「same test」を含む例文一覧(1147)

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  • And he's doing that same 10meter walk test.
    彼もまた同様に10メートルの歩行テストを行っています - 映画・海外ドラマ英語字幕翻訳辞書
  • RESIN FILM PIECE FOR TEAR TEST AND METHOD OF MANUFACTURING THE SAME
    引裂試験用樹脂フィルム片およびその製造方法 - 特許庁
  • To provide the tester performing a test under a plurality of temp. conditions in the same test tank at the same time with respect to the test temp. of a sample.
    耐候試験機における試料の試験温度に関し、同一試験槽内で同時に複数の温度条件で試験を行う技術に関する。 - 特許庁
  • REGRESSION TEST SYSTEM FOR LSI CIRCUIT, DEVICE USED FOR THE SAME AND REGRESSION TEST METHOD
    ＬＳＩ回路のリグレッションテストシステム、及びそれに用いる装置とそのリグレッションテスト方法 - 特許庁
  • TEST TERMINAL, METHOD OF CONTROLLING TRIP COIL USING THE SAME, AND APPARATUS WITH TEST TERMINAL
    テストターミナル、それを用いたトリップコイルの制御方法及びそのテストターミナルを備えた装置 - 特許庁
  • SHEET FOR COLOR REPRODUCTION DETERMINATION TEST, METHOD FOR MANUFACTURING THE SAME, AND COLOR REPRODUCTION DETERMINATION TEST METHOD
    色再現判定試験用シート、その製造方法、及び色再現判定試験方法 - 特許庁
  • TEST CIRCUIT OF LIGHT RECEIVING AMPLIFIER CIRCUIT, TEST METHOD, AND OPTICAL PICKUP DEVICE USING THE SAME
    受光増幅回路のテスト回路、テスト方法、及びこれを用いた光ピックアップ装置 - 特許庁
  • To provide a test method of a semiconductor device and a test board for the semiconductor device, capable of performing a normal mode operation test (16-bit operation test) and a test mode operation test (4-bit parallel test) by using the same test board.
    通常モード動作試験（１６ビットでの動作試験）と、テストモード動作試験（４ビットのパラレル試験）とを、同一の試験用ボードを用いて行うことができる半導体装置の試験方法及び半導体装置の試験用ボードを提供する。 - 特許庁
  • To provide a subordinate unit opposite test system that can reduce a test time for a test opposite to a subordinate unit by conducting subordinate unit opposite tests at the same time.
    複数の下位装置対向試験を同時に行い、下位装置対向試験の試験時間を短縮する。 - 特許庁
  • When assigning again, the same valid test condition is assigned to multiple test patterns, the possible largest number of test patterns, and thereafter, the invalid test condition is assigned again.
    状態再割当にあたって、まず、可能な限り多数のテストパターンへ同一の有効テスト状態を割り当てた後、無効テスト状態への割り当てを行なう。 - 特許庁
  • HIGH/LOW TEMPERATURE TEST UNIT, TEST HANDLER HAVING THE SAME, AND METHOD AND PROGRAM FOR CONTROLLING THE SAME
    高低温テストユニット、高低温テストユニットを備えたテストハンドラ、並びに高低温テストユニットの制御方法及び制御プログラム - 特許庁
  • TESTING DEVICE AND METHOD OF CONTROLLING THE SAME, AND TEST SYSTEM
    試験装置およびその制御方法、ならびに試験システム - 特許庁
  • We want you to do the same test that he did.
    我々はあなたに、彼と同様のテストをしてもらいたい。 - Weblio Email例文集
  • SCAN FLIP-FLOP CIRCUIT AND SCAN TEST METHOD USING THE SAME
    スキャンフリップフロップ回路及びこれを用いたスキャンテスト方法 - 特許庁
  • METHOD OF MANUFACTURING OF FERROELECTRIC MEMORY AND TEST SYSTEM OF THE SAME
    強誘電体メモリの製造方法および試験システム - 特許庁
  • TEST PATTERN FOR MEASURING CONTACT RESISTANCE AND METHOD OF MANUFACTURING SAME
    コンタクト抵抗測定用テストパターン及びその製造方法 - 特許庁
  • HIGH-PRESSURE REACTION CONTAINER AND REACTION TEST APPARATUS USING THE SAME
    高圧反応容器及びそれを用いた反応試験装置 - 特許庁
  • FRONT AND BACK REVERSING APPARATUS AND TEST HANDLER INCLUDING THE SAME
    表裏反転装置、表裏反転装置を備えたテストハンドラ - 特許庁
  • WAVEFORM CORRECTION CIRCUIT AND SEMICONDUCTOR TEST DEVICE USING THE SAME
    波形補正回路およびそれを用いた半導体試験装置 - 特許庁
  • Tomorrow's makeup test covers the same material as that last quiz, right?
    明日の追試って この前の小テストと同じ範囲だよね - 映画・海外ドラマ英語字幕翻訳辞書
  • The same differences apply to the Run Project and Test Project options.
    「プロジェクトを実行」と「プロジェクトをテスト」の違いも同様です。 - NetBeans
  • METHOD FOR MAKING GAS HYDRATE DEPOSIT, APPARATUS FOR MAKING THE SAME, AND TEST PIECE FOR DYNAMIC TEST THEREOF
    ガスハイドレート堆積物の作成方法、及びその作成装置、並びにその力学試験用供試体 - 特許庁
  • TEST STRUCTURE OF SEMICONDUCTOR ELEMENT FOR DETECTING DEFECT SIZE, AND TEST METHOD USING THE SAME
    欠陥サイズを検出することができる半導体素子のテスト構造及びこれを用いたテスト方法 - 特許庁
  • MEMORY SELF-TEST CIRCUIT AND SEMICONDUCTOR DEVICE EQUIPPED WITH THE SAME AND IC CARD AND MEMORY SELF-TEST METHOD
    メモリセルフテスト回路及びそれを備えた半導体装置及びＩＣカード並びにメモリセルフテスト方法 - 特許庁
  • INTAKE MANIFOLD FOR PERFORMANCE TEST, AND ENGINE PERFORMANCE TEST DEVICE AND METHOD USING THE SAME
    性能試験用インテークマニホールド、それを用いたエンジン性能試験装置及びその性能試験方法 - 特許庁
  • TEST METHOD FOR DETECTING LOCALITY FAULT ON SEMICONDUCTOR WAFER AND TEST SYSTEM USING THE SAME
    半導体ウエハ上の局所性不良を検出するテスト方法及びこれを用いるテストシステム - 特許庁
  • ORIGINAL FORM FOR CONTACT PIN FOR TEST AND METHOD FOR MANUFACTURING THE SAME, AND METHOD FOR MANUFACTURING THE CONTACT PIN FOR TEST
    テスト用コンタクトピン原版及びその製造方法、並びにテスト用コンタクトピンの製造方法 - 特許庁
  • SAMPLE TABLET COLLAPSING DEVICE, COLLAPSE TEST DEVICE AND COLLAPSE/ELUTION TEST SYSTEM USING THE SAME, AND SAMPLE TABLET COLLAPSE TEST METHOD
    試料錠崩壊装置、それを用いた崩壊試験装置及び崩壊・溶出試験システム、ならびに試料錠崩壊試験方法 - 特許庁
  • RADIO COMMUNICATION DEVICE AND RETURN TEST METHOD USING THE SAME
    無線通信装置およびこれを用いた折り返し試験方法 - 特許庁
  • FRONT-END CIRCUIT FOR IMAGE SENSOR AND TEST APPARATUS USING THE SAME
    イメージセンサのフロントエンド回路およびそれを用いた試験装置 - 特許庁
  • PROBE CARD, AND TEST METHOD USING THE SAME FOR SEMICONDUCTOR TESTING DEVICE
    プローブカード及びそれを用いたテスト方法半導体試験装置 - 特許庁
  • WATER-COOLED HIGH TEMPERATURE VALVE AND COMBUSTION TEST EQUIPMENT USING THE SAME
    水冷高温バルブ及びそれを使用した燃焼試験装置 - 特許庁
  • AUDIBILITY TEST SYSTEM AND HEARING AID SELECTION SYSTEM USING THE SAME
    聴力検査システム及びこれを用いた補聴器選定システム - 特許庁
  • CONTAINER FOR CELL TEST AND METHOD FOR TESTING CELL USING THE SAME
    細胞試験用容器及びそれを用いた細胞試験方法 - 特許庁
  • SEMICONDUCTOR DEVICE, AND TEST CIRCUIT AND EVALUATION METHOD USING SAME
    半導体装置、テスト回路およびそれを用いた評価方法 - 特許庁
  • CELL FOR TEST AND FLUORESCENCE MEASURING INSTRUMENT USING SAME
    試験用セルおよびそれを使用する蛍光発光測定装置 - 特許庁
  • FLEXIBLE CULTURE BAG AND ANAEROBIC CULTURE TEST APPARATUS USING THE SAME
    フレキシブル培養バッグ及びそれを用いる嫌気培養試験装置 - 特許庁
  • VOLTAGE MEASURING CIRCUIT AND SEMICONDUCTOR TEST APPARATUS USING THE SAME
    電圧測定回路およびそれを用いた半導体試験装置 - 特許庁
  • RADIO TRANSMITTER EMULATOR AND RADIO TEST SYSTEM USING THE SAME
    無線送信機エミュレータおよびこれを用いた無線試験システム - 特許庁
  • RADIO RECEIVER EMULATOR AND RADIO TEST SYSTEM USING THE SAME
    無線受信機エミュレータおよびこれを用いた無線試験システム - 特許庁
  • If you test them, all four will get the same scores in whatever you ask them.
    彼らをテストしたら 4人とも同じ点数を取るでしょう - 映画・海外ドラマ英語字幕翻訳辞書
  • TEST TUBE FOR NMR DEVICE, AND NMR DEVICE USING THE SAME
    ＮＭＲ装置用試験管およびこれを用いたＮＭＲ装置 - 特許庁
  • To provide a semiconductor test equipment and a method for the same capable of redoubling the throughput of the test capable of simultaneous measurement, and at the same time capable of shortening the test time, with regard to the semiconductor test equipment and the method capable of simultaneous measurement for the multiple objective device.
    同時測定可能な被試験デバイス数を倍増させると同時にテスト時間を短縮することができる半導体試験装置及び半導体試験方法を提供する。 - 特許庁
  • You can place the definitions of test cases and test suites in the same modules as the code they are to test (such as widget.py),but there are several advantages to placing the test code in a separate module, such as widgettests. py:
    テストケースやテストスイートは (widget.py のような) テスト対象のモジュール内にも記述できますが、テストは(widgettests.py のような) 独立したモジュールに置いた方が以下のような点で有利です: - Python
  • DRAW BEAD TEST METHOD AND PRESS FORMING ANALYZING METHOD USING PHYSICAL PROPERTY VALUE DETERMINED BY THE SAME TEST METHOD
    絞りビード試験方法及びその試験方法で求めた物性値を用いたプレス成形解析方法 - 特許庁
  • The same test input value as that inputted from one input test pin is inputted to circuits K_1-K_N.
    回路Ｋ_1〜Ｋ_Nには、１個の入力テストピンから入力された同一のテスト入力値が入力される。 - 特許庁
  • TEST DEVICE FOR DYNAMIC TEST FOR COMBUSTION ENGINE AND METHOD FOR OPERATING THE SAME
    燃焼式動力機関の動力学的試験課題用試験装置とそのような試験装置の動作方法 - 特許庁
  • To perform fatigue test on a plurality of test pieces at the same time with one vibration tester.
    一つの振動試験装置で複数の試験片を同時に疲労試験することができるようにする。 - 特許庁
  • Test writing is performed for a track T1 and a track T2 being adjacent to it with a same test power Pwt.
    トラックＴ１とこれに隣接するトラックＴ２に同じテストパワーＰｗｔで試し書きを行う。 - 特許庁
  • To reduce the capacity of a multi-axis test program and at the same time easily execute a multi-axis test.
    多軸試験プログラムの容量を小さくするとともに、多軸試験を容易に実行できるようにする。 - 特許庁
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