「same test」を含む例文一覧(1147)

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  • METHOD FOR VERIFYING DISK DEFECT MANAGEMENT AREA INFORMATION AND TEST DEVICE FOR PERFORMING THE SAME
    ディスクの欠陥管理領域情報検証方法及びこれを行うためのテスト装置 - 特許庁
  • CHARGED PARTICLE BEAM APPARATUS AND TEST PIECE INFORMATION DETECTION METHOD USING THE SAME
    荷電粒子ビーム装置及び荷電粒子ビームを用いた試料情報検出方法 - 特許庁
  • SACRIFICIAL TEST PIECE FOR MONITORING LONG-TERM STRESS INTENSITY OF STRUCTURE AND METHOD FOR USING THE SAME
    構造物の長期応力度モニタリングのための犠牲試験片及びその使用方法 - 特許庁
  • With test pieces different in stress conditions from each other being supported/fixed on the plurality of support mechanisms, fatigue test is performed at the same time on the plurality of test pieces by giving vibration to the support body.
    そして、複数の支持機構に互いに応力条件が異なる試験片を支持固定して、支持体に振動を与えて、複数の試験片について同時に疲労試験を行う。 - 特許庁
  • To provide a probe card which can test characteristics of a TEG by the test equipment for an electronic circuit of a semiconductor chip, and a test method using the same.
    半導体チップの電子回路の特性をテストする設備環境において、ＴＥＧの特性テストを行うことが可能なプローブカードおよびそれを用いた試験方法を提供する。 - 特許庁
  • The outcome evaluation circuits (30/31, 40, and 50) takes in the expected value (D1, D2, ...) of the scan test with same amount of data as the test data that is contained in scan-in data to evaluate the outcome of scan test.
    結果評価回路（３０／３１，４０，５０）は、テストデータと同じデータ量を有してスキャンインデータに含まれるスキャンテストの期待値（Ｄ１，Ｄ２…）を取り込んでスキャンテストの結果を評価する。 - 特許庁
  • To provide a substrate inspection device simple in constitution capable of performing inspection (in-circuit test or function test) using a contact pin and inspection (communication test) using a communication cable at the same time.
    コンタクトピンを用いた検査（インサーキットテストやファンクションテスト）と通信ケーブルを用いた検査（通信テスト）とを同時に実行することの可能な簡易な構成の基板検査装置を提供する。 - 特許庁
  • The test path simulates the data same to that of the normal path as an input to be received, and the test path has an individual voltage reference V_ref_test applied in a test input buffer.
    テスト・パスは、入力として通常パスと同じデータをシミュレートし受信するが、テスト・パスは、テスト入力バッファに適用される別個の電圧基準（Ｖ_ｒｅｆ＿ｔｅｓｔ）を有する。 - 特許庁
  • Also, after test data is written in a memory cell, the self-test circuit discriminates whether the data read out from the memory cell is same as the written test data or not, the comparison result is accumulated.
    更に、自己試験回路は、試験データをメモリセルに書き込んだ後に、そのメモリセルから読み出した読み出しデータが、書き込んだ試験データと同じか否かを比較し、その比較結果を蓄積する。 - 特許庁
  • The remote tester is provided with a test control part which sends test signals so that operation times by test signals of fire sensors connected to the same sensor line do not overlap with each other.
    遠隔試験器には、同じ感知器回線に接続された各火災感知器の試験信号による作動時間が重複しないように試験信号を送出する試験制御部を設ける。 - 特許庁
  • The plural kinds of test elements are formed in a structure that common parts, such as using a same diffusion layer or the like, can be combined so that the plural test elements can be combined into one test element.
    すなわち、各種テスト素子について、同一拡散層を使用している等の共通化できる箇所を組み合わせる構造にして、複数のテスト素子をひとつのテスト素子にする。 - 特許庁
  • To contribute to improvement in an accuracy of test, a product yield and a reliability, by attaining the test in the worst case, which activates word lines of first and second ports by a same timing at the test.
    テスト時、第１、第２のポートのワード線を同一タイミングで活性化させる、ワーストケースでのテストを可能とし、テストの精度、製品の歩留まり、信頼性の向上に貢献する。 - 特許庁
  • In this situation, if you run the test case when there is already a running process instance initiated by the same test case,the second process instance will not be initiated and the test will fail.
    この状況で、同じテストケースによって開始された実行中のプロセスインスタンスがすでにあるときにテストケースを実行した場合、2 番目のプロセスインスタンスは開始されず、テストは失敗します。 - NetBeans
  • In the testing device, when the designated operation mode is a parallel test mode for performing the same test simultaneously in parallel by the plurality of test modules, the central processing unit controls the test operation of the plurality of test modules by executing one test process determined beforehand.
    この試験装置において、中央処理装置は、指定された動作モードが、複数の試験モジュールにより同一の試験を同時に並行して行わせる並行試験モードである場合には、予め定められた一の試験用プロセスを実行することより複数の試験モジュールにおける試験動作を制御する。 - 特許庁
  • To provide a sample test system and a sample test method that can simply and reliably batch-change the setting conditions of a plurality of test apparatuses to the same setting conditions, in facilities, such as a testing center having a plurality of test apparatuses of the same type.
    検査センターなどの同一種類の検査装置を複数台有する施設において、複数の検査装置の設定条件を労することなく確実に、かつ一括してその設定条件を同一設定条件に変更できる検体検査システムおよび検体検査方法を提供する。 - 特許庁
  • In the read/write test, test lengths having the specified lengths for all of the laps are set, and a test pattern is written into the part of the test length, and further, the same pattern is read out to verify the existence of the trouble to the device or the tape.
    リード・ライト試験ではすべてのラップについて所定の長さの試験長を設定し、当該試験長部分に対してテスト・パターンを書き込み、さらに同パターンを読み取って装置またはテープへのトラブルの有無を検証する。 - 特許庁
  • The operation test or stress test conducted by using a terminal provided on the driver 1 for driving displays and dust detecting test using measuring terminals 6, 7 of the dust detecting circuit are conducted with the wafer test in the same step.
    上記表示装置駆動用ドライバ１上に設置された端子を使用して行う動作テストまたはストレステストと、ダスト検知用回路の測定端子６，７を使用して行うダスト検知テストとを、同工程のウエハテストにて行う。 - 特許庁
  • A fare adjustment program is stored in a storage means, and second test data different from first test data input by an input means and resulting in the same charge as that of the first test data are prepared from the first test data.
    記憶手段に精算プログラムを記憶しておき、入力手段により入力した第１のテストデータから第１のテストデータと異なり、かつ、前記第１のテストデータと精算額が同一金額となる第２のテストデータを作成する。 - 特許庁
  • To provide a test device and a test method capable of easily measuring and evaluating the transistor characteristic of the same lot or the same wafer, and measuring a high-speed timing with high accuracy.
    同一ロットあるいは同一ウェハのトランジスタ特性をテスタ上で容易に測定、評価でき、高速タイミングを高精度で測定することができるテスト装置及びテスト方法を提供する。 - 特許庁
  • In this case, a test pattern 3 for impedance measurement is formed in the same layer as the internal layer circuit 1, and at the same time at least one end of the test pattern 3 is exposed on an end face 16 at the core 2.
    内層回路１と同じ層にインピーダンス測定用のテストパターン３を形成すると共にテストパターン３の少なくとも一端をコア部２の端面１６に露出する。 - 特許庁
  • TEST SENSOR FOR CRYSTAL GROWTH/DISSOLUTION RATE TEST, METHOD FOR PRODUCING THE SAME, AND IN-SITU CRYSTAL GROWTH/DISSOLUTION RATE MEASURING METHOD USING THE SENSOR
    結晶成長・溶解速度試験用試験センサー及びその製造方法並びにそれを用いた原位置結晶成長・溶解速度測定法 - 特許庁
  • Exemplary embodiments can maintain about the same coverage and about the same diagnostic resolution as those of conventional scan-based test scenarios.
    例示的な実施形態は、従来のスキャンベースのテストシナリオとほぼ同じカバレッジおよびほぼ同じ診断分解能を維持できる。 - 特許庁
  • IMAGING APPARATUS, SURFACE MOUNT MACHINE USING THE SAME, COMPONENT TEST DEVICE, AND SCREEN PRINTING DEVICE
    撮像装置およびこれを用いた表面実装機、部品試験装置、ならびにスクリーン印刷装置 - 特許庁
  • AV PERFORMANCE TEST METHOD, MANUFACTURING METHOD FOR MAGNETIC DISK DEVICE USING THE SAME, AND MAGNETIC DISK DEVICE
    ＡＶ性能検査方法とそれを用いた磁気ディスク装置の製造方法および磁気ディスク装置 - 特許庁
  • TEMPERATURE TEST SYSTEM FOR ELECTRONIC APPARATUS AND METHOD OF CONTROLLING THE SAME AND TEMPERATURE CONTROL UNIT AND PROGRAM
    電子機器の温度試験システムとその制御方法および温度調整装置ならびにプログラム - 特許庁
  • CONTACTOR FOR ELECTRICAL TEST, ELECTRICAL CONNECTING APPARATUS USING THE SAME, AND METHOD FOR MANUFACTURING CONTACTOR
    電気試験用接触子、これを用いる電気的接続装置、及び接触子の製造方法 - 特許庁
  • METHOD FOR CONFIRMING DEFECT MANAGEMENT AREA INFORMATION OF OPTICAL DISK AND TEST DEVICE FOR PERFORMING THE SAME
    光ディスクの欠陥管理領域情報の確認方法及びこれを行うためのテスト装置 - 特許庁
  • TEST PIECE FOR ESTIMATING CREEP LIFETIME, AND ESTIMATION METHOD OF CREEP LIFETIME USING THE SAME
    クリープ寿命を推定するための試験片、およびそれを用いたクリープ寿命の推定方法 - 特許庁
  • To provide a semiconductor circuit which can be tested efficiently, and a test method for the same.
    効率よくテストを行うことが可能な半導体回路およびそのテスト方法を提供する。 - 特許庁
  • To provide a method for facilitating test printing of the same data in a plurality of print methods.
    複数の印刷方法で同一データの試し刷りを容易に行える方法を提供する。 - 特許庁
  • Then, test vectors to be used for the simulation of the selected simulation model are selected in the same way.
    次いで、選択されたシミュレーションモデルのシミュレーションに使用するテストベクタを同様に選択する。 - 特許庁
  • TEST METHOD OF BULLET CORE CONSUMPTION CHARACTERISTIC AND OPTIMIZATION TECHNIQUE USING THE SAME FOR COMPOSITE ARMORING STRUCTURE
    弾芯消耗特性試験法及びこれを用いた複合装甲構造の最適化手法 - 特許庁
  • The test tone signals STC to STRB are supplied to object speakers 14C to 14RB at the same time.
    このテストトーン信号ＳTC〜ＳTRBを、対象とするスピーカ１４Ｃ〜１４ＲBに同時に供給する。 - 特許庁
  • PRINTING METHOD WITH TEST PATTERN INSERTED IN MASS PRINTING JOB, AND PRINTER USING THE SAME
    大量印刷ジョブにおけるテストパターンを挿入する印刷方法及びそれを用いたプリンタ - 特許庁
  • FOCUS DETECTOR AS WELL AS OBJECTIVE LENS, OPTICAL MICROSCOPE OR OPTICAL TEST APPARATUS HAVING THE SAME
    焦点検出装置、及びそれを備えた対物レンズ、光学顕微鏡又は光学検査装置 - 特許庁
  • PATTERN TEST DEVICE USING ELECTRON BEAM, AS WELL AS MANUFACTURING METHOD OF SEMICONDUCTOR DEVICE USING THE SAME
    電子ビームを用いたパターン検査装置、並びに、それを用いた半導体デバイス製造方法 - 特許庁
  • It is preferable to use the same test pattern for the 1st simulation and the 2nd simulation.
    前記第１のシミュレーションと第２のシミュレーションとは同一のテストパターンによるものが好ましい。 - 特許庁
  • WIRE BONDING DEVICE, WIRE BONDING METHOD USING THE SAME AND TEST METHOD FOR SEMICONDUCTOR CHIP
    ワイヤボンディング装置およびそれを用いたワイヤボンディング方法ならびに半導体チップの試験方法 - 特許庁
  • Tom and Mary gave exactly the same answers on the test, which made the teacher suspicious.
    トムとメアリーは、テストで全く同じ回答を書いてしまったため、先生の疑惑を招いてしまった。 - Tatoeba例文
  • Same as the ExportClientHistogram test, butusing a Control Plane to identify the area of interest.
    \\-exportclienthistogramcplane1 〜 \\-exportclienthistogramcplane4ExportClientHistogram テストとほぼ同じであるが、注目する領域を識別するために制御プレーンを用いる。 - XFree86
  • A test method has a step selecting a circuit form of a test so that the same tiles are programmed in the same way as much as possible, and a step programming simultaneously and erasing simultaneously plural memory rows corresponding to the tile in a circuit form of a test.
    テスト方法は、同一のタイルはできるだけ同一にプログラムされるようにテストの回路形態を選択するステップと、該タイルに対応する複数のメモリ行を、該テストの回路形態に、同時にプログラム及び同時に消去するステップとを有する。 - 特許庁
  • To execute a self-test by using a signal path which is the same as that in its normal use, and to make it unnecessary to overlap an address space for a self-test ROM, and to reduce a self-test ROM capacity.
    通常使用時と同じ信号経路を用いてセルフテストが実施でき、セルフテストＲＯＭのためにアドレス空間を重複させる必要がなく、セルフテストＲＯＭ容量を削減できるようにすること。 - 特許庁
  • The two test areas that configure the first pair have the same test area consumption direction, and the test areas are disposed such that regions to be subsequently used do not easily overlap each other.
    また第１ペアを構成する２つのテストエリアは、それぞれテストエリアの消費方向が同一とされるとともに、各テストエリアは、次に使用する領域が互いに層方向に重なりにくいように配置する。 - 特許庁
  • Patterns of respective test patterns and a pad part are disposed, so that a same probe card is used for measuring the N-channel TFT test pattern 130 and the P-channel TFT test pattern 140.
    ＮチャネルＴＦＴテストパターン１３０とＰチャネルＴＦＴテストパターン１４０の測定には同一のプローブカードが用いられるように、それぞれのテストパターンのパターン及びパッド部が配置されている。 - 特許庁
  • To hold a plurality of types of test tubes T with different outer diameters by using the same holder without using an adapter, and further to adjust the center of the test tube T to the center of a test tube holder 1.
    アダプタを使用することなく、外径の異なる複数種の試験管Ｔを同一のホルダで保持し、さらに、その試験管Ｔの中心を試験管ホルダ１の中心に合わせることである。 - 特許庁
  • A performance test result display part 102 is able to display various graphs by comparing a plurality of performance test result data based on the same performance test contents identified by the performance test contents identification information according to the selection of the user.
    性能試験結果表示部１０２は、利用者の選択に応じて、性能試験内容識別情報で識別される同一の性能試験内容に基づく複数の性能試験結果データを比較した、各種のグラフを表示可能としている。 - 特許庁
  • To provide a component measuring chip capable of certainly guiding a very small amount of body fluids to test paper to rapidly and certainly develop the same on the test paper.
    微量の体液を試験紙まで確実に導いて、当該試験紙に迅速かつ確実に展開させることができる成分測定用チップを提供すること。 - 特許庁
  • This friction tester 10 allows friction test for a multitude of pad test pieces to be performed accurately and efficiently under the same conditions.
    これにより、本実施形態の摩擦試験機１０では、同一条件で多数のパッド試験片の摩擦試験を的確、かつ効率的に行うことができる。 - 特許庁
  • A test pattern generating means 40 generates a test pattern T with the same data value as the code pattern data based on the set range and the initial value I.
    試験パターン生成手段４０は、設定された範囲及び初期値Ｉにもとづいて、符号パターンデータと同一のデータ値を持つ試験パターンＴを生成する。 - 特許庁
  • Further, based on the first relation information, second relation information for relating a test having the same cause in which the test resulted in rejection is created.
    さらに、第１関係情報に基づいて、試験が不合格となった原因が同じである試験を関連付ける第２関係情報を作成する。 - 特許庁
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