「sample device」を含む例文一覧(4634)
＜前へ 1 2 .... 15 16 17 18 19 20 21 22 23 .... 92 93 次へ＞- CHARGED PARTICLE BEAM DEVICE AND SAMPLE CHAMBER THEREFOR
荷電粒子ビーム装置及び荷電粒子ビーム装置用試料室 - 特許庁 - The pressure fixing device 20 has a sample handling function.
また、この押圧固定装置２０は試料ハンドリング機能を備えている。 - 特許庁 - DEVICE AND METHOD FOR REMOVING TARGET AGENT FROM SAMPLE
サンプルから標的因子を除去するためのデバイス及び方法 - 特許庁 - The target agents attach the device and are removed from the sample.
標的因子は、このデバイスに結合し、サンプルから除去される。 - 特許庁 - SAMPLE ANALYZER AND PIPETTE CLEANING DEVICE USED FOR THE SAME
試料分析装置とその装置に用いるピペット洗浄装置 - 特許庁 - FRICTION EVALUATION DEVICE, FRICTION EVALUATION METHOD AND SAMPLE MANUFACTURING METHOD
摩擦評価具、摩擦評価方法及びサンプルの製造方法 - 特許庁 - SAMPLE INTRODUCTION METHOD AND DEVICE IN GAS COMPONENT ANALYSIS
気体成分分析における試料導入方法および装置 - 特許庁 - PARAFFIN INFILTRATION PROCESS FOR TISSUE SAMPLE AND PROCESSING DEVICE THEREFOR
組織標本のパラフィン浸透処理方法及びその処理装置 - 特許庁 - METHOD AND DEVICE TO PLAY BACK OPTICAL DISK WITH SAMPLE DATA RECORDED THEREON
デモ用データが記録された光ディスクの再生方法と装置 - 特許庁 - ELECTRICALLY-CHARGED PARTICLE BEAM DEVICE FOR TESTING OR TREATING SAMPLE
試料を検査または処理するための荷電粒子ビーム装置 - 特許庁 - METHOD AND DEVICE FOR COLOR MEASUREMENT OF PLANE SAMPLE
平面試料の色測定を行うための方法および装置 - 特許庁 - PRESSURE VESSEL, SAMPLE DECOMPOSITION DEVICE, AND PRETREATMENT METHOD FOR ELEMENTARY ANALYSIS
耐圧容器、試料分解装置、及び元素分析前処理法 - 特許庁 - ELECTRON BEAM DEVICE AND GAS REACTION SAMPLE HOLDER FOR ELECTRON MICROSCOPE
電子線装置及び電子顕微鏡用ガス反応試料ホルダ - 特許庁 - SAMPLING DEVICE OF SAMPLE SOIL IN UNSOLIDIFIED STATE AND SAMPLING METHOD
未硬化状態の試料土の採取装置及び採取方法 - 特許庁 - FREE SAMPLE DISTRIBUTION METHOD, DISTRIBUTION DATA COLLECTION DEVICE AND PROGRAM
試供品の配布方法、配布データ収集装置及びプログラム - 特許庁 - DEVICE AND METHOD FOR TRANSFERRING SAMPLE FROM SOURCE TO TARGET
試料をソースからターゲットに移送するための装置および方法 - 特許庁 - SAMPLE PREPARATION METHOD AND DEVICE BY COMPOSITE CHARGE PARTICLE BEAM
複合荷電粒子ビームによる試料作製方法および装置 - 特許庁 - MANUFACTURE OF COSMETIC SAMPLE SHEET AND DEVICE USED THEREFOR
化粧品サンプルシートの製造方法およびそれに用いる装置 - 特許庁 - METHOD AND DEVICE FOR SURFACE MEASUREMENT BY SAMPLE CURRENT SPECTRUM
試料電流分光式表面測定法及び測定装置 - 特許庁 - FLUIDIC SEPARATION DEVICE AND METHOD WITH REDUCED SAMPLE BROADENING
試料の広がりを低減した流体分離装置および方法 - 特許庁 - METHOD AND DEVICE FOR MEASURING THICKNESS AND REFRACTIVE INDEX OF SAMPLE PIECE
試料片の厚さ及び屈折率の計測方法及び装置 - 特許庁 - ANALYTICAL METHOD AND ANALYTICAL DEVICE OF TRACE MATERIAL IN SAMPLE
試料中の微量物質の分析方法及び分析装置 - 特許庁 - To provide an evaluation device and an evaluation method capable of evaluating quickly a feature of a sample.
試料の特徴を迅速に評価することができる。 - 特許庁 - SAMPLE CHARACTERISTIC MEASURING DEVICE AND MEASURING METHOD BY LIGHT SCATTERING
光散乱による試料特性計測装置および計測方法 - 特許庁 - MICRO-REACTOR, ITS MANUFACTURING METHOD AND SAMPLE SCREENING DEVICE
マイクロリアクタ及びその製造方法、並びに試料スクリーニング装置 - 特許庁 - METHOD AND DEVICE FOR EVALUATING HYDRATION DEGREE OF SAMPLE
試料の水和度を評価する方法及び水和度の評価装置 - 特許庁 - METHOD AND DEVICE FOR GATHERING SAMPLE OF INHOMOGENEOUS SOLID RAW MATERIAL
非均質性固体原料の試料採取方法及び装置 - 特許庁 - PATTERN DISCRIMINATOR, PATTERN DISCRIMINATING METHOD AND INSPECTION DEVICE OF SAMPLE
パターン識別装置、パターン識別方法及び試料検査装置 - 特許庁 - ALIGNER, METHOD FOR SELECTING SAMPLE SHOT AND MANUFACTURING METHOD OF DEVICE
露光装置、サンプルショットの選択方法およびデバイス製造方法 - 特許庁 - SAMPLE POTENTIAL INFORMATION DETECTION METHOD AND CHARGED PARTICLE BEAM DEVICE
試料電位情報検出方法及び荷電粒子線装置 - 特許庁 - METHOD FOR DRYING AND TREATING FINE STRUCTURE, ITS DEVICE AND SAMPLE HOLDER
微細構造乾燥処理方法とその装置及びサンプルホルダ - 特許庁 - EXISTENCE OF GAS SAMPLE, MEASURING METHOD OF CONCENTRATION, AND GAS SENSOR DEVICE
ガス試料の存在、濃度の計測方法、及びガスセンサ装置 - 特許庁 - MAGNETIC CHARACTERISTICS EVALUATION DEVICE AND MAGNETIC CHARACTERISTICS MEASUREMENT SAMPLE PIECE
磁気特性評価装置および磁気特性測定用試料片 - 特許庁 - WEIGHING METHOD, WEIGHING DEVICE AND PREPROCESSING APPARATUS FOR SAMPLE ANALYSIS
秤量方法、秤量装置及び試料分析前処理装置 - 特許庁 - GAS SAMPLE INTRODUCTION DEVICE AND GAS CHROMATOGRAPH USING THE SAME
気体試料導入装置及びそれを備えたガスクロマトグラフ装置 - 特許庁 - DEVICE AND METHOD FOR PREPARING SAMPLE CROSS SECTION USING ION BEAM
イオンビームを用いた試料断面作製装置及び作製方法 - 特許庁 - PIPETTE CLEANING MEMBER, PIPETTE CLEANING DEVICE, AND SAMPLE ANALYZING APPARATUS
ピペット洗浄部材、ピペット洗浄装置及び試料分析装置 - 特許庁 - LEAF SAMPLE PREPARING METHOD AND COMPOSITE CONVERGED ION BEAM DEVICE
薄片試料作製方法および複合集束イオンビーム装置 - 特許庁 - MASS SPECTROMETRY AND DEVICE FOR ANALYZING SAMPLE IN SOLUTION
溶液中のサンプルを分析する質量分析法及び装置 - 特許庁 - SAMPLE POSITIONING TOOL FOR TESTING WITHSTAND VOLTAGE, AND WITHSTAND VOLTAGE TESTING DEVICE
耐電圧試験用試料位置決め具、及び耐電圧試験装置 - 特許庁 - COMPARTMENTALIZED DEVICE FOR CELL CULTURE, CELL PROCESSING, AND SAMPLE DIALYSIS
細胞培養、細胞処理及び試料透析用仕切り付装置 - 特許庁 - SAMPLE ANALYSIS DEVICE EQUIPPED WITH FOCUSING ION BEAM MACHINING/OBSERVATION APPARATUS
収束イオンビーム加工観察装置を備える試料解析装置 - 特許庁 - CHARGED PARTICLE BEAM DEVICE EQUIPPED WITH SIDE ENTRY TYPE SAMPLE MOVING MECHANISM
サイドエントリ型試料移動機構を備えた荷電粒子線装置 - 特許庁 - SYRINGE, AND INFUSION SAMPLE INTRODUCING DEVICE USING THE SAME
シリンジ、及びこのシリンジを用いたインフュージョン試料導入装置 - 特許庁 - SIMULATION DEFECT SAMPLE AND SENSITIVITY DETECTING METHOD FOR DEFECTIVE INSPECTING DEVICE
模擬欠陥サンプル及び欠陥検査装置の感度検出方法 - 特許庁 - DEVICE FOR EVALUATING MIXING HAZARD, AND SAMPLE CONTAINER USED THEREFOR
混合危険性評価装置およびこれに使用する試料容器 - 特許庁 - METHOD AND DEVICE FOR MEASURING QUANTITY OF SAMPLE INSIDE TRANSPARENT CONTAINER
透明容器内試料の分量測定方法およびその装置 - 特許庁 - SAMPLE TABLET COLLAPSING DEVICE, COLLAPSE TEST DEVICE AND COLLAPSE/ELUTION TEST SYSTEM USING THE SAME, AND SAMPLE TABLET COLLAPSE TEST METHOD
試料錠崩壊装置、それを用いた崩壊試験装置及び崩壊・溶出試験システム、ならびに試料錠崩壊試験方法 - 特許庁 - To provide a sample holding device for an electron beam device capable of observing reaction between a sample and a gas.
本発明の目的は、試料とガスの反応が観察可能な電子線装置用試料保持装置を提供することにある。 - 特許庁 - To detect contamination in a tank for putting a sample therein, of an environmental test device performing an accelerated test of a sample of a semiconductor device and the like.
半導体装置等の試料の加速試験を行う環境試験装置の、試料を入れる槽内の汚染を検知する。 - 特許庁
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