「same test」を含む例文一覧(1147)

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  • The fixing member 41 is used to arrange the marked line formation plane with the marked line 43 in the marked line formation member 42 on almost the same plane as a plane going through a diameter in the round bar-shaped test piece 10.
    この固定部材４１は、標線形成部材４２における標線４３が形成された標線形成面を、丸棒状試験片１０における直径を通る面と略同一平面上に配置するために使用される。 - 特許庁
  • The plurality of scan flip-flops are allocated to each of a plurality of scan paths which are formed by connection of the scan flip-flops like a shift register when a scan test is performed, and forms a plurality of partial scan paths with the same number as the plurality of scan paths.
    複数のスキャンフリップフロップは、スキャンテストするときに、スキャンフリップフロップがシフトレジスタ状に接続されて形成される複数のスキャンパスのそれぞれに割り当てられ、複数のスキャンパスと同数の複数の部分スキャンパスを形成する。 - 特許庁
  • Furthermore, the sum of voltages of the D+ data output signal and D- data output signal is tested, whereby the test can be performed in the same channel of the testing device, and a precise measurement can be thus performed, without being influenced by skew between channels.
    また、Ｄ＋データ出力信号とＤ−データ出力信号との電圧の和をテストすることで、テスト装置の同一チャンネルでのテストが可能となり、 チャンネル間のスキューの影響を受けることなく高精度での測定が可能となる。 - 特許庁
  • To provide a communication apparatus capable of preventing the test period of a semiconductor from becoming longer by adding a function of pseudo multicast transfer to an end point of PCI-Express, for performing pseudo multicast transfer when a controller of a semiconductor test device transmits the same data to a plurality of cards, for shortening transfer time of data.
    本発明は、ＰＣＩ−Ｅｘｐｒｅｓｓのエンドポイントに擬似的なマルチキャスト転送の機能を付加し、半導体試験装置におけるコントローラ等が複数のカードに同一のデータを送信する際に、擬似的なマルチキャスト転送を行ってデータの転送時間を短縮することにより、半導体の試験時間の増大を防ぐことのできる通信装置を実現することを目的とする。 - 特許庁
  • To provide a polynucleotide which is indispensable in gene expression analysis, as an internal standard for criterion of amount gene expression in test samples for correction of transcription product concentration in measuring difference of the concentration of transcription product of the gene as the difference of the amount of gene expression of a desired gene in the test samples of two or more kinds, and to provide a method for using the same.
    遺伝子発現解析に必須である、「２種類以上の被検試料における所望の遺伝子の発現量の差異を当該遺伝子の転写産物量の差異として測定する際に、前記転写産物量の補正を行うための前記被検試料における遺伝子の発現量の基準となる内部標準としてのポリヌクレオチド」及びその利用方法の提供。 - 特許庁
  • The container detector 1 has: a detector main body 2 slidable left and right with respect to a grasping device main body 11 by a moving means 7; optical sensors 3 same to test tubes 8 in number installed under the detector main body 2; and a detection means 4 for detecting the presence of the test tubes (containers) 8 on the basis of the signals outputted from the respective optical sensors 3.
    容器検出装置１は、移動手段７により把持装置本体１１に対し左右方向にスライド可能な検出装置本体２と、該検出装置本体２の下部に設置された試験管８と同数の光学センサー３と、各光学センサー３から出力される信号に基づいて試験管（容器）８の有無を検知する検知手段４とを有している。 - 特許庁
  • This test method of an IC chip 100 including an internal regulator 10, and an internal circuit 20 receiving supply of an internal voltage from the internal regulator 10 includes processes for: measuring the internal voltage Vreg output from the internal regulator 10; and supplying a test voltage having the same height as a measured value of the internal voltage Vreg to the internal circuit 20.
    内部レギュレータ１０と、内部レギュレータ１０から内部電圧の供給を受ける内部回路２０と、を備えたＩＣチップ１００の試験方法であって、内部レギュレータ１０から出力される内部電圧Ｖｒｅｇを測定する工程と、内部電圧Ｖｒｅｇの測定値と同じ大きさの試験電圧を内部回路２０に供給する工程と、を含む。 - 特許庁
  • To provide a test circuit of a light receiving amplifier circuit for inspecting as well a resistance value of wiring connecting an output part of light receiving element and an input part of a current-voltage conversion circuit and reducing a chip cost; and an optical pickup device using the same.
    受光素子の出力部と電流電圧変換回路の入力部とを接続する配線の抵抗値も検査でき、チップコストを低くすることが可能な受光増幅回路のテスト回路、及びこれを用いた光ピックアップ装置を提供する。 - 特許庁
  • The motion measurement result and a ball direction in test shot are confirmed, the weights of sub weights 45, 46 are changed, and the sensor unit 20 and the main weight 40 which have the same physical quantity are exchanged, to provide the golf club 10 with the good weight balance.
    モーション測定結果と試打のときの打球方向を確認して、サブウェート４５，４６の重量を変更し、物理量が同じセンサーユニット２０とメーンウェート４０を交換して、重量バランスがとれたゴルフクラブ１０でプレーすることができる。 - 特許庁
  • Thus, as this circuit has such constitution that read-out data is compared with read-out data of preceding address, a marching test for detecting uncoincidence of both data as defect can be preformed efficiently by writing previously the same data in all bits.
    このように、読み出しデータと１アドレス前の読み出しデータとを比較する構成となっているので、予め全ビットに同一のデータを書き込んでおくことにより両者の不一致として不良を検出するマーチングテストを効率よく実行できる。 - 特許庁
  • To provide a deodorizing device accurately evaluating the performance of a deodorant by preventing change of the concentration of a gas component when the gas is discharged from a system, and a test tub for evaluating deodorization performance of the deodorant, and a method for using the same.
    系からガスを抜き取るときでもガス成分の濃度を変えないようにすることで、脱臭剤の正確な性能を評価可能にする脱臭装置、並びに脱臭剤の脱臭性能評価用試験槽及びその使用方法を提供する。 - 特許庁
  • To provide a polymer material evaluation method capable of evaluating easily and accurately a chlorine resistance of a polymer material, by a device capable of controlling automatically a residual chlorine concentration, a temperature, a pH and a circulation velocity of a test liquid within set ranges thereof, and a device used in the same.
    試験液の残留塩素濃度、温度、ｐＨ、循環速度を自動的に設定範囲に制御可能な装置によって、高分子材料の耐塩素性を簡便かつ正確に高分子材料評価する方法及びそれに用いる装置の提供。 - 特許庁
  • To provide a semiconductor device which can test together with a replica circuit and a chip main body even when a voltage generating circuit is not mounted on the same chip, and can make real speed measurement of a chip in a wafer state.
    電圧発生回路を同一チッブ上に搭載していない場合であってもレプリカ回路とチップ本体を合わせた試験を行うことができ、また、ウエハー状態でチップの実速度測定を行うことができる半導体装置を提供する。 - 特許庁
  • To obtain a hose-mounting tool in a hydraulic shock pressure-testing machine for easily changing the mounting angle of a hose, at the same time easily performing angle adjustment operation, and improving the accuracy of a hydraulic shock test.
    ホースの取付け角度の変更を容易に行うことが出来ると共に、角度調整作業も容易に行うことが出来、油圧衝撃試験の精度を向上させることが出来る油圧衝撃圧力試験機におけるホース取付け治具を提供する。 - 特許庁
  • To provide an attachment for sockets capable of automatically adapting to the performance test of IC devices and increasing thermal radiation from IC devices while curving increases in size, and also to provide a semiconductor device testing apparatus having the same.
    本発明は、ＩＣデバイスの性能試験の自動化に対応することができ、また、サイズの大型化を抑制しつつ、ＩＣデバイスからの熱放出を高めることができるソケット用アタッチメント及びそれを有する半導体デバイス試験装置を提供する。 - 特許庁
  • When the vertical load action means 22, 23 apply the vertical loads PM_1, PM_2 having the same magnitude onto the points of action A_1, A_2 in the mutually reverse directions, only a moment MV around the point of action A_0 having a vertical plane as the surface of revolution acts on the test structure F.
    鉛直荷重作用手段２２，２３が作用点Ａ_1 ，Ａ_2 に同一の大きさの鉛直荷重Ｐ_M1，Ｐ_M2を互いに逆方向に作用させると、試験構造物Ｆには鉛直面を回転面とする作用点Ａ_0 回りのモーメントＭ_V のみが作用する。 - 特許庁
  • In processes IV, V, a bar code of a component a is read in with bar code reading means 4d, 4e, and at the same time, a characteristics test is made with a characteristics testing means 7a, 7b, whose result is registered in the data base DB in coordination with an ID shown in the bar code.
    工程IV、Ｖでは、バーコード読取手段４ｄ，４ｅで部品ａのバーコードを読み取るとともに、特性検査手段７ａ，７ｂで特性検査を行い、その検査結果をバーコードで示されるＩＤに対応付けて、データベースＤＢに登録する。 - 特許庁
  • A skewness adjusting device 21 is connected to both of a clock wiring 30 and a data wiring 31 at the time of test so that the timing of a clock and data is made the same as internal signal transmitting timing at the time of normal operation, and its equivalent parasitic capacity is adjusted.
    クロックとデータのタイミングを、通常動作時の内部信号伝達タイミングと同じになるように、テスト時のクロック配線３０及びデータ配線３１の双方にスキュー調整装置２１を接続し、その等価寄生容量を調整する。 - 特許庁
  • A NMS1 monitors a communication trouble caused by leakages of the ADSL lines 902 of the same quads existing in a line cable 3 or the like by conducting a test of the subcarrier where ascent and descent lines of a DSLAM2 are overlapped by the ADSL line 902.
    ＮＭＳ１は、ＤＳＬＡＭ２がＡＤＳＬ回線９０２で上りと下りがオーバラップするサブキャリアの試験を行わせることで、回線ケーブル３にある同一カッドのＡＤＳＬ回線９０２どうしの漏洩等による通信障害を監視する。 - 特許庁
  • To provide a WLBI test method which allows bit lines to be individually controlled, "H/L" reverse-phase stress patterns to be applied between adjacent bit lines within the same sense amplifier line, and unspecified kinds of stress patterns to be applied to memory cells.
    ビット線を個別に制御することができ、同一センスアンプ列内の隣接ビット線間に“Ｈ／Ｌ”逆相ストレスパタンを印加できると共に、限定されない種々のストレスパタンをメモリセルに印加できるＷＬＢＩテスト方法を提供する。 - 特許庁
  • To provide a material tester having a function of superimposing and displaying plural test data on the same screen by a graph, which is capable of surely reading desired data among plural superposed and displayed data without an error.
    同一画面上に複数の試験データを重ねてグラフ表示する機能を備えた材料試験機において、重ね表示された複数の試験データの中から、所望のものを間違いなく確実に読み取ることのできる材料試験機を提供する。 - 特許庁
  • The logical simulation execution part 4 executes logical simulation to the normal circuit and logical simulation to the failed circuit generated by the strength failure generation part 1 using the same test pattern 12 and outputs their simulation results 4a, 4b.
    論理シミュレーション実行部４は、正常回路に対する論理シミュレーションと、強度故障生成部１で生成された故障回路に対する論理シミュレーションとを同一のテストパターン１２を用いて実行し、それらのシミュレーション結果４ａ，４ｂを出力する。 - 特許庁
  • For foreigners in Tokyo and Yokohama, the authenticity test for the nibukin they handed in through ministers of each country started on the 23rd, and the officials succeeded in finishing on the same day in Tokyo, and even in Yokohama, which was the Japan's leading trading port, they managed to finish by the 25th.
    東京・横浜の外国人に対しては21日に各国公使を通じて提出させた二分金の検勘を23日より開始して、東京では同日中、日本屈指の貿易港であった横浜でも25日までに終わらせることに成功した。 - Wikipedia日英京都関連文書対訳コーパス
  • To provide an air conditioning device and a solenoid valve unit used for the same capable of improving airtightness while controlling generation of abnormal noise from electromagnetic open close valve and of preventing residual of gas used in an airtightness test.
    電磁開閉弁からの異常音の発生を抑制しつつ、気密性の向上を図ることができ、気密試験に用いられるガスの残留を防止することができる空気調和装置及びこれに用いられる電磁弁ユニットを提供する。 - 特許庁
  • In this case, the bonding reliability between the base board 1 and the silicon substrate 3 of the semiconductor component 2 can be improved in a temperature cycle test because of the same thermal expansion coefficient of the base board 1 and the silicon substrate 3 of the semiconductor component 3.
    この場合、ベース板１と半導体構成体３のシリコン基板３との熱膨張係数が同一であり、温度サイクル試験を行なっても、ベース板１と半導体構成体２のシリコン基板３との接合の信頼性を向上することができる。 - 特許庁
  • To substantially cut down an inspection cost by substantially shortening an inspection time in comparison with the past by digitally inspecting a D/A converter and a VCO integrated in a semiconductor chip at the same time, and to simplify a conventional test program for the inspection.
    半導体チップに内蔵されたＤ／ＡコンバータとＶＣＯをデジタル的に同時に検査することで、従来に比べて検査時間を大幅に短縮して検査コストを大幅に削減すると共に、従来の検査用テストプログラムを簡易化する。 - 特許庁
  • The echo waveform data are displayed on a screen by an A scope that is prescribed by a distance direction and echo height in the case of an ultrasonic flaw detection test, and at the same time are displayed on a screen by a B scope that is prescribed by a distance direction and a scanning direction.
    エコー波形データは超音波探傷試験の際の路程方向及びエコー高さで規定されたＡスコープで画面上に表示するとともに路程方向及び走査方向で規定されたＢスコープで画面上に表示される。 - 特許庁
  • The false magnetic plaster is stuck to and indwelled on the skin with the plaster and has a same external appearance, however, it has no magnetism so as to provide control data in the double blind test for providing a clinical evidence for the magnetic therapy.
    また、偽磁気絆創膏によれば、絆創膏により皮膚に貼り付けられて留置された状態で、外観は同じであるが、磁気を持たないので、磁気治療に臨床的エビデンスをもたらす二重盲検試験にてコントロールデータを得ることが可能となる。 - 特許庁
  • To provide a scintillator panel wherein the rates of sharpness degradation and singular faults are low in wetproof test with high luminance (light emission quantity) being maintained and there are less image non-uniformity and linear noise, and to provide a radiation flat panel detector using the same.
    輝度（発光量）を維持した状態で、耐湿試験での鮮鋭性の劣化率及び特異的な故障発生率が低く、画像ムラ及び線状ノイズが少ないシンチレータパネル及びそれを用いた放射線フラットパネルディテクターを提供する。 - 特許庁
  • The time counter 1 which has additional functions such as a compare function and has a multiple bit length is so constituted that a compare register part 3 constituting the additional functions and a time counter part 2 may be operated as counters of the same number of bits at the time of test.
    コンペア機能等の付加機能を有する複数ビット長のタイマカウンタ１は、テスト時には付加機能を構成するコンペアレジスタ部３をタイマカウンタ部２と同一ビット数のカウンタとして動作させることができるように構成されている。 - 特許庁
  • To provide a semiconductor integrated circuit in which an influence of phase noise of a sampling clock on transfer characteristics of a DAC and an ADC can be detected and the quality of a loop-back test can be improved, and to provide a method of testing the same.
    サンプリングクロックの位相ノイズがＤＡＣおよびＡＤＣの変換特性に与える影響を検出することができ、ループバックテストのテスト品質を向上させることができる半導体集積回路およびそのテスト方法を提供する。 - 特許庁
  • To provide a semiconductor integrated circuit wherein a test stabilization waiting time and easiness of trouble diagnosis are taken into consideration when a high-speed clock signal same to that in a usual operation for the semiconductor integrated circuit is generated in an inside, in response to an input clock.
    入力クロックに応じて、半導体集積回路の通常動作時と同じ高速なクロック信号を内部生成した場合のテスト安定待ち時間と故障診断の容易性を考慮した半導体集積回路を提供する。 - 特許庁
  • To provide an ultrasonic inspection device for rapidly and precisely determining defects such as exfoliation seen in a composite material without immersing a test body in water or coating it with a contact medium, and also to provide an inspection method using the same inspection device.
    試験体を水に浸したり、接触媒質を塗布することなく、複合材料にみられる剥離等の欠陥を迅速且つ精密に識別することが可能な超音波検査装置及びこの超音波検査装置を用いた検査方法を提供する。 - 特許庁
  • The chips having identical structures are laminated, hence this eliminates the need to manufacture a plurality of chip kinds having different structures and allows the same test to be conducted for all the chips, and since there is no need to consider the laminating order, the manufacturing cost can be reduced.
    同一構造のチップを積層するので、異なる構造のチップを複数種類製造する必要がなく、全てのチップに対して同じテストを行うことができ、積層する順番も考慮する必要がないので、製造コストを低減できる。 - 特許庁
  • To provide an integrated circuit for eliminating, in higher probability, an integrated circuit that is doubtful to generate an initial failure in the same step as for an ordinary wafer test and for improving quality of the integrated circuit without rise in cost of the integrated circuit.
    通常のウエハテストと同じ工程にて初期不良発生の疑いのある集積回路を高い確率にて除去でき、集積回路のコスト上昇なしに集積回路の品質を向上することのできる数積回路を提供する。 - 特許庁
  • A signal of a prescribed pattern is recorded on the center track out of three adjacent tracks in a test area while changing the recording power, and a signal of a prescribed pattern is recorded on tracks in both sides while changing the recording power at the same timing.
    テスト領域内の隣接する３トラックのうち中心トラックに記録パワーを変化させながら所定パターンの信号を記録し、両側に隣接するトラックに所定パターンの信号を記録パワーを同一タイミングで変化させながら記録する。 - 特許庁
  • A gain acquisition unit 200, in consideration of resonance gains due to the structural features and gains acquired through hearing test at the same time, reduces gain correction time periods and possible errors while optimizing individual performances.
    利得獲得ユニット２００は、このような構造的特徴によって発生した共鳴利得と聴力検査を通じて獲得した利得とを同時に考慮することで、利得補正時間と生じ得る誤差とを減少させつつ、個人別性能を最適化する。 - 特許庁
  • To provide an interface circuit capable of reducing its manufacturing cost and accurately performing functional test and debugging by reducing the number of input terminals from the exterior of a miniaturized semiconductor device, and provide a testing method and a debugging method using the same for the semiconductor device.
    小型化された半導体装置外部からの入力端子数を少なくし製造コストを抑制、かつ、機能テスト、デバッグを的確に行うことができるインターフェース回路及びそれを用いた半導体装置のテスト方法とデバッグ方法を提供する。 - 特許庁
  • To provide an optical disk evaluating apparatus in which a test in the same position of an optical disk can be repeated with simple constitution by obtaining a position at which a signal is recorded and reproduced by arithmetic operation based on address information recorded in the optical disk.
    光ディスクに記録されたアドレス情報に基づいて信号を記録および再生する位置を演算により求めることにより簡単な構成で光ディスクの同じ位置のテストを繰り返し行うことができる光ディスク評価装置を提供する。 - 特許庁
  • The semiconductor memory test device, which is configured to transfer failure data to the buffer memory from a fail memory, is provided with a failure counter part for counting the total number of failures for every page at the same time when failure data is transferred to a buffer memory.
    フェイルメモリからバッファメモリへフェイルデータを転送するように構成された半導体メモリ試験装置において、バッファメモリへのフェイルデータの転送と同時にページ毎の総フェイル数をカウントするフェイルカウンタ部を設けたことを特徴とするもの。 - 特許庁
  • To provide an adhesive silicone resin composition for sealing optical semiconductors, which is excellent in adhesiveness after a pressure cooker test, heat-resistant color stability, workability and curability, and can prevent thermal weight reduction, and to provide a sealed optical semiconductor product using the same.
    プレッシャークッカー試験後における接着性、耐熱着色安定性、作業性、硬化性に優れ、加熱減量を抑制できる接着性光半導体封止用シリコーン樹脂組成物、およびこれを用いる光半導体封止体の提供。 - 特許庁
  • To provide a board for mounting semiconductors, a method for manufacturing the same, a package using the same and a method for manufacturing the package usable for a small package with superior reliability, applicable to miniaturization and high density, and capable of preventing package cracks in reflow and an open and short circuit of a wiring conductor in a temperature cycling test.
    小型化、高密度化に対応可能で、かつ、リフロー時のパッケージクラック、及び温度サイクル試験時の配線導体の断線やショートを防止し、信頼性に優れる小型の半導体パッケ−ジに用いることのできる半導体搭載用基板とその製造方法、及びこれを用いた半導体パッケージ並びにその製造方法を提供する。 - 特許庁
  • To provide a device, method, and program for transmitting a program including test questions, capable of realizing test services by a broadcasting program and broadcasting a program for supplementary lessons concerning erroneous answers to the questions by an examinee, and to provide a device, method, and program for receiving the same.
    本発明は、学習試験サービスを放送番組により実現でき、受験者の誤った問題の解答について補習番組の放送を行うことのできる試験問題包含番組送信方法、試験問題包含番組送信装置および試験問題包含番組送信プログラムおよび試験問題包含番組受信方法、試験問題包含番組受信装置および試験問題包含番組受信プログラムを提供する。 - 特許庁
  • The processor is made to have a test circuit for detecting a hardware error in one of instruction sequencing logic, execution circuit and data storage during the function operation of the processor in response to an instruction in an instruction stream supplied by the instruction sequencing logic, and the hardware error is detected by comparing a value outputted by a redundant circuit for executing the same function in response to the test instruction.
    プロセッサに、命令シーケンシング・ロジックによって供給される命令ストリーム内の命令に応答して、プロセッサの機能動作中に、命令シーケンシング・ロジック、実行回路、およびデータ・ストレージの１つにおけるハードウェア・エラーを検出する試験回路をもたせて、試験命令に応答して同一の機能を実行する冗長回路によって出力される値を比較することによってハードウェアエラーを検出する。 - 特許庁
  • An inspection step for writing and reading a test signal while the positive and negative polarities are inverted by signal lines is carried out twice while the polarities of the test signal are changed, obtained voltages of respective pixels are extracted by the polarities, and the voltages having the same polarities are rearranged as to all the object pixels of the inspection and compared with expected values.
    信号線１本毎に正負極性を反転させてテスト用信号の書き込みと読み出しを行う検査ステップを、前記テスト用信号の極性を入れ替えて２回実行し、得られた各画素の電圧を極性毎に抽出して、検査対象となった全画素について同一極性の電圧が配置されるように並べ替え、この並び替えた同一極性の電圧と期待値とを比較するようにした。 - 特許庁
  • This luminescent BOD measuring method comprises adding a specified microorganism to test water and BOD reference solution by equal quantities, respectively, treating the respective resulting mixed solutions under the same condition, extracting the ATP contained in each mixed solution, adding a luminescent reagent to the extracted solutions to measure the ATP quantity, and mutually comparing the resulting ATP values to measure the BOD of the test water.
    検水およびＢＯＤ標準液に特定の微生物を等量ずつ加え、得られた各混合溶液を同一条件でそれぞれ処理した後、各混合溶液に含まれるＡＴＰを抽出し、それらの抽出液に発光試薬を加えてＡＴＰ量を測定し、得られたＡＴＰ値を対比して、検水のＢＯＤを測定することを特徴とする発光式ＢＯＤ測定方法により、上記の課題を解決する。 - 特許庁
  • To attach a metal stud and a sample while keeping the perpendicular relation, clamp the metal stud attached to the sample without causing slipping, and perform an adhesion evaluation test by a stud pull method having high replicability in the same sample, in a perpendicular tension type adhesion strength test machine for performing the stud pull method capable of easily evaluating the adhesion strength of a thin film.
    垂直引張型密着強度試験機に関し、薄膜の密着強度を簡便に評価できるスタッドプル法を実施する試験機に於いて、金属スタッドと試料とを垂直の関係を維持して取り付け、その試料に取り付けた金属スタッドを滑りを生じることなくクランプし、同一試料内で再現性が高いスタッドプル法による密着力評価試験を行うことを可能にしようとする。 - 特許庁
  • The system comprises a tester 14 for supplying a test pattern signal for analysis to the semiconductor integrated circuit device and at the same time holding the supply test pattern at given timing, an electron gun 15 for applying electron beams to the semiconductor integrated circuit device which being related to the hold, and a detector for taking in the potential contrast of the semiconductor integrated circuit device that is illuminated with the electron beams.
    このシステムは、前記半導体集積回路装置へ、解析のためのテストパターン信号を供給するとともに、前記供給テストパターン信号を所与のタイミングでホールドするテスタ１４と、前記ホールドに関連付けて、前記半導体集積回路装置に電子ビームを照射する電子銃１５と、前記電子ビームの照射された前記半導体集積回路装置の電位コントラストを取り込む検出器２３と、を具備する。 - 特許庁
  • An electrochemical sensor according to this method consists of a reference electrode and a test specimen, and reference electrodes 9 and test specimens 10 made of the same material to the component are arranged in a reactor core part 2, a primary loop recirculation system, and a feed water line.
    本発明方法における電気化学センサは基準電極と試験片との組み合わせからなり、炉心部２に基準電極９と構成材料と同一材質の試験片１０とが配置され、原子炉再循環系内に基準電極９と構成材料と同一材質の試験片１０とが配置され、給水経路に基準電極９と構成材料と同一材質の試験片１０とが配置される。 - 特許庁
  • To obtain a recording system for recording a desired user document and an advertisement of a sponsor on the same recording medium in which waste of the recording medium is minimized when a test pattern for detecting poor recording quality is outputted.
    ユーザが印刷を所望するユーザドキュメントとスポンサーによる広告とを同一の記録媒体に記録する記録システムにおいて、記録の品質不良を検出する為のテストパターン出力に対し、記録媒体の浪費を極力抑えることが可能な記録システムを提供する。 - 特許庁
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