「same test」を含む例文一覧(1147)

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  • In a test in which the same value is written in a plurality of memory cells and written data is read out again and it is tested whether the data is surely written and read out or not.
    複数のメモリセルに同じ値を書き込みその書き込んだデータを再び読み出して、正確に書き込まれ読み出されるかをテストする試験がある。 - 特許庁
  • To facilitate a chip evaluation test, at the same time, to ensure security regarding information leakage, and, in addition, to prevent noise from the outside in actual operation.
    チップ評価テストの容易性と、情報漏洩に関するセキュリティの確保を両立させることができ、かつ実動作時に外部からノイズを受けない。 - 特許庁
  • To increase the number of chips, which are in parallel, and to efficiently test semiconductor chips on a wafer by testing wafer levels at the same time without using a CS signal.
    ＣＳ信号を用いずにウェハレベルのテストを同時に行うことを可能とし、チップの並列数を増やして効率よくウェハ上の半導体チップをテストする。 - 特許庁
  • To provide a semiconductor module in which a plurality of semiconductor memories included in the module can be shifted to a test mode and a semiconductor memory used for the same.
    モジュールに含まれる複数の半導体記憶装置をテストモードへ移行可能な半導体モジュールおよびそれに用いる半導体記憶装置を提供する。 - 特許庁
  • After you are certain that everything on the test machine is working properly, use the same procedure to install the new software on each of the other machines in the build set.
    テストマシンにあるものすべてがちゃんと動いている確信が得られたら、同じ手順でビルドセットの他のマシンにも新しいソフトウェアをインストールします。 - FreeBSD
  • (xxv) Materials or equipment used in reducing the level of the reflection or emission of acoustic waves (including ultrasound; hereinafter the same), electromagnetic waves, or light, or test equipment therefor
    （二十五）　音波（超音波を含む。以下同じ。）、電波若しくは光の反射若しくは放射を減少させる材料若しくは装置又はこれらの試験装置 - 日本法令外国語訳データベースシステム
  • The multi-display test device 101 simultaneously displays each performance evaluation element received via the maintenance communication cable 109 on the same display section.
    このマルチ表示試験装置１０１は、メンテナンス通信ケーブル１０９を介して受信した各性能評価要素を同一の表示部に同時に表示する。 - 特許庁
  • Negative pressure acts on the support surface 2C from a large number of through-holes 11B to suck the test piece 3 to fix the same to the front 11A of the inspection jig 1.
    多数の貫通孔１１Ｂから支持面２Ｃに負圧が作用して、試験片３は検査用治具１の前面１１Ａに吸引されて固定される。 - 特許庁
  • To provide a test traveling method and device for an inspection pig capable of running at the same speed as that at the time of running during pipeline inspection in actual work.
    実工事におけるパイプライン検査での走行と同等の速度での走行を可能とする検査ピグのテスト走行方法及び装置を提供する。 - 特許庁
  • An ultrasonic wave is transmitted from a transmitting element 20 (21) provided on one side of a test object, and a reflected wave thereof is received by a receiving element 30 (31) on the same side.
    試験体の一側に設けた送信子２０（２１）から超音波を送信すると共に同側の受信子３０（３１）で反射波を受信する。 - 特許庁
  • When a test mode is commenced, a control information call means 222 calls even the control information recorded in the remaining regions and displays the same.
    そして、テストモードに入ったときに、制御情報呼出手段２２２は、前記残りの領域に記録された制御情報も呼び出して表示させる。 - 特許庁
  • To attain excellent operation and different tests of a plurality of electric devices wirelessly-controlled in an ordinary way installed in the same test room.
    同一の試験室内に設置され、通常無線制御された複数の電気装置の良好な運転の異なるテストの実施を同時に可能にすること。 - 特許庁
  • To provide a low-temperature engine testing apparatus capable of achieving the maintenance of the inner environment of a low-temperature test room and control of the wall deterioration at the same time.
    低温試験室の内部環境の維持と壁の劣化の抑制を同時に達成することができるエンジンの低温試験装置を提供する。 - 特許庁
  • The container 6 and 7 contain the exhalation gases that one and the same testee gives off separately before and after taking a reagent for the test, respectively, in that order.
    第１呼気ガス容器６および第２呼気ガス容器７には、それぞれ、同一の被検者における検査試薬投与前・後の呼気ガスを収納する。 - 特許庁
  • After a burn-in test is carried out, the temporary wiring 30 is melted by heating to be cut off, and solder bump electrodes are formed on the wafer 1 at the same time.
    バーンイン試験後に仮配線３０を加熱溶融し、それによって仮配線３０を切断すると同時に、ウェハ１上に、はんだバンプ電極を形成する。 - 特許庁
  • To provide a method of evaluation and test which is high in reproducibility of conditions and high in reliability in evaluating the difficulty in flawing of a spectacle lens and an apparatus for the same.
    眼鏡レンズの傷つき難さを評価する際、条件の再現性が高く、信頼性の高い評価試験方法およびその装置を提供する。 - 特許庁
  • To perform a calibration with high precision even when the calibration is performed by printing test charts respectively on the back surface and the front surface of the same printing medium.
    同一の印刷媒体の裏面と表面にそれぞれテストチャートを印刷してキャリブレーションを行う場合でも、精度の高いキャリブレーションを実施する。 - 特許庁
  • To calculate the phase difference between two signal waveforms under test having the same period, even with waveform distortions, without using the FFT operation.
    同一周期を有する２つの被測定信号波形間の位相差を、波形歪みがある場合でもＦＦＴ演算によることなく算出可能とする。 - 特許庁
  • When arrangement of the connector 6 is same, a test for the CSP 5 different in an external form is possible by adjusting the fixing part 32.
    さらに、接続子６の配置が同じであれば、外形が異なっているＣＳＰ５に対しても、側部固定部３２を調整することにより、テストすることができる。 - 特許庁
  • To facilitate inspections in an inspection institution while turning a game machine to be sold and the game machine for a trial hitting test to be brought into the inspection institution to the same constitution.
    販売する遊技機と検査機関へ持ち込む試射試験用の遊技機とを同一構成としつつ、検査機関での検査を容易にする。 - 特許庁
  • To provide an electrode pattern testing method that can test an electrode pattern of a PDP(plasma display panel) and other FPDs(flat panel display) having the same structure with high accuracy.
    ＰＤＰやその他同様の構造を持つＦＰＤの電極のパターン検査を精度良く行うことができる電極パターン検査方法を提供する。 - 特許庁
  • Next, the flaw detection is performed to the object for inspection of the actual flaw for correction by the same test frequency to acquire the phase PT of the flaw signal of the actual flaw for correction.
    次に補正用実キズの被検査体を同じ試験周波数により探傷して補正用実キズのキズ信号の位相ＰＴを取得する。 - 特許庁
  • IMMUNOCHROMATOGRAPHIC CONJUGATE PAD CONTAINING FLUORESCENT PARTICLE AND COLORED PARTICLE AS MARKER PARTICLE, AND IMMUNOCHROMATOGRAPHIC TEST STRIP AND INSPECTION METHOD USING THE SAME
    標識粒子として、蛍光粒子と着色粒子とを含有するイムノクロマト法用コンジュゲートパッド、それを用いたイムノクロマト法用テストストリップおよび検査方法 - 特許庁
  • At the same time, the information on the setting voltage of the test program is utilized, thereby supplying an optimal voltage without requiring a power source control operation.
    且つ、テストプログラムの設定電圧の情報を利用しているため、電源制御の操作を要することなく、最適な電圧を供給することができる。 - 特許庁
  • To provide a dielectric ceramic in which a ceramic particle constituting a dielectric layer is made small-sized and even the thickness of grain boundary layer is controlled, a method for manufacturing the same, a multilayer electronic component having improved reliability in a high temperature load test and a humidity load test obtained by using the dielectric ceramic, and a method for manufacturing the same.
    誘電体層を構成するセラミックス粒子の小径化とともに、粒界層の厚みまでも制御した誘電体セラミックスとその製法、並びにそれを用いて、高温負荷試験および湿中負荷試験での信頼性を高めることのできる積層型電子部品およびその製法を提供する - 特許庁
  • Two optical fibers 6, 7 are installed in parallel under the same environment, and the same test light is allowed to enter the optical fibers and B-OTDR measurement is performed, to thereby find Brillouin frequency shifts of each fiber 6, 7.
    ２本の光ファイバ６，７を同じ環境下で並列に設置し、これらの光ファイバに同じ試験光を入射してＢ−ＯＴＤＲ測定を行い、各ファイバ６，７のブリルアン周波数シフトを求める。 - 特許庁
  • A series of batch tests was carried out to test the hypothesis that the same enzymes are used to attack chlorophenols with the same position-specific dechlorination reactions, resulting in competition between these compounds.
    位置特定の同じ脱塩反応において，同じ酵素が塩化フェノールを攻撃するために使われ，これらの化合物の間に競合反応をもたらす，という仮説をテストするために一連のバッチ試験が行われた。 - 英語論文検索例文集
  • A series of batch tests was carried out to test the hypothesis that the same enzymes are used to attack chlorophenols with the same position-specific dechlorination reactions, resulting in competition between these compounds.
    位置特定の同じ脱塩反応において同じ酵素が塩化フェノールを攻撃するために使われ，これらの化合物の間に競合反応をもたらす，という仮説をテストするために一連のバッチ試験が行われた。 - 英語論文検索例文集
  • A series of batch tests was carried out to test the hypothesis that the same enzymes are used to attack chlorophenols with the same position-specific dechlorination reactions, resulting in competition between these compounds.
    位置特定の同じ脱塩素化反応において，同じ酵素が塩化フェノールを攻撃するために使われ，これらの化合物の間に競合反応をもたらす，という仮説をテストするために一連のバッチ試験が行われた。 - 英語論文検索例文集
  • A series of batch tests was carried out to test the hypothesis that the same enzymes are used to attack chlorophenols with the same position-specific dechlorination reactions, resulting in competition between these compounds.
    位置特定の同じ脱塩反応において，同じ酵素が塩化フェノールを攻撃するために使われ，これらの化合物の間に競合反応をもたらす，という仮説をテストするために一連のバッチ試験が行われた。 - 英語論文検索例文集
  • The test piece is composed of a steel material which is the same or the same quality as the boiler pipe, an oxide film is formed on its surface, and one or a plurality of pitting corrosion starting point parts 1 which have removed the oxide film partially are formed.
    ボイラ配管と同一または同質の鋼材からなり、その表面に酸化皮膜を設けるとともに、この酸化皮膜を部分的に除去した孔食起点部を１または複数設けたものを試験片とする。 - 特許庁
  • When an operation program is selected by an external operation, the operation program is read and when a hardware functional test program is selected, the hardware functional test program is selectively read from the ROM 1 and executed by a microprocessor at the operation program and the hardware functional test program are stored on the same ROM 1 and the ROM 1 is mounted on the same substrate.
    運用プログラムとハードウェア機能試験プログラムとが同一ＲＯＭ１上に格納された上、該ＲＯＭ１が同一基板上に実装されている状態で、外部操作により運用プログラムが選択された場合は、該運用プログラムが、ハードウェア機能試験プログラムが選択された場合には、該ハードウェア機能試験プログラムが、ＲＯＭ１よりそれぞれ選択的に読み出された上、マイクロプロセッサで実行されるようにしたものである。 - 特許庁
  • In the operation test of the plurality of circuit blocks CB (1) to CB (m) having the same circuit structure, a common test pattern data TPD is transmitted to each of the circuit blocks CB (1) to CB (m) via selector circuits SLT (1) to SLT (m).
    同一の回路構成を有する複数の回路ブロックＣＢ（１）〜ＣＢ（ｍ）の動作テスト時において、共通のテストパターンデータＴＰＤをセレクタ回路ＳＬＴ（１）〜ＳＬＴ（ｍ）を介して、回路ブロックＣＢ（１）〜ＣＢ（ｍ）の各々へ伝達する。 - 特許庁
  • For example, when a leakage protection plug for 100 v appliance is connected to a 200 v plug outlet, the pseudo earth leakage circuit 8 conducts applied with high voltage and the pseudo earth leakage current runs to the test circuit 16 in the same manner as a test switch 7a is pressed.
    例えば１００ｖ機器用の漏電保護プラグが２００ｖコンセントに差し込まれると、擬似漏電回路８が過電圧を印加されて導通し、テストスイッチ７ａが押されたときと同様にテスト回路１６に擬似漏電電流が流れる。 - 特許庁
  • To provide an automatic titrator capable of determining an equivalence point by using the optimum sensor to a test liquid, and grasping easily a correspondence relation of titration data based on a different physical quantity or chemical quantity relative to the same test liquid.
    被検液に最適なセンサを用いて当量点を求めることができるとともに、同一の被検液に対して、異なる物理量又は化学量に基づく滴定データの対応関係を容易に把握することができる自動滴定装置を提供する。 - 特許庁
  • To provide an in-plane shearing testing method for a rubbery elastic laminate capable of easily performing the laborary test of shearing fatique durability at a member level by a relatively simple tester to evaluate the same, and in-plane shearing test equipment therefor.
    部材レベルでの剪断疲労耐久性を比較的簡単な試験装置により室内試験で容易に行うことが出来ると共に、その評価をすることが出来るゴム状弾性積層体の面内剪断試験方法及びその装置を提供する。 - 特許庁
  • To provide a compact system for exchanging the culture medium of a cell culture container, which can suitably exchange the culture medium in the cell culture container, can carrying out the substantially same cell culture test as a cell culture test on the ground, and is excellent in workability.
    適宜細胞培養容器内の培地を交換することができ、地上での培養試験と実質同様な細胞の培養試験を行うことができるコンパクトで作業性に優れた細胞培養容器の培地交換用システムを提供する。 - 特許庁
  • A layout pattern of the memory cell for the test is made a same pattern as the layout pattern of the memory cell, the memory cell section 103 for the test is arranged closely to a memory cell arranged at a position at which a ferroelectric capacitor is easy to deteriorate.
    テスト用メモリセルのレイアウトパターンは、メモリセルのレイアウトパターンと同一としてあり、テスト用メモリセル部１０３は、複数のメモリセルのうち、強誘電体キャパシタが劣化しやすい位置に配置されているメモリセルに対して、近接して、配置されている。 - 特許庁
  • The probe card maintenance method includes: heating the probe card and probes provided on the probe card to the same temperature as the test temperature of electric characteristic inspection; and adjusting positions of the plurality of probes while maintaining the temperature of the probe card and the plurality of probes at the test temperature.
    プローブカード及びプローブカードに設置されたプローブを電気的特性検査における検査温度と同一の温度まで加熱し、プローブカード及び複数のプローブを当該検査温度に維持しつつ、複数のプローブのそれぞれの位置調整を行う。 - 特許庁
  • To provide a ceramic heater for a semiconductor manufacturing and test device aiming at the improvement of corrosion resistant property of an electrode part of the same and whole part of a base plate at a semiconductor manufacturing and test process.
    半導体製品の製造・検査工程において、半導体製造・検査装置用セラミックヒータの電極部分およびセラミック基板全体の耐腐食性を向上させることを目的とする半導体製造・検査装置用セラミックヒータを提供すること。 - 特許庁
  • During normal operation, the substrate potential of the object transistor is made at the same as the substrate potential of the non-object transistor to use the transistor, and in performing the scan test, for the substrate potential of the object transistor, back bias is applied to the side of raising the threshold of the transistor to perform the test.
    通常動作時には、対象トランジスタの基板電位を、非対象トランジスタの基板電位と同電位にして使用し、スキャンテスト実施時には、対象トランジスタの基板電位を、トランジスタの閾値が上昇する側にバックバイアスを印加してテストする。 - 特許庁
  • To provide a solder resistant resin layer having the thermal fatigue resistance to a heat history and temperature cycle test(TCT) in packaging, the moisture resistance to a high acceleration test (HAST), etc., and a wiring board using the same and an electronic device.
    実装時の熱履歴や温度サイクル試験（ＴＣＴ）に対する耐熱疲労性および高加速度試験（ＨＡＳＴ）に対する耐湿性等に優れた耐半田樹脂層およびそれを用いた配線基板ならびに電子装置を提供することにある。 - 特許庁
  • Test writing of the same multilevel data is performed continuously at the prescribed test region so that length of a track in the tangential direction is longer than a spot diameter of a light spot formed in a track at the time of reproduction (step 407), and appropriate recording power and recording strategy are obtained based on a level of a reproduction signal from its test region (step 409-423).
    同一多値レベルデータを、再生時にトラックに形成される光スポットのスポット径よりもトラックの接線方向の長さが長くなるように連続して所定のテスト領域に試し書きし（ステップ４０７）、そのテスト領域からの再生信号のレベルに基づいて、適切な記録パワー及び記録ストラテジを取得する（ステップ４０９〜４２３）。 - 特許庁
  • To provide a qualitative analyzer having a totally new automatic dispensing mechanism that can perform a qualitative analysis without dispensing urine to a test tube and at the same time can dispense urine from a paper cup to the test tube and can automatically stick a patient identification label to the test tube for a quantitative analysis and a sediment analysis as needed.
    試験管へ尿を分注せずに定性分析を行うことができ、同時に、必要に応じて、定量分析や沈査分析のためにハルンカップから試験管への尿の分注及び試験管への患者識別ラベルの自動貼付けを行うことができる全く新しい自動分注機構を備えた定性分析装置を提供すること。 - 特許庁
  • The microprocessor is provided with a plurality of test processing means individually testing the same predetermined processing result, a plurality of branch processing means respectively performing branch processing according to test results by the respective test processing means, and a trap means performing failure handling process when branch processing cannot be carried out by a predetermined branch processing means operated preferentially to other branch processing means.
    同一の所定の処理結果をそれぞれテストする複数のテスト処理手段と、各テスト処理手段によるテスト結果に応じてそれぞれ分岐処理を行う複数の分岐処理手段と、他の分岐処理手段に優先して実行される所定の分岐処理手段にて分岐できなった場合に障害対応処理を実行するトラップ手段と、を備えた。 - 特許庁
  • Uni test pattern for matching the ink impact position of a plurality of head units 51 in the main scanning direction, and Bi test pattern for matching the ink impact position of each head unit 51 in the main scanning direction between going and returning strokes of scanning are formed simultaneously on the same print paper P and the conditions for forming two types of test pattern are made to coincide with each other.
    複数のヘッドユニット５１間の主走査方向に対するインク着弾位置を一致させるためのＵｎｉテストパターンと、各ヘッドユニット５１における往復走査間の主走査方向に対するインク着弾位置を一致させるためのＢｉテストパターンと、を同じプリントペーパＰ上に同時に作成し、２種類のテストパターンの作成条件を一致させる。 - 特許庁
  • To provide a semiconductor test device capable of determining the switching time of high/low from a plurality of pins at the same timing while preventing determination time from being extended.
    判定時間の長期化を抑制しつつ、複数のピンからのハイロウの切り替わり時間を同時期に判定することが可能な半導体試験装置を提供する。 - 特許庁
  • To provide a method for specific, quick and convenient diagnosis of avian influenza virus by distinguishing it from a human influenza virus, and to provide a test tool for immunochromatography method that use the same.
    ヒトインフルエンザウイルスと区別して、トリインフルエンザウイルスを特異的、迅速かつ簡便に検出する方法及びこれに用いるイムノクロマトグラフ法用試験具を提供する。 - 特許庁
  • Since the same test adapter card as used in the analog testing with the card throttle is employed in the digital testing of card, testing time is shortened and it makes unnecessary the testing device to complicate.
    カード・スロットでのアナログ・テストの場合と同じテスト・アダプタ・カードが、カードのデジタル・テストにも用いられるので、テスト時間が短縮され、テスト装置を複雑にする必要がなくなる。 - 特許庁
  • To provide a test system automatically generating a command row generating an access to a memory by same timing from a plurality of processors in a symmetric multi-processor sharing a memory.
    メモリを共有するSymmetric Multi プロセッサにおいて、複数プロセッサから同一タイミングでメモリへのアクセスを発生する命令列を自動生成する試験方式を提供する。 - 特許庁
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