「same test」を含む例文一覧(1147)

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  • To provide a semiconductor device that can avoid plasma damage to a gate insulating film and stably operate even when microfabricated, to provide a test circuit, and to provide an evaluation method using the same.
    ゲート絶縁膜に対するプラズマダメージを回避することができ、微細化されても安定に動作可能な半導体装置、テスト回路およびそれを用いた評価方法を提供する。 - 特許庁
  • To provide an electronic component holder which can test, etc. a thin electronic component in a face direction, and moreover can exclude a risk that the electronic component is peeled and dropped, and a method for using the same.
    薄い電子部品を面方向でテスト等することができ、しかも、電子部品が剥がれて脱落するおそれを排除できる電子部品保持具及びその使用方法を提供する。 - 特許庁
  • The test samples and standard samples are prepared under the same condition and a sample group is composed of them, and the detected data including an measurement result of the nucleic acid amplification is output in real time.
    同一の条件下にて調製された検査試料と標準試料からなる試料グループについて、核酸の増幅の測定結果を含む検出データをリアルタイムにて出力する。 - 特許庁
  • To provide a curable resin composition formable of a hard coat layer that gives good scratch resistance even in Taber abrasion test and also is excellent in transparency, and a molding obtained by applying and curing the same.
    テーバー摩耗試験においても良好な耐擦傷性が得られ、透明性にも優れるハードコート層を形成可能な硬化性樹脂組成物、これを塗布、硬化させた成型物を提供する。 - 特許庁
  • To carry out a battery load test by generating the same situation as at the time of an abnormality alarm, such as a fire, and to enable more precise notice of a battery capacity reduction even at low temperature.
    火災をはじめとする異常警報時と同じ状況を生成して電池負荷試験を行い、更に低温時であっても電池容量低下をより正確に報知可能とする。 - 特許庁
  • Since the intensity of an odor in the same concentration is different according to a target substance, the ratio of the concentration of a test gas and the concentration of a threshold (normalization concentration) can be used in order to normalize this phenomenon.
    対象物質によって同一濃度における臭いの強さが異なるため、これを正規化するために試験ガス濃度と閾値濃度との比(正規化濃度)を用いることができる。 - 特許庁
  • To solve a problem that it is impossible to obtain the same sensitivity of a test in the outer peripheral part and the center part of a tested specimen since charged characteristics are different between the outer peripheral part and the center part of the tested specimen.
    被検査試料の外周部と中心部とで帯電特性が異なることから、被検査試料外周部と中心部とで同等の検査感度を得ることができない。 - 特許庁
  • To provide a device for Knick sensitization and desensitization test of photosensitive materials capable of processing photosensitive materials in such a way that they are held and bent under the same conditions and capable of increasing working efficiency.
    感光材料を同一条件で保持して折り曲げるように処理可能で、作業効率を向上可能な感光材料のクニック増減感試験用装置を提供する。 - 特許庁
  • To perform an operation test efficiently in a short time without preparing expected values to the number corresponding to the number of circuits, relative to a semiconductor device equipped with many circuits having the same constitution.
    同一構成の回路を多数具備する半導体装置に対して、回路数に応じた数の期待値を用意することなく、短時間で効率よく動作試験を行うようにする。 - 特許庁
  • To provide a vibration testing system for facilitating control of response amplitude of the maximum displacement amount and the maximum acceleration of a test object to a target value, and a method for controlling the same.
    被試験体の最大変位量や最大加速度の応答振幅を目標値に制御することを容易にすることができる振動試験装置及びその制御方法を提供する。 - 特許庁
  • The image forming apparatus makes test printing where a plurality of patch images 93 to 99 having same density are transferred onto one sheet by switching transfer voltage to a different value for each patch image and then outputted.
    濃度が同じ複数のパッチ画像93〜99をパッチ画像毎に転写電圧を異なる値に切り換えて1枚の用紙上に転写して出力するテストプリントを実行する。 - 特許庁
  • In this way, by carrying out expectation value collation for adjacent semiconductor chips and shifting data sequentially, wafer test can be realized in a time substantially the same as that for the measurement of one chip.
    このようにして、各隣接する半導体チップの期待値照合を行い、データをシフトしていけば、ウエハーの試験は1チップ測定とほぼ変わらない時間で行うことが出来る。 - 特許庁
  • To provide a method of manufacturing a reduction resistant dielectric ceramic composition exhibiting an improved result in an accelerated life test concerning insulation resistance with excellent low frequency dielectric properties, and a method of manufacturing the same.
    優れた低周波誘電特性を有しつつ、絶縁抵抗の加速寿命がより高められた耐還元性の誘電体磁器組成物を製造する方法を提供すること。 - 特許庁
  • By this setup, the radio terminal 4 where the cable connector 12 is connected is positioned and supported so that the radio terminal 4 of the same kind can obtain the reproducibility of a position when a performance test is carried out.
    これによりケーブル接続端子12を接続した無線端末4を位置決め支持するので動作試験を行う際の同種の無線端末4の位置の再現性を得る。 - 特許庁
  • To provide a print data generation device, a print data generation method and a program, capable of generating print data whose image can be partially printed as a test with the same print image as actual printing.
    本印刷と同じ印刷画質で画像の一部を試し印刷可能な印刷データを生成できる印刷データ生成装置、印刷データ生成方法及びプログラムを提供する。 - 特許庁
  • To provide a BSC macrostructure for three-dimensional wiring for performing a boundary scan test in a low-cost configuration without increasing the size of a system, and to provide a substrate of the same.
    システムサイズを肥大化することなく、低コストな構成でバウンダリスキャンテストを行うことが可能な3次元配線用BSCマクロ構造およびその基板を提供することを目的とする。 - 特許庁
  • A plurality of test patterns having the same on pixel density and a different relative position to a pattern detection matrix are outputted and a pulse width corresponding to a code is set such that their densities are equalized.
    オン画素密度が同じで、パターン検出マトリクスとの相対位置が異なる複数のテストパターンを出力し、それらの濃度が同じになるように、コードに対応するパルス幅を設定する。 - 特許庁
  • A mode detecting circuit 12 detects the supply of same-phase input signals to the respective oscillation terminals X0, X1, and supplies a detection signal CO to a test circuit 13.
    モード検出回路12は、各発振端子X0,X1に同相の入力信号が供給されたことを検出し、検出信号COをテスト回路13に供給する。 - 特許庁
  • To provide a test data totalization system which can accurately catch symptom changes and improve the objectivity of data by totalizing specific view data as the same data.
    所定の所見データを同じものとして集計することにより、症状変化を正確にキャッチし、データの客観性を向上することのできる試験データ集計システムを提供する。 - 特許庁
  • The test mask is one made by drawing a pattern regularly with the same pitch as the minimum pattern pitch of the mask pattern to draw over the drawing field of a pattern drawing system.
    ここで、テストマスクは、パターン描画装置の描画フィールドにまたがって、描画しようとするマスクパターンの最小パターンピッチと同一のピッチで規則的にパターンを描画したものである。 - 特許庁
  • To provide a method for measuring selective splicing variant of mRNA of a new human SDHC in test samples, a new nucleic acid used for the same and a means for carrying out the method.
    被検試料中の新規なヒトSDHCのmRNAの選択的スプライシングバリアントの測定方法、それに用いることができる新規核酸並びに該方法を実施するための手段を提供すること。 - 特許庁
  • An LSI(large scale integrated circuit) 18 for BOST and a DUT (device under test) 7 are mounted on the same socket 12, and an electrode of the LSI for BOST and that of the DUT 7 are brought into direct contact with each other.
    BOST用LSI8及びDUT7を同一のソケット12に装着し、BOST用LSI8の電極及びDUT7の電極を直接コンタクトさせる。 - 特許庁
  • To provide a semiconductor memory device capable of measuring currents flowing through a plurality of single-end sense amplifiers and easily determining variance on threshold value voltages thereof, and a test method for the same.
    シングルエンド型の複数のセンスアンプ回路を流れる電流を測定し、そのしきい値電圧のばらつきを容易に判別可能な半導体記憶装置とそのテスト方法を提供する。 - 特許庁
  • What a beautifully coloured gas I have obtained in this way, shewing me the presence of the oxygen! In the same way we can try this experiment by mixing common air with this test-gas.
    実にきれいな色の気体ができるでしょう。これで、酸素があるな、というのがわかるんです。同じように、この試験用気体をふつうの空気とまぜて実験してみましょう。 - Michael Faraday『ロウソクの科学』
  • On both ends of a picture reading effective area, the test chart obtained by symmetrically filling a stripe pattern regulated by the same pixel pitch and the same density and a condensing lens position discriminating means 13 discriminating the aberration of the condensing lens 71 of the picture reader by discriminating both of the stripe pattern and the coinciding degree of density from picture data obtained by read-scanning this test chart.
    画像読取有効範囲の両端に、同じ画素ピッチと同じ濃度で規定された縞パターンを対称に記したテストチャートTと、このテストチャートTを読取走査した画像データから、縞パターンと、濃度の一致度合いとの双方を判別することによって、画像読取装置Fの集光レンズ71の位置ずれを判別するようにした集光レンズ位置判別手段76とを備える。 - 特許庁
  • A video audio synchronization reproducer comprises: a delay synchronization circuit for performing a synchronization processing of the video signal and the audio signal by delaying the audio signal; and a test signal output circuit for outputting a test audio signal including the audio signal which isochronally appears, and a test video signal including the video signal which appears at the same timing as the audio signal isochronally appearing, respectively.
    映像音声同期再生装置が、音声信号を遅延して映像信号と音声信号との同期処理を行う遅延同期回路と、等時間間隔で出現する音声信号を含む試験音声信号、および、等時間間隔で出現する音声信号と同一タイミングで出現する映像信号を含む試験映像信号、をそれぞれ出力する試験信号出力回路と、を有する。 - 特許庁
  • To provide a material testing machine equipped with a test force display meter, which can highlight the contents to be desirably watched by an operator, even in a plurality of digital display part equipped with indicators of the same size.
    同じサイズの表示器を備える複数のデジタル表示部においても、オペレータに注目させたい内容を強調表示することが可能な試験力表示計を備える材料試験機を提供する。 - 特許庁
  • To provide a test print for shading correction that can perform shading correction without incurring cost increase while correcting shading of an exposure device with high precision, and a shading correction method using the same.
    露光装置のシェーディングを高精度に補正しつつ、コストアップを伴わないでシェーディング補正を行なうことが可能なシェーディング補正用のテストプリント、およびこれを用いたシェーディング補正方法を提供する。 - 特許庁
  • To provide a photo MOS relay drive circuit capable of reducing a drive current without sacrificing turn-off time, and a semiconductor test device using the same.
    本発明は、ターンオン時間を犠牲にすることなく、駆動電流を低減することができるフォトMOSリレー駆動回路およびそれを用いた半導体試験装置を提供することを目的とする。 - 特許庁
  • To provide an additive capable of decreasing the diffusing amount of formaldehyde as ≤0.1 mg/L in a test of the amount of formaldehyde diffusion, and a coating and an adhesive by using the same.
    この発明は、ホルムアルデヒド放散量試験において、ホルムアルデヒド放散量を0.1mg/リットル以下に低減することのできる添加剤とこの添加剤を用いた塗料及び粘着剤を提供する。 - 特許庁
  • In a memory tester of an embodiment, a linear arithmetic register 1 and an interleave arithmetic register 2 store a linear arithmetic variable L and an interleave arithmetic variable I described in the same test program, individually.
    実施形態のメモリテスタは、リニア演算レジスタ1、インターリーブ演算レジスタ2が、同一のテストプログラム中に記述されたリニア用演算変数L、インターリーブ用演算変数Iを個々に格納する。 - 特許庁
  • To provide a semiconductor integrated circuit and a probe card for preventing the deterioration of quality due to probing, and for using the same probe card for test even when chip sizes (forms) are different.
    プロービングによる品質の劣化を防止することのでき且つチップサイズ(品種)が異なる場合にも同一のテスト用プローブカードを使用できる半導体集積回路およびプローブカードを提供する。 - 特許庁
  • To provide a drop impact testing device, capable of carrying out precisely a natural drop impact test dropped under identical conditions, from a fixed height each time, and accurately dropped at the same spot.
    一定高さから毎回同じ条件で落下させ、同一箇所に正確に落とすといった自然落下衝撃試験を精度良く行うことができる落下衝撃試験装置を提供すること。 - 特許庁
  • To provide catalyst-carrying powder capable of restraining fall of working voltage in an endurance test of a PEFC using a ULPLC as well as to provide a film-electrode assembly and a PEFC using the same.
    ULPLCを用いたPEFCの耐久試験における作動電圧低下を抑制できる触媒担持粉末を提供し、それを用いた膜/電極接合体およびPEFCを提供する。 - 特許庁
  • To provide a probe card and test device including ther same which enhances a reliability of a measurement value of an electric property, suppressing a spark applied to a semiconductor element when operating a switch.
    スイッチの動作時に半導体素子に印加されうるスパークを低減させ、電気的特性測定値の信頼性を向上させることができるプローブカード及びそれを備えるテスト装置を提供する。 - 特許庁
  • To provide a test having a function for finding out an instruction which is a factor, and an object function when an expected value and an executed result value are not matched and avoiding the occurrence of a defect caused by the same factor.
    期待値と実行結果値とが不一致の場合、要因となった命令及び対象機能を見つけ出し、同一要因による不良の発生を回避する機能を有する試験を提供する。 - 特許庁
  • To provide a device and method for testing cracking of a power generation cell in which a cracking test of a circular flat plate type power generation cell is performed under the same temperature condition as that of an actual fuel cell stack.
    円形平板型の発電セルを、実際の燃料電池スタックと同じ温度条件下おいて割れ試験を行うことができる発電セルの割れ試験装置および割れ試験方法を提供する。 - 特許庁
  • To enable a semiconductor memory constituted of plural memory banks to simultaneously write the same data in each memory cell, to reduce the number of times of write-in operation and to shorten a test time.
    複数のメモリバンクで構成される半導体記憶装置において、各メモリセルに対して同一データを同時に書き込むことを可能とし、書き込み動作回数を低減して、テスト時間の短縮を実現する。 - 特許庁
  • To provide an information processor capable of exchanging a memory module to one of the same size whose specifications such as a bank configuration differ and performing a memory test when re-installing an identical memory module.
    同じサイズながらバンク構成などの仕様が異なるメモリモジュールに交換したり、同一メモリモジュールを装着し直したりする際にもメモリテストを実施できる情報処理装置を提供する。 - 特許庁
  • To provide a testing device capable of supplying test signals to a plurality of tested devices formed on the same substrate to conduct tests, and capable of determining accurately the qualities of the plurality of tested devices.
    同一基板上に形成された複数の被試験デバイスに試験信号を供給して試験し、複数の被試験デバイスの良否判定を正確に行うことができる試験装置を提供する。 - 特許庁
  • The memory 401 stores the same data as the train radio transmission data to be transmitted from a train radio command station provided outside a railroad vehicle as the test train radio transmission data in advance.
    メモリ401は、鉄道車両の外部に設けられる列車無線指令局から送信される列車無線伝送データと同一のデータを試験用列車無線伝送データとして予め格納する。 - 特許庁
  • To provide a weathering test apparatus which can suppress temperature rise of a sample, stably change the intensity of light irradiated on the sample surface, and maintain the same water spray condition.
    試料の温度上昇を抑制でき且つ試料面への光の照射強度を安定に変更することができ且つ水の噴霧条件を同一に保つことが出来る耐候性試験装置を提供する。 - 特許庁
  • Hereby, the combinational circuit part 4 can be operated individually by propagating an individual signal at the test time, relative to the same signal linking to the combinational circuit part 4 at the ordinary operation time.
    これにより、通常の操作時には組合せ回路部4に繋がる同一信号に対して、テスト時には個別信号を伝播させて組合せ回路部4を個別に動作させることができるようになる。 - 特許庁
  • To provide a testing apparatus for diaphragm type pressure regulator for a gas fuel engine capable of measuring flow-rate characteristic by carrying out test of an individual pressure regulator before fitting the same onto an actual engine.
    実際のエンジンに組み込む前に圧力レギュレータ単体で試験を行ってその流量特性を求めることができるガス燃料エンジン用のダイヤフラム式圧力レギュレータの試験装置を提供する。 - 特許庁
  • Then the input signal is scanned and detected similarly in a normal manner, corresponding function processing is therefore carried out in the same manner as the case the phenomenon actually occurs to perform a test.
    すると、その入力信号が通常の場合と同様に走査、検出されるので、実際に現象が生じた場合と同様に、対応する機能処理が実行されることで、テストが実行される。 - 特許庁
  • An inspection control system 100 performs a test on a plurality of semiconductor devices which are manufactured under a predetermined same condition, in order for every one part of the semiconductor devices and controls the inspection to each semiconductor device.
    検査制御システム100は、所定の同一条件下で製造された複数の半導体装置について、一部の半導体装置ずつ順にテストを行い、各半導体装置への検査を制御する。 - 特許庁
  • To provide a method for the accelerative simulation test of tribo-microplasma reaction for producing tribo-microplasma reaction in an accelerative manner simulatively and collecting a reaction product to analyze the same, and an apparatus therefor.
    トライボマイクロプラズマ反応を加速的にシミュレーション発生させるとともに、その反応生成物を捕集し、かつ分析に供するための反応加速シミュレーション試験方法及び装置を提供する。 - 特許庁
  • Note that comparing a given number of decimal places is not the same as comparing a given number of significant digits.If the values do not compare equal, the test will fail with the explanation given by msg, or None.
    指定小数位の比較というものは指定有効桁数の比較ではないので注意してください。 値の比較結果が等しくなかった場合、テストは失敗し、msg で指定した説明か、None を返します。 - Python
  • Note that comparing a given number of decimal placesis not the same as comparing a given number of significant digits.If the values do not compare equal, the test will fail with the explanationgiven by msg, or None.
    指定小数位の比較というものは指定有効桁数の比較ではないので注意してください。 値の比較結果が等しかった場合、テストは失敗し、msg で与えた説明か、None を返します。 - Python
  • When an electric wire 6a of a test circuit 6 is inserted into a zero-phase current transformer 1, an insertion direction is prescribed so that a phase of current to flow in the electric wire and an anode voltage phase of current of the thyristor 10 become to have the same phase.
    テスト回路6の電線6aを零相変流器1に挿通する際、電線に流れる電流位相と、サイリスタ10のアノード電圧位相が同相になるよう挿通方向を規定した。 - 特許庁
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  • 原題:”THE CHEMICAL HISTORY OF A CANDLE”
    邦題:『ロウソクの科学』
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    (C) 1999 山形浩生
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