「defect」を含む例文一覧(18306)

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  • INSPECTING APPARATUS OF MASK DEFECT AND METHOD FOR INSPECTING MASK DEFECT
    マスク欠陥検査装置及びマスク欠陥検査方法 - 特許庁
  • PATTERN DEFECT DETECTING METHOD
    パターン欠陥検出方法 - 特許庁
  • DEFECT SIGNAL GENERATING CIRCUIT
    ディフェクト信号生成回路 - 特許庁
  • DEFECT REPAIR SYSTEM, SERVER, DEFECT REPAIR DEVICE FOR USE IN THE DEFECT REPAIR SYSTEM, DEFECT REPAIR PROGRAM, INFORMATION RECORDING MEDIUM, AND DEFECT REPAIR DEVICE
    欠陥修復システム、サーバ、欠陥修復システムに用いる欠陥修復装置、欠陥修復プログラム、情報記録媒体及び欠陥修復装置 - 特許庁
  • DEFECT DETECTION METHOD, DEFECT INSPECTION METHOD, DEFECT DETECTION DEVICE, DEFECT INSPECTION DEVICE, DEFECT DETECTION PROGRAM AND RECORDING MEDIUM FOR RECORDING PROGRAM
    欠陥検出方法、欠陥検査方法、欠陥検出装置、欠陥検査装置、欠陥検出プログラムおよびこのプログラムを記録した記録媒体 - 特許庁
  • SILICON WAFER DEFECT INSPECTION DEVICE
    シリコンウェハ欠陥検査装置 - 特許庁
  • OPTICAL DEFECT INSPECTION APPARATUS
    光学式欠陥検査装置 - 特許庁
  • SURFACE DEFECT DETERMINATION METHOD
    表面欠陥判別方法 - 特許庁
  • TAPE CARRIER DEFECT INSPECTION DEVICE
    テープキャリア欠陥検査装置 - 特許庁
  • PHOTOMASK DEFECT INSPECTION DEVICE
    フォトマスクの欠陥検査装置 - 特許庁
  • SURFACE DEFECT DETECTION DEVICE
    表面欠陥検出装置 - 特許庁
  • SURFACE LAYER DEFECT DETECTOR
    表層欠陥検出装置 - 特許庁
  • HOLE DEFECT DETECTION METHOD
    空孔欠陥の検知方法 - 特許庁
  • SURFACE DEFECT INSPECTION DEVICE
    表面欠陥の検査装置 - 特許庁
  • DEFECT MITIGATION IN DISPLAY PANEL
    ディスプレイパネルの欠陥低減 - 特許庁
  • PRODUCT DEFECT ANALYSIS SYSTEM
    製品の不良解析システム - 特許庁
  • DEFECT CAUSE INVESTIGATING SYSTEM
    不具合原因究明システム - 特許庁
  • DEVICE FOR MARKING SURFACE DEFECT
    表面欠陥マーキング装置 - 特許庁
  • STICK BAR DEFECT INSPECTION DEVICE
    スティックバー不良検査装置 - 特許庁
  • CONCRETE DEFECT INSPECTION DEVICE
    コンクリートの欠陥検査装置 - 特許庁
  • DEFECT REMOVAL DEVICE FOR ROLLER TABLE
    ローラーテーブルの疵取り装置 - 特許庁
  • METHOD FOR REPAIRING MINUTE DEFECT
    微小欠陥補修方法 - 特許庁
  • to suffer a crushing defect―be humbled in the dust
    一敗地に塗｛まみ｝る - 斎藤和英大辞典
  • 12.2.8 Exception and Defect classes
    12.2.8 例外および障害クラス - Python
  • DEFECT INSPECTING DEVICE OF SAMPLE
    試料の欠陥検査装置 - 特許庁
  • CLUSTERED DEFECT DETECTING METHOD
    群生欠陥検出方法 - 特許庁
  • DEFECT POSITION INFORMATION GENERATION DEVICE, DEFECT CONFIRMATION SYSTEM, AND DEFECT POSITION INFORMATION GENERATION METHOD
    欠陥位置情報生成装置、欠陥確認システム及び欠陥位置情報生成方法 - 特許庁
  • TAPE CARRIER DEFECT INSPECTION SYSTEM, TAPE CARRIER DEFECT INSPECTION METHOD, AND TAPE CARRIER DEFECT INSPECTION DEVICE
    テープキャリア欠陥検査システム、テープキャリア欠陥検査方法及びテープキャリア欠陥検査装置 - 特許庁
  • The defect generation date and time, and the defect item are displayed as the defect generation information.
    そして、不良項目及び不良発生時刻を不良発生情報として表示する。 - 特許庁
  • To provide a defect review device specifying a defect and a defect coordinate 33.
    欠陥及び欠陥座標３３の特定が可能な欠陥レビュー装置を提供する。 - 特許庁
  • SURFACE DEFECT INSPECTION DEVICE, SURFACE DEFECT INSPECTION METHOD, AND SURFACE DEFECT INSPECTION PROGRAM
    表面欠陥検査装置、表面欠陥検査方法及び表面欠陥検査プログラム - 特許庁
  • DEFECT CORRECTION DEVICE, DEFECT CORRECTION METHOD, DEFECT CORRECTION PROGRAM AND RECORDING MEDIUM
    欠陥修正装置、欠陥修正方法、欠陥修正用プログラムおよび記録媒体 - 特許庁
  • EDGE DEFECT DETECTION METHOD, EDGE DEFECT DETECTOR, EDGE DEFECT DETECTION PROGRAM, AND RECORDING MEDIUM
    エッジ欠陥検出方法、エッジ欠陥検出装置、エッジ欠陥検出プログラム、記録媒体 - 特許庁
  • DEFECT DETECTION APPARATUS, DEFECT DETECTION METHOD, DEFECT DETECTION PROGRAM AND RECORDING MEDIUM
    欠陥検出装置、欠陥検出方法、欠陥検出用プログラムおよび記録媒体 - 特許庁
  • DEFECT INSPECTION DEVICE AND DEFECT INSPECTION METHOD OF CRT PANEL
    ＣＲＴパネルの欠陥検査装置及び欠陥検査方法 - 特許庁
  • MEDIUM DEFECT INSPECTION DEVICE AND MEDIUM DEFECT INSPECTION METHOD
    媒体欠陥検査装置、および媒体欠陥検査方法 - 特許庁
  • DEFECT INSPECTION DEVICE AND DEFECT INSPECTION METHOD OF CIRCUIT PATTERN
    回路パターンの欠陥検査装置および欠陥検査方法 - 特許庁
  • SURFACE DEFECT INSPECTION METHOD AND SURFACE DEFECT INSPECTION SYSTEM
    表面欠陥検査方法及び表面欠陥検査システム - 特許庁
  • IMAGING APPARATUS, DEFECT CORRECTING CIRCUIT, AND DEFECT CORRECTING METHOD
    撮像装置と欠陥補正回路および欠陥補正方法 - 特許庁
  • DEFECT DETECTION METHOD AND DEFECT DETECTION DEVICE OF STRUCTURE
    構造物の欠陥検出方法および欠陥検出装置 - 特許庁
  • IMAGE DEFECT DETECTOR AND IMAGE DEFECT DETECTION METHOD
    画像欠陥検出装置および画像欠陥検出方法 - 特許庁
  • DEFECT INSPECTION DEVICE AND DEFECT INSPECTION METHOD FOR SOLAR BATTERY
    太陽電池の欠陥検査装置及び欠陥検査方法 - 特許庁
  • WAFER DEFECT DETECTION METHOD
    ウェーハの欠陥検出方法 - 特許庁
  • DEFECT ANALYZER FOR MEMORY LSI AND DEFECT ANALYSIS METHOD
    メモリＬＳＩの不良解析装置及び不良解析方法 - 特許庁
  • PATTERN DEFECT DETECTING METHOD AND PATTERN DEFECT DETECTOR
    パターン欠陥検出方法およびパターン欠陥検出装置 - 特許庁
  • CRYSTAL DEFECT DETECTING METHOD
    結晶欠陥検出方法 - 特許庁
  • DEFECT INSPECTION APPARATUS AND DEFECT INSPECTION METHOD USING THE SAME
    欠陥検査装置およびそれを用いた欠陥検査方法 - 特許庁
  • METHOD FOR REPAIRING CASTING DEFECT
    鋳物欠陥の補修方法 - 特許庁
  • EVALUATION METHOD OF INTERNAL DEFECT
    内部欠陥の評価方法 - 特許庁
  • SURFACE DEFECT DETECTION METHOD
    表面欠陥検出方法 - 特許庁
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