「controller test」を含む例文一覧(441)

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  • TEST CONTROLLER
    テストコントローラ - 特許庁
  • TEST CONTROLLER AND TEST CONTROL METHOD
    試験制御装置及び試験制御方法 - 特許庁
  • CONTROLLER FOR VIBRATION TEST MACHINE
    振動試験機の制御装置 - 特許庁
  • MICRO-CONTROLLER AND TEST METHOD
    マイクロコントローラおよびテスト方法 - 特許庁
  • CONTROLLER FOR INTEGRATED CIRCUIT TEST
    集積回路テスト制御装置 - 特許庁
  • TEST DEVICE FOR TURBINE CONTROLLER
    タービン制御装置のテスト装置 - 特許庁
  • TEST DEVICE FOR PLANT CONTROLLER
    プラント制御装置の試験装置 - 特許庁
  • SIMULATED MOTOR AND CONTROLLER TEST DEVICE
    模擬モータ及びコントローラ試験装置 - 特許庁
  • TEST METHOD AND TEST DEVICE OF ELECTRONIC CONTROLLER UNIT
    電子制御部品の検査方法および検査装置 - 特許庁
  • COMMUNICATION TEST CONTROLLER AND COMMUNICATION TEST CONTROL METHOD
    通信試験制御装置および通信試験制御方法 - 特許庁
  • SYSTEM TEST METHOD AND SYSTEM CONTROLLER
    システム試験方法及びシステム制御装置 - 特許庁
  • CONTROLLER WITH MEMORY TEST FUNCTION AND COMPUTER
    メモリ試験機能付きコントローラ及びコンピュータ - 特許庁
  • IMAGE PROCESSING CONTROLLER AND TEST SUPPORT SYSTEM
    画像処理コントローラ及び検査支援システム - 特許庁
  • TEST SUPPORT SYSTEM AND IMAGE PROCESSING CONTROLLER
    検査支援システム及び画像処理コントローラ - 特許庁
  • HYDRAULIC CONTROLLER AND TEST MACHINE INCLUDING THE HYDRAULIC CONTROLLER
    液圧制御装置および該液圧制御装置を備えた試験機 - 特許庁
  • MEMORY CONTROLLER WITH SELF-TEST FUNCTION, AND METHOD OF TESTING MEMORY CONTROLLER
    セルフテスト機能のあるメモリコントローラ及びそれをテストする方法 - 特許庁
  • TEST DISPLAY METHOD FOR SCREEN DATA FOR CONTROLLER
    制御装置用画面データのテスト表示方法 - 特許庁
  • To obviate the need of a delay test controller or a plurality of DELAY TEST MODE signal lines to reduce a size of a circuit.
    ディレイテストコントローラや、複数本のDELAY TEST MODE信号線を不要にし、回路の規模を縮小する。 - 特許庁
  • The programmable test clock controller includes a test clock generator for generating a configurable test clock.
    プログラム可能テストクロックコントローラは、構成可能なテストクロックを生成するためのテストクロックジェネレータを含む。 - 特許庁
  • TEST APPARATUS, PHASE ADJUSTMENT METHOD AND MEMORY CONTROLLER
    試験装置、位相調整方法、及びメモリコントローラ - 特許庁
  • TEMPERATURE AND HUMIDITY CONTROLLER AND ENVIRONMENT TEST DEVICE
    調温調湿装置および環境試験装置 - 特許庁
  • PRINT CONTROLLER, PROGRAM, AND TEST PRINTING METHOD OF PRINT CONTROLLER
    印刷制御装置、プログラム、および印刷制御装置のテスト印刷方法 - 特許庁
  • ANALOG AUTOMATIC ADJUSTMENT TEST SYSTEM FOR PLANT CONTROLLER
    プラント制御装置のアナログ自動調整試験システム - 特許庁
  • TEST METHOD, TEST DEVICE, DEVICE TO BE TESTED, AND SUPERVISORY CONTROLLER FOR MAINTENANCE AND OPERATION
    試験方法、試験装置、被試験装置および保守運用監視制御装置 - 特許庁
  • To notify retention of communication packets to a test controller.
    通信パケットの滞留をテストコントローラへと通知する。 - 特許庁
  • A test mode controller 22 outputs a test signal TEST=H when the operation test in accordance with the maximum operation frequency is performed.
    最大動作周波数に応じた動作試験を行う際にテストモードコントローラ２２は、テスト信号ＴＥＳＴ１＝Ｈを出力する。 - 特許庁
  • When you are in the controller test file, you run the Test File option and it runs this same test file as a test.
    コントローラのテストファイル内にいる場合、「ファイルをテスト」オプションを実行すると、テストとしてこの同じテストファイルが実行されます。 - NetBeans
  • TEST CONTROL APPARATUS FOR DELAY ELEMENT AND MEMORY CONTROLLER CIRCUIT
    遅延素子のテスト制御装置およびメモリコントローラ回路 - 特許庁
  • To provide a micro-controller and a test method which can shorten accurately a test time.
    テスト時間の短縮を的確に行えるマイクロコントローラおよびテスト方法を得る。 - 特許庁
  • A test clock control structure includes a programmable test clock controller.
    １つの実施形態では、テストクロック制御構造は、プログラム可能テストクロックコントローラを含む。 - 特許庁
  • To provide a semiconductor test equipment capable of controlling a test pin group individually by allocating the test pin group to a test controller online.
    テストコントローラへテストピングループをオンラインで割り付け、テストピングループを個別に制御することができる半導体試験装置を提供する。 - 特許庁
  • CONTROLLER FOR ENVIRONMENTAL TEST APPARATUS, ENVIRONMENTAL TEST APPARATUS INCLUDING THE SAME, AND DEBUGGER FOR ENVIRONMENTAL TEST APPARATUS
    環境試験装置用コントローラ、及びこれを有する環境試験装置、並びにこの環境試験装置用デバッガ - 特許庁
  • To provide a radiation test system connecting a radiation test station and a radiation controller.
    放射線試験場と放射線コントローラとを接続した放射線テストシステムを提供する。 - 特許庁
  • The slave controller operates in a test mode or a game mode.
    下位制御装置はテストモードまたは遊技モードで動作する。 - 特許庁
  • SWITCH CONTROLLER, SEMICONDUCTOR TEST DEVICE, AND GENERATION PROGRAM
    スイッチ制御装置、半導体試験装置、及び生成プログラム - 特許庁
  • To solve the problem that it takes a tester controller of a test apparatus to read data from a plurality of test modules when the test controller receives the data from modules of each test and issues a next read instruction.
    試験装置のテスタコントローラが、各試験モジュールからデータを受け取ってから、次のリード命令を発行すると、多数の試験モジュールからデータを読み出す場合に、時間がかかる。 - 特許庁
  • METHOD FOR GENERATING TEST PRINT DATA, PRINT CONTROLLER AND PROGRAM
    テスト印刷データ生成方法、印刷制御装置およびプログラム - 特許庁
  • A polarization controller 2 fixes the test light to linear polarization.
    偏波制御部２は、試験光を直線偏光に固定する。 - 特許庁
  • TEST MODE CONTROLLER USING NONVOLATILE FERROELECTRIC MEMORY
    不揮発性強誘電体メモリを利用したテストモード制御装置 - 特許庁
  • The radiation controller records a test result acquired from a flow of radiation particles and a test component.
    放射線コントローラは放射線粒子の流れやテスト部品から得たテスト結果を記録する。 - 特許庁
  • The controller issues a test signal in which test information of first to m-th circuit devices is contained.
    コントローラは第１乃至第ｍ回路装置をテストした情報を有するテスト信号を発する。 - 特許庁
  • When a test mode is set, a high-level test mode signal TM is outputted from a bus controller 2.
    テストモードが設定されると、バスコントローラ２からハイレベルのテストモード信号ＴＭが出力される。 - 特許庁
  • A self-test controller 10 is responsive to scanned in self-test instructions to carry out test operations including generating a sequence of memory addresses that are specified by the self-test instruction.
    自己テスト・コントローラ１０は取り込まれた自己テスト命令に応答して、自己テスト命令が指定する、一連のメモリ・アドレスの生成を含むテスト動作を行う。 - 特許庁
  • To provide a semiconductor integrated circuit that has a built-in test controller for generating a test pattern only for a pin necessary in a test and a test pattern for all pins.
    テストに必要なピンのみのテストパターンから、すべてのピンに対するテストパターンを生成するテストコントローラを内蔵した半導体集積回路を得ること。 - 特許庁
  • The self-test controller 10 is responsive to scanned-in self-test instructions to carry out test operations including generating a sequence of memory addresses that is predertermined by the self-test instruction.
    自己テスト・コントローラ１０は取り込まれた自己テスト命令に応答して、自己テスト命令が指定する、一連のメモリ・アドレスの生成を含むテスト動作を行う。 - 特許庁
  • In one embodiment, the test assembly comprises a test die 2010 and an interconnection substrate 2008 for electrically connecting the test die to a host controller 2002.
    一実施形態では、テストアセンブリは、テストダイ2010及び該テストダイをホストコントローラ2002へ電気的に結合する相互接続基板2008を含む。 - 特許庁
  • The test assembly includes a test die (2010, 400) and an interconnection substrate (2008) for electrically coupling the test die to a host controller (2002).
    一実施形態では、テストアセンブリは、テストダイ(2010,400)及び該テストダイをホストコントローラ(2002)へ電気的に結合する相互接続基板(2008)を含む。 - 特許庁
  • A test execution management part 11 stores inputted test conditions in a test condition DB 15 and transmits a test condition initialization signal to a peer controller 2 when test starting time comes.
    試験実行管理部１１は入力された試験条件を試験条件ＤＢ１５に保存し、試験開始時刻になると、試験条件初期化信号をピア制御装置２へ送信する。 - 特許庁
  • FLOW CONTROLLER AND TEST METHOD THEREFOR, AND FLOW CONTROL METHOD
    流量制御装置、その検定方法及び流量制御方法 - 特許庁
  • To make suitably performable a durability test of electronic controller.
    電子制御装置の耐久試験を好適に行えるようにする。 - 特許庁
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