「same test」を含む例文一覧(1147)
＜前へ 1 2 .... 12 13 14 15 16 17 18 19 20 .... 22 23 次へ＞- To provide a continuous nonstationary flow rate generator and a continuous nonstationary flow rate generating method for a compressible fluid useful for a dynamic characteristic test for the compressible fluid and a flow characteristic test in an air compressor or the like, and a flowmeter calibration device using the same.
圧縮性流体の動特性試験や空気圧機器などの流量特性試験に有用な圧縮性流体の連続非定常流量発生装置および連続非定常流量発生方法、ならびにそれを用いた流量計検定装置。 - 特許庁 - A second MR element 22 of a plurality of test patterns TEG is provided with the same material, film thickness and track width Tw as those of a first MR element in a thin film magnetic head with the height h formed differently depending on each test pattern TEG.
複数のテストパターンＴＥＧの第２ＭＲ素子２２は、薄膜磁気ヘッド１０における第１ＭＲ素子３と同一の材料、同一の膜厚及び同一のトラック幅Ｔｗであって、それぞれのテストパターンＴＥＧによってハイトｈが異なるように形成される。 - 特許庁 - To provide a semiconductor memory device in which malfunction never be caused and operation can be performed with low power consumption by performing a test again and detecting optimum operation conditions for a cell being easy to be defect out of cells passing a test, and a method for testing the same.
テストをパスしたセルのうち最も不良になり易いセルに対し、再びテストを行って最適の動作条件を検出することによって、誤動作せず、低消費電力で動作可能な半導体メモリ装置及びそのテスト方法を提供すること。 - 特許庁 - The accelerated corrosion resistance test is performed for the execution time (T') determined on the basis of the test time for the steel member in the contact state with the concrete so that the state is approximately the same as the actual use condition, and the corrosion amount of the steel member is measured.
そして、実際の使用状態とほぼ同じ状態になるように、コンクリートに接触させた状態にある鋼材に対して促進腐食試験を前記の試験時間に基づいて得られた実行時間(Ｔ′)だけ行って、その鋼材の腐食量を測定する。 - 特許庁 - Also, each gate signal from the main and ancillary gate generation part 206 is inputted in the trim region-test pattern generation part 208, and a gate signal in the arbitrary scanning and ancillary scanning direction is obtained independently, so that a plurality of test patterns can be printed on the same printing paper separately.
主・副走査ゲート発生部２０６からの各種ゲート信号がトリム領域・テストパターン生成部２０８に入力され、任意の主走査・副走査方向のゲート信号が独立に得られ、複数のテストパターンを、独立して同一の印刷用紙に印字できる。 - 特許庁 - To provide a sealing device for leak inspection which can airtightly seal the same area with the practical seal position of a body to be inspected requiring a high-precision leak test, prior to the leak test and can speedily be attached to and detached from the body to be inspected.
本発明は、高精度のリークテストを必要とする被検査体に対しその実用上のシール位置と同じ領域を、リークテストに先立ち気密にシールでき、かつ被検査体に対し、素早く着脱できる洩れ検査用シール装置を提供することを課題とする。 - 特許庁 - A maintenance adapter is installed on the same LAN as that of the device for maintenance, the maintenance adapter is controlled by a remote maintenance device at the remote place, the maintenance adapter is actually made to execute a test using the same network environment as that of the device for maintenance, and to transmit its test result to the remote maintenance device.
本発明は上記事情に鑑みてなされたものであり、保守対象機器と同一LAN上に保守アダプタを設置し、該保守アダプタを遠隔の地にある遠隔保守装置よりコントロールし、該保守アダプタに対して実際に該保守対象装置と同一のネットワーク環境を使用してテストを実行させ、そのテスト結果を該遠隔保守装置に送付させる。 - 特許庁 - A BIST circuit comprises: an address and control signal generator generating an address and a control signal responding to the control of a BIST controller; a test data generator generating test data; and a fail detector determining whether data outputted from the same address of the memory are the same mutually or not and detecting the propriety of the fail of a memory.
ＢＩＳＴ回路はＢＩＳＴコントローラの制御に応答してアドレスおよび制御信号を発生するアドレスおよび制御信号発生器と、テストデータを発生するテストデータ発生器と、メモリの同一のアドレス領域から出力されたデータが互いに同一であるか否かを判断してメモリのフェイルの可否を検出するフェイル検出器とを含む。 - 特許庁 - The virtual ALPG transmission type semiconductor test device has virtual ALPG function and real ALPG memory test function, in which a virtual ALPG operated on a hardware simulator and a real ALPG attained on hardware have the function of generating pattern at the same time by interpreting a test program although the real time is differed from each other and generate test patterns for a DUT designated by the program with a designated content at a designated speed.
仮想ＡＬＰＧ機能と実ＡＬＰＧメモリテスト機能を具備し、ハードウェアシミュレータ上で動作する仮想ＡＬＰＧとハードウェアで実現する実ＡＬＰＧが、実時間は異なるが、テストプログラムを解釈し、プログラムの指定するＤＵＴに対するテストパターンを指定された内容で、指定された速度で発生して、仮想ＡＬＰＧと実ＡＬＰＧが同タイミングでパターンを発生する機能を有する仮想ＡＬＰＧ透過型半導体テスト装置とする。 - 特許庁 - To obtain a highly reliable semiconductor device that suppresses oxidation deterioration of a sealing resin even at a high temperature, can use the same sealing method and sealing resin as before, and has no decrease in breakdown voltage even during a heat cycle test and a reliability test of high-temperature operation etc.
高温下においても封止樹脂の酸化劣化を抑制し、封止方法および封止樹脂は従来通りのものを使用することができ、ヒートサイクル試験や高温動作などの信頼性試験でも、絶縁破壊電圧が低下しない、信頼性の高い半導体装置を得る。 - 特許庁 - The test signals inputted through external input/output pads 14 are inputted into each I/O module 51-58 by means of internal test wirings 23 and 24 which are formed in the same layer as the internal input/output pads and are linearly passed through between two adjacent internal input/output pads.
外部入出力パッド１４から入力されるテスト信号は、内部入出力パッドと同層に形成され、２つの隣接する内部入出力パッドの間を直線状に通過する内部テスト配線２３、２４によって各Ｉ／Ｏモジュール５１〜５８に入力される。 - 特許庁 - When recording a second test pattern, the ejection operation of the ink by the recording head 202 is controlled to record by a second interval longer than the first interval of time between a plurality of scans in recording to the same recording position when the test pattern is recorded.
そして、第二のテストパターンを記録する際には、テストパターンを記録するときの同一の記録位置への記録における複数回の走査の間の時間の間隔が、第一の間隔よりも長い第二の間隔で記録を行うように、記録ヘッド２０２によるインクの吐出動作が制御される。 - 特許庁 - To provide a waveform analyzer which displays the image data of a test object photographed by a camera and waveform data related to the image data of the test object captured by the waveform analyzer in a synchronized manner with high precision on the same display screen without temporal deviation.
カメラにより撮影される試験対象物の映像データと波形解析装置に取り込まれる試験対象物の映像データに関連する波形データを、時間的なずれを生じることなく同一の表示画面上に高精度に同期表示できる波形解析装置を提供すること。 - 特許庁 - An image to be printed is displayed in a preview display part 11 of a display part, and a line chart which has lines having a prescribed width arranged at prescribed intervals is displayed as a test chart in a test chart display area 12 of the display part with the same display scale factor as the image displayed in the preview display part 11.
表示部におけるプレビュー表示部１１に、印刷する画像を表示するとともに、表示部におけるテストチャート表示領域１２に、プレビュー表示部１１に表示された画像と同じ表示倍率で、所定幅の線を所定間隔に並べたラインチャートをテストチャートとして表示する。 - 特許庁 - To provide a closed vessel that a pinhole test (i.e., gas leakage test) is accurately carried out using a small quantity of testing gas and that a filling process of contents and the testing gas and a testing process of pinhole can be carried out continuously at the same place, and to provide a pinhole detecting method using the closed vessel.
少量の検査用ガスによってピンホール検査（ガス漏れ検査）を正確に行うことができ、また、内容物・検査用ガスの充填工程とピンホールの検査工程とを同じ場所で連続的に行うことのできる密閉容器と、該密閉容器を用いたピンホール検出方法を提供する。 - 特許庁 - By this manufacturing method, the lead frame to be obtained in many pieces such as n×m pieces in row and line is employed, and screening and a characteristic test are applied to the divided lead frames by using the same test equipment as that for a conventional method while improving material usage efficiency to realize cost reduction.
この製造方法により、縦ｎ個×横ｍ個のような多数個採りのリードフレームを採用できて、材料利用効率を上げてコストダウンを図ることができながら、分割リードフレームに対して従来と同様な検査装置を用いてスクリーニングおよび特性検査することができる。 - 特許庁 - The multiple terminals include an upper end face located on a same plane and, when a test object is disposed on the electric connection device, a set of terminals including at least two terminals of the terminals come into contact with respective electrodes of the test object having the plurality of electrodes.
前記多数の端子は、同一面内に位置する上端面を備え、前記電気的接続装置に被検査体が配置されると、前記端子のうち少なくとも２つの端子を含む一組の端子が、それぞれ、複数の電極を備える被検査体の各電極に接触する。 - 特許庁 - The same test data are inputted into a plurality of identical functional blocks 2a, 2b, 2c from a test data input terminal 5, and an identical functional block 2a is operated by a low-frequency clock signal, and the residual identical functional blocks 2b, 2c are operated by a high-frequency clock signal.
複数の同一機能ブロック２ａ、２ｂ、２ｃに対して、テストデータ入力端子５から同一のテストデータを入力し、一つの同一機能ブロック２ａを低周波数クロック信号で動作させ、その残りの同一機能ブロック２ｂ、２ｃを高周波数クロック信号で動作させる。 - 特許庁 - The current command value stored in the storage part 8a is output based on an initial ignition signal of the test engine 1, to reproduce the change in engine rotation speed in the same way as the actual vehicle while regarding an inertial weight of the dynamometer 6 or the like as seen from the test engine 1 as 0.
そして、供試エンジン１の初点火信号を基準として記憶部８ａに記憶した電流指令値を動力計６に出力することで、供試エンジン１側から見た動力計６等の慣性重量を零として、実車と同様のエンジン回転速度変化を再現するようにした。 - 特許庁 - To provide an elliptically polarizing plate having an optical compensation film consisting of a liquid crystal layer, thin and hardly causing crack due to a foreign substance in a thermal shock test and wrinkle due to the shrinkage of a linear polarizing plate in a heat test and a liquid crystal display device using the same.
液晶層からなる光学補償板を有し、薄肉でかつ、冷熱衝撃試験において異物に起因するクラックが発生しにくく、耐熱試験において直線偏光板の収縮に起因する皺も発生しにくい楕円偏光板を提供し、それを液晶表示装置に適用する。 - 特許庁 - To provide particles for a display medium that can maintain initial performance even during an inversion durability test wherein display inversion is repeatedly carried out without causing child particles even during the inversion durability test and are used for an information display device, and a panel for information display and an information display device using the same.
表示反転を繰り返し行う反転耐久試験によっても子粒子が解離することなく、初期性能を反転耐久試験時にも維持できる情報表示装置に用いる表示媒体用粒子及びそれを用いた情報表示用パネル、情報表示装置を提供する。 - 特許庁 - A selector circuit 1 selects the shift mode signal SMC supplied from the outside at the time of a scanning path test and selects the output of the inverter circuit 8 of the final stage at the time of test of the signal propagation delay time of the flip-flop circuits to supply the same to the input of the inverter circuit 2 of the first stage.
セレクタ回路１は、スキャンパステスト時には外部から供給されるシフトモード信号ＳＭＣを選択し、フリップフロップ回路の信号伝搬遅延時間テスト時には最終段のインバータ回路８の出力を選択して、それぞれ初段のインバータ回路２の入力に供給する。 - 特許庁 - Positions of two long and short standard points 39, 41 of a test bar 37 are measured by a measuring sensor 19 of a knife edge position measuring means by installing the test bar 37 on a tool main spindle 13 and dividing an inclined feeding shaft at the same angular position in using the using tool to compute the knife edge position.
工具主軸１３にテストバー３７を装着し、刃先位置を演算すべき使用工具が加工に用いられるときと同じ角度位置に傾斜送り軸を割出し、刃先位置測定手段の測定センサ１９によりテストバー３７の長短２つの基準点３９、４１の位置を測定する。 - 特許庁 - The substrate for manufacturing the organic EL device 100 has a display pixel forming area 2A, a test pixel forming area 2B, and a liquid holder part, that is formed in the same process that forms the display pixel forming area 2A or the test pixel-forming area 2B.
本発明の有機ＥＬ装置製造用基板１００は、表示用画素形成領域２Ａと、検査用画素形成領域２Ｂと、表示用画素形成領域２Ａと検査用画素形成領域２Ｂとにおいて同一プロセスにて形成された液受容部と、を備えることを特徴とする。 - 特許庁 - An arithmetic processing block (hereinafter, arithmetic processing B), which the control model stored in a model storing part 10 has, is replaced by a test block replacement part 12 with a test block in which the same processing as the arithmetic processing B is expressed and an output point of a result in the midway of the arithmetic processing is defined.
モデル格納部１０に格納された制御モデルが有する演算処理ブロック（以下、演算処理Ｂ）を、その演算処理Ｂと同じ処理を表し、かつ演算処理の途中結果の出力箇所が定義された検査ブロックに、検査ブロック置換部１２が置換する。 - 特許庁 - A tester part 31 has a testing unit 32 composed of a plurality of cards mounted with an LSI in the same as the inspection object LSI, and electrically connected to the test card by removing one card among these cards, a PC 33 for controlling operation of the testing unit, and a test program 34.
テスタ部３１は、被検査ＬＳＩと同じＬＳＩが実装されている複数枚のカードから構成され、その中でカード１枚を取り除いてテストカードに電気的に接続されるテスト用ユニット３２と、テスト用ユニットを動作制御するＰＣ３３と、テストプログラム３４を有する。 - 特許庁 - To solve the problem of a conventional line test system that has had a system configuration with bad economy because the conventional line test system is respectively and independently provided to an exchange and an xDSL(x-Digital Subscriber Line) subscriber accommodation facility although the exchange and the xDSL subscriber accommodation facility uses the same subscriber line.
従来は、交換機とｘＤＳＬ加入者収容設備は同一加入者線を使用しているにも拘らず、回線試験装置を交換機とｘＤＳＬ加入者収容設備の各々に独立に設けているため、経済性の悪いシステム構成である。 - 特許庁 - The radiation unit 22 of a test device 20 radiates an electromagnetic wave with the same frequency as the resonant frequency of the resonant structure 10 to the outside, and a receiving unit 23 receives the electromagnetic wave with the same frequency as the resonant frequency of the resonant structure 10.
検査装置２０の放射部２２は、共振構造体１０の共振周波数と同一周波数の電磁波を外部に放射し、受信部２３は、共振構造体１０の共振周波数と同一周波数の電磁波を受信する。 - 特許庁 - An external connection electrode 21, which has the same outer size and cross section as for an external connection electrode 21, formed in a semiconductor device forming region 11, is formed at a peripheral part of a semiconductor device test region 11a with the same process.
半導体装置テスト用領域１１ａの周辺部には、半導体装置形成領域１１内に形成される外部接続用電極２１と同一プロセスで同一の外形サイズおよび断面積の外部接続用電極２１が形成される。 - 特許庁 - A balance test on a single eye is performed using a red/green chart 100 and, when a subject answers, "same" continuously three times from the first reply, and when the first reply is the "same" and the second one is "GREEN", it determines it as an error and performs a remeasurement.
片眼のバランステストはレッド・グリーンチャート１００を用いて行われ、最初の応答から３度続けて「同じ」と応答した場合や、最初の応答が「同じ」で次に「ＧＲＥＥＮ」と応答した場合にはエラーと判定して再測定を行う。 - 特許庁 - To produce an aqueous solution of a polyamide polyamine- epihalohydrin resin having a low content of low molecular organic halogen substances and is negative in carcinogenicity by the Ames method, to provide a paper using the same and to provide a method for producing the same.
低分子有機ハロゲン物質の含有量が少なく、かつ、癌原性の有力な評価方法のひとつであるエームス試験（Ames Test）の判定が陰性であるポリアミドポリアミン−エピハロヒドリン樹脂水溶液、それを用いた紙及びその製造方法。 - 特許庁 - Also, a medium 62 for test being the same as the slave 2 is supplied and adhered closely for the master carrier 3 held at the prescribed position, magnetic transfer is performed for the medium 62 for test, and a supply position of the slave 2 is verified by testing a transfer position of a transfer pattern in a magnetically transferred medium 62' by the transfer position test means 66.
また、所定位置に保持されたマスター担体３に対してスレーブ媒体２と同一の検査用媒体６２を供給密着させて、該検査用媒体６２に磁気転写を行い、磁気転写がなされた検査用媒体６２’における転写パターンの転写位置を転写位置検査手段６６により検査することによりスレーブ媒体２の供給位置を検証する。 - 特許庁 - This method for screening the plant activator comprises that a test compound is judged to have a systemic acquirement resistance-inducing ability against diseases, when one or more test compounds are applied to a plant sensitive to a plant activator, and when a phytotoxicity by the test compound is not detected against the same kind of a non-sensitive control plant but is detected against the sensitive plant.
プラントアクチベーターに感受性の植物に、それとは別の供試化合物を施用し、非感受性の同種の植物対照に対しては該供試化合物による薬害が検出されないが、感受性の植物に対しては薬害が検出される場合に、該供試化合物が病害に対する全身獲得抵抗性の誘導能を有すると判定することを含む、プラントアクチベーターのスクリーニング方法。 - 特許庁 - To regularly perform a battery load test, a battery test section 74 instructs a gain control section 64 to perform gain control to produce the same setting as at the time of an abnormality alarm, and detects power supply voltage supplied by the battery while an audio amplification section 62 amplifies a test signal and the speaker 36 is supplied with a drive current corresponding to that for an abnormality alarm output.
電池試験部７４は定期的に電池負荷試験を行う場合に、利得制御部６４に異常警報時と同じ設定状態となる利得制御を指示し、音声増幅部６２で試験信号を増幅してスピーカ３６に異常警報出力時に相当する駆動電流を流した状態で電池から供給される電源電圧を検出する。 - 特許庁 - By providing a mechanism for measuring the surface height of the test piece during irradiation with electromagnetic waves, a mechanism for moving a test piece height position to the initial position, and a mechanism for measuring the diffraction angle of diffraction electromagnetic waves to correct the position irradiated with electromagnetic waves to the same position as the surface of the test piece, measurement errors due to changes in the surface position are avoided and the diffraction angle becomes possible to be accurately measured.
電磁波照射中に試験片の表面高さを測定する機構と、試験片高さ位置を最初と同じ位置に移動する機構、回折電磁波の回折角を測定する機構を備え、電磁波照射位置を試験片表面の同一位置となるように補正できることから、表面位置変化による測定誤差を回避し、正確な回折角測定が可能となる。 - 特許庁 - A control device consists of an electrical control system for driving a pair of actuators 2 for applying acceleration to each of two locations of a test stand 1 in the same direction, two displacement meters 12 and 13 for measuring the amount of displacement at the two locations of the test stand, and two accelerometers 14 and 15 for measuring acceleration at the two locations of the test stand 1.
試験台１に２カ所で同一方向にそれぞれに加速度を与えるための２基１対のアクチュエータ２を駆動するための電気制御系２３−１，２、試験台の２カ所のそれぞれの２変位量を計測するための２つの変位計１２，１３と、試験台１の２カ所のそれぞれの２加速度を計測するための２つ加速度計１４，１５とからなる。 - 特許庁 - When the self-diagnosis test is performed, the test signal generation unit 48 generates a test signal St by dividing and multiplying a frequency of a reference signal So generated by the reference oscillator 34 and at the same time, the DDS 40 generates a local frequency signal Sl based on the reference signal So, and frequency data and code data in a code data storage unit 46.
自己診断試験の際に、テスト信号生成部４８は、基準発振器３４にて生成した基準信号Ｓｏの周波数を分周し逓倍することよりテスト信号Ｓｔを生成し、一方で、ＤＤＳ４０は、基準信号Ｓｏと符号データ格納部４６中の周波数データ及び符号データとに基づいてローカル周波数信号Ｓｌを生成する。 - 特許庁 - A CPU 120 detects an expected value having the same value as a top test CRC value calculated by the CRC calculator 144 among expected values of the CRC value of at least partial continuous pictures in a moving image corresponding to the test stream data and with the detected expected value as an origin, the test CRC value is sequentially compared with expected values, thereby diagnosing the moving image processing device 110.
ＣＰＵ１２０は、テスト用ストリームデータに対応する動画像の少なくとも一部の連続したピクチャのＣＲＣ値の期待値のうちの、ＣＲＣ算出部１４４が算出した先頭のテストＣＲＣ値と同値を有する期待値を検出し、検出した期待値を起点にし、テストＣＲＣ値と期待値との順次比較を行うことにより動画像処理装置１１０を診断する。 - 特許庁 - To prevent torque measurement accuracy from being decreased by a bend and vibration of the support part of a brake to be tested, at the same time, to easily confirm the operation of the brake to be tested, and to reduce the space of a test room.
被試験ブレーキの支持部の曲げや振動によるトルク測定精度の低下を防止するとともに、被試験ブレーキの動作確認を容易とし、かつ試験室のスペースを小さくする。 - 特許庁 - Further, since a test probe, etc. can be brought into contact with the external terminals of the first chip and the second chip from the same side, the first chip and the second chip can be simultaneously tested.
また、第１チップと第２チップの外部端子に同じ側からテストプローブ等を接触させることができるため、第１チップと第２チップを同時にテストすることが可能になる。 - 特許庁 - To allow centralized control of the data for a plurality of properties of a die on a semiconductor wafer, which is an object of a parametric test, as well as real-time compilation and display on the same tool.
パラメトリック・テストの対象となる半導体ウエハ上のダイの複数の属性のデータの一元管理、同一ツール上での実時間上での編集作業、表示を可能にする。 - 特許庁 - To provide a filter membrane capable of effectively removing small particles from a liquid, exhibiting minimum adsorbing property and being subjected to the test to examine its completeness prior to practical use and to provide a method of producing the same.
小さな粒子を液体から効果的に除去し、最小の吸着性を示しかつ実際の使用前に完全性を試験しうる濾過膜、およびその製造方法を提供する。 - 特許庁 - The electromagnetic wave strength detection unit 24 of the test device 20 detects the strength of the electromagnetic wave with the same frequency as the resonant frequency of the resonant structure 10 received by the receiving unit 23.
検査装置２０の電磁波強度検出部２４は、受信部２３が受信した共振構造体１０の共振周波数と同一周波数の電磁波の強度を検出する。 - 特許庁 - To provide a test element group which allows more elements to be mounted in a small area and can precisely measureg element characteristic, and a semiconductor device equipped with the same.
小さな面積でより多くの素子を搭載することができ、さらに、素子特性を精度良く測定することの可能なテストエレメントグループおよびそれを備えた半導体装置を提供する。 - 特許庁 - The test patterns include a plurality of pattern parts P1-1 to P5-1 associated with the design values of density ratio when the image is recorded by the same recording density by using these inks.
そのテストパターンは、それらのインクによって同一の記録密度で画像を記録したときの濃度比の設計値と関連付けられた複数のパターン部Ｐ１−１からＰ５−１を含む。 - 特許庁 - The module has an optical transmitter and an optical monitor, transmits a test signal through an optical fiber network and receives the same signal through different fibers in the optical fiber network.
モジュールは、光送信機と光モニタをともに有し、モジュールは、光ファイバ網を通じてテスト信号を送信し、光ファイバ網のそれぞれ異なるファイバを通じて同じ信号を受信する。 - 特許庁 - To provide a semiconductor device and a manufacturing method of the same capable of nicely maintaining the workability of a test process and reducing the generating probability of faulty operation of a semiconductor element.
テスト工程の作業性を良好に維持するとともに、半導体素子の動作不良の発生確率を低減することが可能な半導体装置およびその製造方法を提供する。 - 特許庁 - In a suitable form, the test data are formatted to the transaction of a length preliminarily decided on a screen basis, and the EPG data are formatted to the transaction of the same length on a program basis.
好適な態様では、このテキストデータをスクリーンベーシスで前以て決めた長さのトランザクションにフォーマットしそして該ＥＰＧデータをプログラムベーシスで同じ長さのトランザクションにフォーマットする。 - 特許庁 - This device is equipped with a control device for controlling the test of the plurality of testing object devices having the same pin arrangement, and a plurality of pin resources provided respectively corresponding to each terminal of the testing object devices.
同一のピン配置を有する複数の被試験デバイスの試験を制御する制御装置と、それぞれが被試験デバイスの端子に対応して設けられた複数のピンリソースとを備える。 - 特許庁 - To provide a proof load test system which can perform axial tension proof load tests for all machine bolts, at the same time as with screw rolling, and with ease and quickness.
頭付ボルトの軸力保障荷重試験をネジ転造と同時にかつ簡単迅速に行えるようにしてすべての頭付ボルトに対して保障荷重試験が行えるようにすること。 - 特許庁
- 特許庁
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