「Testing」を含む例文一覧(14414)

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  • The start testing apparatus is constituted in such a way that a starter model part which simulates a starter characteristic in advance is installed at a controller used to control the dynamometer and that the engine is started by the output signal of the starter model part until the detected shaft torque characteristic of the engine is inverted and finishes the start.
    ダイナモメータを制御する制御装置に予めスタータ特性を模擬したスタータモデル部を設け、検出されたエンジンの軸トルク極性が反転し、始動完了までスタータモデル部の出力信号によって始動するように構成したものである。 - 特許庁
  • The charge and discharge control terminal and a testing fuse are used to select one of voltage levels "L", "H", and "M" input to the charge and discharge control terminal so as to switch among the normal application state, charge and discharge inhibiting state and the test state.
    充放電制御用端子とテスト用ヒューズを用いて、該制御端子に入力された電圧のレベル「Ｌ」、「Ｈ」、「Ｍ」のいずれかを選択することによって、通常応用状態、充放電禁止状態とテスト状態のいずれかに切り替えを可能になる。 - 特許庁
  • To provide a method for activating a gas diffusion electrode by which the initial performance is improved, the performance is improved with the operating time, and the service life is stably prolonged and to furnish a testing method by which the quality of the electrode is confirmed in a short time, and the service life is predicted.
    初期性能が優れているとともに、運転時間と共に性能が良くなり、安定した長寿命のガス拡散電極の活性化方法を提供し、また短時間で電極の品質確認と寿命予測を行える試験方法を提供する。 - 特許庁
  • To provide a probe card capable of testing the electrical property of an object under test correctly by contacting all the probe pins surely corresponding electrode pads when overdriven, without damage of probe pins and semiconductor elements, even when the object, such as an IC chip, is integrated highly and grown in size.
    ICチップ等の被検査体が高集積化、大型化しても、プローブピンや半導体素子が損傷を受けることなく、オーバードライブ時に全てのプローブピンを対応する電極パッドに確実に接触させて、被検査体の電気的特性の検査を正確に行うこと。 - 特許庁
  • A test process 20 to be performed by a test system 100 includes: a test class thread 31 for performing a test class 30 in which a method for testing a device is described; and a tool thread 11 for performing a tool 10 which includes a function that can be used for the test of the device.
    試験システム１００で実行される試験プロセス２０は、デバイスの試験方法を記述したテストクラス３０を実行するためのテストクラス・スレッド３１と、デバイスの試験に利用可能な関数を含むツール１０を実行するためのツール・スレッド１１と、を含む。 - 特許庁
  • To provide a durability testing method of coating member and a test device therefor that enable the sufficient simulation of the test condition of a coating member against the working condition of an actual machine, the investigation for more detailed damage mechanism of the coating member, and more accurate life evaluation.
    コーティング部材の試験条件を実機使用条件に十分に模擬することが可能であり、コーティング部材のより詳細な損傷メカニズムの解明と、より高精度な寿命評価とを可能にするコーティング部材の試験方法および試験装置を提供する。 - 特許庁
  • The NQR testing method which enables the test of a sample having at least one NQR characteristic to be changed together with a given environmental parameter is composed of a method which enables the sample to be excited so as to energize NQR resonance and an NQR response signal to be detected.
    所与の環境パラメータと共に変化する少なくとも１つのＮＱＲ特性を有する試料をテストするＮＱＲテスト方法において、試料に励起を与えてＮＱＲ共鳴を付勢し、ＮＱＲ応答信号を検出することからなる方法。 - 特許庁
  • To provide a method for manufacturing a probe card which has a high probe density, a high contact stability with an electric circuit during testing, which can test a wafer, which can execute a large deformation of the probe, and which can rapidly test in a high frequency and to provide the probe card.
    プローブ密度が高く、ウェーハのテストが可能で、プローブの大幅変形を実施可能で、試験中電気回路の間との接触安定性が高く、プローブで高周波テストおよび高速テストが可能なプローブカードの製造方法およびプローブカードを提供する。 - 特許庁
  • The marking device is mounted on an apparatus for testing the painted surface of the vehicle, which has a CCD camera 6 for scanning / photographing the outside painted surface of the vehicle and an image processing device 8 automatically detecting a microdefects generated in the painted surface from photographed signals.
    マーキング装置は、車両外面の車両塗面を撮像走査するＣＣＤカメラ６と、その画像信号の変化から車両塗面に生じている微小欠陥を自動的に検知する画像処理装置８とを備えた車両塗面検査装置に付属する。 - 特許庁
  • The drainage testing device is provided with: a power supply part (2) for driving a drain pump based on the power voltage; and an information part (3) for informing the operation of a float switch (11) by being connected to the float switch (11) detecting the level of the drain in the drain pan of the indoor unit.
    前記電源電圧に基づいて前記ドレンポンプを駆動させる電源供給部（２）と、前記室内機のドレンパン内のドレン水位を検知するフロートスイッチ（１１）と接続されることにより当該フロートスイッチ（１１）の作動を知らせる報知部（３）とを備えている。 - 特許庁
  • To provide a test instrument for an optical element package which enable easy, efficient test operation and can perform high-precision testing, evaluation, or measurement by transmitting a high-frequency signal from a test signal generator as it is to an optical element package to be tested.
    試験操作を簡単かつ能率的に行え、試験信号発生器からの高周波試験信号を、そっくりそのまま、試験対象の光素子パッケージに伝送して、高精度の試験評価又は測定ができる、光素子パッケージの試験器具を提供すること。 - 特許庁
  • To solve the problem that a testing circuit in a chip applied by a conventional test facilitation designing technique must inspect whether an input/ output circuit for outputting a signal to an external terminal or capturing a signal from an external terminal is normally operated or not by using a circuit tester.
    従来のテスト容易化設計技術を適用してチップ内にテスト回路の構成では、外部端子へ信号を出力したり外部からの信号を取り込む入出力回路が正常に動作するか否かの検査はテスタを用いて行なわざるを得ない。 - 特許庁
  • As a result, the amount of testing gas used per sensor can be reduced, and a period for replacing the gas can be reduced thereby shortening the necessary working hours, and the amount of gas to be used can be reduced thereby reducing its cost and executing the sensor processes accurately.
    この結果、センサ１個あたりの検査用ガスの使用量を減少できるため、ガス置換時間の短縮により作業所要時間を短縮でき、また、ガス使用量の現象によるコストの低減を図ることができ、さらに精度良くセンサ処理を実行できる。 - 特許庁
  • The apparatus for testing the model structure, for example, measures a variation in pressure occurring when the model mobile object 1 passes through the model structure 2 and also measures a stream of air occurring at the aperture 2e when the model mobile object 1 passes through the model structure 2.
    試験装置は、例えば、模型構造物２内を模型移動体１が通過するときに発生する圧力変動を測定したり、模型構造物２内を模型移動体１が通過するときに開口部２ｅから発生する気流を測定したりする。 - 特許庁
  • In the method of identifying the transparent object or testing the authenticity of the transparent object utilizing an absorption spectrum, the object to be identified is formed of material containing at least one, preferably at least two light absorbing substances (coloring agents).
    吸収スペクトルを利用して透明物体を同定する、又は透明物体の真偽を試験する方法において、同定される物体は、少なくとも一つのそして好ましくは少なくとも二つの光吸収物質（着色剤）を含有する材料から成る。 - 特許庁
  • This conveying carrier tool for the semiconductor device testing device includes at least one first linear support part extending along a first direction, and at least one second linear support part extending along a second direction orthogonal to the first direction.
    半導体装置試験装置用搬送キャリア冶具は、第１の方向に沿って延在する少なくとも一つの第１の線状支持部と、第１の方向に直交する第２の方向に沿って延在する少なくとも一つの第２の線状支持部とを備える。 - 特許庁
  • The metallic microsphere preferably shows a deformation resistance of ≤3,500 mN for a displacement magnitude of 10% when measured at room temperature using a micro compression testing machine comprising an upper trapezoid diamond indenter and a lower pressure plate made of an SKS plate.
    また、本発明の金属微小球は上部台形型ダイアモンド圧子とＳＫＳ平板である下部加圧板とからなる微小圧縮試験器を用い、室温において測定した際の変位量１０％における変形抵抗が３５００ｍＮ以下であることが好ましい。 - 特許庁
  • The testing system includes a functional block 31 for monitoring the fluctuations in the power supply voltage, in the internal region of the semiconductor device, and a control timing adjusting function for adjusting the control timing of a load current-correcting means 15, based on the fluctuation monitored by the block.
    半導体装置内部領域の電源電圧変動をモニタするための機能ブロック３１と、機能ブロックによりモニタした電源電圧変動に基づいて負荷電流補正手段１５を制御するタイミングを調整する制御タイミング調整機能とを有する。 - 特許庁
  • This evaluation device for the closing material for the molten metal tapping hole comprises a high-frequency induction furnace 1 for forming and storing the molten metal 11, and a closing material pushing-out device 2 for pushing out the testing closing material 7 into the molten metal 11 through an immersion tube 9.
    溶融金属出湯口用閉塞材の評価装置は、溶融金属１１を形成・収容する高周波誘導炉１と、該溶融金属１１中に試験用閉塞材７を浸漬管９を通して押し出す閉塞材押し出し装置２とからなる。 - 特許庁
  • To provide a blood clinical testing device for performing blood coagulation test, biochemical test, or immune serum test capable of speedily heating specimens and reagents housed in reaction containers to a reaction temperature and further efficiently perfuming tests.
    血液の凝固検査、生化学検査あるいは免疫血清検査を行う臨床検査装置であって、反応容器に収容した検体および試薬を反応温度まで迅速に加温でき、一層効率的に検査を実施し得る血液の臨床検査装置を提供する。 - 特許庁
  • In the semiconductor-testing device where a plurality of DUTs are connected to one pin, a comparison result register is provided for each DUT and fail information is selectively written to the comparison result register when the corresponding DUT is active.
    １つのピンに複数のＤＵＴが接続される半導体試験装置において、 前記ＤＵＴ毎に比較結果レジスタが設けられ、これら比較結果レジスタには対応するＤＵＴがアクティブ状態のとき選択的にフェイル情報が書き込まれることを特徴とする。 - 特許庁
  • An abrasion testing device is equipped with a heater for heating the lens, an abutting part abutting on one surface of the heated lens, and a displacement mechanism for displacing at least either of the lens and the abutting part to the other side so that the abutting part rubs one surface.
    擦傷試験装置が、レンズを加熱するヒータと、加熱された前記レンズの一面に当接する当接部と、前記当接部が前記一面を擦るように、前記レンズおよび前記当接部の少なくとも一方を他方に対して変位させる変位機構と、を備えている。 - 特許庁
  • PWM DRIVING METHOD AND PWM DRIVER FOR PELTIER ELEMENT, ON-BOARD TEMPERATURE CONTROLLER AND CAR SEAT TEMPERATURE CONTROLLER, PWM DRIVING CHARACTERISTIC CHART OF PELTIER ELEMENT AND METHOD FOR PREPARING AND UTILIZING THE SAME, AND METHOD FOR TESTING PWM DRIVING CHARACTERISTIC OF PELTIER ELEMENT
    ペルチェ素子のＰＭＷ駆動方法およびＰＭＷ駆動装置、車載温度調節装置およびカーシート温度調節装置、ペルチェ素子のＰＷＭ駆動特性チャートならびに同チャートの作図方法および利用方法、ペルチェ素子のＰＷＭ駆動特性試験方法 - 特許庁
  • To make an immunoassay analyzer for analyzing electrochemically an immunoassay, and a chip electrode and a test chip used for the immunoassay analyzer suitable for a POCT (point of care testing), and to keep running costs thereof low.
    本発明は、イムノアッセイを電気化学的に分析するイムノアッセイ分析装置、並びに、そのイムノアッセイ分析装置に用いるチップ電極および検査チップに関し、ＰＯＣＴ（ｐｏｉｎｔ ｏｆ ｃａｒｅ ｔｅｓｔｉｎｇ）に適するとともに、ランニングコストを安価に抑える。 - 特許庁
  • To provide a vaccine for prophylaxis of FIP (feline infectious peritonitis) caused by infection of FIPV (feline infectious peritonitis virus), to provide a method for prophylaxis and a method for diagnosis of the FIP using the vaccine and to provide a reagent for testing the infection of the FIP.
    ネコ伝染性腹膜炎ウイルス（ＦＩＰＶ）の感染によって起こるネコ伝染性腹膜炎（ＦＩＰ）の予防用ワクチン並びに該ワクチンを用いたネコ伝染性腹膜炎の予防方法、診断方法及びネコ伝染性腹膜炎感染の検査用試薬を提供する。 - 特許庁
  • To make exactly measurable the thermal resistance between pellet cases of a test piece during impressing a thermal stress to the test piece consisting of a semiconductor for electric power in the case of testing durability of the semiconductor for electric power against thermal stress.
    電力用半導体の熱ストレスに対する耐久性を調べる熱ストレス試験装置において、電力用半導体から成るテストピースＴＰへの熱ストレス印加時におけるテストピースＴＰのペレット・ケース間の熱抵抗を正確に測定できるようにする。 - 特許庁
  • To provide a semiconductor test system capable of rapidly and efficiently testing even a mixed signal integrated circuit having analog signals and digital signals mixed therein by modularizing various types of different test devices and combining a plurality of these devices with each other.
    各種の異なるタイプの試験装置をモジュール化してそれらの複数個を組み合わせることにより、アナログ信号とデジタル信号の混在したミクストシグナル集積回路であってもその試験を迅速かつ効率よく試験できる半導体試験システムを提供する。 - 特許庁
  • 2) The institution must have researchers with the ability to perform sufficient clinical observation and testing and analysis and evaluation of the results of transplantation or administration of human stem cells, as well as the facilities and equipment necessary for such purposes.
    ② 十分な臨床的観察及び検査並びにその結果とヒト幹細胞等の移植又は投与を関連付けた分析及び評価を実施する能力を有する研究者を置き、かつ、これらの実施に必要な機能を有する施設を備えていること。 - 厚生労働省
  • Donor screening is not required for autologous stem cells, but consideration should be given to testing for HBV, HCV, and HIV to mitigate risks of cross-contamination during processing and for the safety of processing staff.
    自己由来のヒト幹細胞を用いる場合は必ずしも提供者のスクリーニングを必要としないが、調製工程中での交差汚染の防止、製造者への安全対策等の観点からＨＢＶ、ＨＣＶ又はＨＩＶ等のウイルスに対する検査の実施を考慮すること。 - 厚生労働省
  • The JMeter external editor enables you to modify the script according to the needs of your application.After you have created a load testing script or added a script to your project,you can invoke the external editor by right-clicking the script in the Projects window and choosing External Edit.
    JMeter の外部エディタによってアプリケーションの要求に従ってスクリプトの変更を行うことができます。 負荷テストスクリプトを作成またはプロジェクトに追加した後に、「プロジェクト」ウィンドウでスクリプトを右クリックし「External Edit」を選択すると、外部エディタを起動することができます。 - NetBeans
  • One of the rules of XP is to test small software components as often and early as possible, this way you will not have to fix bugs and errors in the API while setting up and testing larger applications which depend on the class.
    XP においては、小さなソフトウエアコンポーネントを可能な限り早期に頻繁に試験すること、というルールが定められています。 こうすることで、アプリケーション全体を設定し試験する際になってまで、コンポーネント内部のバグやエラーを修正する破目にならなくてすみます。 - PEAR
  • An inner pressure fluctuation absorption apparatus 3 comprises a pressure regulation section 21 including a pressure regulation space AS, and a duct 20 capable of connecting a testing device body 2 and the pressure regulation section 21 so as to communicate a test space and the pressure regulation space AS.
    内圧変動吸収装置３は、圧力調整用空間ＡＳを有する圧力調整部２１と、試験空間と圧力調整用空間ＡＳとを連通させるように試験装置本体２と圧力調整部２１を接続可能なダクト２０と、を備える。 - 特許庁
  • To improve accuracy in timing calibration for making uniform the signal propagation time of each pattern signal propagation path of a semiconductor device testing device, constituted in such a way as to be provided with a plurality of channel pattern signal propagation paths for providing test pattern signals for a semiconductor device to be tested.
    被試験半導体デバイスに試験パターン信号を与える複数のチャンネルのパターン信号伝送路を具備して構成される半導体デバイス試験装置の各パターン信号伝送路の信号伝播時間を揃えるためのタイミング校正の精度を向上する。 - 特許庁
  • The tensile testing machine 1 holds the test strip 2 so as to be tensible by using a holding jig, irradiates the part to be observed in the test strip 2 with electromagnetic wave M, detects the electromagnetic wave M passing through the test strip 2 and observes the extended state of the test strip 2.
    延伸観察用引張試験装置１は、試験片２を把持治具により引っ張り可能に保持するとともに、電磁波Ｍを試験片２の被観察部に照射し、試験片２を透過した電磁波Ｍを検出して試験片２の延伸状態を観察する。 - 特許庁
  • To remarkably improve the measuring accuracy of an oscillation frequency by converting the oscillation frequency of several hundreds of MHz or more into frequency dividing output of several MHz or less at a product testing time of a laser drive LSI and measuring the frequency, and to prevent a yield from being lowered.
    レーザドライブＬＳＩ の製品テスト時に数百ＭＨｚ以上の発振周波数を例えば数ＭＨｚ以下の分周出力に変換して測定することを可能とし、発振周波数の測定精度を大幅に向上させ、歩留まりの低下を防止する。 - 特許庁
  • To easily and accurately adjust a relative position relation between an ultrasonic wave transducer and a target section of an ultrasonic wave beam sent from this ultrasonic wave transducer b a biaxial angle adjustment means in the case of testing the characteristic of the ultrasonic wave transducer.
    超音波トランスデューサの特性試験を行うに当って、超音波トランスデューサと、この超音波トランスデューサから送信される超音波ビームのターゲット部材との相対位置関係を２軸の角度調整手段により容易に、しかも正確に調整できるようにする。 - 特許庁
  • To set a test mode by using only one user terminal without providing any terminal dedicated to mode setting since the securement of a terminal for testing is a major task in the case of an LSI with a small number of terminals mounted on a system such as an IC card.
    ＩＣカード等のシステムに搭載される端子数の少ないＬＳＩにおいては、テスト用端子の確保が大きな課題であり、本発明は、モード設定専用端子を設けることなくユーザー端子１本のみでテストモード設定を可能にすることを目的とする。 - 特許庁
  • The film has at least 0.6 N/15 mm of a T-peel strength when a cellophane pressure-sensitive adhesive tape having a rubber-based pressure- sensitive adhesive layer is stuck on the film and is then peeled off the film at the speed of 300±30 mm/min by using a tensile testing machine.
    ゴム系粘着剤層を有するセロハン粘着テープを該フィルムに貼着し、引張試験機を用いて同テープをフィルムから速度３００±３０ｍｍ／ｍｉｎで引き剥がしたときのＴ形剥離強度が０．６Ｎ／１５ｍｍ以上であるフィルムである。 - 特許庁
  • This method for evaluating or screening the sensitizing substance in vitro comprises incubating a MIP (macrophage derived inflammation protein)-1-expressing cell together with a testing specimen estimated to contain the sensitizing substance and then detecting the MIP-1 released from the cell.
    本発明は、MIP-1を発現する細胞と、感作性物質を含有すると予想される被験試料とをインキュベートし、該細胞から放出されたMIP-1分子を検出することを特徴とする感作性物質のインビトロ評価方法またはスクリーニング方法を提供する。 - 特許庁
  • To provide a testing method in which the performance of a beam- column connection section can be evaluated by an experimental method using a simple model specimen without using a partial frame specimen (a crossed shape) or the like with a connecting-section detailed section in conformity with an actual condition and a loadingd device.
    本発明は、実状に促した接合部詳細部を有する部分骨組み架構試験体（十字形）等を用いることなく、簡略なモデル試験体を用いた実験方法で柱梁接合部性能を評価できる試験方法、載荷装置を提供する。 - 特許庁
  • To provide a connector of which a yield ratio and a workability can be improved by improving life of a connector pin through restraint of abrasion of a tip of the connector pin as a first purpose and facilitating contacting work of a test pin to a testing face part as a second purpose.
    第１の目的は、コネクタピン先端の摩耗を抑制して当該コネクタピンの寿命を向上させ、第２の目的は、テスト用面部へのテストピンの当接作業を容易とし、歩留まり及び作業性を向上させることができるコネクタを提供する。 - 特許庁
  • In the semiconductor storage device 101, in addition to a BIST circuit 103 for testing a memory, a RA circuit 104 is incorporated to obtain a saving solution for replacing a defective cell by a redundant circuit based on a test result (fail data) obtained by the BIST circuit 103.
    半導体記憶装置１０１内に、メモリをテストするＢＩＳＴ回路１０３の他に、ＢＩＳＴ回路１０３が求めたテスト結果（フェイルデータ）に基づいて不良セルを冗長回路に置き換える救済解を求めるＲＡ回路１０４を内蔵する。 - 特許庁
  • To provide an automobile testing apparatus capable of performing axial alignment for a short time in the step replacement of an FF vehicle and a FR vehicle being objects to be tested, easily enabling axial alignment, having no danger in handling and capable of also reducing labor cost.
    ＦＦ車とＦＲ車の供試体段取替において短時間で軸心合わせが行え、かつ容易に軸心合わせが可能となり、また取り扱いに危険性がなく、更に人件費も軽減することが出来る自動車用試験装置を提供することにある。 - 特許庁
  • In the method, the change in the characteristic impedance of an incoming cable to which the NIU is connected is detected by testing a reflection signal that exists when a signal sent to a head end is not connected to a coaxial cable that is properly connected to the link.
    本発明は、ヘッドエンドに送信されている信号が、適正に接続された同軸ケーブルに接続されていないときに存在する反射信号をテストすることによって、ＮＩＵが接続されている来入ケーブルの変化を検出することにより、行う。 - 特許庁
  • The map information generation device 1 generates the map information to be used when testing an application program on the geographic information system (GIS), and generates large-scale map information akin to actual data from small-scale map information used as a base.
    この地図情報作成装置１は、 地理情報システム（ＧＩＳ）に関するアプリケーションプログラムをテストする際に用いられる地図情報を作成するものであり、基となる小規模の地図情報から大規模かつ実データに近い地図情報を作成する装置である。 - 特許庁
  • A high-temperature nitrogen gas of a specific pressure is sprayed to silver being melted by a silver particle generator to allow a silver particle to fly, and the silver particle borne on a nitrogen gas flow is carried to a filter 81 for testing where a filter holder 6 is set and a rear-stage filter 82.
    所定圧力の高温窒素ガスを銀粒子発生器５において溶融した銀に吹き付けて銀粒子を飛ばし、これにより窒素ガス流に乗った銀粒子をフィルタホルダ６にセットされている試験用フィルタ８１と後段フィルタ８２に輸送する。 - 特許庁
  • To provide a method and a system for analyzing failures and a program for analyzing failures to systematically fix a quantity of the degree of suspicion using a doubtful failure list detected by a light-emitting analysis and OBIRCH analysis and a suspected failure list narrowed down by testing.
    発光解析やOBIRCH解析で検出した被擬故障リストや、テスティングによって絞り込んだ被擬故障リストを用いて、その疑わしさの度合いを体系的に定量化する不良解析方法及びそのシステム並びにその不良解析プログラムを提供することにある。 - 特許庁
  • To provide a vibration test system capable of exciting simultaneously in each direction of xyz-axes of a test body only by a vibration test in one direction, and exciting to acquire desired accelerations in each direction of the xyz-axes of the test body, by using a uniaxial vibration testing device.
    一軸振動試験装置を用いて、一方向への振動試験のみで被試験体のｘｙｚ軸の各方向に同時に加振でき、被試験体のｘｙｚ軸の各方向に所望の加速度が得られるように加振可能な振動試験システムを提供すること。 - 特許庁
  • To provide an adaptor for pressure-resistant expansion test of a compact high- pressure gas container and a pressure-resistant expansion test method for automating a testing device by achieving continuous inspection without any restrictions to the outer diameter and height of the high-pressure gas container.
    高圧ガス容器の外径と高さに制約条件が付加されずに連続検査を可能とし、試験装置の自動化をはかることができる小型高圧ガス容器の耐圧膨張試験用アダプタ及び耐圧膨張試験方法を提供することを目的とする。 - 特許庁
  • This tester has a memory part for storing a test program for testing the tested object, and a control means for conducting control by the per-pin system and the shared system by the test program stored in the memory part, based on the per-pin system and the shared system.
    本装置は、被試験対象を試験するテストプログラムを記憶する記憶部と、パーピン方式、シェアード方式に基づいて、記憶部のテストプログラムにより、パーピン方式またはシェアード方式で制御を行う制御手段を有することを特徴とする装置である。 - 特許庁
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