「same test」を含む例文一覧(1147)
＜前へ 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 .... 22 23 次へ＞- To provide an evaluation test device capable of carrying out an evaluation test of a fuel battery efficiently and accurately, and to provide an evaluation test cell of the same.
効率よくしかも正確に燃料電池用セルの評価試験を行うことのできる評価試験装置及びその評価試験セルの提供。 - 特許庁 - SCAN TEST CIRCUIT, METHOD OF TESTING THE SAME AND METHOD OF INITIALIZING FLIP-FLOP
スキャンテスト回路とそのテスト方法、およびフリップフロップの初期設定方法 - 特許庁 - ALGORITHM PATTERN GENERATOR FOR MEMORY ELEMENT TEST, AND MEMORY TESTER USING SAME
メモリ素子テストのためのアルゴリズムパターン生成器及びこれを用いたメモリテスタ - 特許庁 - SUBSTRATE FOR LIGHT EMITTING PANEL, TEST METHOD FOR THE SAME AND LIGHT EMITTING PANEL
発光パネル用基板、発光パネル用基板の検査方法及び発光パネル - 特許庁 - Temperature adjustment of fuel and engine oil for the engine under test is the same as the above.
供試エンジンの燃料およびエンジンオイルの温度調節も同様とする。 - 特許庁 - TEST PATTERN FORMING METHOD, ETCHING CHARACTERISTIC MEASURING METHOD, AND CIRCUIT USING SAME
テストパターン形成方法、それを用いたエッチング特性測定方法及び回路 - 特許庁 - MEASURING METHOD FOR ELECTRICAL CHARACTERISTICS OF SEMICONDUCTOR PACKAGE, AND TEST HANDLER FOR THE SAME
半導体パッケージの電気特性測定方法およびこのためのテストハンドラ - 特許庁 - To test plural logic circuits at the same time to shorten a test time, when the plural logic circuits having the same function in an integrated circuit are tested.
集積回路内の同一機能を持った複数の論理回路をテストする際、これ等の複数の論理回路を同時にテストして、テスト時間を短縮する。 - 特許庁 - INTERFACE DEVICE, ELECTRONIC COMPONENT TEST DEVICE PROVIDED WITH THE SAME AND ADAPTER SET
インタフェース装置及びそれを備えた電子部品試験装置並びにアダプタセット - 特許庁 - We can say the exact same thing about these test results as we can for those ones.
この試験結果についてもあの試験結果と同様のことが言えます。 - Weblio Email例文集 - ADHESION STRENGTH EVALUATION METHOD OF FLOOR POLISH FILM AND TEST TOOL FOR THE SAME
フロアーポリッシュ皮膜の密着強度評価方法、及びそれ用の試験治具 - 特許庁 - TEST METHOD OF CONCRETE WATERPROOF LAYER, AND TESTING MACHINE USING SAME
コンクリート防水層の試験方法およびこの方法で使用する試験装置 - 特許庁 - DIRECT MAIL WITH DIAGNOSTIC TEST AND ADMISSION INVITATION METHOD USING THE SAME
診断テスト付きダイレクトメールおよび該ダイレクトメールを用いた入会勧誘方法 - 特許庁 - HEAT-CYCLE CREEP FATIGUE TEST PIECE AS WELL AS APPARATUS AND METHOD FOR TESTING THE SAME
熱サイクルクリープ疲労の試験片、その試験装置、及び、その試験方法 - 特許庁 - LSI INSPECTION CIRCUIT, METHOD FOR DESIGNING THE SAME AND METHOD FOR FORMING TEST PROCEDURE THEREOF
ＬＳＩ検査回路、その設計方法および試験手順作成方法 - 特許庁 - The abrasion test can be conducted on the same conditions as the actual on-vehicle conditions.
実際の車載時と同じ条件で摩耗試験を行うことができる。 - 特許庁 - CONSTANT TEMPERATURE TEST METHOD, AND TEMPERATURE PROTECTIVE CONTAINER FOR THERMOSTATIC CHAMBER USED FOR THE SAME
恒温試験方法およびそれに用いる恒温室用温度保護容器 - 特許庁 - LASER PUNCTURE DEVICE, PUNCTURE METHOD THEREFOR, AND BLOOD TEST APPARATUS USING THE SAME
レーザ穿刺装置とその穿刺方法及びこれを用いた血液検査装置 - 特許庁 - CONSTANT VOLTAGE POWER SUPPLY CIRCUIT, TEST METHOD THEREOF AND ELECTRONIC EQUIPMENT USING THE SAME
定電圧電源回路とそのテスト方法およびそれを用いた電子機器 - 特許庁 - TEST CIRCUIT FOR LIGHT RECEIVING AMPLIFIER CIRCUIT, AND OPTICAL PICKUP DEVICE USING THE SAME
受光増幅回路のテスト回路、及びこれを用いた光ピックアップ装置 - 特許庁 - NOVEL ELUTION TESTER, AND MEASURING APPARATUS INCLUDING THE SAME AND ELUTION TEST METHOD
新規な溶出試験器、それを含む測定装置及び溶出試験法 - 特許庁 - DISC-SHAPED RUBBER TEST PIECE FOR RUBBER TESTING MACHINE AND RUBBER TESTING MACHINE USING SAME
ゴム試験機用円盤状ゴム試験片およびそれを用いたゴム試験機 - 特許庁 - WATER PRESSURE TEST PLUG AND PIPE LINE CONSTITUTION METHOD USING THE SAME
水圧試験プラグおよびこの水圧試験プラグを用いた管路構成方法 - 特許庁 - SPECIMEN MEASURING SYSTEM AND TEST STRIP USED IN THE SAME
検体測定システムおよび検体測定システムで用いるための試験細片 - 特許庁 - To provide a test pattern for measuring line contact resistance and a method of manufacturing the same.
ラインコンタクト抵抗測定用テストパターン及びその製造方法の提供。 - 特許庁 - ANISOTROPIC CONDUCTIVE CONNECTOR AND TEST DEVICE HAVING THE SAME, AND MANUFACTURING METHOD OF THE SAME
異方導電性コネクターおよびそれを有する検査装置並びに異方導電性コネクターの製造方法 - 特許庁 - ULTRASONIC PROBE, ULTRASONIC TESTING DEVICE HAVING THE SAME, AND ULTRASONIC TEST METHOD USING THE SAME
超音波探触子並びにこれを有する超音波試験装置及びこれを用いた超音波試験方法 - 特許庁 - This cutter for cutting a test piece comprises a test piece placing table 10 for positioning an injection molded test piece 1 and placing the same, and a cutter head 20 for cutting desired test pieces from the placed injection molded test piece 1.
試験片裁断用カッター装置が、射出成型試験片１を位置決めして載置させる試験片載置台１０と、ここに載置された射出成型試験片１から所望試験片を切り取るカッターヘッド２０とを有して構成される。 - 特許庁 - After that, the same test pattern as the test pattern described above is sequentially recorded using the second and the subsequent line recording heads 203-205.
ついで、第２以降のライン記録ヘッド２０３〜２０５の各々により、順次、前記テストパターンと同じテストパターンを記録する。 - 特許庁 - The system includes multiple-well test panels capable of conducting ID and AST testing on the same test panels.
このシステムは、同じ試験パネル上でＩＤ試験およびＡＳＴ試験を行うことのできる多重ウェル試験パネルを含む。 - 特許庁 - To provide a nonvolatile semiconductor memory device capable of shortening the test period, and to provide a test method of the same.
試験時間を短縮することが可能な不揮発性半導体記憶装置及びその試験方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a semiconductor wafer capable of more easily performing alignment with a test apparatus than conventional, and to provide a test method of the same.
試験装置との位置合わせが従来よりも容易に行える半導体ウエハとその試験方法を提供する。 - 特許庁 - MULTI PROBE CARD UNIT, PROBE TEST DEVICE INCLUDING THE SAME, THEIR MANUFACTURING METHODS, AND METHOD OF USING PROBE TEST DEVICE
マルチプローブカードユニット、それを備えたプローブ検査装置、それらの製造方法、及びプローブ検査装置を利用する方法 - 特許庁 - The decision section determines whether the data in the memory cell array are the same as the test data and the inverted data of the test data or not.
判断部はメモリセルアレイ内のデータがテストデータやテストデータの反転データと同じであるかの可否を判断する。 - 特許庁 - Tests shall be conducted using fish, crustacea and algae (or other aquatic plants) - specifically, organisms recommended by OECD Test Guidelines and ASTM Standard Test Methods, or organisms that belong to the same genera as those recommended by OECD Test Guidelines and ASTM Standard Test Methods.
試験生物は魚類、甲殻類、藻類（または他の水生植物）とし、OECDテストガイドライン、ASTM標準試験法等に規定される推奨生物種および推奨生物種と同属の生物種とする。 - 経済産業省 - AIRTIGHTNESS TEST DEVICE AND METHOD OF WASTE WATER TRAP, AND MANUFACTURING METHOD OF SAME
排水トラップの気密性検査装置、気密性検査方法、及び製造方法 - 特許庁 - CONNECTION MONITORING DEVICE, NETWORK APPARATUS USING THE SAME, AND NETWORK TEST DEVICE
接続監視装置並びにこれを用いたネットワーク機器及びネットワーク試験装置。 - 特許庁 - To perform a test so that plural word lines are not select in a same block.
同一ブロック内で複数のワード線が選択されないようにテストを行う。 - 特許庁 - METHOD OF PURIFYING TEST BODY OR THE LIKE IN HIGH TEMPERATURE HIGH PRESSURE LOOP, AND APPARATUS FOR THE SAME
高温高圧ループにおける試験体等の純化方法及びその装置 - 特許庁 - To provide a test circuit capable of reducing the size of an integrated circuit that includes the same.
テスト回路を含む集積回路を小型化できるテスト回路を提供する。 - 特許庁 - Besides, a DC level of a driver in the same test pin is used as a determination level.
また、判定レベルとして、同じテストピン内のドライバのＤＣレベルを用いた。 - 特許庁 - TEST CHART FOR SOLID-STATE IMAGING APPARATUS, METHOD OF USING THE SAME, CHART BOARD, AND TESTING APPARATUS
固体撮像装置用テストチャート及びその使用方法、チャート盤、テスト装置 - 特許庁 - SCAN TEST CIRCUIT AND SEMICONDUCTOR DEVICE EQUIPPED WITH THE SAME AND SCAN TESTING METHOD THEREFOR
スキャンテスト回路およびそれを備えた半導体装置ならびにスキャンテスト方法 - 特許庁 - SIGNAL INTERRUPTION DEVICE AND TEST METHOD OF RADIO BASE STATION DEVICE USING THE SAME
信号遮断装置及びこれを用いた無線基地局装置の試験方法 - 特許庁 - SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT DEVICE, AND TEST DEVICE OF THE SAME
半導体集積回路装置及び半導体集積回路装置の試験方法 - 特許庁 - DATA DISASSEMBLING/ASSEMBLING DEVICE WITH TEST FUNCTION AND DATA TRANSFER SYSTEM PROVIDED WITH THE SAME
試験機能付きデータ分割組立装置及びそれを備えたデータ転送システム - 特許庁 - The parallel bit test method includes a step in which the test data are stored in the test data storage section, a step in which the test data and the inverted data of the test data are written in the memory cell array and a step in which decision is made to determine whether the data read from the memory cell array are the same as the test data and their inverted data or not.
並列ビットテスト方法は、テストデータ貯蔵部にテストデータを貯蔵する段階、メモリセルアレイにテストデータやその反転されたデータをライトする段階、メモリセルアレイから読取りしたリードデータが前記テストデータやその反転されたデータと同じであるかを判断する段階を含む。 - 特許庁 - A pattern generating circuit generates a plurality of the same continuous pattern data of test rate in the generation of a test waveform at a general test rate on the basis of the clock of the test rate generated in a rate generator, and generates a plurality of different continuous pattern data of test rate in the generation of high-speed test waveform.
パターン発生回路は、レート発生器で発生したテストレートのクロックに基づいて、通常のテストレートでテスト波形を生成するときはテストレートの複数の同じ連続パターンデータを発生し、高速のテスト波形を生成するときはテストレートの複数の異なる連続パターンデータを発生する。 - 特許庁 - To provide a semiconductor device equipped with a scan test circuit, satisfying the overall fault coverage and reduced in a chip size by simplifying the scan test circuit, and to provide a test method of the same.
スキャンテスト回路の単純化でチップサイズが低減し、全体フォールトカバレージも満足するスキャンテスト回路を備えた半導体装置及びそのテスト方法を提供する。 - 特許庁 - Since this function is adapted even to various test pieces in the same way, √At=f(hr) is determined even if a plurality of test pieces are used.
この関数は多様な試験片に対しても同様に適用できるため、複数の試験片を用いても、√At = f(hr)を定め得る。 - 特許庁
