「same test」を含む例文一覧(1147)

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  • To provide a semiconductor transfer tray for tests capable of collectively handling a plurality of semiconductors (IC packages etc. ) during the tests and provide a burn-in board using the same, an inspection apparatus for burn-in tests, a burn-in test method, and a semiconductor manufacturing method.
    複数の半導体（ＩＣパッケージ等）を試験中一括して取り扱えるようにした試験用の半導体搬送トレイ、これを用いたバーンインボード、バーンイン試験用の検査装置及びバーンイン試験方法並びに半導体の製造方法を提供する。 - 特許庁
  • This method for assaying the proportion of the saccharified protein comprises carrying out the following steps (1) to (3) in the same reaction vessel: (1) determination of the protein in the test solution; (2) protease-treatment of the protein; and (3) determination of the saccharified protein by using an enzyme acting on a saccharified amino acid.
    次の1)〜3)の工程を同一反応槽中で行うことよりなる糖化タンパク質の割合の測定方法; 1)被検液中のタンパク質の定量、2)該タンパク質のプロテアーゼ処理、及び、3)糖化アミノ酸に作用する酵素を用いた糖化アミノ酸の定量。 - 特許庁
  • Based on the recorded information on the color charts, image signals for displaying the test pattern in which the color charts of the respective specifications arranged with a predetermined array on a same screen are generated, and the color charts are displayed on the television receiver 30 by the image signals.
    そして、記録されたカラーチャートの情報に基づいて、各規格のカラーチャートを同一画面上に所定の配列で並べたテストパターンを表示させる映像信号を生成させ、その映像信号によりテレビジョン受像機３０にカラーチャートを表示させる。 - 特許庁
  • To actualize a semiconductor memory evaluator for reducing the time for defect examination and defect analysis on semiconductor memories, by classifying test fail information on the semiconductor memories by segment to execute defect analysis and defect classification, and to actualize a defect analysis method which uses the same.
    半導体メモリのテストフェイル情報をセグメントごとに分類し、不良解析及び不良分類を実行して半導体メモリの不良調査及び不良解析時間を低減する半導体メモリ評価装置及びそれを用いた不良解析方法を実現する。 - 特許庁
  • To provide an antidazzle antireflection film satisfying optical characteristics such as the widening of viewing angle and the enhancement of definition and remedying degradation in the surface hardness or chemical resistance after endurance test, and to provide a polarizing plate using the same, and an image display device.
    本発明の目的は、広視野角化や高精細化といった光学特性を満足し、且つ耐久性試験後の表面硬度や耐薬品性の低下を改善した防眩性反射防止フィルム、それを用いた偏光板、画像表示装置を提供することにある。 - 特許庁
  • A semiconductor integrated circuit device DUT 640 is provided with probe light pulse and reference pulse during each repetition cycle of the electric test pattern signal applied repeatedly, for guiding the same optical path as to sample the electric waveform on the DUT.
    半導体集積回路デバイス（ＤＵＴ６４０）に繰り返し印加する電気的テストパターン信号の各反復サイクル期間中に、プローブ光パルスおよび基準光パルスを供給して、ＤＵＴ上の電気的波形をサンプリングするように同一光路を導く。 - 特許庁
  • The constant temperature bath is formed as an approximately rectangular box by a double wall structure including an inner wall 31, an outer wall 32, and a heat insulating material 33 between the inner wall 31 and the outer wall 32, and at the same time, a main body 2 zoning and forming a test chamber 35 with the inner wall 31 is provided.
    内壁３１及び外壁３２と、その内外壁３１，３２の間の断熱材３３とを含む二重壁構造によって略矩形の箱型に形成されると共に、内壁３１によって試験室３５が区画形成された本体２を備える。 - 特許庁
  • Since a large number of the works are stagnated in the temperature tank 3 by feeding the works as the pallet stack 20 and brought to a predetermined temperature at the same time, the works reaching the predetermined temperature can be sent out to the current passing test position B at a short interval.
    パレット積層体２０として搬送することによって大量のワークを温度槽３内に滞留させ、複数のワークを同時に所定の温度にできるので、所定の温度に到達したワークを短い間隔で通電試験位置Ｂに送り出すことができる。 - 特許庁
  • To provide a radio transmitter emulator for achieving the consistency between evaluation of radio communication using simulation and evaluation of radio communication using a signal generating section for actually providing RF signals to a radio transmitter, and to provide a radio test system using the same.
    シミュレーションによる無線通信の評価と、無線通信機に実際にＲＦ信号を与える信号発生部を用いた無線通信の評価との同一性を図った無線送信機エミュレータおよびこれを用い無線試験システムを実現することにある。 - 特許庁
  • Meanwhile wooden farming equipment (wooden rice ear cutting tool) that was used for the same application was also found, but the test in Nishinomiya City Folk Museum showed that when wooden rice ear cutting tool like ishi-bocho was used, work efficiency was reduced by only several times of harvesting.
    なお同様の用途に用いられた木製農具（木製穂摘具）も発見されてはいるが、西宮市立郷土資料館の実験では石包丁のような形状の木製穂摘具の場合に、僅か数回の刈り入れで作業効率が低下することが示されている（）。 - Wikipedia日英京都関連文書対訳コーパス
  • To provide a method which reduces a lead content and lead elution amount in lead-containing combustion ash and the like at the same time, respectively specified in the test methods in Notification No.19 and 18 of the Ministry of the Environment based on the Soil Contamination Countermeasures Law.
    鉛を含む燃焼灰等について、土壌汚染対策法による環告第１９号試験法で規定される鉛の含有量及び環告第１８号試験法で規定される鉛の溶出量を同時に低減する手段を提供することにある。 - 特許庁
  • To provide a device of testing the dynamic balance and/or uniformity of a tire with a wheel, which can conduct a test in substantially the same number of steps as that when testing a single kind of a tire, even when testing a plurality kinds of tires significantly different in terms of hub hole diameter.
    ハブ穴径が大幅に異なる複数種類のタイヤを試験する場合であっても、単一種類のタイヤを試験する場合とほとんど変わらない工数で試験を実施可能な、ホイール付きタイヤの動釣合および／またはユニフォーミティ試験装置を提供する。 - 特許庁
  • Each of the optical sensors 3 is equipped with a light emitting element 31 for projecting detection light 33 on the edge part 82 of the upper end opening of each of the test tubes 8, and a light detecting element 32 for detecting the reflected light 34 of the detection light 33 from the edge part 82 to subject the same to photoelectric conversion.
    光学センサー３は、試験管８の上端開口の縁部８２に検出光３３を投光する発光素子３１と、検出光３３が縁部８２で反射した反射光３４を受光し、光電変換する受光素子３２とを備えている。 - 特許庁
  • The completion of the test cycle is determined by measuring the time period of at least the same length as the longer time required for detecting the normal operation of the system to be monitored and the malfunctional operation of the system to be monitored.
    テストサイクルの完了は、被監視システムの正常動作を検出するために必要な時間と、被監視システムの動作不良を検出するために必要な時間の、より長い方の時間と少なくとも同じ長さの期間を時間計測することによって判断される。 - 特許庁
  • To provide a rack mounted distribution panel unit which is enables enlargement of the installation space of equipment within an equipment housing rack by housing a distribution panel unit and a receptacle unit in the same cabinet, and which improves workability at the time of carrying out insulation test.
    分電盤ユニットとコンセントユニットを同一筐体内に収納したことにより機器収納用ラック内の取り付けスペースを大きくすることができ、また、絶縁測定を行うの際の作業性を向上するラックマウント型分電盤ユニットを提供する。 - 特許庁
  • A workpiece is subjected to test machining of the number of holes smaller than that upon actual machining, a first deviation between the position of each hole and an objective position is measured, and a reverse characteristic filter as data deviated by the same deviated amount to the direction opposite to the first deviation is created.
    被加工物に実加工時より少ない数の孔をテスト加工し、それらの孔の位置と目標位置との間の第１のずれ量を測定し、第１のずれ量の反対方向に同じ量だけずらしたデータである逆特性フィルタを作成する。 - 特許庁
  • To allow a switch for a withstand voltage test to be additionally installed in an interrupter body for a ground-fault interrupter with an outside size unified into the same size as that a wiring circuit breaker without changing various kinds of functional components regularly installed in a conventional product nor a layout.
    外形サイズを配線用遮断器と同サイズに統一した漏電遮断器を対象に、在来製品に標準装備されている各種機能部品，レイアウトを変更せずに、遮断器本体に耐電圧テスト用スイッチを追加装備できるようにする。 - 特許庁
  • To provide the subject test method increasing the absolute quantity of damage by erosion while expanding the difference of damage quantity between material qualities and capable of accurately comparing and evaluating the erosion resistance of many kinds of refractory samples at the same time.
    耐火物の回転ドラム侵食試験方法において、侵食による損傷の絶対量を増加させるとともに、材質間の損傷量の差を拡大し、同時に多種類の耐火物試料の耐食性を精度よく比較評価できる試験方法を提供すること。 - 特許庁
  • To provide a semiconductor memory device that applies voltage to a plurality of transistors at the same time and reduces time for a reliability test in the semiconductor memory device which is configured by connecting in series a plurality of memory cells configured with ferroelectric capacitors and transistors.
    強誘電体キャパシタ及びトランジスタから構成されるメモリセルを複数直列に接続して構成される半導体記憶装置において、複数のトランジスタに同時に電圧を印加して、信頼性試験の時間を短縮する半導体記憶装置を提供する。 - 特許庁
  • In LT previous-state return mode, a signal LTB goes up to 'H' level and the N channel MOS transistor 47 turns on; and then the same state as a state wherein none of the fuses 48 to 51 is cut is entered and the internal source potential intVCC returns to the level at wafer test time.
    ＬＴ前状態復帰モード時は、信号ＬＴＢが「Ｈ」レベルになってＮチャネルＭＯＳトランジスタ４７が導通し、ヒューズ４８〜５１が全く切断されていない状態と同じ状態になって内部電源電位ｉｎｔＶＣＣがウェハテスト時のレベルに戻る。 - 特許庁
  • To perform a water-pressure test after the piping of water supply equipment or the like is executed without detaching the cut-off valve provided to the terminal of the piping to certainly perform the same over the whole of the water supply equipment inclusive of the cut-off valve.
    給水設備等の配管施工後に行う水圧テストを、配管の末端に設けられた止水弁を取り外すことなく行うことができるようにして、当該止水弁を含めて給水設備全体に亙って、確実にテストを行うことができるようにする。 - 特許庁
  • A signal generator 22, which is disposed at a predetermined distance d2 away from an incoming line 3 and generates a test signal with the same frequency as that of a power line-carried signal and an antenna 11 for measurement, having the know gain output transmission power at a lawful power level.
    引込線３から所定の距離ｄ２を隔てて配置され、電力線搬送信号と同じ周波数の試験信号を発生する信号発生器２２および既知の利得の測定用アンテナ１１は、合法的な電力レベルの送信電力を出力する。 - 特許庁
  • To provide an antireflective film with which no tint such as interference unevenness is produced, which is excellent in scratch resistance and adhesiveness, and which, in particular, has excellent scratch resistance and adhesiveness even after light resistance test; and to provide a polarizing plate, and an image display device using the same.
    本発明の目的は、干渉むらのような色味発生がなく、耐擦傷性や密着性に優れ、特に耐光性試験後も優れた耐擦傷性や密着性を有する反射防止フィルム、これを用いた偏光板、画像表示装置を提供することにある。 - 特許庁
  • To provide a flexible electronic endoscope device that detects the business end position of an insertion part flexible tube inserted into a body without radiation exposure to remember and store it to enable to easily confirm that how the same position state in the body is changed compared with last time to perform high-level diagnosis when the same person undergoes an endoscope test again in the days that follow.
    体内に挿入された挿入部可撓管の先端の位置を放射線被爆なしに検出してそれを記憶、保存し、後日になって同じ人が再び内視鏡検査を受ける際に、体内の同じ位置の状態が前回と比較してどのように変化しているかを容易に確認して高レベルの診断を行うことができる可撓性電子内視鏡装置を提供すること。 - 特許庁
  • At the time of a gradation selection operation, different potentials IN, INb are inputted in each of the input lines 131, 132, different potentials are outputted from the output lines 142, 141 and at the time of the stress test, the same potential is outputted from both of the output lines 142, 141.
    階調選択動作時には、入力ライン１３１，１３２のそれぞれに異なる電位ＩＮ，ＩＮｂが入力され、出力ライン１４２，１４１から異なる電位が出力され、ストレステスト時には、出力ライン１４２，１４１の両方から同じ電位が出力される。 - 特許庁
  • In the test piece creating process, a planar rubber base material 5 made of the same rubber composition as the tread rubber 2 is adhered to a backing material 6 which is attached to one surface 5a of the rubber base material 5 and a made of a material having smaller thermal shrinkage than the rubber base material 5 by vulcanization.
    前記試験片作成工程は、前記トレッドゴム２と同一のゴム組成物からなる板状のゴム基材５と、該ゴム基材５の一方の面５ａに添着されかつ前記ゴム基材５よりも熱収縮率が小さい材料からなる裏当て材６とを加硫により接着する。 - 特許庁
  • A VCAT transmission apparatus 10 copies a test signal of a pseudo-random bit sequence, performs control so as to insert the same PRBS signal to each member of a VCAT signal, and transmits each member of the VCAT signal to which the PRBS signal is inserted to an opposing apparatus via a plurality of transmission paths.
    ＶＣＡＴ伝送装置１０は、擬似ランダムビット系列のテスト信号をコピーし、ＶＣＡＴ信号のメンバにそれぞれ同一のＰＲＢＳ信号を挿入するように制御し、ＰＲＢＳ信号が挿入されたＶＣＡＴ信号の各メンバを複数の伝送路で対向装置に送信する。 - 特許庁
  • In concrete, the method for measuring the difference in resistance force is characterized by that it includes steps of driving the two objects under test simultaneously under the same conditions, measuring a change including the moment and/or resistance force occurring on the two objects, and evaluating at least the difference in the resistance force.
    具体的に、本発明の抵抗力差測定方法は、二つの被試験物を同時に同一条件で駆動し、該二つの被試験物に生ずるモーメント及び／または抵抗力を含む変化を計測し、少なくとも抵抗力差を評価したことを特徴とする。 - 特許庁
  • This test chart 40 consists of a character pattern and a background pattern, the character pattern is printed in a medium tone color using black (K) ink, and the background pattern is printed in the same medium tone color as that of the character pattern by adjusting blending three ink colors in total C(cyan), M(magenta), and Y(yellow).
    このテストチャートは、文字パターンと背景パターンとから構成され、文字パターンは、Ｋ（墨版）のインクを用いた中間色で印刷し、背景パターンは、Ｃ（シアン），Ｍ（マゼンタ），Ｙ（イエロー）計３色のインクの配合を調整することにより、文字パターンと同一の中間色で印刷する。 - 特許庁
  • To provide a non-volatile semiconductor memory in which time for verifying write-in is omitted by suppressing the increment of a write-in time caused by the increment of the parallel number of write-in by multiple-write-in and outputting the test result of write-in to the outside as it is in the same way as in automatic write-in.
    マルチ書込みによる書込み並列数の増加による書込み時間の増加を抑制し、かつ自動書込みと同様に書込みの検査結果をそのまま外部出力することにより、書込みベリファイの時間を省略するようにした不揮発性半導体記憶装置を提供する。 - 特許庁
  • To provide a semiconductor device and a method of testing the same, wherein a test mode entry can easily and securely be performed without making circuits in the semiconductor device large in scale nor lowering the degree of integration without reference to whether the semiconductor device is a synchronous type or an asynchronous type.
    本発明は、半導体装置及びその試験方法に関し、半導体装置が同期型であるか非同期型であるかに関わらず、半導体装置内の回路を大規模化及び集積度の低下を招くことなく、簡単、且つ、確実にテストモードエントリを行うことを可能とすることを目的とする。 - 特許庁
  • To provide such a polyimide film that the film itself has enough environmental stability, although the film has a high alkaline etching speed, and further the film retains peel strength in a high percentage after an aging treatment test, and to provide a metallic laminate sheet given by using the same.
    アルカリエッチング速度の早いポリイミドフィルムであるにもかかわらず、フィルムそのものに充分な耐環境安定性があるフィルムを提供すること、さらに、エージング処理試験後のピール強度の保持率が高いポリイミドフィルム、それを用いた金属積層板を提供するこも目的とする。 - 特許庁
  • To provide a simple and safe printing test method of a gravure ink for evaluating the quantity of a gravure ink without causing whitening even under high humidity condition in a manufacturing site of the gravure ink which is a dangerous object manufacturing factory and a printing testing machine used for the same.
    本発明は、危険物製造所であるグラビアインキの製造現場において、高湿度下においてもブラッシングを起こすことなく、グラビアインキの品質を評価するための簡便かつ安全な印刷試験方法と、その方法に用いる印刷試験機を提供することを課題とする。 - 特許庁
  • To provide a radio receiver emulator for achieving the consistency between evaluation of radio communication by a simulation side and evaluation of radio communication using a signal receiving section for actually receiving RF signals outputted from a radio communication device, and to provide a radio test system using the same.
    シミュレーション側による無線通信の評価と、無線通信機の出力したＲＦ信号を実際に受信する信号受信部を用いた無線通信の評価との同一性を図った無線受信機エミュレータおよびこれを用いた無線試験システムを実現することにある。 - 特許庁
  • To provide a semiconductor integrated circuit, a semiconductor integrated circuit design method and a semiconductor integrated circuit design program capable of reducing the number of test patterns with respect to a semiconductor integrated circuit including an internal clock domain having data path dependency operated in the same frequency.
    同一の周波数で動作するデータパス依存関係を有する内部クロックドメインを含む半導体集積回路に対して、テストパターン数を削減することができる半導体集積回路、半導体集積回路設計方法及び半導体集積回路設計プログラムを提供すること - 特許庁
  • of official test or guarantee signs which are used in Austria or pursuant to an announcement published in the Federal Law Gazette (Section 6 par 2) - in a foreign state, for the same goods or services the trade mark is intended for, or for similar goods or services,
    公的な検査用又は保証用の標識であって，オーストリアにおいて，又はBGBlに発表される告示(第6条(2))によって定められる外国において，商標の使用予定対象と同一の商品若しくはサービス又は類似の商品若しくはサービスについて使用されているもの - 特許庁
  • To provide a semiconductor tester equipped with a means for applying the data of an HIFIX adapting condition to individual HIFIX itself in HIFIX equipped with constitution for measuring a plurality of DUTs at the same time to enable the test control corresponding to the mounted HIFIX.
    複数個のＤＵＴを同時測定する構成を備えるＨＩＦＩＸにおいて、個々のＨＩＦＩＸ自体にＨＩＦＩＸ適用条件の情報を付与する手段を備えて、装着されるＨＩＦＩＸに対応した試験管理を可能とする半導体試験装置を提供する。 - 特許庁
  • By inputting information data such as the addresses of particular components 12 to 15 inside the satellite 1 via the stub cable 100 and the bus interface connector 10, the ground test unit 2 can control the satellite 1 to the same level as a data processing computer 11.
    地上試験装置２はスタブケーブル１００及びバスインタフェースコネクタ１０を経由して人工衛星１内部の特定のコンポーネント１２〜１５のアドレス等の情報データを入力することで、人工衛星１に対してデータ処理計算機１１と同等の制御が可能である。 - 特許庁
  • To provide a ceramic wiring board for a probe card, which provides small position deviation between a probe pin provided on a ceramic wiring board for a probe card and a measuring pad formed on the surface of a Si wafer, and is used in electric characteristics inspection favorably during a thermal load test, and also to provide a probe card using the same.
    熱負荷試験時において、プローブカード用セラミック配線基板に設けられたプローブピンとＳｉウエハの表面に形成された測定パッドとの位置ずれが小さく、電気特性の検査に好適に使用できるプローブカード用セラミック配線基板とこれを用いたプローブカードを提供する。 - 特許庁
  • To provide a test coupon for measuring characteristic impedance capable of recognizing and managing dispersion of characteristic caused mainly by a finish difference between the maximum and the minimum of distances between adjacent wires, and saving space of a printed board, and to provide a printed board including the same.
    隣接配線間隔の最大および最小による仕上がり差が主要因となって生じる特性インピーダンスのばらつきの把握および管理、ならびにプリント基板の省スペース化が可能な特性インピーダンス測定用テストクーポンおよびそれを有するプリント基板の提供。 - 特許庁
  • To provide a device mounted wafer for which an energization test of each device formed thereon can be reliably performed in an on-wafer state even if the wafer is a bonded wafer, to provide a device chip that can be reliably tested for energization in an on-wafer state, and to provide a method of manufacturing the same.
    張り合わせウェーハであっても、その上に形成された各デバイスをオンウェーハ状態で確実に通電検査を行うことができるデバイス搭載ウェーハの提供、オンウェーハ状態での通電検査を確実に行うことができるデバイスチップ及びデバイスチップの製造方法の提供を課題とする。 - 特許庁
  • To provide a wiring board for a probe card and the probe card using the same which, in a heat load test, has a small position displacement between a measuring terminal disposed on the wiring board for the probe card and a measuring pad formed on the surface of a Si wafer and can be suitably used for electrical characteristics inspection.
    熱負荷試験時において、プローブカード用配線基板に設けられた測定端子とＳｉウェハの表面に形成された測定パッドとの位置ずれが小さく、電気特性の検査に好適に使用できるプローブカード用配線基板とこれを用いたプローブカードを提供する。 - 特許庁
  • To provide a telegram message recording apparatus capable of executing a reproduction test of occurrence of a failure by performing retransmission in the same timing as actual distribution intervals, performing high speed retransmission at short telegram message intervals for a part which is not required to be faithfully reproduced to efficiently perform simulation.
    実際の配信間隔と同じタイミングで再送を行って、障害発生の再現テストを実施できると共に、忠実に再現する必要がない部分については短い電文間隔で高速再送して、効率的にシミュレーションを行うことができる電文収録装置を提供する。 - 特許庁
  • To provide an adapter for a device of loading an explosive and a filling which is simple and capable of preventing an unforeseen accident such as blasting of a main dynamite due to excessive air pressure, without requiring a simulation test using the explosive and the filling, and to provide a method of loading the explosive and the filling using the same.
    爆薬及び込め物を用いた模擬試験を要することなく、過大な空気圧により親ダイが爆破するような不測の事態に到ることを防止できる簡易な爆薬及び込め物の装填装置用アダプター及びそれを用いた爆薬及び込め物の装填方法を提供する。 - 特許庁
  • The gain of plural sets of data of plural kinds of information relating to a state of the image forming apparatus is performed during an operation test after the manufacture of a plurality of image forming apparatuses, with regard to a plurality of the image forming apparatuses of the same type containing the image forming apparatus as a state discrimination object.
    画像形成装置の状態に関連した複数種類の情報の複数組のデータの取得を、状態判定対象の画像形成装置を含む同じ機種の複数の画像形成装置について、その複数の画像形成装置の製造後の稼働テスト中に行う。 - 特許庁
  • A switching circuit 11 for writing data '1' in the same memory cell by swapping bit line data after reading data '0' is provided between the pair of bit lines BL, BBL and the sense nodes BLSA, BBLSA to write test data if all '1'.
    対をなすビット線ＢＬ，ＢＢＬと第１及び第２のセンスノードＢＬＳＡ，ＢＢＬＳＡとの間には、オール“１”のテストデータを書き込むために、“０”データ読み出しを行った後のビット線データをスワッピングして同じメモリセルに“１”データを書き込むための切り換え回路１１が設けられている。 - 特許庁
  • To provide a dynamic load-testing device for eliminating the need for incorporating a spindle unit into the machine and exchanging a work and for testing the dynamic load of a rotor extremely easily and economically, and at the same time performing the dynamic load test while a load is being applied for a long time.
    主軸ユニットの本機への組み込みやワークの交換が不要で、非常に容易に、かつ経済的に回転体の動的負荷試験を行うことができるとともに、長期間負荷を加えた状態で動的負荷試験をすることも可能な動的負荷試験装置を提供する。 - 特許庁
  • A semiconductor memory test device is newly added with a CPU 2, which is dedicated to conduct a defect analysis, a second defect analysis memory 8, which has a same constitution of a first defect analysis memory 7, and switching multiplexers 5 and 6 which mutually switch the two CPUs 1 and 2 and the two defect analysis memories 7 and 8.
    半導体メモリ試験装置に、不良解析専用のＣＰＵ２、第１不良解析メモリ７と同じ構成をもつ第２不良解析メモリ８、２個のＣＰＵ１、２および２個の不良解析メモリ７、８を相互に切換える切換用マルチプレクサ５、６を新たに追加する。 - 特許庁
  • While specification of the subject and collection and analysis of the expired gas is carried out sequentially on a plurality of conveyed expired gas vessels 10, a pair of analysis results are combined with each other for performing determination when a pair of analysis results consisting of results after and before test reagent medication on the same subject is obtained.
    搬送されてくる複数の呼気ガス容器１０に対し、順次、被検者の特定および呼気ガスの採取・分析を行いつつ、同一の被検者の検査試薬投与前・後における一対の分析結果が得られたら、該一対の分析結果を組み合わせて、判定を行う。 - 特許庁
  • DEVICE, METHOD, AND PROGRAM FOR RECEIVING PROGRAM INCLUDING TEST QUESTIONS, AND DEVICE, METHOD, AND PROGRAM FOR TRANSMITTING SAME
    学習試験問題包含番組受信装置、学習試験問題包含番組受信方法および学習試験問題包含番組受信プログラムならびに学習試験問題包含番組送信装置、学習試験問題包含番組送信方法および学習試験問題包含番組送信プログラム - 特許庁
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