「same test」を含む例文一覧(1147)

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  • It is possible to determine disconnection and short circuit at the same time and efficiently test the wiring in the matter of minutes by utilizing that the magnitude of a flowing current is different between in the disconnection and in the short circuit.
    また、断線時と短絡時とで流れる電流の大きさが異なることを利用して断線と短絡とを同時に判定することができ、短時間に効率よく配線の検査を行うことができる。 - 特許庁
  • Samples 11-1n are applied with currents of the same current value (j), while the voltage at both ends of resistors 21-2n at the start of the test is acquired by a voltage indicated with a voltmeter 6.
    サンプル１１〜１ｎには同じ電流値（ｊ）を持つ電流を流し、同時に、該試験開始時点における抵抗２１〜２ｎの両端の電圧を、電圧計６が示す電圧によって求めておく。 - 特許庁
  • Hitherto, a data bus line performing static operation is provided for a normal mod and a data bus line performing dynamic operation is provided separately for a test operation mode, but in this device, the same data bus line is used, static operation is performed in the normal operation mode, and dynamic operation is performed in the test operation mode.
    従来、通常モードのために、スタティック動作を行うデータバス線を設け、試験動作モードのために、ダイナミック動作を行うデータバス線を別に設けていたが、本発明では、同じデータバス線を用い、通常動作モードではスタティック動作をさせ、試験動作モードでは、ダイナミック動作をさせるようにする。 - 特許庁
  • An arbitrary region of a test piece 2 the same to a metal member constituting an actual machine plant is coated with a metal having a m.p. lower than that of the test piece 2 over an arbitrary range and, after welding heat is applied to the vicinity of the coated region, the coated region is cooled to generate a grain boundary stress corrosion crack within the range of the coated region.
    実機プラントを構成する金属部材と同じ試験体２の任意の部位に、この試験体２よりも低融点の金属を含む塗料を任意の範囲に亘って塗布し、この塗布部５近傍に溶接熱を加えた後、冷却させてその塗布部５範囲内に粒界応力腐食割れＣを発生させる。 - 特許庁
  • To obtain a flying test analysis device for reducing labor and time required for analysis in the analysis of the result of a flying test, at the same time reducing the missing of problems in terms of guided flying for analysis even without requiring any experience, and improving analysis quality.
    飛しょう試験の結果の解析において、解析に要する労力と時間を軽減できるとともに、誘導飛しょう上の問題点の見逃しを減らすことができ、熟練を要さずとも解析を行うことが可能で、かつ、解析の質の向上を図ることができる飛しょう試験解析装置を得る。 - 特許庁
  • By this setup, a contact probe 54 bears against either the pattern 50 belonging to the same net with the test lands 44 and 46 or the waste land 52 even if the contact probe 54 pressed against the test lands 44 and 46 reaches the printed wiring surfaces 20 and 22, breaking through the lands 44 and 46 and insulating base materials 32 and 34.
    これにより、テストランド４４，４６に押し当てられた接触針５４がテストランド４４，４６及び絶縁基材３２，３４をそれぞれ突き破って内層１２のプリント配線面２０，２２に達しても、この接触針５４がテストランド４４，４６と同一のネットに属するパターン部５０及び捨てランド５２の何れかに当接する。 - 特許庁
  • A color image forming apparatus is characterized in to include: a function of printing color adjustment test paper; and a function of scanning the color adjustment test paper printed by the printing function to obtain a present engine characteristic, and adjusting the color profile so as to obtain a printed matter with the same coloring as that at start of printing through the decision of the obtained present engine characteristic.
    カラー調整用テスト用紙を印刷する機能と、この機能により印刷されたカラー調整用テスト用紙をスキャンし、得られた現在のエンジン特性から判断して印刷開始時と同じ色合いの印刷物が得られるようにカラープロファイルを調整する機能とを有することを特徴とする。 - 特許庁
  • The transistor having an oxide semiconductor film treated by dehydration or dehydrogenation treatment by heat treatment, and treated by oxygen doping treatment in steps for manufacturing the same, can reduce the amount of change of a threshold voltage of the transistor even before and after a bias-thermal stress test(BT test), and have high reliability.
    熱処理による脱水化または脱水素化処理を行った酸化物半導体膜を含み、且つ、作製工程において酸素ドープ処理されたトランジスタは、バイアス−熱ストレス試験（ＢＴ試験）前後においてもトランジスタのしきい値電圧の変化量が低減できており、信頼性の高いトランジスタとすることができる。 - 特許庁
  • Thereby, when a same test writing region of the optical disk is used repeatedly in OPC operation, positions irradiated with the laser beam having high light emitting power are dispersed, consequently, deterioration of the test writing region can be delayed.
    これにより、ＯＰＣ動作で光ディスクの同じ試し書き領域を繰り返して使用するときに、試し書き領域内の同じ位置に常に発光パワーの高いレーザ光が照射されることがなく、発光パワーの高いレーザ光の照射される位置が分散され、その結果、試し書き領域の劣化を遅らせることができる。 - 特許庁
  • To provide an adhesive for circuit-member connection that allows alignment marks attached to a wafer to be highly recognizable in an uncured state and achieves excellent connection reliability when a semiconductor device is manufactured and a high-temperature and high-humidity test and a temperature cycle test are executed to the semiconductor device, and a semiconductor device using the same.
    未硬化状態において、ウェハに付されたアライメントマークの認識性が高く、かつ半導体装置を製造して、該半導体装置について高温高湿試験及び温度サイクル試験を行った場合に、優れた接続信頼性が得られる回路部材接続用接着剤、及びこれを用いた半導体装置を提供すること。 - 特許庁
  • When the result of the test for each internal level for each FU conversion is normal, information is input from outside the software (e.g. a screen or a batch) to the FU in the new language and the FU in the old language corresponding thereto, and a test for an external level as to whether the same behavior is performed or not is performed.
    各ＦＵ変換についての各内部レベルのテストの結果が異常無しであれば、新言語のＦＵとそれに対応する旧言語のＦＵに対して、ソフトウェアの外部（例えばスクリーン或いはバッチ）から情報を入力し同じ振舞いが行われたかどうかの外部レベルのテストが行われる。 - 特許庁
  • A multi probe card unit 100 is provided with a probe card 120 having probes on both surfaces and can simultaneously test a plurality of wafers by the contact between the pads of the wafers 300 respectively approaching one surface and the other surface of the probe card, and the probes, and the probe test device 500 is provided with the same.
    探針が両面に設けられるプローブカード１２０を備え、プローブカードの一面及び他面にそれぞれ接近するウェーハ３００のパッドと探針との接触により複数のウェーハを同時に検査できることを特徴とするマルチプローブカードユニット１００及びそれを備えたプローブ検査装置５００である。 - 特許庁
  • To solve the problem that in order to confirm water leakage from a wall surface of a building without the influence of a weather, it is necessary to sprinkle on the outer wall and to test the leakage, in such a sprinkling method, a sprinkling state becomes uneven, it is difficult to sprinkle under the same conditions and accurate leakage test or the like cannot be performed.
    天候に左右されずに建築物の壁面の漏水確認を行うためには、外壁に対して散水して漏水試験を行う必要があるが、このような散水方法では、散水状況にむらがでて、同一条件の散水を行うことが困難であり、正確な漏水試験等が行えない。 - 特許庁
  • A selector 5 selects the TDO(test data output) signal of the integrated circuit device to be inspected from among the test data (TDO signals), outputted from the TDO terminals of the integrated circuit devices 1, 2, 3 corresponding to the selection signal Ss supplied from the external inspection apparatus, to send the same to the external inspection apparatus.
    セレクタ５は、外部の検査装置から供給される選択信号Ｓｓに応じて、集積回路デバイス１，２，３の各ＴＤＯ端子からそれぞれ出力されるテストデータ（ＴＤＯ信号）の内、検査対象の集積回路デバイスのＴＤＯ信号を一つ選択して外部の検査装置へ送出する。 - 特許庁
  • Using an exclusive mask wherein test patterns having a same shape and a same size are plurally and repeatedly arranged in the mask blanks corresponding to the chip region, a resist pattern is formed by the processing procedure after the exposure processing of the photoresist on a product wafer changing a focal position for every shot.
    同一形状で且つ同一寸法のテストパターンがチップ領域に対応するマスクブランクス内で複数繰り返し配置された専用マスクを用いて、ショット毎にフォーカス位置を変えながら製品ウエーハ上のフォトレジストを露光処理し、現像処理してレジストパターンを形成する。 - 特許庁
  • When the tests for different addresses but the same in the value of a specified bit position result in failure determination continuously for a prescribed number of times, the determination results for the whole addresses of the same in the value of the specified bit position are made failure, and then, the test is not performed concerning the addresses.
    特定のビット位置の値が同一でありかつ異なるアドレスのテストで、連続して所定回数フェイルの判定結果が出たときは、その特定のビット位置が同じ値を取る全てのアドレスの判定結果をフェイルとし、そのアドレスについてはテストを行わないようにした。 - 特許庁
  • Equalizing the clock timing for reading data having been written in the memory in the failure detection mode with the clock timing for reading data having been bypassed to the flip-flop in the pseudo memory access mode can realize output of the same signal with the same timing, and thereby achieve commonality of test patterns.
    故障検出モードでメモリに書き込んだデータを読み出すクロックのタイミングと、擬似メモリアクセスモードでフリップフロップに迂回させたデータを読み出すクロックのタイミングを等しくすることにより、同じタイミングの同一の信号を出力することが可能になり、テストパターンを共通化することが可能になる。 - 特許庁
  • In the material designing device 100 for a thin film stock produced by continuous casting, a solidified structure obtained by a small-scale test by a casting apparatus 210 for a test is arranged by local temperature history obtained by performing casting simulation obtained by simulating the small-scale test, thus the specification of a large-scale continuous casting apparatus 220 for mass production capable of reproducing the same local temperature history is decided by casting simulation.
    連続鋳造によって製造される薄膜素材の材料設計装置１００において、試験用鋳造装置２１０による小規模試験で得られた凝固組織を、この小規模試験を模擬した鋳造シミュレーションを実施して得られた局所温度履歴で整理することによって、同一の局所温度履歴を再現し得る大規模な量産用連続鋳造装置２２０の仕様を、鋳造シミュレーションによって決定する。 - 特許庁
  • To perform simultaneously a test and replacement analysis for a plurality of memory circuits mounted on the same chip, and to suppress increment of additional circuits such as BIRA circuit to the absolute minimum for increment of the number of memory circuits.
    同一チップに搭載される複数のメモリ回路に対して同時にテストおよび置換解析を行うことができ、メモリ回路数の増加に対するＢＩＲＡ回路等の付加回路の増大を最小限に抑える。 - 特許庁
  • To provide an adhesion strength evaluation method of floor polish film capable of obtaining more objectively, comprehensibly, and speedily an adhesion strength of a floor polish film to a floor material, and a test tool for the same.
    フロアーポリッシュ皮膜の床材に対する密着強度がより客観的で分かりやすく、短時間で求めることができるフロアーポリッシュ皮膜の密着強度評価方法、及びそれ用の試験治具を提供する。 - 特許庁
  • In the case of correcting the outputs of two density detection sensors 55 arranged in a main scanning direction, test patches having the same density are formed on an intermediate transfer belt 5 corresponding to respective density detection sensors 55.
    主走査方向へ配置されている２つの濃度検知センサ５５の出力を補正する際には、各濃度検知センサ５５にそれぞれ対応する同一の濃度を有するテストパッチが中間転写ベルト５上に形成される。 - 特許庁
  • To provide a probe driving device which prevents an overload from being applied to a probe and a transmission shaft when the probe is caught in a test object tube, and an internal flaw detector including the same.
    検査対象管内でプローブが引っ掛かったときにプローブや伝達軸に過負荷が加わることを防止するプローブ駆動装置及びこの装置を備えた内挿型探傷装置を提供することを課題とする。 - 特許庁
  • A test circuit for semiconductor integrated circuits has a ring oscillation circuit having (2k+1: k being an integer of one or greater) pieces of inverters, and load circuits of the same impedance value are provided between the respective adjacent inverters, respectively.
    （２ｋ＋１：ｋは１以上の整数）個のインバータを具備したリング発振回路を有してなり、隣接するインバータの間に、各々、同一インピーダンス値の負荷回路が設けられてなる半導体集積回路用テスト回路。 - 特許庁
  • To provide a well reproducible method for manufacturing a hollow metal tube for a cracking test where metal crystals in a cracked part are virtually the same as those of parent metals before cracking is induced.
    き裂の部分の金属結晶が、き裂を導入する前の母相金属の金属結晶と実質的に同一であるき裂試験用中空金属管を、再現性良く製造することができる製造方法を提供すること。 - 特許庁
  • To provide a metalized polyimide film having an initial adhesion strength of 900 N/m or larger and an adhesion strength of 600 N/m or larger after a PCT test, and also to provide a method for manufacturing a flexible wiring board using the same.
    初期密着強度が９００Ｎ／ｍ以上を有し、ＰＣＴ試験後に密着強度が６００Ｎ／ｍ以上を有する金属化ポリイミドフィルム、及びそれを用いたフレキシブル配線板の製造方法の提供。 - 特許庁
  • To provide a probe card, and a method for testing an electronic circuit device using the same which can be used in a test of a wide range of electronic circuit devices, prevents probes from contacting and crossing each other, and is not affected by an electromagnetic wave.
    広範囲の電子回路デバイスの検査に使用でき、プローブ同士が接触、混線することがない、また、電磁波の影響を受けないプローブカード、及びこれを用いた電子回路デバイスの検査方法を提供。 - 特許庁
  • To provide an NOx sorption and reduction catalyst which has a high NOx sorption capacity even after a high-temperature durability test (750°C×5 hr), can sufficiently sorb NOx in a temperature range above 600°C, and can exhibit a high NOx reduction rate and to provide a method for using the same.
    750℃で５時間の高温耐久試験後にも高いNO_x 吸蔵能を有し、 600℃以上の高温域でもNO_x を充分に吸蔵できかつ高いNO_x 浄化率を示すNO_x 吸蔵還元型触媒とその使用方法を提供する。 - 特許庁
  • To provide a wafer-inspecting apparatus and a wafer-inspecting method that perform quality decision tests for deciding the acceptance and rejection of semiconductor chips, and a characteristic measurement test for checking more detailed electrical characteristics in the same wafer inspection apparatus.
    同一ウエハ検査装置で、半導体チップの合否判定を行う合否判定テストと、より詳細な電気的特性をチェックする特性測定テストとを実施するウエハ検査装置及び検査方法を提供する。 - 特許庁
  • To provide a fundus image corrected in the change of size of a taken image by the refraction abnormality of a test eye without complicating the device structure so that the comparison of the fundus image can be quantitatively performed on the basis of the same standard.
    装置構成を複雑にすることなく、被検眼の屈折異常による撮影画像の大きさの変化が補正された眼底画像が得られ、定量的に同一基準で眼底画像の比較ができる。 - 特許庁
  • To provide a living body adhesive mucous-membrane treating system with sustained release including at least one active ingredient exhibiting over 70% active ingredient solubility test for eight hours and a process for production of the same.
    ８時間に亘る７０％超の活性成分溶解性試験を具備する、少なくとも一種の活性成分を含む持続放出性の生体粘着性粘膜治療システム及びその製造方法の提供。 - 特許庁
  • In the case of performing a test after shipment, the laser diode 21 is emitted by the same light emitting power as that of shipment and the power Qt of transmitted light through the objective lens 22 and the current It of the laser diode 21 are measured.
    出荷後にテストを行う場合は、レーザダイオード２１を出荷時と同じ発光パワーＰｏで発光させ、このときの対物レンズ２２の透過光のパワーＱｔと、レーザダイオード２１の電流Ｉｔとを測定する。 - 特許庁
  • To provide a secondary battery system and a method of managing the same, wherein it is possible to easily determine the presence or absence of an anomaly in a battery pack or a discharge circuit and reliability is not impaired even in a case of service interruption immediately after the completion of a test.
    組電池や放電回路の異常の有無を簡易に判定することが可能で、しかも試験終了直後の停電に対する信頼性を損なわない二次電池システムおよび管理方法を提供する。 - 特許庁
  • To provide a channel data transmission method by which quick data transmission is possible, to provide a controller using the method, to provide a control object device, to provide a control system with the same, and to provide a charge/discharge test system.
    迅速なデータ伝送が可能なチャンネルデータ伝送方法とその方法を用いた制御装置、及び制御対象装置とそれらを備える制御システム、及び充放電試験システムを提供することを目的とする。 - 特許庁
  • Around the same time, he chastised a group of three tsujikiri (killing in the street to test a new sword) who appeared in the neighborhood of Shiba, and mediated between samurai of Aizu and Higo, who fought with real swords because the tip of a sheath hit the samurai.
    同じころ、芝近辺に出没する三人組の辻斬りを懲らしめたり、刀のこじりが当たったことが原因で真剣勝負の決闘に及んだ会津、肥後の侍を調停したりしている。 - Wikipedia日英京都関連文書対訳コーパス
  • To easily and quickly realize system environment setting work apt to be complicated such as the registration of the large amount of data to a data base at the change of a schema and system introduction and the repetitive registration work of the same data at the test of the system.
    スキーマ変更、システム導入時のデータベースへの大量データの登録やシステムテスト時の同一データの反復登録作業等の煩雑になりがちなシステム環境設定作業を容易かつ迅速に実現する - 特許庁
  • When the same test signal is inputted from a BIST controller 180 into each digital filter 150a-150c, existence of an abnormal circuit can be detected based on the comparison result by the comparator circuit 160a-160c.
    そして、ＢＩＳＴコントローラ１８０から各デジタルフィルタ１５０ａ〜１５０ｃに同一の試験用信号を入力すると、比較回路１６０ａ〜１６０ｃの比較結果を基に異常な回路の有無を検出することができる。 - 特許庁
  • To allow differentiation diagnosis between tuberculous and non- tuberculous acid-fast bacteriosises, and to easily test a large number of specimens in a short time by a single operation at the substantially same time.
    結核と非結核性抗酸菌症との鑑別診断ができ、短時間で容易に一回の操作で多数の検体をほぼ同時に検査することができる抗酸菌症鑑別用試薬および鑑別方法を提供する。 - 特許庁
  • Article 11 (1) No person may operate an aircraft unless it has a valid airworthiness certificate; provided, however, that the same shall not apply to any person when permitted performing test flights etc. by the Minister of Land, Infrastructure, Transport and Tourism.
    第十一条　航空機は、有効な耐空証明を受けているものでなければ、航空の用に供してはならない。但し、試験飛行等を行うため国土交通大臣の許可を受けた場合は、この限りでない。 - 日本法令外国語訳データベースシステム
  • A crystal orientation distribution of a member to be measured or a test piece collected from a measuring member of the metallic material, the crystal structure of which is the cubic system, is obtained in a same field of view before and after distortion (S4, S7).
    結晶構造が立方晶系である金属材料の被測定部材、あるいは測定部材より採取した試験片の同一視野における変形前と変形後の結晶方位分布を取得する（Ｓ４，Ｓ７）。 - 特許庁
  • A bar code label is pasted to an original specimen, and the base parts of the bar codes pasted to the test containers are the same as the bar code pasted to the original specimen or a bar code univocally created from the bar code pasted to the original specimen.
    元検体にもバーコードラベルが貼付され、試験容器に貼付されるバーコードの基本部分は、元検体に貼付されたバーコードと同一か又はこのバーコードから一義的に生成されるバーコードである。 - 特許庁
  • Pseudo remote controllers 110, 112 for TV and recorder are simultaneously displayed on the same screen of a PC 56 and on the basis of cooperative manipulations to the displayed pseudo remote controllers 110, 112, a test scenario is created.
    ＴＶ及びレコーダ用の擬似リモートコントローラ１１０，１１２をＰＣ５６の同一の画面上に同時に表示し、これら表示された擬似リモートコントローラ１１０，１１２に対する協働操作に基づいてテストシナリオを作成する。 - 特許庁
  • Also, there are a plurality of scan chains, and each scan chains is configured of the same number of latch circuits, and provided with the latch circuit for executing the scan test and the dummy latch circuit for arranging the number of the latch circuits configuring the scan chain.
    また、スキャンチェーンは複数存在し、それぞれ同数のラッチ回路にて構成され、スキャンテストを行うためのラッチ回路と、スキャンチェーンを構成するラッチ回路の数を揃えるためのダミーのラッチ回路とを備える。 - 特許庁
  • To test a device to be tested for outputting a plurality of modulation signals modulated by carrier signals of one and the same frequency or a device to be tested for outputting a plurality of baseband signals with a simple configuration.
    同一周波数のキャリア信号により変調された複数の変調信号を出力する被試験デバイスまたは複数のベースバンド信号を出力する被試験デバイスを、簡単な構成により試験する。 - 特許庁
  • To provide a toner carrier that has an elastic layer formed of a single layer, reduces damage to toner and improves toner-scraping property at the same time, and provides high-quality images in a duration test.
    単一の層からなる弾性層を有するトナー担持体において、トナーダメージの低減とトナー掻き取り性の向上とを両立させて、耐久時においても高画質の画像を得ることができるトナー担持体を提供する。 - 特許庁
  • To shorten test time while maintaining the determination results of respective devices even in parallel determination performed with output signals from the plurality of devices input into the same pin.
    テスト時間が短縮できると共に複数デバイスからの出力信号を同一ピンに入力して行う並列判定においても各デバイスの判定結果を保持することが可能な半導体試験装置を実現する。 - 特許庁
  • These expected value generating means are composed in the same connection mode as the blocks in the single chip circuit to generate expected values by using the input supply group A supplied from the test vector supply means A.
    そして、これらの期待値生成手段を、１チップ回路内のブロックと同一の接続形態となるようにし、テストベクタ供給手段Ａから供給される入力信号群Ａを用いて、期待値を生成する。 - 特許庁
  • For shortening the waiting time from voltage impression to the measurement of a current, a function of detecting a current converging state is provided in a DC measurement unit, and consequently, a minimum test time in the machine number by means of the same kind of tester can be realized.
    電圧を印加してから電流測定までの待ち時間を電流の収束具合を検出する機能をDC測定ユニットに負荷し、同一機種のテスターのその号機における最短のテストタイムを実現する。 - 特許庁
  • To provide a greaseproof agent excellent in greaseproof/waterproof property, and having a strong greaseproof effect on a ruled line in forming on a container, and has reduced amount of elution in elution test, and to provide a greaseproof paper using the same.
    本発明は、耐油・耐水性が優れ、容器に形成した場合も罫線耐油強度が強く、溶出試験時には、溶出量が少ない耐油性薬剤とそれを用いた耐油紙を提供することを目的とする。 - 特許庁
  • To provide a measurement device capable of using the same probe card and a performance board, in an electrical characteristics test of an individual chip and a semiconductor chip in a wafer state, which relates to a semiconductor inspection apparatus of a wafer-level CSP.
    ウエハーレベルＣＳＰの半導体検査装置に関して、個片チップとウエハー状態の半導体チップの電気的特性試験において、同一のプローブカードとパフォーマンスボードが使用できる測定装置を提供する。 - 特許庁
  • To provide a testing device for tire vibrational characteristic with which the user can measure the vibrational characteristic of a tire to be tested from low-frequency vibrations to 100-500 Hz road noise in the same test by only using the device.
    一つの試験装置を用いて、低周波振動から１００〜５００Ｈｚのロードノイズにいたる試験タイヤの振動特性を同一の試験で計測することのできるタイヤ振動特性試験装置を提供する。 - 特許庁
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