「same test」を含む例文一覧(1147)

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  • To perform an open loop test of a PLL circuit and a closed loop test including a lock-up time in the same inspection process.
    ＰＬＬ回路の開ループテストおよびロックアップタイムを含めた閉ループテストを同一の検査工程で実施できるようにすること。 - 特許庁
  • Bar code labels with the same base parts and different branch number parts are pasted to every test container used for test on one patient.
    一人の患者の検査に用いる試験容器の全てに、基本部分が同一で枝番部分が異なるバーコードラベルを貼付する。 - 特許庁
  • An address conversion section 13 converts a test address into an address of a common area 23 being the same areas as the test program 3a of the opposite subordinate unit 2a for an opposite test when receiving an access to the test address from the test program 3 in the subordinate unit 2.
    アドレス変換部１３は、下位装置２内の試験プログラム３から試験用アドレスへのアクセスがあると、対向試験を行う対向側の下位装置２ａの試験プログラム３ａと同一エリアの共通エリア２３へとアドレス変換する。 - 特許庁
  • The same data input into the normal path is also input to the test buffer.
    通常のバッファに入力される同一のデータはテスト・バッファにも入力される。 - 特許庁
  • TEST PIECE FOR EVALUATING IMPREGNATION PERFORMANCE, AND METHOD FOR EVALUATING IMPREGNATION PERFORMANCE USING THE SAME
    含浸性能評価用のテストピース及びこれを用いた含浸性能評価方法 - 特許庁
  • TESTER FOR SEMICONDUCTOR DEVICE AND TEST METHOD FOR SEMICONDUCTOR DEVICE USING THE SAME
    半導体装置の試験装置およびそれを用いた半導体装置の試験方法 - 特許庁
  • INTEGRATED CIRCUIT FOR PERFORMING BURN-IN TEST OF AC STRESS AND TESTING METHOD USING THE SAME
    交流ストレスのバーンインテスト可能な集積回路及びこれを用いたテスト方法 - 特許庁
  • TRANSFER DEVICE FOR MULTICHANNEL TEST DATA AND TESTING DEVICE FOR RELAY DEVICE USING THE SAME
    多チャネル試験データの転送装置およびそれを用いる継電装置の試験装置 - 特許庁
  • ELECTROMAGNETIC REFRIGERATING CAPACITY CONTROL DEVICE AND ENVIRONMENTAL TEST DEVICE EQUIPPED WITH THE SAME
    電磁弁式の冷凍能力制御装置及びこれを備えた環境試験装置 - 特許庁
  • SAMPLE HEATER, PROCESSING DEVICE, AND METHOD FOR PROCESSING TEST PIECE USING SAME
    試料加熱装置および処理装置ならびにそれを用いた試料の処理方法 - 特許庁
  • ELECTROCHEMICAL TEST PIECE HAVING MULTIPLE REACTION CHAMBER AND METHOD FOR USING THE SAME
    複数の反応チャンバーを有する電気化学的試験片およびその使用方法 - 特許庁
  • WATER-POURING NOZZLE FOR PRESSURE EXPANSION TEST ON HIGH-PRESSURE GAS CONTAINER AND PRESSURE EXPANSION TEST DEVICE USING THE SAME
    高圧ガス容器の耐圧膨張試験用注水ノズル及び同耐圧膨張試験用注水ノズルを用いた耐圧膨張試験装置 - 特許庁
  • To provide a multi probe card unit, a probe test device including the same, their manufacturing methods and a method of using the probe test device.
    マルチプローブカードユニット、それを備えたプローブ検査装置、それらの製造方法、及びプローブ検査装置を利用する方法を提供する。 - 特許庁
  • To easily perform a test in a multi-bit test mode and to output a degeneration result to a same data terminal even when data bit width is different.
    データビット幅が異なる場合においても、容易にマルチビットテストモードでテストを行なって縮退結果を同じデータ端子に出力する。 - 特許庁
  • During the English listening comprehension test, 224 people at 181 sites reported a malfunction of their audio device, and 220 of them took the test again on the same day.
    英語のリスニング試験では，181会場で224人が再生装置の不具合を訴え，そのうち220人が同日に再びこの試験を受けた。 - 浜島書店 Catch a Wave
  • SEMICONDUCTOR TRANSFER TRAY, BURN-IN BOARD USING THE SAME, INSPECTION APPARATUS FOR BURN-IN TEST, BURN-IN TEST METHOD, AND SEMICONDUCTOR MANUFACTURING METHOD
    半導体搬送トレイ、これを用いたバーンインボード、バーンイン試験用の検査装置及びバーンイン試験方法並びに半導体の製造方法 - 特許庁
  • To provide a test method and a test device for a semiconductor wafer by which a test can be conducted in a state that the contact resistance of a probe and a test pad of the semiconductor wafer is reduced to a reference value and the test can be conducted with contact resistance which is always the same.
    プローブ針と半導体ウェーハのテストパッドとの接触抵抗を基準値まで低減させた状態でテストすることが可能であり、常に同一の接触抵抗でテストをすることが可能となる半導体ウェーハのテスト方法及び装置を提供する。 - 特許庁
  • To reduce the number of setting times of test conditions by storing the frequently set test conditions in a test condition memory section in consideration of the fact that a plurality of same test conditions are set in the past in the setting of test conditions.
    本発明の課題は、試験条件の設定において、過去に複数の同一の試験条件が設定された経緯によって、設定の多い試験条件を試験条件記憶部に保持させることにより、試験条件の設定回数を低減させることである。 - 特許庁
  • LIPOSOME PARTICLE DISPERSION FOR DETECTING TEST SUBSTANCE, METHOD FOR PRODUCING THE SAME AND METHOD FOR DETECTION BY FLUORESCENCE PHOTOMETRY USING THE SAME
    被検物質検出用リポソーム粒子分散物、その製造方法、それを用いた蛍光測定による検出方法 - 特許庁
  • The test execution control section 231 repeats same processing by changing the write current value.
    テスト実行制御部２３１は、ライト電流値を変化させて同様の処理を繰り返す。 - 特許庁
  • METHOD FOR RESEARCHING POLLUTION SOURCE OF SOIL OR GROUND WATER, AND TEST MEMBER USED FOR THE SAME
    土壌・地下水の汚染源の調査方法及び該調査方法に使用する供試部材 - 特許庁
  • To provide a method for detecting the inclination of a line image sensor and a test sheet for the same.
    ラインイメージセンサの傾きを検出する方法と、そのためのテストシートを提供すること。 - 特許庁
  • METHOD FOR VERIFYING DISK DEFECT MANAGING AREA INFORMATION AND TEST DEVICE FOR PERFORMING THE SAME
    ディスク欠陥管理領域情報の検証方法及びこれを行うためのテスト装置 - 特許庁
  • STANDARD TEST SPECIMEN FOR TESTING ANTIMICROBIAL PROPERTY, AND METHOD FOR TESTING ANTIMICROBIAL PROPERTY BY USING THE SAME
    抗菌性試験用標準試験片及びそれを用いた抗菌性試験方法 - 特許庁
  • SACRIFICE TEST PIECE AND FATIGUE LOSS PREDICTION AND STRESS INFORMATION ACQUISITION METHOD USING THE SAME
    犠牲試験片およびそれを用いた疲労損傷予知および応力情報取得方法 - 特許庁
  • COMPONENT RECOGNITION DEVICE, SURFACE MOUNTING APPARATUS MOUNTING THE SAME, AND COMPONENT TEST DEVICE
    部品認識装置及び同装置を搭載した表面実装機並びに部品試験装置 - 特許庁
  • In the same way, an output side of a gate circuit 30 is connected to a control test circuit 40.
    同様に、ゲート回路３０の出力側が制御試験回路４０に接続される。 - 特許庁
  • ASYMMETRICAL MODEM AND ASYMMETRICAL TRANSMISSION SYSTEM USING THE SAME, AND METHOD FOR LOOP-BACK TEST OF THE SYSTEM
    非対称モデム、及びそれを用いた非対称伝送システムとその折返し試験方法 - 特許庁
  • METHOD FOR DETECTING DISK DEFECT MANAGEMETN AREA INFORMATION AND TEST DEVICE FOR PERFORMING THE SAME
    ディスクの欠陥管理領域情報の検出方法及びこれを行うためのテスト装置 - 特許庁
  • ACCUMULATED FATIGUE CALCULATION METHOD, AND VIBRATION TEST METHOD USING THE SAME
    蓄積疲労算出方法およびこの蓄積疲労算出方法を用いた振動試験方法 - 特許庁
  • CONTACT BOARD FOR IC TEST DEVICE AND POSITIONING METHOD OF ROBOT FOR CONTACTING AND OPERATING THE SAME
    ＩＣ試験装置のコンタクトボード及びこれに接触動作するロボットの位置合わせ方法 - 特許庁
  • TEST PIECE HAVING A PLURALITY OF RESPONSE DOMAINS AND METHOD FOR USING AND MANUFACTURING THE SAME
    複数の反応領域を有する試験片およびその使用および製造の方法 - 特許庁
  • ELECTRON MICROSCOPE APPARATUS AND POSITIONING CONTROL METHOD FOR TEST PIECE STAGE IN THE SAME
    電子顕微鏡装置および同装置における試料ステージの位置決め制御方法 - 特許庁
  • METHOD AND TEST STAND FOR TESTING HYBRID DRIVE SYSTEM OR SUBCOMPONENT OF THE SAME
    ハイブリッド駆動システムまたはそのシステムのサブコンポーネントを試験するための方法および試験台 - 特許庁
  • STANDARD TEST PIECE FOR TESTING ANTIBACTERIAL PROPERTY, METHOD FOR PRODUCING THE SAME AND METHOD FOR TESTING ANTIBACTERIAL PROPERTY
    抗菌性試験用標準試験片、その製造方法及び抗菌性試験方法 - 特許庁
  • To acquire an electronic documentation management system and the same method which raise the efficiency of a field test.
    フィールド試験の効率性を高めた電子文書管理システムおよび同方法を得る。 - 特許庁
  • INSPECTION APPARATUS DISPLAYING SIMULTANEOUSLY A PLURALITY OF ASSOCIATED TEST RESULTS AND THE LIKE ON SAME SCREEN
    複数の関連する検査結果等を同一の画面で同時に表示する検査装置 - 特許庁
  • METHOD FOR VERIFYING DISK DEFFECT MANAGEMENT AREA INFORMATION AND TEST DEVICE FOR PREFORMING THE SAME
    ディスクの欠陥管理領域情報検証方法及びこれを行うためのテスト装置 - 特許庁
  • The constrain condition is released to perform an unconstrained vibration frequency test for the same moving blade 7.
    その拘束条件を解除して同じ動翼７の非拘束振動試験を行う。 - 特許庁
  • METHOD OF INSPECTING LIQUID DROP DISCHARGE HEAD, METHOD OF MANUFACTURING THE SAME AND TEST LIQUID
    液滴吐出ヘッドの検査方法、液滴吐出ヘッドの製造方法及び検査液 - 特許庁
  • For the next procedure, you will specify this same location, http://localhost:18181/Service,in a test case for the composite application.
    次の手順では、複合アプリケーションのテストケースでこの同じ場所 http://localhost:18181/Service を指定します。 - NetBeans
  • For examples, a source package folder cannot also be a test package folder for the same project.
    たとえば、ソースパッケージフォルダを同じプロジェクトのテストパッケージフォルダにすることはできません。 - NetBeans
  • COMBUSTION GAS GENERATING METHOD, COMBUSTION GAS GENERATING DEVICE AND GAS SENSOR TEST DEVICE USING THE SAME
    燃焼ガス発生方法、燃焼ガス発生装置およびそれを用いたガスセンサ試験装置 - 特許庁
  • The same principle may also be applied to the Snellen's test types having optotypes 4A in an E lettep form.
    Ｅ字状視標４Ａをもつスネレン視力表にも同じ原理を適用可能である。 - 特許庁
  • INSERT OPENING UNIT FOR TEST TRAY AND INSTALLATION METHOD OF SEMICONDUCTOR ELEMENT USING THE SAME
    テストトレイ用インサート開放ユニット及びこれを用いた半導体素子の装着方法 - 特許庁
  • TEST RIG AND PARTICULATE DEPOSIT AND CLEANING EVALUATION METHOD USING THE SAME
    試験リグ及び同装置を用いて微粒子堆積及び清浄化を評価する方法 - 特許庁
  • SEMICONDUCTOR DEVICE SIMULATING DEVICE AND PROGRAM DEBUGGING DEVICE FOR SEMICONDUCTOR TEST USING THE SAME
    半導体デバイスシミュレート装置及びそれを用いた半導体試験用プログラムデバッグ装置 - 特許庁
  • TEST CIRCUIT DEVICE FOR SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT, AND SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT USING THE SAME
    半導体集積回路用テスト回路装置およびこれを用いた半導体集積回路 - 特許庁
  • It's being done in the same way that we test drugs to see what really works.
    本当に効き目がある薬を検証するのと同じ方法で確かめられてきました - 映画・海外ドラマ英語字幕翻訳辞書
  • Test whether x and y have the same exponent or whether both are NaN.
    self と other が同じ指数を持っているか、あるいは双方とも NaN である場合に真を返します。 - Python
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