「reference marks」を含む例文一覧(314)
＜前へ 1 2 3 4 5 6 7 次へ＞- After each exposure and treatment process, distortion of the substrate wafer is measured by comparing positions of a plurality of reference marks 20 with values of the database.
それぞれの露光及び処理工程後に、複数の基準マーク２０の位置をデータベースの値と比較することによって、基板ウェハのゆがみが測定される。 - 特許庁 - This optical encoder is arranged with a reference pulse detector comprising a moving unit moving along a measuring direction in a scale and individual detector elements; the scale is coupled to the both objects and has a reference mark in each reference position; and the reference marks are arranged nonperiodically along the measuring direction, and have a large number of partial areas having different optical characteristics.
スケールに対して測定方向に沿って移動する走査ユニット及び個々の検出器要素から成る基準パルス検出器配置、スケールは、両物体に結合され、基準位置に基準マークを有し、基準マークは測定方向に沿って非周期に配置、異なる光学特性を有する多数の部分領域。 - 特許庁 - To provide a measuring device capable of improving yield of workpieces by highly accurately measuring a distance between marks, and outputting a measured result as database of posterior processes in the measuring device for measuring the distance between the marks of a plurality of substrate reference marks provided on a substrate, and to provide a measuring method.
基板に設けられた複数の基板基準マークのマーク間距離を測定する測定装置において、高精度にマーク間距離を測定し、測定結果を後工程のデータベースとして出力することにより、ワークの歩留まりを向上することができる測定装置及び測定方法を提供する。 - 特許庁 - Reticle alignment sensors 6A, 6B, using part of pulse-like exposure light EL emitted from an exposure light source LS, observe reticle marks RM formed on a reticle R and a reference mark formed on a reference member 10 on a wafer stage 9, and measure positional information about these marks and a relative positional displacement therebetween.
レチクル・アライメントセンサ６Ａ，６Ｂは露光光源ＬＳから射出されたパルス状の露光光ＥＬの一部を用いて、レチクルＲに形成されたレチクルマークＲＭとウェハステージ９上の基準部材１０に形成された基準マークとを観察し、これらの位置情報及び相対的な位置ずれを計測する。 - 特許庁 - The surface of a dry film resist layer 55 is irradiated with the UV rays from mirrors 22 and 23, with the detected position of the reference mark 50 as a reference, by which the marks drawn on photomasks 24 and 25 are printed onto the dry film resist layer 55.
該基準マーク５０の検出位置を基準として、ミラー２２、２３から紫外線をドライフィルムレジスト層５５上に照射し、フォトマスク２４、２５に描かれたマークをドライフィルムレジスト層５５上に焼き付ける。 - 特許庁 - When a wobble signal corresponding to the wobble shape of the pit column is detected, influence of the reference mark can be easily reduced, since the reference marks corresponds to the period of the wobbling along the pit column.
さらに、基準マークとピット列の蛇行の周期とが対応関係を有しているため、ピット列の蛇行形状に対応するウォブル信号を検出する際に、基準マークの影響を容易に低減することが可能となる。 - 特許庁 - (c) regulation 4.13 applies in relation to the first-mentioned application as if the reference in subparagraph 4.13(1)(c)(iii) to an application under section 92 were a reference to an application under section 23 of the Trade Marks Act 1955; and
(c) 規則 4.13(1)(c)(iii)における法律第 92条に基づく申請についての言及は、1955年商標法第 23条に基づく申請についての言及であるとして、規則 4.13を最初に言及した出願に適用し、また - 特許庁 - The measured interval is compared with the design reference interval recognized by an image reader as the interval between the reference marks, and the output position of pixels in the main scanning direction is corrected on the basis of the compared result.
このように測定された距離と、画像読取装置が基準目印間の距離と認識する設計上の基準値とを比較し、比較した結果に基づいて画素の主走査方向の出力位置を補正する。 - 特許庁 - Subject to this Part, the provisions of this Act relating to trade marks (other than sections 8 and 26, paragraph 27 (1) (b), sections 33, 34 and 41, sections 121 and 127, Part 9 - Removal of trade mark from Register for non-use and Part 17 - Defensive Trade Marks) apply to certification trade marks and so apply as if a reference to a trade mark included a reference to a certification trade mark.
この部に従うことを条件として，商標に関する本法の規定(第8条，第26条，第27条 (1) (b)，第33条，第34条，第41条，第121条，第127条，第9部－不使用による登録簿からの商標の抹消，及び第17部－防護商標，を除く)を証明商標に適用するものとし，適用に際しては，商標への言及は証明商標への言及を含んでいるものとみなす。 - 特許庁 - To remove the adverse effects of displacement between image reference positions specified in advance and color image information writing positions for detecting corresponding image reference positions, and to accurately form register marks CR based upon a color shift correction mode in the image reference positions.
予め規定された画像基準位置と画像基準位置検出用の各色の画像情報の書込み位置との間の位置ずれの影響を除去できるようにすると共に、画像基準位置に色ずれ補正モードに基づくレジストマークＣＲを精度良く形成できるようにする。 - 特許庁 - The positional relation of the 1st and the 2nd reference marks is detected based on the picked-up image and the detected result is set as detection data, and the inclination of the optical axis of the imaging apparatus is adjusted so that the detection data may coincide with the reference data.
撮像した画像に基づいて第１および第２基準マークの位置関係を検出して検出データとし、この検出データと基準データとが一致するように、撮像装置の光軸の傾きを調整する。 - 特許庁 - Object registering reference positions 12 are set at the printing object 1 and marks to be plate registering reference positions 22 are provided on the screen 2, while minute-diameter light sources 3 are provided between the printing object 1 and the screen 2 so that they can be projected and retracted.
印刷被写体１に被写体位置合せ基準位置１２を設定し、スクリーン２に版位置合せ基準位置２２となるマークを設け、印刷被写体１とスクリーン２との間に微小径光源３を出没自在に設ける。 - 特許庁 - In an inkjet printer loaded with an inline sensor for picturizing the print result, a non-discharge detecting pattern 20 and expansion/contraction reference marks 22A-22H are recorded at the time of printing the first page (surface).
印刷結果を撮像するインラインセンサを搭載したインクジェット印刷装置において、第１面（表面）の印刷時に不吐検知パターン20と伸縮基準マーク22A〜22Hを記録する。 - 特許庁 - In a digital printer such as an electrophotographic printer or an ink-jet printer, halftone patches or reference marks used for image registration are formed on demand.
電子写真式またはインクジェット方式プリンタのようなディジタル印刷装置において、ハーフトーンパッチまたはイメージレジストレーションに用いる基準マークを、オンデマンドで作成する。 - 特許庁 - The 1st carriage is guided to the home position based on a voltage signal outputted from a CCD line sensor when the reference position plate with such marks is illuminated.
このようなマークを有する基準位置板を照明した時にＣＣＤラインセンサから出力される電圧信号に基づいて、第１キャリッジをホームポジションに導く。 - 特許庁 - An alignment system which illuminates reference marks with radiation that is incident at a right angle is used to conduct alignment of layers having the large vertical separation.
大きな垂直分離のある層間において位置合わせを行うために、直角に入射する放射線で基準マークを照射するアライメントシステムが用いられる。 - 特許庁 - The surface of the reference substrate 100 has a plurality of observation marks located at a plurality of positions so as to be suitable for the plurality of observation apparatuses of the different systems.
基準基板１００は、複数の観察装置のそれぞれにおける方式に適合するように複数の位置に配置された複数の観察用マークを表面に有する。 - 特許庁 - In a 2nd zone, the recording power of the laser emitting means is controlled to make recording according to the asymmetry of the marks recorded in the 1st zone and the reference asymmetry.
第２のゾーンにおいては、第１のゾーンにおいて記録された複数のマークのアシンメトリと基準アシンメトリとに基づいて、レーザ発光手段の記録パワーが制御される。 - 特許庁 - To provide a mark recognition device which can calculate an accurate reference point of an alignment mark even when the alignment mark includes a set of a plurality of marks.
アライメントマークを複数のマークの集合体から構成した場合にも、アライメントマークの正確な基準点を算出することができる、マーク認識装置を提供する。 - 特許庁 - A dilution ratio is corrected so that the printing density of the diluted ink for each color becomes closer to the reference density d0 when the correction voltage V1max is applied (white triangle marks in the Fig.).
補正電圧Ｖ１maxのときの希釈インクの印刷濃度を色毎に基準濃度ｄ０に近づけるように希釈割合を補正する（同図の白三角印）。 - 特許庁 - To provide an optical system which easily and accurately adjusts the position of a lens even if a lens is arranged between two lenses with position reference marks formed thereon.
位置基準マークが施された２つのレンズ間に更にレンズが配置される場合でも、簡単且つ正確にレンズ位置調整が行える光学系を提供する。 - 特許庁 - In one embodiment, the distortion in the substrate wafer is measured after each exposure and processing operation by comparing the position of a plurality of reference marks to values in a database.
実施例では、各露光及び処理操作後に、複数の基準マークの位置をデータ・ベース内の値と比較することによって、基板ウェハ内の歪みが測定される。 - 特許庁 - The control unit U2 compares the above detection values with reference values to evaluate the adequacy of the driving action, for example, by marks and the evaluated result is displayed on the display screen 12.
制御ユニットＵ２は、前記検出値を基準値と比較して、運転動作の妥当性を例えば点数で評価し、この評価結果が表示画面１２に表示される。 - 特許庁 - Reference marks 17 to 20 displayed in achromatic color having known spectral reflectance are attached to predetermined positions on the surface of the display sheet 2 and/or the surface of the frame 4.
表示用シート２及び／または枠体４の表面上の予め定めた位置に、既知の分光反射率を有する無彩色で表示された基準マーク１７〜２０を付す。 - 特許庁 - The existence/absence of the data mark 33 is judged with the position on a straight line obtained by connecting the centers of the marks 32L and 32R at its left and right edges as a reference.
データマーク３３の有無は、その左右の端部のタイミングマーク３２Ｌと３２Ｒの中心を結んだ直線上の位置を基準にして、その有無が判定される。 - 特許庁 - On the mark stand, reference chips 114 and 115 provided with a plurality of marks 4a_1, 4a_2, 4a_3, 4b_1, 4b_2, and 4b_3 having different surface height are disposed.
マーク台には、表面の高さが異なる複数のマーク４ａ_１、４ａ_２、４ａ_３、４ｂ_１、４ｂ_２、４ｂ_３が設けられた基準チップ１１４、１１５が配置されている。 - 特許庁 - In order to correctly align the lens 14 with the laser system 12, reference marks 30 (30a-30c) on the lens are made to meet specified focal points 26 (26a-26c) along laser beam paths 24 (24a-24c).
レンズ１４をレーザシステム１２と適正に整列するために、レンズ上の基準マーク３０をレーザビーム経路２４に沿う所定の焦点２６と一致させる。 - 特許庁 - Based on a distance between plural reference marks on an intermediate transfer belt 8 detected by an HP sensor 205, the position of the intermediate transfer belt 8 in the conveyance direction is identified.
ＨＰセンサ２０５により検知された中間転写ベルト８上の複数の基準マークの間隔に基づいて中間転写ベルト８の搬送方向の位置を特定する。 - 特許庁 - When a robot takes out the wafer holder 2 from a holder rack 7 and mounts on a wafer holder stage 5, mark detectors 4a and 4b detect positions of reference marks 3a and 3b.
ロボットにより、ホルダラック７からウェハホルダ２が取り出されてウェハホルダステージ５に載置されると、マーク検出部４ａ、４ｂが基準マーク３ａ、３ｂの位置を検出する。 - 特許庁 - As to the slippage after an activator is sprayed over the transfer layer 3b, the positioning marks 3c are read likewise by the area sensor cameras 32 and the amount of slippage from the reference position is computed again.
活性剤を転写層３ｂに噴霧した後のズレを同様にエリアセンサカメラ３２で位置決めマーク３ｃを読み取り、基準位置に対するずれ量を再度演算する。 - 特許庁 - Reticle alignment marks 55 are arranged respectively at top and bottom ends of small field (SF) rows of a stripe 21 and the alignment of the reticle is carried out on the reference electron beam trajectory in a state in which RS is kept stationary.
レチクルアライメントマーク５５をストライプ２１の上下端のＳＦ行に配列し、ＲＳを静止させた状態で基準電子ビーム軌道でレチクルのアライメントを行う。 - 特許庁 - The substrate S is fixed to a drawing table 12 of a drawing apparatus 10, and the relative positions of the first to fourth reference marks P1 to P4 are measured by using CCD cameras 22, 24.
描画装置１０の描画テーブル１２に基板Ｓを固定し、ＣＣＤカメラ２２、２４を用いて第１〜第４基準マークＰ１〜Ｐ４の相対位置を測定する。 - 特許庁 - A surface 11a of the substrate 11 is provided with two alignment marks 50 visible through the respective guide pin holes 12b, and serving as a positioning reference for the optical connector 12.
基板１１の表面１１ａには、各ガイドピン孔１２ｂを通して視認可能で、光コネクタ部１２の位置決め基準となる２つのアライメントマーク５０が設けられている。 - 特許庁 - In the aligner with the variable-pattern forming devices 10a to 10e forming transfer patterns and projection optical systems PL1 to PL5 projecting the images of the transfer patterns formed by the forming devices on a photosensitive substrate, the aligner has a reference-mark display means for displaying reference marks in the forming devices and a measuring means for measuring the positions of the reference marks.
転写パターンを生成する可変パターン生成装置１０ａ〜１０ｅと、前記可変パターン生成装置により生成された転写パターンの像を感光性基板上に投影する投影光学系ＰＬ１〜ＰＬ５とを備える露光装置において、前記可変パターン生成装置において基準マークを表示させる基準マーク表示手段と、前記基準マークの位置を計測する計測手段とを備える。 - 特許庁 - The servo track includes servo frames of magnetic flux transitions forming detectable servo marks, the servo marks forming a tone field of repeating servo marks oriented at a first azimuth angle and a mid-frame synchronization mark incorporated within the tone field, wherein the tone field provides a metric reference for dimensional measurements between features within the servo frame(s).
サーボトラックは検出可能なサーボマークを形成する磁束遷移のサーボフレームを含み、当該サーボマークは、第１のアジマス角に向けられた、サーボマークが繰返されるトーンフィールドと当該トーンフィールド内に組込まれた中間フレーム同期マークとを形成し、当該トーンフィールドは、当該サーボフレーム内における特徴間における寸法測定のために距離基準を提供する。 - 特許庁 - Subject to this Part, the provisions of this Act (other than subsection 20 (1), paragraph 27 (1) (b), sections 41 and 59, sections 121 and 127, Part 9 - Removal of trade mark from Register for non-use and Part 16 - Certification Trade Marks) apply to defensive trade marks and so apply as if a reference to a trade mark included a reference to a defensive trade mark.
この部に従うことを条件として，本法の規定(第20条 (1)，第27条 (1) (b)，第41条，第59条，第121条，第127条，第9部－不使用による商標の登録簿からの抹消，及び第16部－証明商標，を除く)を防護商標に適用するものとし，適用に際しては，商標への言及は防護商標への言及を含んでいるとみなす。 - 特許庁 - Moreover, a dynamic relative positioning error resulting from a device-to-device moving device 12 due to thermal expansion or the like can also be detected and thereby system reliability can be improved by introducing three marks which are not allocated on a straight line as the reference marks.
また、上記基準マークとして一直線上にない３つのマークを採用すれば、熱膨張等に伴って発生する装着装置移動装置１２に起因する動的な相対位置誤差についても検出でき、システムの信頼性はより向上する。 - 特許庁 - Image data obtained by picking up the images of a plurality of the reference marks attached to the surface of a circuit board are acquired by the image data acquisition part 80, the image data are processed by the recognition mark position data acquisition part 94, and the position data of a plurality of recognition marks are acquired.
回路基板の表面に付された複数の基準マークを撮像して得られる画像データを画像データ取得部８０により取得し、その画像データを認識マーク位置データ取得部９４により処理して複数の認識マークの位置データを取得する。 - 特許庁 - A registration pattern in black is regarded as a reference color registration pattern 80, wherein a plurality of reference color marks M are arrayed at a first position interval X along a conveying direction (correctly, the front edges or the rear edges are arrayed at the first position interval).
黒塗りのレジパターンは、基準色レジパターン８０（とされ、複数の基準色マークＭが搬送方向に沿って第１位置間隔Ｘで配列（正確には、前側エッジ或いは後側エッジが第１位置間隔で配列）されたパターンをなす。 - 特許庁 - The printing means 10b, 10c, 10d of a second and subsequent colors provide the register marks 40b, 40c, 40d having the same shape as that of the reference register mark 40a on each printing substrate W so as to overlap on the reference register mark 40a.
第２色目以降の印刷手段１０ｂ、１０ｃ、１０ｄは、前記基準の見当マーク４０ａと同形の見当マーク４０ｂ、４０ｃ、４０ｄを当該基準の見当マーク４０ａと重なるよう各々印刷基板Ｗに付ける。 - 特許庁 - 17. Section 35 of this Act shall have effect, in relation to a patent which has ceased to have effect before the commencement of this Act, as if for the reference to section 30 of this Act there were substituted a reference to section 19 of the Patents, Designs, and Trade Marks Act 1921-22.
第17条 本法第35条の規定は，本法の施行前に失効した特許に対して，同条において本法第30条を言及する代わりに1921-22年特許・意匠・商標法第19条を言及するものとして効力を有する。 - 特許庁 - In this image reader, when a home position is detected to start reading of an image with a reference board 3 on which black and white marks are marked, a digital image read means 7 reads image data directly and decides a position to be the home position, when data of a black reference in the image data in the main scanning direction are all changed into white reference data.
黒マークと白マークを有する基準板３により画像読み取りを開始するための基準位置を検出する際、デジタル画像読取手段７により画像データを直接読み取って主走査方向の画像データが前記黒基準のデータから全て前記白基準のデータに変化した位置を基準位置とする。 - 特許庁 - Encryption data 5 to limit copying of data are recorded by generating pits and lands or marks and spaces so that the timing of edges of the pits and lands or the timing of edges of the marks and spaces detected at reproduction is changed in units of a reference period within a range wherein the data can correctly be reproduced.
データを正しく再生可能な範囲で、基準周期を単位にして、再生時に検出されるピット及びランドのエッジのタイミング、又はマーク及びスペースのエッジのタイミングが変化するように、ピット及びランド若しくはマーク及びスペースを作成して、データのコピーを制限する暗号データ５を記録する。 - 特許庁 - Therefore, even if there are no marks (reference marks) or the like on the moving body WST for position measurement, a position of the plate, or in other words, the position of the moving body can be controlled on the movement coordinate system set by the measurement unit, based on the position information of the outer periphery edge of the plate.
このため、その移動体ＷＳＴ上に位置計測用のマーク（基準マーク）などが存在しなくても、プレートの外周エッジの位置情報に基づいて、プレートの位置、すなわち移動体の位置を前記計測装置で規定される移動座標系上で管理することが可能になる。 - 特許庁 - Belt marks 16 showing a reference position at forming the image are arranged on an intermediate transfer belt 2 having the image carrying surface on which a toner image formed on a photoreceptor 1 can be transferred in an overlaid state plural times, and also, a mark detection sensor 3 for detecting the belt marks 16 is arranged.
感光体１上に形成されたトナー像を表面の像担持面に複数回重ねて転写可能な中間転写ベルト２上に、画像形成時の基準位置となるベルトマーク１６を設けると共に、そのベルトマーク１６を検出するマーク検知センサ３を設ける。 - 特許庁 - Each component 20 and the circular marks 302 formed around the component 20 are photographed with a reference mark camera 152 from the rear side through the substrate 300 and the double coated adhesive sheet, and the loading position of the component 20 is detected on the basis of the relative positions of the component 20 from respective circular marks 302.
部品２０とその周囲に設けられた円マーク３０２とを、検査基板３００および両面粘着シートを通して裏面側から基準マークカメラ１５２により撮像し、部品２０の円マーク３０２に対する相対位置に基づいて装着位置を検出する。 - 特許庁 - In a game system that informs a player of choreography of a prescribed dance by displaying a reference mark 101, timing marks 102 to scroll toward the reference mark 101 on the screen of a monitor 9, animation in which scenes of at least one dancer 230 performing choreographic actions in parallel with the information of choreography using the reference mark 101 and the timing marks 102 is displayed on the screen of the monitor 9.
モニタ９の画面上に基準マーク１０１とその基準マーク１０１に向かってスクロールするタイミングマーク１０２とを表示させてプレイヤーに所定のダンスの振り付けを案内するゲームシステムにおいて、基準マーク１０１及びタイミングマーク１０２を利用した振り付けの案内と並行して、当該振り付け動作を少なくとも一人のダンサー２３０が実演しているシーンを記録した動画をモニタ９の画面上に表示させる。 - 特許庁 - The reference clock is changed according to the relative speed of the recording medium and therefore even if the relative speed is changed by stick slip, the specified recording marks can be recorded in the recording medium 28.
基準クロックは記録媒体の相対速度に応じて変更されるので、スティックスリップにより相対速度が変動しても記録媒体２８に一定の記録マークを形成することができる。 - 特許庁 - A main mark MM to be a reference of a parking position P and four sub marks MS1 to MS4 showing positional relations with the main mark MM are installed on a floor surface in a parking space S.
駐車スペースＳの床面には、駐車位置Ｐの基準となるメインマークＭＭと、メインマークＭＭに対する位置関係を表す４つのサブマークＭＳ１〜ＭＳ４とが設置されている。 - 特許庁 - A first mark (reference mark) 36, and a plurality of second marks (identification mark) 37a-37e of numbers depending on the type of the rolled paper are attached onto the marking members 34a, 34b.
このマーク表示部材３４ａ、３４ｂには１個の第１のマーク（基準マーク）３６と、ロール紙の種類に応じて数分の第２のマーク（識別マーク）３７ａ〜３７ｅが付される。 - 特許庁
