「Testing」を含む例文一覧(14414)
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過電流引外し特性に通電熱履歴特性を取り入れるようにした電子式回路遮断器の動作テスト時に擬似テスト信号であることを検知して一時的に通電熱履歴特性を解除して、連続テストを可能してテスト時間の短縮をはかる。 - 特許庁 - In the method for testing the drug sensibility of the tubercle bacillus, a specimen is cultured in a culture medium containing a tuberculostat and the obtained cultured medium is subjected to immunoassay to detect the tubercle bacillus strain specific secretory protein in the cultured medium as a tubercle bacillus marker.
抗結核薬を含有する培地中で検体を培養し、得られた培養物を免疫学的測定に供することによって該培養物中の結核菌群特異的分泌タンパク質を結核菌マーカーとして検出する、結核菌の薬剤感受性検査法。 - 特許庁 - To provide an FIR active thermography testing equipment for actively heating a body surface by far infrared ray (FIR) radiation heating and imaging biological information based on the difference of the heat conduction/heat capacity/specific heat of tissue near the body surface.
本発明は、遠赤外線（ＦＩＲ）放射加熱により能動的に体表面を加熱して体表面付近の組織の熱伝導・熱容量・比熱の違いに基づく生体情報を画像化するＦＩＲアクティブ・サーモグラフィ検査装置を提供することを目的とする。 - 特許庁 - As a result, it is found that a testing whether a subject is sensitive to hepatopathy caused by HCV infection can be carried out based on the presence/absence of a polymorphic mutation in each gene or a DNA domain closed thereto.
その結果、それぞれの遺伝子もしくはそれぞれ遺伝子の近傍DNA領域における多型変異の有無を指標とすることにより、被検者において、HCV感染に起因する肝疾患に対して感受性か否かの検査を行うことが可能であることを見出した。 - 特許庁 - To provide a testing tool having a hemocyte separation part, and capable of separating easily a plasma component by only dropping the whole blood specimen to a blood dropping part in a medical field, as to a specified component in blood, to conduct measurement quickly, easily, inexpensively and precisely, and a measuring method.
血球分離可能部を有し、血液中の特定成分について、診療の現場で全血検体を血液滴下部に滴下するだけで容易に血漿成分を分離し、迅速、簡便、安価に精度良く測定ができる試験用具、測定方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a software testing method which can accurately detect memory access and a memory leakage even for a system which should make real-time response and a system which has memory restriction as a dynamic detecting method for detecting illegal memory access and a memory leakage of a software system.
ソフトウェアシステムの不正なメモリアクセス及びメモリリークを検出するための動的な検出方法において、リアルタイム性が要求されるシステムやメモリ制限のあるシステムでも、的確にメモリアクセス及びメモリリークの検出を行えるソフトウェア試験方法を提供する。 - 特許庁 - To obtain a device for inspecting the sealed state of a connected pipe joint capable of obtaining reliable test results by speedily supplying and discharging water from a test band for testing the sealed state of the sealed part of the pipe joint and performing pressure-proof tests by a manual pressurization.
接続した管継手のシール部のシール性を試験するためのテストバンドへの給排水を迅速に行ない、しかも耐圧試験は手動加圧とすることにより確実な試験結果の得られる管継手の密閉性検査装置を得ることを課題とする。 - 特許庁 - This site work managing method performs test measurement and construction management by carrying an automobile mounted with the testing apparatus for measuring properties and an environmental condition of various building materials or civil engineering materials and its display apparatus in the construction site or the civil engineering site.
本発明の現場施工管理方法は、各種建築材料又は土木材料の性状、環境条件を計測する試験機器及びその表示機器を搭載した自動車を建築現場又は土木現場に搬入し、試験測定及び施工管理を行う。 - 特許庁 - To provide a method for determining an appropriate therapy and/or prognosis for a patient diagnosed as a nervous system disease, and to provide a method for identifying human subjects with a neurological disease that are targeted for clinical trials and for testing pharmaceuticals useful in the treatment.
神経疾患であると診断された患者の適当な治療法および／または予後を決定するための方法、および、神経疾患の治療について試験する薬物の臨床試験の対象患者となるヒト被験者を同定する方法の提供。 - 特許庁 - The switching circuit 60 disconnects between one end of the phase compensation capacitor CC and an output terminal DQ of the differential part 40 during normal operation, and connects between the end of the phase compensation capacitor CC and the output terminal DQ during testing.
スイッチ回路６０は、通常動作時には位相補償用キャパシタＣＣの一端と差動部４０の出力端子ＤＱとの間の接続をオフにし、テスト時には位相補償用キャパシタＣＣの一端と出力端子ＤＱとの間の接続をオンにする。 - 特許庁 - An electronic component testing device 1, which performs a test pressing an IC terminal against a contact part 51 of a test head 5, comprises a temperature operation means 501 which calculates an actual temperature of the IC based on a signal from a temperature sensor 2D provided in the IC.
ＩＣの端子をテストヘッド５のコンタクト部５１へ押し付けてテストを行う電子部品試験装置１であり、ＩＣに設けられた温度感応素子２Ｄからの信号に基づいて、当該ＩＣの実際の温度を演算する温度演算手段５０１を有する。 - 特許庁 - In an SDRAM chip 60, two signal generating circuits 63, 64 are provided corresponding to two testing circuits 61, 62 provided at both ends of a rectangular semiconductor substrate 60a, and the circuits 63, 64 are respectively provided near the circuits 61, 62.
ＳＤＲＡＭチップ６０において、長方形の半導体基板６０ａの両端部に設けられた２つのテスト回路６１，６２に対応して２つの信号発生回路６３，６４を設け、信号発生回路６３，６４をそれぞれテスト回路６１，６２の近傍に設ける。 - 特許庁 - To provide a material testing apparatus, which can apply sufficient load to micro test specimen collected from an actual machine structure while conducting tests with high accuracy, and has a size-reducible mechanism so that the collected test specimen can be tested on site.
実機構造物において採取した微小な供試体に対して、高精度に試験することができながら十分な荷重を負荷でき、供試体を採取した現地で試験が行えるように小型化できる機構を有する材料試験機を提供すること。 - 特許庁 - When testing the console 2, a computer unit 28 of the control device 3 reads a test display command DT from a database 24 to transmit the same to the console 2 via a conversion unit 30, and also reads an exact test video signal DTE to supply the same to a comparison means 40.
制御装置３のコンピュータ・ユニット２８は、コンソール２の検査時に、データベース２４から検査表示コマンドＤＴを読み出し、変換ユニット３０を介してコンソール２に送信し、また的確検査ビデオ信号ＤＴＥを読み出して、比較手段４０に供給する。 - 特許庁 - After finish of the test, the lifting stand 20 on which the right and left tires A, A are placed is lifted, while keeping the balance in the approximately horizontal state, and the right and left tires A, A are allowed to get out from between the pair of front-and-rear testing rollers 3, 3 journaled on the right and left upper faces.
試験終了後において、左右タイヤＡ，Ａが乗せられた昇降台２０を略水平状態にバランスを保ちながら上昇動作させ、左右タイヤＡ，Ａを、左右上面に軸受された前後一対の試験ローラ３，３間から脱出させる。 - 特許庁 - The system is configured such that a stocker controller and a PLC are connected in series with a conveyance controller comprising a main control device, a collected data display device, a data recording device, and a request data display device, and a test program for testing a PLC program is connected thereto.
主制御装置、収集データ表示装置、データ記録装置及び要求データ表示装置からなる搬送コントローラに、ストッカー制御装置とＰＬＣとを直列的に接続し、これにＰＬＣプログラムのテストを行うテストプログラムを接続して構成する。 - 特許庁 - To provide a testing tool requiring a small space for transportation and preservation when carrying out a wipe test of environmental microorganisms, facilitating a test operation such as storage of cotton swabs after collection of specimens and arrangement of the specimens, and reducing the cost required for the test low.
環境微生物の拭き取り検査を行う場合において、運搬や保管に要するスペースが少なくて済み、検体採取後の綿棒の収納や検体の整理などの検査作業が簡易であり、検査に要するコストも低く抑えられる検査用具を提供する。 - 特許庁 - This testing machine is constituted of a tool for holding the test piece, the vibration rod for applying vibration pressure to the held test piece to generate strain, and a ceramic piezoelectric element actuator provided in the vibration rod for imparting the high-frequency vibration to the rest piece.
試験片の保持具、保持された試験片に振動圧力を加えて歪を発生させるための駆動棒、試験片に高周波振動を付与するための駆動棒に設けられたセラミック圧電素子アクチュエータから構成されるセラミック圧電素子駆動型材料試験機。 - 特許庁 - To provide a test selection method and a test selecting apparatus for reducing the number of tests to be made without implementing a statement used for a program only in a testing process without reducing test precision in a regression test that is made after correcting the program.
プログラムを修正した後に行う回帰試験において、試験精度を落とすことなく、また、プログラムに試験工程でのみ使用する命令文を実装することなく、行う試験の数を減らすことができる試験選択方法および試験選択装置を提供する。 - 特許庁 - This pressurization excitation testing machine for applying vibration in the same direction as the pressurizing direction to a specimen 31 in the pressurized state is equipped with a constant pressurization part having a hydraulic pump capable of supplying a pressurized oil to an oil chamber of a pressurizing hydraulic cylinder mechanism 110 through a passage isolation valve.
加圧状態にある供試体３１に加圧方向と同方向の振動を加える加圧加振試験機において、加圧用油圧シリンダ機構１１０の油室に流路遮断弁を介装し圧油を供給可能とした油圧ポンプを有する定加圧部を備える。 - 特許庁 - A data recording section 11, in advance, allows each advance level obtained from the level detection section 7 by switching and emitting a plurality of high-frequency signals to the object to be measured for testing to correspond to each kind of object to be measured and high-frequency signal for storing.
データ記録部１１は、事前に、テスト用被測定物に対して複数の高周波信号を切り換え発射してそのレベル検出部７から得られた個々の事前検出レベルを、被測定物の種類とその高周波信号毎に対応させて格納する。 - 特許庁 - To provide a terminal board for a nuclear power plant control panel test, a control panel automatic testing device, and a temporary control device, which reduces a time and cost by reducing a work amount during updating, and also reduces an operation risk caused by plant monitoring control function stop.
更新時の作業量を減らすことで時間とコストを低減し、またプラント監視制御機能停止による運用上のリスクの低減を可能とする原子力発電所制御盤試験用端子台、制御盤自動試験装置、及び仮設制御装置を提供する。 - 特許庁 - The location of the defective part of a relay transmission system 100, having plural relay systems Yi(i=1 to n) serially connected through outgoing transmission lines Li(i=0 to n) and incoming transmission lines Ui(i=0 to n) is executed by a maintenance testing device X and a maintenance return device Z.
下り伝送路Ｌ_i （ｉ=０、〜ｎ）と上り伝送路Ｕ_i （ｉ=０、〜ｎ）により直列接続された複数の中継装置Ｙ_i （ｉ=１、〜ｎ）を有す中継伝送システム１００の障害箇所の特定を、保守試験装置Ｘと保守折返装置Ｚとで実行する。 - 特許庁 - To provide an inverter-testing device, capable of preventing a DC input capacitor and its peripheral circuit from deterioration or voltage breakdown, due to the application of voltage higher than the break withstand voltage applied to the DC input capacitor, which is likely to occur, when the inverter to be tested has made abnormal stop.
被試験インバータが異常停止したときに起こり得る、直流入力コンデンサへの耐圧以上の電圧印加による直流入力コンデンサおよびその周辺回路の劣化または耐圧破壊を防止することができるインバータ試験装置を提供する。 - 特許庁 - An address decoder 12 generates two or more selection signals SEL0-SEL3, so as to simultaneously select first to fourth memory circuits RAM 0-RAM3, on the basis of an address signal ADD for accessing to the memory circuit by a CPU 11 in testing mode.
アドレスデコーダ１２はテストモード時にＣＰＵ１１が１つのメモリ回路をアクセスするためのアドレス信号ＡＤＤに基づいて第１〜第４メモリ回路ＲＡＭ０〜ＲＡＭ３を同時に選択するように複数の選択信号ＳＥＬ０〜ＳＥＬ３を生成する。 - 特許庁 - To provide a chemical testing device which enables a safe measurement of constantly varying NO concentration in the depth of the body such as the inside of a blood vessel or the inside of a body cavity and a diagnosis of vascular diseases relating to the NO concentration in the body without causing damage to a sensor and to blood vessel walls.
センサーや血管壁等を損傷させることなく、安全に血管内、体腔内等の体内深部での時々刻々のＮＯ濃度を測定でき、体内ＮＯ濃度に関係する血管系疾患の診断ができる化学検査装置を提供する。 - 特許庁 - This testing machine comprises a common shaft 3 for interfitting inner rings of a plurality of insulated bearings 46, 47, a plurality of respective housings 11, 12 for interfitting respectively outer rings of each insulated bearing 46, 47, and a common base 4 for installing thereon the respective housings 11, 12.
複数の絶縁軸受４６，４７の内輪を嵌合させる共通の軸３と、各絶縁軸受４６，４７の外輪をそれぞれ嵌合させる複数の個別ハウジング１１，１２と、これら個別ハウジング１１，１２を設置する共通の基台４とを備える。 - 特許庁 - To accurately confirm, in an operation terminal, configuration information of a server system, as to a configuration management testing method and program by the operation terminal of the server system provided with a plurality of partitions and server system control parts.
本発明は複数のパーティションとサーバシステム管理部を備えたサーバシステムの操作端末による構成管理試験方法及びプログラムに関し，サーバシステムの構成情報を設定した場合に操作端末において正確に確認することができることを目的とする。 - 特許庁 - To remove scale adhering on the inner wall of piping and to prevent the adhesion of scale on the inner wall of the piping by letting the optimum Lorentz force act on a liquid to be treated passing through the piping without requiring a laboratory testing and continuously changing the frequency of a current for exciting a solenoid coil.
ラボテストを必要とせず、ソレノイドコイルに励磁する電流の周波数を連続的に変化させずに、配管内を通流する被処理液体に対し最適なローレンツ力を作用させ、配管の内壁に付着したスケールの除去および付着の防止する。 - 特許庁 - The semiconductor memory device having a function of masking a high-order or a low-order bit of all the bits of write data during a normal operation includes a mask control circuit for masking all the bits of the write data during a testing operation.
書き込みデータの全ビットのうち上位ビット或いは下位ビットのいずれかを通常動作時にマスク可能な機能を有する半導体記憶装置は、テスト動作中は書き込みデータの全ビットをマスク可能にするマスク制御回路を含むことを特徴とする。 - 特許庁 - To provide a maintenance information providing system, a device and a method therefor capable of reducing both the user side cost and maker side cost required for maintenance by enabling to cope, on the user side, with a deficiency generated in semiconductor integrated circuit testing device.
半導体集積回路試験装置で生する不具合をユーザ側で対処可能とすることにより、メンテナンスに要するユーザ側のコスト及びメーカ側のコストの双方を低減することができるメンテナンス情報提供システム、装置、及び方法を提供する。 - 特許庁 - To obtain a polycarbonate-based flame retardant resin composition having excellent flame retardance performances and excellent melt fluidity, simultaneously improved in strength to various testing methods and capable of maintaining the properties even when placed in a high-temperature and high- humidity environment.
優れた難燃性能と優れた溶融流動性を持ち、更に様々な試験方法に対する強度が同時に改良され、しかも、それらが高温高湿環境下におかれた場合においても維持されるポリカーボネート系の難燃樹脂組成物を提供する。 - 特許庁 - The test system includes a tester for testing a set of components and generating test data, and a local outlier identifying system for selecting data sub-set from the test data and identifying the local outlier in the data sub-set automatically.
試験システムは、一組のコンポーネントを試験し、その試験データ生成するように構成されるテスターと、試験データからデータサブセットを選択し、データサブセットの中の局所的外れ値を自動的に識別するように構成される、局所的外れ値識別システムとを備える。 - 特許庁 - To provide a test method of electronic components, containing semiconductors which secures processing efficiency, while holding back increase in cost for the entire system by enabling the testing of electric characteristics thereof in a conveying process that allows conveying of a plurality of electronic components as units.
システム全体のコストアップを抑えつつ、処理能率を確保するために複数の電子部品を単位として搬送しながら、その搬送過程で電子部品の電気的な特性を試験することのできる、半導体素子を含む電子部品の試験方法を提供する。 - 特許庁 - When evaluating the resistance to corrosion of the material under the ammonium hydrosulfide environment, a relation between concentrations of the ammonium hydrosulfide and pressures is previously simulated for a testing solution, and the concentration of the ammonium hydrosulfide is determined from the pressure, and the resistance to corrosion of the material is evaluated.
水硫化アンモニウム環境下における材料の耐腐食性を評価するに際し、予め試験溶液の水硫化アンモニウム濃度と圧力との関係をシミュレートしておき、圧力から水硫化アンモニウム濃度を判断し、材料の耐腐食性を評価する。 - 特許庁 - To provide a probe block of a probe device for testing a liquid crystal panel, which facilitates alignment of a probe block electrode with an electrode, has high flexibility to cope with a difference in size of a liquid crystal panel and enables a test with reliability.
液晶パネル検査用のプロ−ブ装置のプロ−ブブロックにおいて、プロ−ブブロック電極３と電極１２との位置合わせし易く、液晶パネル１１の大きさの違いがあっても対応できる汎用性が高く信頼性のある検査ができるようにする。 - 特許庁 - To provide a driving testing apparatus capable of accurately conforming phase synchronization of a rotary driving unit with that of an object driving apparatus to surely collide, with a high success rate, a projection object with specified one out of a plurality of objects rotated at high speed.
回転駆動装置と物体打込機器の位相同期を正確に合わせることができ、これにより高速回転する複数の対象物のうち特定の１つに、投射物を高い成功率で確実に衝突させることができる打込み試験装置を提供する。 - 特許庁 - To provide a material testing machine capable of performing control for holding the plastic strain amplitude of a test piece to required magnitude under automatic operation and capable of reducing the load of an operation and eliminating the possibility to perform the test error caused by an artificial mistake.
試験片の塑性歪み振幅を所要の大きさに維持する制御を自動運転のもとに行うことができ、オペレータの負担の軽減並びに人為的ミスに起因する誤った試験の行う可能性をなくすことのできる材料試験機を提供する。 - 特許庁 - To provide a marking materials and security markings, a method for integrating these into a paper web of documents, bond paper, banknotes, packaging and goods, and a method for testing the electroconductive marking substances and security markings integrated in this way.
標識物質と安全標識、およびこれらを文書、有価証券、銀行券、包装および商品の紙料ウエブに統合するための方法、ならびにこうして統合された導電性標識物質および安全標識を試験するための方法を提供する。 - 特許庁 - To acquire a highly-accurate measurement result in a tire testing machine having a spindle device 2 for holding rotatably a test tire T and provided with a detector 29 capable of measuring a load generated from the test tire T to the spindle device 2.
供試タイヤＴを回転自在に保持するスピンドル装置２を有し、このスピンドル装置２に対して供試タイヤＴから発生される荷重を測定可能な検出器２９が設けられたタイヤ試験機において、高精度の測定結果を得ることができるようにする。 - 特許庁 - To provide a serial communication apparatus test device for specifying which circuit out of a plurality of circuits in a serial communication card for performing transmitting/receiving processing of a serial communication apparatus generates a trouble and to provide a method for testing the serial communication apparatus.
シリアル通信装置の送受信処理を行なうシリアル通信カードにおいて、そのシリアル通信カード上の複数の回路のうちいずれの回路に不具合があるかの特定する、シリアル通信装置試験装置及びシリアル通信装置の試験方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a device and method for testing semiconductor integrated circuit device by which test items can be set more efficiently by setting the items based on test results and, consequently, an object to be measured can be tested efficiently.
試験結果に基づいて試験項目を設定することにより効率的に試験項目を設定することができ、その結果として効率的に被測定対象の試験をすることができる半導体集積回路試験装置及び試験方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a signal measurement apparatus which performs a timing adjustment for storing data obtained by sampling and converting analog signals through a plurality of A/D converters with different conversion properties with the same timing in a memory with the same timing, a signal measurement system and a semiconductor testing device.
変換特性の異なる複数のＡ／Ｄ変換器が同一時期にアナログ信号をサンプリングして変換したデータを、メモリに同一タイミングで記憶するためのタイミング調整を行う信号測定装置、信号測定システムおよび半導体試験装置を提供する。 - 特許庁 - To provide an overcurrent adjustment mechanism with the small number of parts capable of improving working efficiency by doing away with waiting time for a circuit breaker heated by electricity testing and the like to return to normal temperature in adjusting time required for electric path interception.
電路が遮断されるまでの時間を調整する際に、通電試験等によって発熱した回路遮断器が常温に戻るまで待つ必要をなくし、作業効率を向上させることが可能な過電流調整機構を少ない部品数で提供する。 - 特許庁 - The synchronous semiconductor integrated circuit device receiving an external clock signal ext.CLK in a testing operation mode executes a writing operation and a reading operation under the control of an internal clock regulator 200 for generating an internal clock signal int.CLK having a high frequency.
同期型半導体記憶装置１０００は、テスト動作モードにおいて、外部クロック信号ｅｘｔ．ＣＬＫを受けて、周波数の高い内部クロック信号ｉｎｔ．ＣＬＫを生成する内部クロック調整回路２００に制御されて、書込み動作および読出動作を行う。 - 特許庁 - A comparison and determination circuit 50 compares an output signal for testing from the selected output circuit, with an output signal for reference from the reference output circuit block 41, and determines whether or not the selected output circuit is faulty, based on the comparison result.
比較判定回路５０は、選択された出力回路からのテスト用出力信号と、参照出力回路ブロック４１からの参照用出力信号とを比較し、その比較結果に基づき、選択された出力回路が不良か否かを判定する。 - 特許庁 - To provide a device and method for testing of rubber, capable of reproducing the behavior of rubber in actual abrasion with higher precision, thereby allowing the measured degree of abrasion and abrasion form of the rubber to be more precisely matched with actual abrasion results.
実際の摩耗時におけるゴムの挙動をより高精度に再現することができ、これにより、測定されるゴム摩耗度および摩耗形態を、実際の摩耗結果に、より精度良く対応させることが可能なゴム試験機およびゴム試験方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a device for measuring and testing a transformation plasticity coefficient and a method for identifying a transformation plasticity coefficient, which easily detect a deformation quantity of a test piece in a temperature change associated with phase transformation, and can identify a compressed transformation plasticity coefficient based on the deformation quantity.
相変態をともなう温度変化中の試験片の変形量を容易に検出し、それに基づいて圧縮の変態塑性係数を同定することができる変態塑性係数測定試験装置および変態塑性係数同定方法を提供する。 - 特許庁 - To diagnose a service provision status of an image formation system while network connection for operating the image formation system is kept as it is without changing a connection configuration or the like without installing a testing device, and without performing test packet transmission work by a user.
画像形成システムを運用するネットワーク接続のままの状態で、接続構成等を変更することなく、試験用の装置を設置することなく、ユーザによるテストパケット送信作業もなく、画像形成システムのサービス提供状況を診断すること。 - 特許庁 - To provide a device for testing a semiconductor that facilitates verification as to whether control and measurement of unintended DUT are executed mistakenly, out of the DUTs in a plurality subjected to simultaneous measurement, in the case when the DUTs are subjected to the simultaneous measurement.
複数のＤＵＴを同時測定している場合、同時測定している複数のＤＵＴのうち、誤って意図しないＤＵＴに対しての制御および測定を行っていないかを容易に検証することが可能な半導体試験装置を実現する。 - 特許庁
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