「same test」を含む例文一覧(1147)

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  • To provide a liquid crystal display device which is capable of preventing a touch defect and gravity defect and has a stable structure resistant to a push test, a method for manufacturing the same and spacer structure of the display device.
    タッチ不良及び重力不良を防止するとともに、押圧テストに耐えられる安定的な構造を有する液晶表示装置及びその製造方法、並びに表示装置のスペーサー構造を提供する。 - 特許庁
  • To avoid a functional processing executing operation instruction for every individual device by executing the same functional processing, such as updating of firmware or the like and test printing, in a plurality of devices selected on a network.
    ネットワークで選択された複数のデバイスに対してファームウエア等の更新や、テストプリント等の同一の機能処理を実行させて、個々のデバイス毎に対する機能処理実行操作指示を回避することである。 - 特許庁
  • To provide a diagnostic method dispensing with reloading a test pattern after diagnosis, and capable of shortening the time required from the finish of the diagnosis to the start of mass production, and to provide a semiconductor testing device that uses the same.
    診断後に試験パターンを再ロードする必要がなく、診断終了から量産開始までにかかる時間を短縮することが可能な診断方法及びこれを用いた半導体試験装置を実現する。 - 特許庁
  • The defective memory cell is detected by continuing dummy read operation on the same memory cell immediately after write operation on the memory cell with an internal clock signal having a frequency increased with respect to a test mode clock signal responsive to each write access request issued according to a test pattern, and surely simulating the worst case.
    テスト・パターンにより発行される各ライト・アクセス要求に応答して、テスト・モード・クロック信号に対して増加された周波数を有する内部クロック信号を使用して、メモリ・セルに対してライト動作直後に、同一のメモリ・セルに対してダミー・リード動作を続け、最悪の場合の状況を確実にシミュレートして、欠陥メモリ・セルを検出する。 - 特許庁
  • This microcomputer is provided with a reference signal generation circuit for generating a reference signal in a predetermined cycle, and a checking signal in the same cycle as that of the reference signal is generated by a test program, and the reference signal is compared with a collation signal generated in the program, and the comparison result is outputted, and for the error decision, the test program is erased.
    所定周期の基準信号を発生させる基準信号発生回路を有し、この基準信号と同じ周期の照合信号を試験プログラムで発生させ、基準信号とプログラムで発生させた照合信号とを比較し、比較の結果を出力し、エラー判定の場合は試験プログラムを消去するマイクロコンピュータの試験方法。 - 特許庁
  • In the method of measuring the total amount of alkali in hardened concrete, the total amount of alkali in the concrete specimen is measured by subtracting an alkaline elution value in an acid dissolution test with respect to the same aggregate specimen used for the concrete, from an alkaline elution value in an acid dissolution test by means of formic acid with respect to the concrete specimen.
    硬化コンクリート中のアルカリ総量測定方法において、コンクリート試料に対するギ酸による酸溶解試験におけるアルカリ溶出値から、前記コンクリートに使用されている同一骨材試料に対する酸溶解試験におけるアルカリ溶出値を差し引くことにより、前記コンクリート試料中のアルカリ総量を測定する。 - 特許庁
  • In a manufacturing method of a three dimensional object which molds the three dimensional object in the shape of a layer by the solidification of a shaping material, test piece 20 is molded in the same molding space with target three dimensional object 3, after the finalization of molding, the test piece is excited, mechanical vibration is produced, and further, the natural frequency of the vibration is measured.
    造形材料の固化により三次元物体を層状に造形する三次元物体の製造方法において、目的とする三次元物体３と共に、同じ造形空間内で試験片２０が造形され、造形完了後、前記試験片は励振され、機械的振動を生じさせ、さらに、前記振動の固有振動数が測定される。 - 特許庁
  • To precisely and rapidly repeat a drop test for a number of test piece on an object to be tested or a number of the objects by the same shock loading by preventing a steel ball from hitting the objects two times regarding a drop testing apparatus for testing by dropping the steel ball from a specific height onto the object.
    本発明は、鋼球を所定の高さから被試験体上に落下させて試験を行う落下試験装置に関し、被試験体への鋼球の２度当りを防止し、被試験体上の多数の試験物あるいは多数の被試験体に同じ衝撃加重による落下試験を精度良くかつ迅速に繰り返し行うことを目的とする。 - 特許庁
  • Replica output buffers 120, 121 having the same input output characteristic as that of an output buffer 180 respond to a leading of a TEST signal generated by a test pulse generating circuit 110, raises an output signal at a slew rate in response to a voltage of an SL_SET signal and falls down the output signal at a slew rate in response to a voltage of a CNT signal.
    出力バッファ１８０と同一の入出力特性を有するレプリカ出力バッファ１２０、１２１は、テストパルス生成回路１１０が生成したＴＥＳＴ信号の立ち上がりに応答し、ＳＬ＿ＳＥＴ信号の電圧に応じたスルーレートで出力信号を立ち上げ、ＣＮＴ信号の電圧に応じたスルーレートで出力信号を立ち下げる。 - 特許庁
  • This test program development device is provided with: the input sheet 1 of a spreadsheet format inputted with the test condition in cell units; a display part 90 wherein a text editor screen 3 displaying the source file is displayed on the same screen; and an event monitoring part 30 reflecting editing contents of one in the other between the input sheet and the text editor screen.
    セル単位でテスト条件が入力される表計算様式の入力シート１と、ソースファイルを表示するテキストエディタ画面３が同一画面上に表示される表示部９０と、これら入力シートとテキストエディタ画面の相互間で一方の編集内容を他方に反映させるイベント監視部３０、を設けたことを特徴とするもの。 - 特許庁
  • Further, this testing method is used to calculate non-elastic strain produced in the maximum strain part of the solder joint structure when a heat cycle within a predetermined temperature range is received to impart the same non-elastic strain to a test piece to obtain the thermal fatigue evaluation method of the solder joint structure substituted for a cold heat environment test.
    さらに、この試験方法を用いて、所定温度範囲での熱サイクルを受けた時に前記はんだ接合構造体の最大歪部に生じる非弾性歪を計算により求めて、これと同じ非弾性ひずみを試験片に付与することで、冷熱環境試験に代替するはんだ接合構造体の熱疲労評価方法を得る。 - 特許庁
  • This tester is provided, in a case 3, with: a light source 4 for radiating light; and a reflection type prism 7 for irradiating the hologram provided for the test object located on the lower side with the light from the light source 4 and for introducing light reflected from the hologram in different directions to refract them to the upper side being the same direction or nearly the same direction.
    光を照射するための光源４と、この光源４からの光を下方に位置する被検査物に備えたホログラムに照射し、かつ、該ホログラムからの異なる方向の反射光を取り込んで同一方向又はほぼ同一方向となる上方へ屈折させるための反射型プリズム７とをケース３に備えた。 - 特許庁
  • The control program 64 has the same function as a control program built in the control device and also a function imitating so as to obtain a same control result as a result in a case where the IC test device and the control device are connected in accordance with a control demand C1, and then outputs the control result as a control result notice C2.
    制御プログラム６４は、制御装置に内蔵の制御プログラムと同機能を持つほか、制御要求Ｃ１に従い、ＩＣ試験装置及び制御装置が接続されているのと同じ制御結果を得るように模倣する機能を有し、この制御結果を制御結果通知Ｃ２として出力する。 - 特許庁
  • In general, it is publicly known that, by adding compound X and compound Y to the non-steroidal type anti-inflammation drugs, the pain threshold value can be increased to the same degree as the invention of the present application and the duration time of the effect can also be extended to the same degree as the invention of the present application in a test for painkiller functions.
    一般に、非ステロイド系消炎鎮痛薬に化合物 Xと化合物 Yを加えることにより、鎮痛作用試験において疼痛閾値を本願発明と同程度に上昇させることができ、作用持続時間についても本願発明と同程度に延長することができることは公知である。 - 特許庁
  • A potential applied to a plate line side electrode of a ferroelectric capacitor of the memory cell and a potential applied to a bit line are made the same by providing a plate line signal control circuit 28, thereby inputting the same signal to bit lines and plate lines of each memory cell when a semiconductor memory device is set to a stress test mode.
    半導体記憶装置がストレス試験モードに設定されるとき、各メモリセルのビット線とプレート線とに同じ信号を入力するプレート線信号制御回路２８を設けることにより、当該メモリセルの強誘電体キャパシタのプレート線側電極にかかる電位とビット線にかかる電位を同一にする。 - 特許庁
  • The test pattern TP formed when initializing is constituted of a pair of line segments L1 and L2 inclined at the same angle in opposite directions while putting a line orthogonal to the moving direction of a paper conveying belt 6 in between as shown by (C).
    イニシャライズ時に形成されるテストパターンＴＰが、（Ｃ）に示すように、用紙搬送ベルト６の移動方向に直交する直線を挟んで相反する方向へ同じ角度で傾斜した一対の線分Ｌ１，Ｌ２から構成されている。 - 特許庁
  • The circuit is provided further with a control signal selecting register 113 capable of controlling, from the external terminal, the directional control signal supplied from the test-objective block 202, and the registers 106, 113 are connected respectively on the same scan chain.
    さらに、テスト対象ブロック２０２から供給される方向制御信号を外部端子から制御可能な制御信号選択用レジスタ１１３を備え、レジスタ１０６、１１３をそれぞれ同一スキャンチェーン上で接続する。 - 特許庁
  • A bit node operating means 11, when the reliability α is updated, calculates and updates the reliability β of each bit node corresponding to all non-zero elements belonging to the same row as that of elements of the test row of the updated α.
    ビットノード演算手段１１は、信頼度αが更新された場合、αの更新された検査行列の要素と同じ列に属するすべての非零要素に対応する各ビットノードについて信頼度βを算出し更新する。 - 特許庁
  • To provide a performance evaluation test machine capable of testing by causing the same elliptic distortion of outer wheel and a weight load state as the state caused in an actual machine of bearing for a planetary gear support, and obtaining highly reliable data.
    遊星歯車支持用軸受の実機で起きる状態と同様な外輪楕円変形および荷重負荷状態を生じさせて試験することができて、信頼性の高いデータを得ることのできる性能評価試験機を提供する。 - 特許庁
  • To provide a semiconductor memory which can easily and accurately discriminate a contact state of an external terminal by same simple timing as that in normal operation without adding an exclusive terminal for test after mounting a semiconductor chip on a board.
    半導体チップをボードに実装後、専用の試験用端子を追加しなくても、通常動作と同じ簡易なタイミングによって、容易に精度良く、外部端子のコンタクト状態を判定することができる半導体記憶装置を提供する。 - 特許庁
  • To provide a wind tunnel test apparatus capable of cooling sample gases discharged from a gas generating source to a desired temperature (for example, -162°C) and also of reproducing behavior of the gas same as leakage of actual LNG.
    ガス発生源から吐出される試料ガスを所望の温度（例えば、−１６２℃）にまで冷却することができるとともに、実際のLNGの漏洩と同じガスの挙動を再現することができる風洞試験装置を提供すること。 - 特許庁
  • To provide a configuration capable of implementing a voltage application test and to protect voltage between gates and sources of FETs from overvoltage, in a semiconductor integrated circuit including a plurality of FETs of the same conductive type connected in series in a load electrification route.
    負荷通電経路中に直列接続された同一導電型の複数のＦＥＴを備えたものにおいて、電圧印加テストを実施可能な構成を備えるとともに各ＦＥＴのゲート・ソース間を過電圧から保護する。 - 特許庁
  • To provide a semiconductor device that can reduce the size of a package, and at the same time can improve reliability in a test, and to provide a method for manufacturing the semiconductor device that can be tested without requiring any pins for external output.
    パッケージサイズを縮小化出来、または同時にテストの信頼性を向上できる半導体装置を提供すること、及び外部出力用のピンを必要とせずにテストできる半導体装置の製造方法を提供することにある。 - 特許庁
  • To shorten the transmission time of parameters to respective semiconductor devices to be tested in a semiconductor device testing apparatus setting parameters of different values to individual semiconductor devices to be tested to test a plurality of the semiconductor devices to be tested at the same time.
    被試験半導体デバイスの各個に異なる値のパラメータを設定して同時に複数の被試験半導体デバイスを試験する半導体デバイス試験装置において、各被試験半導体デバイスにパラメータを転送する時間を短縮する。 - 特許庁
  • To provide a digital data arithmetic unit that enables minimum testing terminals and a test on a peripheral circuit as an external interface with the same normal signal transmission path and timing by a simple structure.
    テスト用に設ける端子を最小限にするとともに、簡単な構成で外部とのインターフェイスを司る周辺回路のテストを通常時と同じ信号伝達経路及びタイミングで行うことができるデジタルデータ演算装置を提供する。 - 特許庁
  • The apparatus includes a controller which, during performing an arbitrary recording, controls, when the rear end of a sheet leaves the upstream-side conveyor, a rotating position of the drive-side roller of the downstream-side conveyor is the same as when the test pattern is recorded.
    任意の記録を行う際、シート後端が上流側搬送手段を抜ける時の下流側搬送手段の駆動側ローラの回転位置が、テストパターンを記録するときと同じになるように制御する制御手段を備える。 - 特許庁
  • To provide an LED light source for test, capable of preventing unevenness in illuminance and color of illumination light, and to provide a solar cell evaluation device capable of accurately evaluating output characteristics of solar cells by the same.
    照射光の照度ムラや色ムラの発生を抑えることができる試験用ＬＥＤ光源とこれを用いて太陽電池の出力特性を高精度に評価することができる太陽電池評価装置を提供すること。 - 特許庁
  • To make evaluatable the durability by applying the loads of compression stress and tensile stress in three axial directions at the same time to perform a strength and acceleration test.
    三軸方向に圧縮応力及び引張応力の負荷を同時にかけて、強度及び促進試験を行い、耐久性の評価ができるコンクリート等の耐久性評価試験装置及びその耐久性評価方法を提供する。 - 特許庁
  • (i) Rockets or equipment or tools (including molds; hereinafter the same shall apply in this Article)for the manufacture of rockets capable of transporting payloads weighing 500 kilograms or more for 300 kilometers or more, test equipment, or components thereof
    一　ロケット又は五〇〇キログラム以上のペイロードを三〇〇キロメートル以上運搬することができるロケットの製造用の装置若しくは工具（型を含む。以下この条において同じ。）、試験装置若しくはこれらの部分品 - 日本法令外国語訳データベースシステム
  • To realize a dry-etching method capable of obtaining wafers having stable performance even if a plurality of the wafers are subjected to processing in a case of etching a laminated gate and ensuring the same result with a case of using actual wafer samples even when dummy wafers are used in a continuous test.
    積層ゲートをエッチングする場合において、複数枚処理しても安定な性能が得られ、また、連続試験を行う際にＳｉダミーウェーハを用いても実ウェーハサンプルを流す場合と同様な結果が得られるようにする。 - 特許庁
  • To provide a test circuit that detects a poor contact system when an element exists around a contact and can specify a contact with an open failure, and to provide a method of detecting and evaluating a contact failure using the same.
    コンタクト周辺に素子が存在する場合のコンタクト系不良が検出できるとともに、オープン不良となっているコンタクトを特定できるテスト回路およびそれを用いたコンタクト不良の検出評価方法を提供する。 - 特許庁
  • To provide an optotype presenting apparatus which, even when changing the background luminance of optotypes, prevents the background luminance of the optotypes falling outside a range permissible for a visual acuity test and achieves easy adjustment even where a plurality of apparatuses are adjusted to have almost the same luminance.
    視標の背景輝度を切換える場合でも、視力検査で許容される範囲から外れることなく、複数の装置の輝度を略同一に切換える場合にも調整が容易な視標呈示装置を提供する。 - 特許庁
  • To provide an electron beam-curing composition for forming an adhesive sheet, excellent in the balance between the transparency of a cured material and the yellowing degree after the light resistance test, and excellent in rework properties and level difference conformability; and to provide an adhesive sheet obtained from the same.
    硬化物の透明性と耐光性試験後の黄変度のバランスに優れ、リワーク性及び段差追従性に優れる粘着シート形成用電子線硬化型組成物、及び当該組成物から得られた粘着シートの提供。 - 特許庁
  • Since a trimmed image and information such as the print condition are displayed on the same surface, the setting operation of the print condition is made efficient, and the number of test printing times is reduced to decrease amount of use of the photosensitive material.
    また、トリミング画像とプリント条件等の情報とが同じ面に表示されるため、プリント条件の設定作業の効率化を図ることができ、試し焼きの回数を減らして感光材料の使用量を削減する。 - 特許庁
  • Also, the control section generates the screen data in which the test pattern to be displayed on each the changeover screen is moved and disposed at the different display position at every time when the screen is switched, and changes the display position of the same on each the changeover screen.
    また、各切替画面においてその画面上に表示するテストパターンを、画面を切り替える毎に移動させて異なる表示位置に配置した画面データを生成し、各切替画面に亘ってその表示位置を変化させる。 - 特許庁
  • In order to form the color adjusting characteristic curve and/or the process adjusting characteristic curve, a computer 5 for ascertaining image forming data having the function of a test pattern and/or transmitting the same is provided to the pre-printing stage 1.
    色調整特性データおよび／またはプロセス調整特性データを生成するために、印刷前段階１には、テストパターンの役目をする画像形成情報をつきとめるおよび／または転送するコンピュータ５が備えられている。 - 特許庁
  • To provide a test facilitation circuit settled without proportioning an increase in the number of pins of a tester 90 with the number K of a DUT side output appropriable terminals even in the case that the number of the same measurement L is increased, and to provide the tester.
    同測数Ｌを増加させた場合であってもテスタ９０のピン数の増加をＤＵＴ側の出力専用端子の数Ｋに比例させずに済むことができる試験容易化回路およびテスタ等を提供する。 - 特許庁
  • In this case, the molding material having a hysteresis of shearing and heating is supplied to the molding material storage section at the set temperature and set pressure, so that the consumption of the test strip can be evaluated under the same conditions as the real machine.
    この場合、剪断加熱の履歴を有する成形材料が、設定温度及び設定圧力で成形材料収容部に供給されるので、実機と同じ条件下で試験片の損耗を評価することができる。 - 特許庁
  • The inspecting device 17 displays respective patterns corresponding to gradations expressed by a high-order bit and the low-order bit of a video signal for a test pattern recorded in an inner memory 17a on the same screen.
    検査装置１７は、内部メモリ１７ａに記録されたテストーパターン用映像信号の上位ビットにより表現される階調に対応したパターンと、下位ビットにより表現される階調に対応するパターンを同一画面上に表示する。 - 特許庁
  • A pattern generator 4 repeatedly impresses the same test pattern to a DUT 2 via a driver 6, and power source current values measured in those times are turned into digital signals in a signal conversion circuit 8a so as to be supplied to an equalizing unit 8b.
    パタン発生器４からドライバ６を介してＤＵＴ２へ同一テストパタンを繰り返し印加し、そのとき測定された電源電流値を信号変換回路８ａでディジタル信号として平均化処理部８ｂへ供給する。 - 特許庁
  • To provide an ionizing radiation-curable resin composition that has glare-proof property, hard coat property, adhesiveness, particularly has excellent adhesiveness with substrate and antifouling property after the radiation-proofing test, and to provide laminate using the same.
    本発明の目的は、防眩性、ハードコート性、密着性、特に、耐光性試験後の基材との密着性および防汚性に優れた電離放射線硬化性樹脂組成物、及びそれを用いた積層体を提供することにある。 - 特許庁
  • In a first forming mask which forms a charged particle beam, a rectangular opening for test with smaller auxiliary holes for monitoring the expansion of irradiating angle distribution is formed outside an opening having the same rectangular shape as an the ordinary rectangular opening different from the ordinary rectangular shape.
    荷電粒子線を成形する第１の成形マスクに通常矩形開口とは別に、同一矩形開口の外側に放射角分布の拡がりをモニタする小さ目の補助孔付きのテスト用矩形開口を併設する。 - 特許庁
  • A change-over switch 25 is installed to the control voltage supplying path from the constant-voltage control circuit 24 of a charging circuit 20 to a transistor 23 for converting voltage and, at the same time, a test switch control means 18d is installed to a control circuit 18.
    充電回路２０の定電圧制御回路２４から電圧変換用トランジスタ２３への制御電圧供給路に切替スイッチ２５を設けるとともに、制御回路１８にテストスイッチ制御手段１８ｄを設ける。 - 特許庁
  • An advertisement area 27 is recorded in advance of a user document area 29 on the same recording medium 11 as the user document area 29 and then a test pattern is recorded in the advertisement area 27 or a space area 28 contiguous thereto.
    ユーザドキュメント領域２９と同じ記録媒体１１で、ユーザドキュメント領域２９に先立って広告領域２７を記録し、広告領域２７の内部あるいはこれに隣接した空白領域２８にテストパターンを記録する。 - 特許庁
  • The false acupuncture is stuck to and indwelled on the skin, and has a same external appearance to that of the real one, however, it is prevented from sticking into the skin so as to provide control data in the double blind test for providing a clinical evidence for the acupuncture therapy.
    偽鍼によれば皮膚に貼り付けられて留置された状態で、外観は同じであるが、皮膚には刺さらないので、鍼灸治療に臨床的エビデンスをもたらす二重盲検試験にてコントロールデータを得ることが可能となる。 - 特許庁
  • To provide a device and a method for appropriately evaluating a battery by piling up an all solid battery manufactured by piling up battery members and test pieces of the battery members on the same substrate.
    本発明は、電池部材の堆積によって製造する全固体電池およびその電池部材の試片を同一基板上に堆積することにより、電池を適切に評価する装置と評価方法を提供することを目的とする。 - 特許庁
  • To provide a door handle testing device that tests a door handle by cutting out only a portion surrounding the door handle from a vehicle door and applying the same acceleration as used in a crash test to see whether a handle part of the door handle rotates in an opening direction.
    自動車のドアからドアハンドル付近のみを切り出して衝突試験と同じ加速度を与え、ドアハンドルのハンドル部分が開き出し方向に回動するか否かを試験するようにしたドアハンドル試験装置を提供する。 - 特許庁
  • To prevent increase in a scan shift time along with the number of F/F mounted on a plurality of IP circuits for suppressing increase of a price per a chip when a scan test is carried out on a plurality of IP circuits mounted on the same chip.
    同一チップ上に搭載された同一の複数のIP回路のスキャンテストを行う際、複数のIP回路に搭載されるF/F 数に依存してスキャンシフト時間が増大することを抑制し、チップ単価の高騰を抑制する。 - 特許庁
  • Dummy scribing is performed as long as a discriminated distance d1, while keeping the scribing wheel at the same rotation angle as that at the finish time of the test scribing, and scribing is performed while keeping the scribing wheel at a rotation angle just after the dummy scribing.
    スクライビングホイールをテストスクライブの終了時と同一の回転角度を保ちつつ判別された距離ｄ１分だけダミースクライブを行い、スクライビングホイールについてダミースクライブの直後の回転角度を保ちつつスクライブする。 - 特許庁
  • The test wafer is manufactured and designed, such that the end face of the edge and a surface within 0.3 mm from the end face of the edge are made of the same material up to a depth of at least 10 nm, and thus the surface of the edge has stable electrical characteristics.
    このテストウエハは、エッジ部端面とこのエッジ部端面から０．３ｍｍ以内の表面が１０ｎｍ以上の深さまで同じ材料であるように製造設計し、これによりエッジの表面の電気特性を安定にさせる。 - 特許庁
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