「same test」を含む例文一覧(1147)

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  • To test a program by executing only an unexecuted execution path without repeating execution to the same execution path.
    同一の実行経路に対する実行を繰り返すことなく、未実行の実行経路のみを実行してプログラムを試験できるようにする。 - 特許庁
  • Since the same test pattern TPb is also formed on the other surface Sb of the sheet S, the density difference between these images is emphasized when observed.
    シートＳの反対面Ｓｂにも同様のテストパターンＴＰｂを形成するので、両画像部の濃度差が強調されて見える。 - 特許庁
  • To suppress a supply voltage overshoot occurring at the same time as the termination of a function test for a semiconductor integrated circuit device.
    半導体集積回路装置の機能試験の際、機能試験終了と同時に生じる電源電圧をオーバーシュートを抑制する。 - 特許庁
  • METHOD AND APPARATUS FOR EVALUATING TEST VECTOR OF SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT AND METHOD AND APPARATUS FOR VERIFYING SAME
    半導体集積回路のテストベクタ評価方法、検証方法、並びに半導体集積回路のテストベクタ評価装置及び検証装置 - 特許庁
  • To provide a "communication apparatus" which controls the execution of a redundant round trip time (RTT) test for the same device while controlling authentication processing delay.
    認証処理の遅延を抑制しつつ、同じ機器についての冗長なRTTテストの実行を抑止する「通信装置」を提供する。 - 特許庁
  • The test circuitry 3 has the same circuit constitution as that of the synchronous circuitry 1, and the paths except the paths to be tested are set at prescribed values.
    テスト回路部３は同期回路部１と同一回路構成を有し、且つテスト対象のパス以外のパスが所定の値に設定される。 - 特許庁
  • To provide a device capable of performing a corrosion test of a metal material in the same state as an actual environment, using a comparatively simple device.
    比較的簡単な装置を用いて、実環境と同じ状況下で金属材料を腐食試験できる装置を提供する。 - 特許庁
  • By giving the test parameter TP to an RTL simulator 202, a simulation result which is the same value as the expected value is output is obtained.
    このテストパラメータＴＰをＲＴＬシミュレータ２０２に与えることにより、期待値どおりの値を出力するシミュレーション結果を得る。 - 特許庁
  • In 1934, he collapsed at the test screening of his final work as director, 'Machi no Bofu' (A storm in the town) in 1934, and passed away on August 23 of the same year.
    1934年（昭和9年）、最後に監督した作品となった『街の暴風』の公開試写会場で倒れ、同年8月23日死去した。 - Wikipedia日英京都関連文書対訳コーパス
  • Driving powers having mutually the same value are supplied to each test element from a control part, and the cassette 1 is controlled at a prescribed temperature.
    制御部から各被試験素子に互いに同じ値の駆動電力を供給すると共に、カセット１を所定の温度に制御する。 - 特許庁
  • The user removes the carrier from the vacuum station and inserts the same into a loading station of a separate carrier and test device processing subsystem 50.
    ユーザは、担体を真空ステーションから取り除き、別個の担体および試験装置処理サブシステム５０の装填ステーションに挿入する。 - 特許庁
  • To effectively utilize an output current and at the same time perform the aging test of a power-supply unit by an input power supply with less capacity.
    出力電流を有効に利用しつつも、少ない容量の入力電源によって、電源装置のエージング試験を行なう。 - 特許庁
  • To provide a device for pull-out testing of an eyeless needle which can perform a pull out test of a plurality of eyeless needles within short time, and to provide a testing method of the same.
    複数のアイレス針の引抜き試験を短時間で行うことができるアイレス針の引抜試験装置と方法を提供する。 - 特許庁
  • An address decoding circuit 10 receives an address signal s200a to operate the two logic circuits 11, 12 having the same function, in a test.
    テスト時、アドレスデコード回路１０はアドレス信号ｓ２００ａを受けて、同一機能を持つ２つの論理回路１１、１２を動作させる。 - 特許庁
  • EXTRACTION SYSTEM OF COMBINATION SET OF CLINICAL TEST DATA, DETERMINATION SYSTEM OF NEOPLASM PROGRESS USING THE SAME AND CLINICAL DIAGNOSIS SUPPORT SYSTEM
    臨床検査データの組合わせ集合の抽出システムとこれを用いた腫瘍進行度の判定システム並びに臨床診断支援システム - 特許庁
  • INDUCTANCE SENSING CIRCUIT AND POSITION DETECTOR, TEST DEVICE FOR IDENTIFYING DEFECT OF CONDUCTIVE MATERIAL OR ITS PRESENCE OR ABSENCE, AND TORQUE SENSOR USING THE SAME
    インダクタンス検出回路及びそれを用いた位置検出装置及び導体の欠陥或いは有無の識別検査装置及びトルクセンサ - 特許庁
  • METHOD FOR SIMULATING CHANGE IN BLOOD CONCENTRATION OF MEDICAMENT IN TEST TUBE, PROGRAM, AND COMPUTER-READABLE RECORDING MEDIUM FOR RECORDING THE SAME PROGRAM
    薬剤の血中濃度変化を試験管内でシミュレートする方法、プログラム及び該プログラムを記録したコンピュータ読み取り可能な記録媒体 - 特許庁
  • To provide a multilayer reagent test specimen for quantifying a glycated protein in a liquid sample, and a method and a kit using the same.
    液体サンプル中の糖化タンパク質を定量するための多層試薬試験片並びにこれを使用する方法およびキットを提供する。 - 特許庁
  • To efficiently execute an operation test in a semiconductor circuit device with a plurality of circuit blocks having a same circuit structure.
    同一の回路構成を有する複数の回路ブロックを備えた半導体集積回路装置において、動作テストを効率的に実行する。 - 特許庁
  • If the distorted test pattern is normally received by the slave, a response distorted by the same distortion level is returned from the slave to the master unit.
    スレーブは、その歪みテストパターンを正常に受信した場合には、マスタユニットに対して同じ歪みレベルで歪ませたレスポンスを返送する。 - 特許庁
  • As far as I can make out, they used it to condition and test their young... in much the same way as we once employed fingerpainting... among our kindergarten children.
    私が、試した限りでは、彼等の 子供の学習やテストに用いた・・ ・・我々が子供達に指使いを 教えるのと同じ様に - 映画・海外ドラマ英語字幕翻訳辞書
  • The default configuration runs each test 5 times, in order to see if each trial takes approximately the same amount of time.
    デフォルトの設定では、試行のそれぞれにおいてほぼ同じ時間がかかっていることを確認するため、各テストは5回実行される。 - XFree86
  • A singular information holding memory 20 for storing a test result of a semiconductor memory is divided into memory blocks 20a to 20d having the same capacities.
    半導体メモリの試験結果が格納される特異情報保持メモリ２０を同一容量のメモリブロック２０ａ〜２０ｄに分割する。 - 特許庁
  • To puncture a deep blood vessel by moving the tip end of an introducer in a route being the same as that where the tip of a test puncture needle passes.
    試験穿刺針先端が通過した経路と同一の経路で、イントロデューサー先端を移動させて深部血管に刺入する。 - 特許庁
  • However, when the descriptions of the organs in plural assessment documents based on the same test differ, the commonly described organs shall be described.
    ただし、同じ試験に基づいて複数の評価書での臓器の記載が異なるときは、共通に記載されている臓器を記載すること。 - 経済産業省
  • When a control section 11 makes a display section 13 display N-pieces test patterns, it generates the screen data in which one test pattern is disposed on one screen and outputs the same with the driving level information set in the test pattern to the display section 13 to switch and display the one pattern on the one screen respectively.
    Ｎ個のテストパターンを表示部１３に表示させる際、制御部１１は一画面に一のテストパターンを配置した画面データを生成し、そのテストパターンに設定された駆動レベルの情報とともに表示部１３に出力することにより、一画面に一パターンづつ切り替え表示させる。 - 特許庁
  • When a control section 11 makes a display section 13 display N-pieces test patterns, it generates the screen data in which one test pattern is disposed on one screen and outputs the same with the driving level information set in the test pattern to the display section 13 to switch and display the one pattern on the one screen respectively.
    制御部１１は、Ｎ個のテストパターンを表示部１３に表示させる際、一画面に一のテストパターンを配置した画面データを生成し、そのテストパターンに設定された駆動レベルの情報とともに表示部１３に出力することにより、一画面に一パターンづつ切り替え表示させる。 - 特許庁
  • To provide a test circuit, a semiconductor device and a method for manufacturing the same, for applying a stress to a node of a combination circuit to which the stress is not applied by only F/F in a burn-in test or a leak test of the semiconductor device, and inhibiting circuit overhead of the semiconductor device.
    半導体装置のバーンインテストまたはリークテストの際に、F/Fだけではストレスを印加できない組み合わせ回路のノードにストレスを与えるとともに、半導体装置の回路オーバーヘッドを抑えることができるテスト回路、半導体装置及びその製造方法を提供すること。 - 特許庁
  • However, in the case of notification of the negative response, the transmitting side tries to transmit the test data at the same communication speed again or transmits the test data again at the next highest communication speed. Until receiving the affirmative response from the receiving side, the transmitting side repeatedly transmits the test data, reducing the communication speed each time.
    しかし、否定応答が通知された場合は同一通信速度で再試行するか通信速度を一段階下げて再度前記テストデータの送信を行ない、受信側からの肯定応答が得られるまで通信速度を一段階ずつ下げながら前記テストデータの送信を行なう。 - 特許庁
  • However, in the case of notification of the negative response, the transmitting side tries to transmit the test data at the same communication speed again or transmits the test data again at the next highest communication speed. Until receiving the affirmative response from the receiving side, the transmitting side repeatedly transmits the test data, reducing the communication speed each time.
    しかし、否定応答が通知された場合は同一通信速度で再試行するか通信速度を一段階下げて再度前記テストデータの送信を行い、受信側からの肯定応答が得られるまで通信速度を一段階ずつ下げながら前記テストデータの送信を行う。 - 特許庁
  • The height of the surface of a test piece is measured by a noncontact distance sensor, and a stage is moved to have the same position, according to a change in the position of the test piece, thus making the irradiation positions with electromagnetic waves identical, even if stress is applied to the test piece during measurement.
    試験片の表面の高さを非接触式の距離センサで計測し、試験片位置の変化に応じて同じ位置になるようにステージを移動することで、測定中に試験片に応力を印加するなどしても電磁波の照射位置が同じになるようにする。 - 特許庁
  • In the individual request authentication processing, in the case where an RTT test for an AKE request of the same issuing source as an AKE request being processed is performed in any other individual request authentication processing, the end of the RTT test of the other individual request authentication processing is awaited without carrying out the RTT test.
    個別リクエスト認証処理では、処理中のＡＫＥリクエストと発行元が同じＡＫＥリクエストについてのRTTテストが、他の個別リクエスト認証処理において行われている場合には、RTTテストを実行せずに、当該他の個別リクエスト認証処理のRTTテストの終了を待つ。 - 特許庁
  • Thus, it is not necessary to rewrite a program for each type of an LSI while it is necessary when using a test device connected to the outside, and it is possible to simultaneously test the cache memory in parallel with the memory such as the SRAM other than the cache memory built in the same LSI, and to shorten the test time.
    これにより、外部に接続したテスト装置を用いた場合のようにＬＳＩの品種毎のプログラムの書き換えが不要となる上、同一ＬＳＩに内蔵されているキャッシュメモリ以外のＳＲＡＭ等のメモリと同時並行してキャッシュメモリのテストが可能となり、テスト時間の短縮が図れる。 - 特許庁
  • To provide a primer, probe, microarray for detecting mutation of c.4957-4958InsA, a novel genetic mutation of a gene EYS responsible for retinitis pigmentosa (RP), a test kit having the same, a test method for genetic mutation responsible for RP, and a test method for genetic sensitivity to RP.
    網膜色素変性原因遺伝子ＥＹＳの新規遺伝子変異であるｃ．４９５７＿４９５８ＩｎｓＡ変異を検出するためのプライマー、プローブ、マイクロアレイ、及び、これらを備える検出キット、並びに、ＲＰ原因遺伝子変異の検査方法、ＲＰへの遺伝的感受性の検査方法を提供する。 - 特許庁
  • To provide a component testing device for improving a throughput on a test of an electronic component by shortening a time required for replacement into a test socket of the electronic component, even when a plurality of test sockets having the same function are arrayed along a moving direction of a conveyance hand.
    同一機能のテストソケットが搬送ハンドの移動方向に沿って複数配列される場合であれ、電子部品のテストソケットへの入れ替えに伴う時間の短縮化によって電子部品の試験にかかるスループットの向上を図ることのできる部品試験装置を提供する。 - 特許庁
  • To create an optimal schedule in consideration of a constraint condition in which "for some testing devices, different kinds of components can be set and tested together using the same testing device, the same tool and the same test condition".
    「一部の試験装置については、同一の試験装置、同一の治具、同一の試験条件で、異なる種類の部品をセットにして一緒に試験を行うことが可能」といった制約条件を考慮して、最適なスケジュールを作成する。 - 特許庁
  • A matching degree is calculated by photometric data in the same cuvette and the same wavelength with photometric waveforms of different photometric points in the same test and the photometric waveform of a water blank of a referential photometric waveform as photometric data of a comparison target.
    同一テスト内の異なる測光ポイントの測光波形や、基準の測光波形となる水ブランクの測光波形を比較元の測光データとして、同一キュベット、同一波長の測光データで、マッチング度合いの計算を行う。 - 特許庁
  • In a test pattern for scan-designed LSIs, the generator performs a scan-out process 315 for picking up logic values from each flip flop and a scan-in process 316 for writing logic values for the next test in each flip flop at the same time.
    スキャン設計されたＬＳＩに対するテストパターンにおいて、各フリップフロップから論理値を取り出すスキャンアウト処理３１５と、各フリップフロップへ次のテスト用の論理値を書き込むスキャンイン処理３１６とを同時に行う。 - 特許庁
  • A minute test piece stress loading device comprises a tool 10 for loading stress; a minute test piece 14 inserted into a sample insertion hole 12; and a heating device 16 that accommodates them and is capable of simultaneously increasing temperature at nearly the same temperature increase rate.
    応力負荷用治具１０と、その試料挿入穴１２に挿入される微小試験片１４と、それらを収納し且つ等しい昇温率で同時昇温可能な加熱装置１６とを具備している。 - 特許庁
  • To provide a test piece for evaluating impregnation performance where cast blow holes of various leak amounts to be required can be correctly and easily duplicated by one test piece, and to provide a method for evaluating impregnation performance using the same.
    １つのテストピースによって、必要とする種々の漏れ量の鋳巣を、正確かつ簡単に再現することができる含浸性能評価用のテストピース及びこれを用いた含浸性能評価方法を提供すること。 - 特許庁
  • Further, the various settings and execution request of the test print and the setting of the secondary transfer voltage of the specific paper specified by the user based on the result of the test print can be performed on one and the same screen of an operation panel.
    更に、テストプリントの各種設定や実行要求と、テストプリントの結果を基にユーザーが指定した特定紙の２次転写電圧の設定とが、操作パネルの同一画面上にて行うことが可能である。 - 特許庁
  • Then a test piece 16 with the same surface as the wall surfaces of the liquid tank is prepared, immersed in the liquid 14 to which the element 13 is added, and taken out to form a liquid film 12 in the surfaces of the test piece 16.
    次いで液槽の壁面と同一の表面を有する試験片１６を用意し、この試験片を元素が添加された液体に浸漬した後に取出して試験片の表面に液膜１２を形成する。 - 特許庁
  • To provide a verification method of verifying an effective test program change time, in the situation where a test is allowed only once or times closely near thereto in a product such as the same magnetic storage device, and a verification system therefor.
    同じ磁気記憶装置などの製造物に対して１回程度しか試験できない状況において有効な試験プログラム変更時の検証方法及びその検証システムを提供することにある。 - 特許庁
  • To perform a high voltage insulation test of a two-phase output transformer in a two-phase output inverter transformer circuit in the completely same state as an actual operation state by one time test, concerning a high voltage insulation tester.
    高電圧絶縁試験器に関し、２相出力インバータトランス回路に於ける２相出力トランスの高電圧絶縁試験を実働状態と全く同じ状態で、しかも、１回の試験で検査できるようにする。 - 特許庁
  • In outputting a test chart for a first face and a test chart for a second face of one and the same printing medium, respectively, configuration patterns different between the first face and the second face are output to perform calibration.
    同一の印刷媒体の第１面と第２面に第１面用のテストチャートと第２面用のテストチャートとをそれぞれ出力する場合、第１面と第２面で異なる構成のパターンを出力して、キャリブレーションを行う。 - 特許庁
  • To enable function test or the AC test for every series data signal for facilitating inspection of a semiconductor integrated circuit for transferring or latching a plurality of series data signals synchronously with the same clock signal.
    同一のクロック信号に同期して複数系統のデータ信号の転送又はラッチを行う半導体集積回路において、データ信号の系統毎にファンクションテスト又はＡＣテストを可能として検査を容易にする。 - 特許庁
  • A selector circuit 9 selects the output of the scanning path at the time of test of the scanning path and selects the output of the inverter circuit 8 of the final stage at the time of test of the signal propagation delay time of the flip-flop circuits to output the same to the outside.
    セレクタ回路９はスキャンパステスト時にはスキャンパスの出力を選択し、フリップフロップ回路の信号伝搬遅延時間テスト時には最終段のインバータ回路８の出力を選択して外部へ出力する。 - 特許庁
  • To perform an environmental acceleration cracking generation test by using a test piece exposed to the same environment as that for incore equipment which is actual machine and structure, and to evaluate environmental acceleration cracking simulating the actual machine state more properly.
    実機である炉内機器および構造物と同じ環境に曝された試験片を用いて環境助長割れ発生試験を行い、実機状態をよりよく模擬した環境助長割れの評価を行う。 - 特許庁
  • An integration circuit 17 extracts the TEM images of the same test piece inclination angles from the inclined image series S_1, S_2, ... S_m, and integrates these and obtains the integrated image for every test piece inclination angles θ_1, θ_2, ... θ_n.
    積算回路１７は、傾斜画像シリーズＳ_１，Ｓ_２，…Ｓ_ｍから同じ試料傾斜角度のＴＥＭ像を抽出してそれらを積算し、試料傾斜角度θ_１，θ_２，…θ_ｎごとに積算像を取得する。 - 特許庁
  • The all solid battery is formed on the substrate, and at the same time as a piling up process of at least one kind of the battery member of the battery, the test pieces of the battery members are piled up on the other portions on the same substrate, and a pair of conductive terminals are formed at both ends or up and down of the test pieces.
    全固体電池を基板上に形成するとともに、その電池の少なくとも１種の電池部材の堆積工程と同時に、同一基板上の他の部位に当該電池部材の試片を堆積し、これら試片の両端または上下に一対の導電端子を形成する。 - 特許庁
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