「controller test」を含む例文一覧(441)
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ユーザブレークコントローラ（ＵＢＣ）を用いてＣＰＵが実行する関数の実行順が正常であるか否かを検査する。 - 特許庁 - The system controller 20 determines the optimum recording light power from the recorded state of the test data when recording data.
システムコントローラ２０は、試し書きの書込み状況から、記録データを記録する際の最適記録光パワーを決める。 - 特許庁 - The material test data and magnetic data are correspondingly and superimposingly displayed by a display controller 21.
さらに材料試験データと磁気データを表示制御部２１により対応付けして重畳表示する構成を備えている。 - 特許庁 - Moreover, the inkjet printer 1 has a controller 4 which controls the belt conveying device 20 so that the test pattern and a reading surface 41 of the image sensor 40 may be opposed to each other after the test pattern is formed to the test pattern formation region.
さらに、インクジェットプリンタ１は、テストパターン形成領域にテストパターンが形成された後に、テストパターンと画像センサ４０の読取面４１とが対向するように、ベルト搬送装置２０を制御する制御装置４を有している。 - 特許庁 - A wireless master unit 100 of a wireless unit executes a test including operation confirmation to itself and a wireless slave unit 101 when receiving a test request from a management unit 1, and a communication controller 4 informs the management unit 1 about the result of test.
無線装置の無線親機１００が、管理装置１からテスト要求があったとき、自機および無線子機１０１に対する動作確認を含むテストを実施し、通信コントロール装置４が、そのテスト結果を管理装置１へ通知する。 - 特許庁 - A CPU 21 of the CPU board 2, on the basis of a test list showing a list of two or more pieces of test data to be input from a controller 3, reads the pieces of test data respectively from a storage device 4, and transfers them to the target board 1.
ＣＰＵボード２のＣＰＵ２１は、制御装置３から入力される複数の試験データの一覧を表す試験リストに基づいて、試験データをそれぞれ記憶装置４から読み出してターゲットボード１に転送する。 - 特許庁 - To provide a temperature controller maintaining test quality by providing a correct test temperature environment, also maintaining reliability of a tester and a handler, and providing easily and inexpensively the optimum test temperature environment for an IC chip.
正しいテスト温度環境を提供することによりテスト品質を維持し、テスター乃至ハンドラーの信頼性も維持し、ＩＣチップに最適なテスト温度環境を簡単に且つ安いコストで提供できる温度制御装置を提供する。 - 特許庁 - To provide a controller for integrated circuit test that allows a highly precise operation test for an integrated circuit to be performed without increasing the number of pins for the output terminal and an input terminal of a tester or the like.
テスター等の出力端子や入力端子のピン数を増やさなくとも集積回路の高精度な動作試験を可能とする集積回路テスト制御装置を提供する。 - 特許庁 - The durability test apparatus has a current sensor 1 which monitors currents being supplied to loads R1-Rn connected to an electronic controller Ob, thereby detecting failures of the loads R1-Rn during test.
電子制御機器Ｏｂに接続している負荷Ｒ１〜Ｒｎに通電される電流を電流センサー１でモニターし、試験中に発生する負荷Ｒ１〜Ｒｎの異常を検出する。 - 特許庁 - To provide a remote testing system for a plant controller which can be easily realized without the need of manual aid on the spot for a test and without the need of new wiring or the like for the test.
試験のための現地での人手を不要とし、かつ試験のための新たな配線等が不要で、容易に実現できるプラント制御装置の遠隔試験方式を提供する。 - 特許庁 - The memory test system is equipped with a memory testing device 10 having the fail memory 15 for storing a test result of the memory to be tested and a controller 1 for controlling the memory testing device 10.
メモリ試験システムは、被試験メモリの試験結果を格納するフェイルメモリ１５を有するメモリ試験装置１０と、メモリ試験装置１０を制御する制御装置１とを備える。 - 特許庁 - The display controller 214 transmits a command dedicated for tests, which is invalid in control, to a sound lamp controller 272, and a test board device 280 receives the command dedicated for tests at the time of the real shooting test, thereby executing the stop of real shoot of game balls.
表示制御装置２１４は音声ランプ制御装置２７２に対して制御上無効な試験専用コマンドを送信し、実射試験時には、試験基板装置２８０が試験専用コマンドを受信することで遊技球の発射停止を実施する。 - 特許庁 - To provide a print controller through which a user makes test printing easily without generating test print data in a printer where unnecessary data is deleted from received print data according to a prestored set value, and also to provide a program and a test print method of print controller.
受信した印刷データから、予め記憶した設定値に基づき不要データを削除する印刷装置において、ユーザがテスト印刷データを生成することなく容易にテスト印刷を行うことができる印刷制御装置、プログラム、および印刷制御装置のテスト印刷方法を提供することをその課題とする。 - 特許庁 - The JTAG test system includes a test data collection section 3 for collecting test data in synchronization with a clock with a TAP controller, and a JTAG analysis software processing section, and has a TAP state analysis processing section for performing TAP state analysis between the TAP controller 1 and the collection section 3.
TAPコントローラとクロックに同期してテストデータ収集を行うテストデータ収集部とＪＴＡＧ解析ソフトウェア処理実行部とを含むＪＴＡＧテストシステムであって、TAPコントローラとテストデータ収集部の間に、TAPステート解析をリアルタイムで実行するTAPステート解析処理部を設けたことを特徴とするもの。 - 特許庁 - A combination circuit is extracted from a logically composed controller (step 1), and test patterns for it are generated (step 2).
論理合成したコントローラから組み合わせ回路を抽出し（ｓｔｅｐ１）、それに対するテストパターンを生成する（ｓｔｅｐ２）。 - 特許庁 - The tester controller 40 outputs an address signal for specifying the logic pin number of the test unit 22 to the pin assign converter 90.
テスタコントローラ４０が、ピンアサインコンバータ９０に、試験ユニット２２の論理ピン番号を指定するアドレス信号４６を出力する。 - 特許庁 - A controller outputs first/second LED lighting control pulses inverse in the High and Low timing to the test pattern reading part 5.
制御器は、ハイとローのタイミングが逆の第１および第２のＬＥＤ点灯制御パルスをテストパターン読取部５に出力する。 - 特許庁 - Thus, the operation of the lane controller is confirmed safely without preparing the vehicle or performing the test traveling.
これにより、車両準備やそのテスト走行を行わずに、安全に、車線制御装置の動作確認を行えることが可能となる。 - 特許庁 - When the supply voltage to the memory 103 becomes stable, the controller 101 requests a memory BIST 104 to perform a memory test.
メモリ１０３への供給電圧が安定したら、コントローラ１０１はメモリＢＩＳＴ１０４に対してメモリテストを要求する。 - 特許庁 - Respective light receiving elements of light receiving circuits 54Y, 54M, 54C, 54K receive the reflected light from a test pattern to output detecting signals to the controller.
受光回路５４Ｙ，５４Ｍ，５４Ｃ，５４Ｋの各受光素子は、テストパターンからの反射光を受光し、検出信号を制御器に出力する。 - 特許庁 - To allow an input element to surely check the function of a programmable controller (PLC) only by providing a test input to the input element.
入力要素にテスト入力を与えるだけで、入力要素側でプログラマブルコントローラの機能を確実に確認すること。 - 特許庁 - The acoustic of test signal is collected by microphones 34-36 of a remote controller 33 and the kind and position of the speaker are discriminated.
テスト信号による音響をリモコン３３のマイク３４〜３６によって収音して、スピーカの種類及び位置を判定する。 - 特許庁 - Further, the integrated circuit can include a processor which allows the JTAG test controller to start the at least one test operation based on the reception of at least one test request from the host device via the transceiver.
更に、該集積回路は、又、該トランシーバを介してホスト装置から少なくとも１個のテスト要求を受取ることに基づいて、該ＪＴＡＧテスト制御器をして該少なくとも１個のテスト動作を開始させるプロセッサを包含することが可能である。 - 特許庁 - A controller 20 issues an instruction to a light source controller 28 to set minimum light source luminance, and issues an instruction to an image processing part 24 to project a test image including a character string.
制御部２０は、光源制御部２８に指示をして光源輝度を最小輝度に設定させるとともに、画像処理部２４に指示をして文字列を含んだテスト画像を投写させる。 - 特許庁 - The test unit 1 is provided with an antenna changeover device 6, a transmitter- receiver 8, and a controller 7, and the controller 7 is respectively connected to the transmitter-receiver 8 and the directivity antennas 3a-3f.
試験機１は、アンテナ切替器６と、送受信器８と、制御器７を備え、制御器７は、送受信器８と複数の指向性アンテナ３ａ〜３ｆのそれぞれを個別に接続する。 - 特許庁 - Respective SLDRAM(sink link dynamic random access memory) 5.0 to 5.n execute a test of an internal memory part in accordance with an execution command that is given from a memory controller 3 and give a defective address to the controller 3.
ＳＬＤＲＡＭ５．０〜５．ｎの各々は、メモリコントローラ３からテスト実行コマンドが与えられたことに応じて内蔵メモリ部２４のテストを実行し、不良アドレスをメモリコントローラ３に与える。 - 特許庁 - This EMI measuring instrument/method is provided with a turn table 2 mounted with an EUT (Equipment Under Test) 1, a turn table controller 3, an antenna 4, a rotary mechanism 5, an antenna controller 6, a measuring instrument 7, and a computer 8.
ＥＵＴ１を載せたターンテーブル２とターンテーブルコントローラ３とアンテナ４と回転機構５とアンテナコントローラ６と測定器７とコンピュータ８と演算機構９とを備える。 - 特許庁 - To provide a self-test built-in SDRAM controller for safely performing verify check by making a memory controller itself have the function of verify check.
本発明の課題は、メモリコントローラ自体にベリファイチェックの機能を持たせることにより、安全にベリファイチェックを行うことができる自己試験内蔵ＳＤＲＡＭコントローラを提供することにある。 - 特許庁 - When the paper is not nipped between the photoreceptor drum and transfer roller, a printer controller applies a test voltage to the transfer roller, and obtains, through a current detecting section, the value of current flowing during the application of the test voltage.
プリンタコントローラは、感光ドラムと転写ローラの間に用紙をニップしないときに転写ローラに試験電圧を印加し、この試験電圧印加時の電流値を電流検出部で取得する。 - 特許庁 - The controller of an evaluation server 5 controls the distribution of test images from an image server 4 to an X-ray interpretation device 1, and obtains the information of an X-ray interpretation report on the test images from the X-ray interpretation device 1.
評価サーバ５の制御部は、画像サーバ４から読影装置１へのテスト用画像の配信を制御し、そのテスト用画像に対する読影レポート情報を読影装置１から取得する。 - 特許庁 - This radar device is constituted so that transmission/reception of the search beam the test beam is controlled by a scheduling controller 16 for controlling the execution of target detection by using the threshold value and irradiation of the test beam.
このスレッショルド値を用いて目標検出を行い、検定ビームを照射するように制御するスケジューリング制御器１６で捜索ビームと検定ビームの送受信を制御するように構成した。 - 特許庁 - More particularly, in a first aspect, a dual mode BIST controller comprises both a logic built-in self-test ('LBIST') domain and a memory built-in self-test ('MBIST') domain.
より具体的に言えば、第１の態様で、デュアル・モードＢＩＳＴ制御装置は、論理組込み形自己試験（「ＬＢＩＳＴ」）領域とメモリ組込み形自己試験（「ＭＢＩＳＴ」）領域の両方を含む。 - 特許庁 - The frequency synthesizer generates one or a plurality of test frequencies and adds it to one or a plurality of components of the computer system needing the margin test in response to a command from the controller.
コントローラからのコマンドに応答して、周波数合成器は、１つまたは複数の試験周波数を生成し、マージン試験を必要とするコンピュータシステムの１つまたは複数のコンポーネントに加える。 - 特許庁 - The thread mapping test controller 11 is provided with an input means 16 for a thread mapping test for judging whether the message communication between the objects is to be made into synchronous communication or into asynchronous communication.
本発明のスレッドマッピングテスト制御装置１１は、オブジェクト間のメッセージ通信を同期通信とするか非同期通信とするか判断するスレッドマッピングテストのための入力手段１６を備える。 - 特許庁 - Since a printer section 3 is provided with the executing signal generating section triggering execution of test print, test print can be executed even if an abnormality is present in an arrangement other than printer section 3, e.g. a controller 28.
また、テスト印字を実行するトリガーとなる実行信号発生部をプリンタ部３に備えることで、プリンタ部３以外のコントローラ２８等の構成に異状が有ってもテスト印字の実行を可能にする。 - 特許庁 - To provide a programmable self-test controller useful in self-testing for many types of memory defects of different manufacturers or different design methods.
メーカや設計方式が異なる種々のメモリの不良を自己テストするのに有用な、プログラム可能な自己テスト・コントローラを提供する。 - 特許庁 - To provide a data storage device, which has a cache function of continuing hit test of hardware using a controller.
ハードウェアのコントローラによるヒット判定を継続的に実行できるキャッシュ機能を実現したデータ記憶装置を提供することにある。 - 特許庁 - A test function controller 217 controls switchings of the RF-SWs 220-224 according to information designated by a maintenance apparatus (OMC).
試験機能制御部２１７は、保守装置（ＯＭＣ）により指定される情報に従い、ＲＦ—ＳＷ２２０〜２２４の切換を制御する。 - 特許庁 - The radiation controller controls a radiation particle accelerator so that the test component emits periodically changing emitted light.
また、放射線コントローラはテスト部品が周期的に変化する放射光を放射させるように放射線粒子加速装置を制御する。 - 特許庁 - A CPU 94 in a controller 33 cross-references the unique test data to digital image data of an object photographed by the digital camera 24.
コントローラ３３中のＣＰＵ９４は、デジタルカメラ２４で撮影された被写体のデジタル画像データに、固有のテキストデータを対応させる。 - 特許庁 - The controller 101 creates a chip-unique ID using an address where an error has occurred as a result of the memory test, as a response to the authentication request.
メモリテストの結果エラーが発生したアドレスを用いてコントローラ１０１は固有チップＩＤを作成し、認証要求の応答とする。 - 特許庁 - Determination of a test light power for trial writing in a test track of a magneto-optical disk 2 and operation of an actual recording power in each zone of the magneto-optical disk 2 based on the test light power are executed by the control of the drive controller 11 in a recording power operation circuit 13.
ドライブコントローラ１１の制御により記録パワー演算回路１３では、光磁気ディスク２のテストトラックにおける試し書き用のテストライトパワーの決定と、テストライトパワーに基づく光磁気ディスク２の各ゾーンにおける実際の記録パワーの演算とを実行する。 - 特許庁 - In a post-wafer-sorting stage of device manufacture, a plurality of flash memory devices which each include a flash controller die related to a common housing and at least one flash memory die are passed to a test process such as a batch test process or mass test process.
デバイス製造のポスト・ウェファ・ソート・ステージ中に、共通ハウジングに関連づけられたフラッシュコントローラ・ダイおよび少なくとも一つのフラッシュメモリ・ダイを各々が含む複数のフラッシュメモリ・デバイスを、例えば、バッチ・テスト・プロセスまたはマス・テスト・プロセス等のテスト・プロセスへ通す。 - 特許庁 - Determination of a test light power for trial writing in a test track of a magneto-optical disk 2 and operation of an actual recording power in each zone of the magneto-optical disk 2, based on the test light power are executed by the control of the drive controller 11 in a recording power operation circuit 13.
ドライブコントローラ１１の制御により記録パワー演算回路１３では、光磁気ディスク２のテストトラックにおける試し書き用のテストライトパワーの決定と、テストライトパワーに基づく光磁気ディスク２の各ゾーンにおける実際の記録パワーの演算とを実行する。 - 特許庁 - Determination of a test light power for trial writing in a test track of a magneto-optical disk 2 and operation of an actual elimination power in each zone of the magneto-optical disk 2, based on the test light power are executed by the control of the drive controller 11 in a power operation circuit 13.
ドライブコントローラ１１の制御によりパワー演算回路１３では、光磁気ディスク２のテストトラックにおける試し書き用のテストライトパワーの決定と、テストライトパワーに基づく光磁気ディスク２の各ゾーンにおける実際の消去パワーの演算とを実行する。 - 特許庁 - In a recording power arithmetic circuit 13, the decision of the test write power for the trial writing in a test track of a magneto-optical disk 2 and the calculation of the actual recording power in each zone of the magneto-optical disk 2 based on the test write power are carried out by the control of a drive controller 11.
ドライブコントローラ１１の制御により記録パワー演算回路１３では、光磁気ディスク２のテストトラックにおける試し書き用のテストライトパワーの決定と、テストライトパワーに基づく光磁気ディスク２の各ゾーンにおける実際の記録パワーの演算とを実行する。 - 特許庁 - The margin test system can include a controller such as a base board management controller (BMC) in the interior of a computer system, and a digital frequency synthesizer communicating with the controller, and communicating with a component of one or a plurality of computer systems.
このマージン試験システムは、コンピュータシステムの内部にあるベースボード管理コントローラ（ＢＭＣ）などのコントローラと、このコントローラと通信し、かつ、１つまたは複数のコンピュータシステムのコンポーネントと通信するデジタル周波数合成器とを含むことができる。 - 特許庁 - Further, the display controller is provided with a test image display control means (performance controller 33) capable of displaying a test image on the display unit 173 independently and images (image quality or the like) are checked and adjusted even when the game board 1 is not mounted on the front surface frame 120.
さらに、表示制御装置に独立してテスト画像を表示ユニット１７３に表示可能なテスト画像表示制御手段（演出制御装置３３）を備え、遊技盤１を前面枠１２０に装着していない時でも画像（画質等）のチェックや調整を可能とする。 - 特許庁 - When a single axis test is to be made, first a host computer 15 performs system setting processing, sets system parameters for setting the system configuration of a controller 11 or 21 corresponding to an axis a A or B to be used to a corresponding controller, and then executes a single-axis test program.
単軸試験を行うときは、ホストコンピュータ１５において、まず、システム設定処理を行い、使用する軸ＡあるいはＢに対応するコントローラ１１あるいは２１のシステム構成を設定するシステムパラメータを対応するコントローラに設定してから、単軸試験プログラムを実行させる。 - 特許庁 - This temperature and humidity controller mainly has a test bath, an air heating heater 12, a humidifying heater 13a, an evaporator, a fan, a dry-bulb temperature sensor 16, a wet-bulb temperature sensor 17, and a controller 18.
温湿度制御装置は、試験槽、空気加熱ヒータ１２、加湿ヒータ１３ａ、蒸発器、送風機、乾球温度センサ１６、湿球温度センサ１７および制御装置１８を主に備えている。 - 特許庁
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