「defect」を含む例文一覧(18306)
＜前へ 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 .... 366 367 次へ＞- WAFER DEFECT INSPECTION METHOD AND WAFER DEFECT INSPECTION DEVICE
ウェハ欠陥検査方法及びウェハ欠陥検査装置 - 特許庁 - MASK DEFECT INSPECTION METHOD AND MASK DEFECT INSPECTION DEVICE
マスク欠陥検査方法及びマスク欠陥検査装置 - 特許庁 - An inspector determines the defect candidate in the original picture according to the defect candidate marker and visually verifies whether the defect is a true crack defect or a pseudo defect for the defect candidate.
検査者は、この欠陥候補マーカでもって原画像中の欠陥候補を知り、この欠陥候補に対して真の割れ欠陥か擬似欠陥かを目視確認する。 - 特許庁 - LINE DEFECT DETECTION METHOD AND LINE DEFECT DETECTION APPARATUS
線欠陥検出方法及び線欠陥検出装置 - 特許庁 - DEFECT DETECTION SYSTEM, DEFECT DETECTION METHOD, AND PROGRAM
不良検出システム、不良検出方法及びプログラム - 特許庁 - DEFECT INSPECTION METHOD OF SHEET MATERIAL AND DEFECT INSPECTION DEVICE
シート材の欠陥検査方法及び欠陥検査装置 - 特許庁 - PATTERN DEFECT INSPECTION APPARATUS AND PATTERN DEFECT INSPECTION METHOD
パターン欠陥検査装置およびパターン欠陥検査方法 - 特許庁 - INTERNAL DEFECT INSPECTION DEVICE AND INTERNAL DEFECT INSPECTION METHOD
内部欠陥検査装置および内部欠陥検査方法 - 特許庁 - INTERNAL DEFECT INSPECTION METHOD AND INTERNAL DEFECT INSPECTION DEVICE
内部欠陥検査方法および内部欠陥検査装置 - 特許庁 - MASK DEFECT INSPECTION APPARATUS AND MASK DEFECT INSPECTION PROGRAM
マスク欠陥検査装置およびマスク欠陥検査プログラム - 特許庁 - DEFECT DETECTION DEVICE, DEFECT DETECTION METHOD, AND PROGRAM
欠陥検出装置、欠陥検出方法およびプログラム - 特許庁 - DEFECT DETECTOR FOR SHEET
シートの欠点検出装置 - 特許庁 - AUTOMATIC DEFECT CLASSIFYING DEVICE AND AUTOMATIC DEFECT INSPECTING DEVICE
自動欠陥分類装置及び自動欠陥検査装置 - 特許庁 - REPRODUCING APPARATUS, DEFECT DETECTING APPARATUS, DEFECT DETECTING METHOD
再生装置、欠陥検出装置、欠陥検出方法 - 特許庁 - PIXEL DEFECT CORRECTING DEVICE AND PIXEL DEFECT CORRECTING METHOD
画素欠陥補正装置および画素欠陥補正方法 - 特許庁 - DEFECT DETERMINATION METHOD OF SEMICONDUCTOR ELEMENT, DEFECT DETERMINATION PROGRAM AND DEFECT DETERMINING DEVICE
半導体素子の欠陥判定方法、欠陥判定プログラムおよび欠陥判定装置 - 特許庁 - PIXEL DEFECT DETECTOR AND PIXEL DEFECT CORRECTION DEVICE
画素欠陥検出装置および画素欠陥補正装置 - 特許庁 - DEFECT INSPECTION DEVICE OF SOLAR CELL AND METHOD FOR INSPECTING DEFECT OF SOLAR CELL
太陽電池の欠陥検査装置及びその方法 - 特許庁 - PHASE DIFFERENCE DEFECT INSPECTION DEVICE
位相差欠陥検査装置 - 特許庁 - POINT DEFECT DETECTING DEVICE AND POINT DEFECT DETECTING METHOD
点欠陥検出装置、および点欠陥検出方法 - 特許庁 - SIMULATED DEFECT WAFER AND METHOD FOR FORMING DEFECT INSPECTION RECIPE
模擬欠陥ウェーハおよび欠陥検査レシピ作成方法 - 特許庁 - INSPECTION APPARATUS FOR MASK DEFECT AND METHOD FOR INSPECTING MASK DEFECT
マスク欠陥検査装置およびマスク欠陥検査方法 - 特許庁 - DEFECT DETECTOR FOR TAPE CARRIER, AND DEFECT INSPECTION SYSTEM
テープキャリアの欠陥検出装置および欠陥検査システム - 特許庁 - DEFECT MARKER, DEFECT MARKING PROCESSING LINE, METHOD OF MARKING DEFECT, AND METHOD OF MANUFACTIRING DEFECT-MARKED COIL
欠陥マーキング装置、欠陥マーキング処理ライン、欠陥マーキング方法及び欠陥マーキングされたコイルの製造方法 - 特許庁 - DEFECT DETECTION APPARATUS AND DEFECT DETECTION METHOD, DEFECT CORRECTION APPARATUS AND DEFECT CORRECTION METHOD, AND IMAGING APPARATUS
欠陥検出装置および欠陥検出方法、欠陥補正装置および欠陥補正方法、ならびに撮像装置 - 特許庁 - MASK DEFECT CHECKING DEVICE AND MASK DEFECT CHECKING METHOD
マスク欠陥検査装置およびマスク欠陥検査方法 - 特許庁 - PATTERN DEFECT INSPECTION DEVICE AND PATTERN DEFECT INSPECTION METHOD
パターン欠陥検査装置およびパターン欠陥検査方法 - 特許庁 - DEFECT INFORMATION MANAGEMENT DEVICE
不具合情報管理装置 - 特許庁 - CRYSTAL DEFECT MEASURING DEVICE
結晶欠陥計測装置 - 特許庁 - DEFECT INSPECTION DEVICE FOR SUBSTRATE
基板の欠陥検査装置 - 特許庁 - DEFECT DETECTOR, DEFECT DETECTION SYSTEM USING THE SAME, AND DEFECT DETECTION METHOD
欠陥検出装置とそれを用いた欠陥検出システム及び欠陥検出方法 - 特許庁 - DEFECT INTEGRATING PROCESSOR AND DEFECT INTEGRATING PROCESSING METHOD
欠陥統合処理装置および欠陥統合処理方法 - 特許庁 - JUDGING SYSTEM FOR MASK DEFECT AND METHOD FOR JUDGING MASK DEFECT
マスク欠陥判定システム及びマスク欠陥判定方法 - 特許庁 - INSPECTING APPARATUS FOR SURFACE DEFECT
表面欠陥検査装置 - 特許庁 - DEFECT CHECKING SYSTEM, DEFECT CHECKING APPARATUS AND INSPECTION APPARATUS
欠陥確認システム、欠陥確認装置および検査装置 - 特許庁 - IMAGE DEFECT CORRECTION APPARATUS AND IMAGE DEFECT CORRECTION METHOD
画像欠陥補正装置、及び、画像欠陥補正方法 - 特許庁 - SURFACE DEFECT DETECTOR
表面欠点検出装置 - 特許庁 - PATTERN DEFECT INSPECTION DEVICE AND PATTERN DEFECT INSPECTION METHOD
パターン欠陥検査装置、及び、パターン欠陥検査方法 - 特許庁 - DEFECT INSPECTING METHOD, DEFECT INSPECTION SYSTEM AND COMPUTER PROGRAM
欠陥検査方法，欠陥検査システム及びコンピュータプログラム - 特許庁 - DEFECT INSPECTING APPARATUS OF RECORDING MEDIUM AND DEFECT INSPECTING METHOD
記録媒体欠陥検査装置及び欠陥検査方法 - 特許庁 - PATTERN DEFECT ANALYSIS EQUIPMENT, PATTERN DEFECT ANALYSIS METHOD, AND PATTERN DEFECT ANALYSIS PROGRAM
パターン欠陥解析装置、パターン欠陥解析方法およびパターン欠陥解析プログラム - 特許庁 - PIXEL DEFECT DETECTION CIRCUIT AND PIXEL DEFECT DETECTION METHOD
画素欠陥検出回路及び画素欠陥検出方法 - 特許庁 - to gloss over a fault―gloze over a fault―smoothe over a defect
欠点を取りつくろう - 斎藤和英大辞典 - 12.2.8 Exception and Defect
12.2.8 例外および障害クラス - Python - SURFACE DEFECT EVALUATION DEVICE
表面欠陥評価装置 - 特許庁 - METHOD FOR MANAGING DEFECT USING TEMPORARY DEFECT INFORMATION AND TEMPORARY DEFECT MANAGEMENT INFORMATION
臨時欠陥情報及び臨時欠陥管理情報を利用した欠陥管理方法 - 特許庁 - MASK DEFECT INSPECTION DEVICE AND MASK DEFECT INSPECTION METHOD
マスク欠陥検査装置およびマスク欠陥検査方法 - 特許庁 - DEFECT-PART DETECTION METHOD
欠陥部分検出方法 - 特許庁 - RETICLE DEFECT INSPECTION DEVICE AND RETICLE DEFECT INSPECTION METHOD
レチクル欠陥検査装置およびレチクル欠陥検査方法 - 特許庁 - SURFACE DEFECT INSPECTION METHOD
表面欠陥検査方法 - 特許庁
- 特許庁
- Copyright © Japan Patent office. All Rights Reserved.
- Copyright (C) 1994- Nichigai Associates, Inc., All rights reserved.
「斎藤和英大辞典」斎藤秀三郎著、日外アソシエーツ辞書編集部編
- 大規模オープンソース日英対訳コーパス
- この対訳コーパスは独立行政法人情報通信研究機構の研究成果であり、Creative Commons Attribution-Share Alike 3.0 Unportedでライセンスされています。
- Python
- Copyright 2001-2004 Python Software Foundation.All rights reserved.
Copyright 2000 BeOpen.com.All rights reserved.
Copyright 1995-2000 Corporation for National Research Initiatives.All rights reserved.
Copyright 1991-1995 Stichting Mathematisch Centrum.All rights reserved.
