • To readily constitute a system for surely preventing an error of mistaking cells and cross-over contamination even in the case of installing a plurality of thermostatic devices for medical use having different specifications caused by a variety of makers and types in a testing room and integratively controlling them.
    メーカーや型式の違いによる異なる仕様の医療用恒温器を試験室に複数台設けて統合管理する場合でも、細胞の取り違えミスや交叉汚染を確実に防止するためのシステムを容易に構築することができる。 - 特許庁
  • The semiconductor data processing device is provided with: test circuits (7, 8) for generating a test pattern in a CPU and internal circuits, testing them and maintaining the test results; a test control circuit (6) for activating the test circuits; a test start register (9); a test status register (10); and a test general register (11).
    ＣＰＵ及び内部回路にテストパターンを発生してテストを行って結果を保持するテスト回路(７，８)と、テスト回路を起動するテスト制御回路（６）と共に、テスト起動レジスタ（９）、テスト状態レジスタ(１０)、及びテスト汎用レジスタ(１１)を備える。 - 特許庁
  • To provide a full-point test system for a display device screen comprising means for improving test efficiency by automating a full-point test of the display device screen to be used for a control monitoring system for a plant or the like without watching work by a testing person.
    プラントなどの制御監視システムで使用する表示装置画面の全点試験を、試験者の目視作業を要することなく自動化し、試験効率を高める手段を備えた表示装置画面の全点試験方式を提供する。 - 特許庁
  • Article 62 Those who have an objection to the disposition to the designated testing agency in accordance with the provisions in this Act may submit an application for examination to the Minister of Land, Infrastructure, Transport and Tourism pursuant to the Administrative Appeal Act (Act No. 160 of 1962).
    第六十二条　この法律の規定による指定試験機関の処分に不服がある者は、国土交通大臣に対し、行政不服審査法（昭和三十七年法律第百六十号）による審査請求をすることができる。 - 日本法令外国語訳データベースシステム
  • (2) A notifying manufacturing business operator who intends to take the test set forth in the preceding paragraph shall, pursuant to the provision of the Ordinance of the Ministry of Economy, Trade and Industry, submit a specified measuring instrument for testing, construction drawings and other relevant documents to said designated verification body.
    ２　前項の試験を受けようとする届出製造事業者は、経済産業省令で定めるところにより、試験用の特定計量器及び構造図その他の書類を当該指定検定機関に提出しなければならない。 - 日本法令外国語訳データベースシステム
  • (5) The competent minister may, when recognizing that a person as provided for in paragraph (3) has violated the provisions of the said paragraph, order that person to use Organisms Subject to Testing based on the conditions in the said paragraph or take other necessary measures.
    ５　主務大臣は、第三項に規定する者が同項の規定に違反していると認めるときは、その者に対し、同項の条件に基づいて検査対象生物の使用等をすることその他の必要な措置を執るべきことを命ずることができる。 - 日本法令外国語訳データベースシステム
  • kbluetoothd: Bluetooth Meta Server.kbtsearch: Bluetooth device/service search utility.khciconfig: KDE Bluetooth Monitor.kioclient: KIO command line client.qobexclient: Swiss army knife for obex testing/development.kbtobexclient: A KDE Bluetooth Framework Application.kioobex_startkbtserialchatkbemusedsrv: KDE Bemused Server.kbtobexsrv: KDE OBEX Push Server for Bluetooth. kbluepin: A KDE KPart Application.auth-helper: A helper program for kbtobexsrv that sends an authentication request for a given ACL link.Code Listing6.3: Installing kdebluetooth
    kbluetoothd:Bluetoothメタサーバkbtsearch:Bluetoothデバイス・サービス検索ユーティリティkhciconfig:KDEBluetoothモニタkioclient:KIOコマンドラインクライアントqobexclient:obexテスト・開発用の高度なクライアントkbtobexclient:KDEBluetoothフレームワークアプリケーションkbemusedsrv:KDEBemusedサーバkbtobexsrv:KDEBluetooth用OBEXPushサーバkbluepin:KDEKPartアプリケーションauth-helper:与えられたACLリンクに対して認証要求を送信する、kbtobexsrvのためのヘルパーです。 - Gentoo Linux
  • The NetBeans PHP editor is dynamically integrated with NetBeans HTML, JavaScript and CSS editing features such as syntax highlighting and the JavaScript debugger.NetBeans IDE 6.5 fully supports iterative development,so testing PHP projects follows the classic patterns familiar to web developers.
    NetBeans PHP エディタは、構文の強調表示や JavaScript デバッグなどができる NetBeans HTML、JavaScript、CSS 編集機能と動的に統合されています。 NetBeans IDE 6.5 では反復開発が完全にサポートされているので、PHP プロジェクトのテストは、Web 開発者によく知られている従来のパターンに従います。 - NetBeans
  • Since the period of bubble economy, 'Kanji of the Year,' one Chinese character representing the social conditions of the year, have been announced every year at Kiyomizu-dera Temple under the auspices of The Japan Kanji Aptitude Testing Foundation on December 12, 'the day for Kanji' (however, the day may be shifted according to circumstances).
    バブル期より毎年漢字の日の12月12日（ただし事情によりずれる場合もある）に、財団法人日本漢字能力検定協会主催によりその年の世相を漢字一字で表現する「今年の漢字」が清水寺で発表される。 - Wikipedia日英京都関連文書対訳コーパス
  • Specifically, whether review implementation plans for checking the reviews conducted on a stage-by-stage basis and managing the quality condition, or a testing plan suitable for the development associated with system integrations is formulated and a system for implementation is developed.
    具体的には、工程毎のレビュー実施状況を検証し、品質状況を管理するためのレビュー実施計画や、システム統合に伴う開発内容に適合したテスト計画が策定され、実施するための体制が整備されているか。 - 金融庁
  • To provide a built-in self test (BIST) network using a hierarchy of a universal BIST scheduler (UBS) for scheduling and coordinating testing of elements such as regular structure BIST (RSB) elements and random logic BIST (RLB) elements.
    規則構造組込み自己テスト（ＢＩＳＴ）（ＲＳＢ）要素およびランダム・ロジックＢＩＳＴ（ＲＬＢ）要素などの要素のテストをスケジューリングし、調整するためのユニバーサルＢＩＳＴスケジューラ（ＵＢＳ）の階層を使用したＢＩＳＴネットワークを提供すること。 - 特許庁
  • To provide an edge signal generating apparatus reliably detecting generation errors of edge signals and easily analyzing the causes of errors of the edge signals in a short period of time, and also to provide a semiconductor testing apparatus provided with the apparatus.
    エッジ信号の発生エラーを確実に検出することができ、これによりエッジ信号のエラーの原因を短時間且つ容易に解析することができるエッジ信号生成装置、及び当該装置を備える半導体試験装置を提供する。 - 特許庁
  • To provide a tool for generating test data on a corresponding cycle base having a format characteristic to specific ATE for testing a physical serial device by extracting and removing timing irregularity such as drift or jitter from simulation test data on an event base.
    イベントベースのシミュレーション試験データからドリフトやジッタなどのタイミング不規則性を抽出及び除去し、物理的シリアルデバイスを試験する特定のＡＴＥに固有のフォーマットを有する対応するサイクルベースの試験データを生成するツールを提供する。 - 特許庁
  • To provide a smoke exposure testing module which enables the efficient and easy recovery of cells in an amount sufficient for performing highly precise observation with microscopes and various biological measurements without damaging the exposed cells.
    曝露された細胞に損傷を与えることなく、顕微鏡での高精度の観察、及び様々な生物学的測定を行うのに十分な量の細胞を効率的かつ容易に回収することができる煙曝露試験用モジュールを提供する。 - 特許庁
  • To provide a new method for testing an agent for treating or preventing various bone metabolism diseases including osteoclasia in osteoporosis and chronic rheumatic arthritis and bone metastasis and osteoclasia of a cancer cell, and to provide a DNA used in the method.
    骨粗鬆症、慢性関節リウマチにおける骨破壊、ガン細胞の骨転移と骨破壊等を含むさまざまな骨代謝疾患の治療又は予防剤を試験するための新規な方法及び該方法において用いられるＤＮＡの提供。 - 特許庁
  • To efficiently judge whether a semiconductor device is good or not without depending on the number of comparator pins provided at a tester regarding the semiconductor device having a structure which is suitable for efficiently testing a plurality of semiconductor devices.
    本発明は複数の半導体装置の試験を効率的に行う上で好適な構造を有する半導体装置に関し、テスターが備えるコンパレータピンの数に依存することなく、効率的な良否判定の実行を可能とすることを目的とする。 - 特許庁
  • To provide a method for testing therapeutic or preventive effect of a sample for diseases selected from a group consisting of arteriosclerosis, diabetes, thrombosis, inflammation, immune abnormality, allergy and metastasis of cancer and obtain a DNA used for the method.
    動脈硬化、糖尿病、血栓、炎症、免疫異常、アレルギー、癌および癌の転移からなる群から選択される疾患に対する、被験物質の治療または予防効果を試験する方法および該方法に用いられるＤＮＡを提供する。 - 特許庁
  • TEST METHOD OF INTEGRITY OF GPS MEASURING, ERROR DETECTION METHOD IN SPECIAL VEHICLE, MAPPING METHOD AND SYSTEM OF GPS MULTIPATH LEVEL, AND SYSTEM INSTALLED IN VEHICLE FOR TESTING INTEGRITY OF GPS MEASURING
    ＧＰＳ測定の完全性の検査方法及び特定の車両におけるエラー検出方法及びＧＰＳマルチパスレベルのマッピング方法及びＧＰＳ測定の完全性を検査するために車両内に設けられているシステム及びＧＰＳマルチパスレベルのマッピングシステム - 特許庁
  • Several pads 18 for inspection which are electrodes for testing the semiconductor wafer 11 are formed in regions among the semiconductor devices 15 on the semiconductor wafer 11 except the regions under the wires.
    半導体ウェハ１１の上における各半導体デバイス１５同士の間の領域であり且つ前記ワイヤの下側となる領域を除く領域には、半導体ウェハ１１のテスト用の電極である複数の検査用パッド１８が形成されている。 - 特許庁
  • To provide a method and device for testing a semiconductor device capable of evaluating an exact interface state density and its energy distribution of the semiconductor device having an insulating film permitting the tunnel current to easily flow.
    トンネル電流が流れやすい絶縁膜を有する半導体装置について正確な界面準位密度及びそのエネルギー分布を評価することを可能とする半導体装置の試験方法及び試験装置を提供することを提供する。 - 特許庁
  • The receptor may be useful in isolating molecules for the treatment of disorders such as prostate cancer, benign prostatic hyperplasia, osteoporosis or cardiovascular disorders and in the testing of substances for estrogenic and other hormonal effects.
    該レセプターは、前立腺癌、良性前立腺過形成、骨粗鬆症、または心臓血管疾患のような疾患の治療のための分子を単離するのに、及びエストロゲンおよび他のホルモン的影響に関して物質をテストするのに有用であり得る。 - 特許庁
  • This software testing device that obtains information about the dynamic characteristics of a software system, uses a static analysis 130 and a dynamic analysis 131 and dynamically changes positions for obtaining the information about the dynamic characteristics of a program and acquisition conditions.
    ソフトウェアシステムの動的特性に関する情報を得るソフトウェア試験装置において、静的な分析１３０と動的な分析１３１を用い、プログラムの動的特性に関する情報を得るための位置と取得条件を動的に変更する。 - 特許庁
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