「sample device」を含む例文一覧(4634)
＜前へ 1 2 .... 19 20 21 22 23 24 25 26 27 .... 92 93 次へ＞- GEOLOGICAL SAMPLE COLLECTING DEVICE AND WASTE COLLECTING METHOD USED FOR THE SAME
地質試料採取装置および、これを用いた廃棄物の採取方法 - 特許庁 - CHARGED PARTICLE BEAM DEVICE, AND SAMPLE SURFACE OBSERVATION METHOD USING THE SAME
荷電粒子線装置及びこれを用いた試料表面観察方法 - 特許庁 - OPTICAL DEVICE FOR OBTAINING INFORMATION ON SAMPLE OR OBJECT TO BE OBSERVED
試料または観察対象物の情報取得のための光学装置 - 特許庁 - LIVING BODY ANALYZING DEVICE, AND METHOD FOR QUANTIFYING AND AGITATING SAMPLE USING IT
生体分析用デバイスおよびそれを用いた試料定量攪拌方法 - 特許庁 - HIGH-SPEED COLLECTING METHOD OF SAMPLE AND HIGH-SPEED DILUTING DEVICE USING IT
試料の高速採取方法、及び、これを用いた高速希釈装置 - 特許庁 - To obtain a device which irradiates a sample in a volume rendering pipeline.
ボリュームレンダリングパイプラインにおいてサンプルを照射する装置を提供する。 - 特許庁 - FULL AUTOMATIC REFINING, ANALYZING DEVICE, METHOD FOR CONTINUOUSLY REFINING, AND ANALYZING SAMPLE
全自動試料連続精製・分析装置及び精製・分析方法 - 特許庁 - TEST PIECE HOLDING MEMBER AND EXCESS SAMPLE LIQUID REMOVING DEVICE BY USING IT
試験片保持部材およびこれを用いた余剰試料液除去装置 - 特許庁 - The sample storage device 1 includes a main case 2 fixed and attached to a processing chamber 21 of a sample preparing device 20 and a detachable case 10.
試料保存装置１は、試料作製装置２０の加工室２１に固定して取り付けられたメインケース２と、脱着型ケース１０とからなる。 - 特許庁 - MICROFLUID DEVICE WITH DISCHARGE MECHANISM AND DISCHARGE METHOD OF VERY SMALL AMOUNT OF SAMPLE
吐出機構付マイクロ流体デバイス及び微量サンプル吐出方法 - 特許庁 - MONITOR DEVICE FOR ANALYZING SAMPLE AND COMBUSTION CONTROL SYSTEM USING THE SAME
試料分析用モニタ装置及びそれを用いた燃焼制御システム - 特許庁 - DLTS SAMPLE STRUCTURE, DLTS MEASURING METHOD, AND SEMICONDUCTOR DEVICE
ＤＬＴＳサンプル構造、ＤＬＴＳ測定方法および半導体デバイス - 特許庁 - METHOD FOR OPERATING DEOXYRIBONUCLEIC ACID, DEVICE FOR OPERATING POLYMER, AND SAMPLE CELL
デオキシリボ核酸の操作方法、高分子の操作装置、及び試料セル - 特許庁 - DEVICE AND METHOD FOR INJECTING SAMPLE IN SUPERCRITICAL FLUID CHROMATOGRAPHY
超臨界流体クロマトグラフィーにおける試料注入装置及び方法 - 特許庁 - SAMPLE ANALYZER, LIQUID SUCTION DEVICE THEREFOR, AND PIPETTE WASHER
試料分析装置とその液体吸引装置およびピペット洗浄装置 - 特許庁 - SURFACE FLAW INSPECTION DEVICE OF SAMPLE, AND FLAW DETECTION METHOD USING THE SAME
試料表面の欠陥検査装置及びその欠陥検出方法 - 特許庁 - METHOD OF EXTRACTING COMPONENT FROM SAMPLE, AND DEVICE USED FOR THE SAME
試料から成分を抽出する方法、並びにそれに用いる装置 - 特許庁 - To provide a measurement method and an analysis method of a sample surface and a measuring device and an analytical device of the sample surface, capable of acquiring accurately information of the sample surface by a device having a simple structure.
簡易な構成の装置によって正確に試料表面の情報を得ることができる試料表面の測定方法及び分析方法並びに試料表面の測定装置及び分析装置を提供する。 - 特許庁 - To provide an automatic sample exchange device for an NMR device capable of preventing the occurrence of artificial errors, when a measuring person stores a sample in a slot.
測定者がスロットに試料を格納する際に、人為的ミスが起こらないようなＮＭＲ装置用自動試料交換装置を提供する。 - 特許庁 - To provide a method of preparing a sample and a device therefor wherein only a sample piece including a desired specific area from a semiconductor and a device chip is taken out, and the sample is mounted on the sample stage of an analyzer/measuring device, dispensing with a hand-working sample preparation process which requires experience, skills and time.
半導体ウエハやデバイスチップから所望の特定領域を含む試料片のみをサンプリング（摘出）して、分析／計測装置の試料ステ−ジに、経験や熟練や時間のかかる手作業の試料作り工程を経ることなく、マウント（搭載）する試料作製方法およびその装置を提供すること。 - 特許庁 - To provide a scanning electron microscope provided with a highly reliable holding and dismounting mechanism allowing a sample to be changed on a sample table and a sample transfer device which allow the sample table to be easily be extracted from a sample changing chamber and replaced.
本発明の目的は、試料台に於いて、試料が確実に、かつ、信頼性の高い保持脱着機構と、試料交換室から試料台が容易に取り外し交換できる試料移送装置を備えた走査型顕微鏡を提供することである。 - 特許庁 - SAMPLE TREATING DEVICE FOR HIGHLY SENSITIVE ANALYSIS OF IMPURITIES IN SILICEOUS SAMPLE TO BE ANALYZED, AND ANALYZING METHOD USING THE SAME
珪素質分析試料中の不純物高感度分析のための試料処理器及びそれを用いた分析方法 - 特許庁 - To fix a sample with an arbitrary shape and thickness regardless of the shape and thickness of the sample in an X-ray diffraction device.
Ｘ線回折装置において、試料の形状や厚みに係わらず任意の形状や厚みの試料を固定する。 - 特許庁 - To provide a sample water pretreatment device for finely smashing the solid component (SS) in the sample water.
試料水中のＳＳ分を、微細な大きさに粉砕することができる試料水前処理装置を提供すること。 - 特許庁 - A sample SA is injected in an eluant SS by a sample injecting device 23 and passed through both an auxiliary mixer 25 and a mixer 27.
試料ＳＡは、試料注入装置２３で溶離液ＳＳに注入されて補助ミキサ２５やミキサ２７を通過する。 - 特許庁 - To provide a sample observation method capable of a detailed observation of a sample with the use of an identical electron beam device.
同一の電子線装置を使用して試料の詳細観察をすることができる試料観察方法を提供する。 - 特許庁 - The sample alignment device 150 is provided with a sample alignment stage 170, composed of a tray 172 and a pair of guide rails 176.
試料整列器１５０は、トレイ１７２及び一対のガイドレール１７６から成る試料整列台１７０を備えている。 - 特許庁 - TEM SAMPLE WITH IDENTIFICATION FUNCTION, TEM SAMPLE-PROCESSING FOCUSED ION BEAM DEVICE AND TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE
識別機能を備えたＴＥＭ試料及びＴＥＭ試料加工用集束イオンビーム装置並びに透過型電子顕微鏡 - 特許庁 - A sample processing means 3 is provided in opposed relation to the sample probe part 2 of the observation device of the nanolevel structural composition.
ナノレベル構造組成観察装置内の試料探針部２に対向する形で、試料加工手段３を備える。 - 特許庁 - To provide a sample liquid dilution device that is inexpensive, is easily operated, and automatically performs accurate sample liquid dilution.
安価かつ操作が容易で高精度のサンプル液希釈を自動で行うことができるサンプル液希釈装置の提供。 - 特許庁 - METHOD AND APPARATUS FOR PREPARING SAMPLE FOR USE IN ANALYZING DIOXINS, AND SAMPLING DEVICE FOR SAMPLE USED IN ANALYZING DIOXINS
ダイオキシン類分析用試料の調製方法および調製装置並びにダイオキシン類分析用試料の採取装置 - 特許庁 - The sample distribution device takes out the sample of the determined kind from a storage means, and provides it to the user.
試供品配布装置は、決定された種類の試供品を、収容手段から取り出して利用者に提供する。 - 特許庁 - To provide a sample container rotating device capable of rotating a sample container without complicating a driving mechanism.
駆動機構が複雑化することなく、試料容器を回転させることが可能な試料容器回転装置を提供する。 - 特許庁 - To provide an image processing device capable of highly precisely analyzing an object sample image according to phenomena of the object sample.
対象標本の現象に即して、対象標本画像を高精度で解析できる画像処理装置を提供する。 - 特許庁 - To provide an active gas sample collecting method capable of using even a battery power supply, and a portable compact gas sample collecting device using the same.
携帯も可能な小型で電池電源も使用可能なアクティブ気体採集方法及び装置を提供すること。 - 特許庁 - PREPARATION METHOD FOR EVALUATION SAMPLE, ANALYTICAL METHOD, PRODUCTION METHOD FOR ELECTRONIC COMPONENT MATERIAL, ELECTRONIC COMPONENT, AND EVALUATION SAMPLE PREPARATION DEVICE
評価試料の作製方法、分析方法、電子部品材料の生産方法、電子部品及び評価試料作製装置 - 特許庁 - To suppress occurrence of temperature nonuniformity between the upside and downside of a sample vessel 2 mounted to a rack 51 in a sample cooling device.
試料冷却装置において、ラック５１に装架された試料容器２の上下間の温度ムラの発生を抑制する。 - 特許庁 - To provide an image processing device capable of analyzing an objective sample image with high accuracy right in developing the objective sample.
対象標本の現象に即して、対象標本画像を高精度で解析できる画像処理装置を提供する。 - 特許庁 - The information provision device 121 produces sample information from the obtained information and stores it in sample information database 125.
情報提供装置１２１は、取得した情報から、サンプル情報を生成し、サンプル情報データベース１２５に格納する。 - 特許庁 - SAMPLE HOLDER-ELECTRODE HOLDER INTEGRATED UNIT, POSITIONING BASE, ATOM PROBE, AND ASSEMBLY METHOD OF SAMPLE AND ELECTRODE ONTO DEVICE
試料ホルダ電極ホルダ一体化ユニット、位置調整台、アトムプローブ、並びに試料及び電極の装置への組付方法 - 特許庁 - UNFIXED-TYPE SAMPLE HOLDER WHICH DOES NOT INTERFERE WITH REFLECTION HIGH-ENERGY ELECTRON DIFFRACTION OBSERVATION AND COMPOSITE DEVICE USING THE SAMPLE HOLDER
反射高速電子回折観察を妨げない試料非固定式の試料ホルダー及びそれを使用した複合装置 - 特許庁 - A microliter liquid sample, particularly a biological sample, is analyzed in a device employing centrifugal and capillary forces.
遠心力及び毛細管力を用いるデバイス内でマイクロリットル液体試料、特に生物学的試料を分析する。 - 特許庁 - To reduce an influence caused by resonance of a support device for supporting a sample, when detecting vibration of the sample.
供試体の振動を検出する際に、その供試体を支持する支持装置の共振の影響をできるだけ少なくする。 - 特許庁 - To accurately detect existence or nonexistence of a sample container in a measuring chamber by a simple composition in a sample emission measuring device.
試料発光測定装置において、測定室内の試料容器の有無を簡単な構成で高精度に検出する。 - 特許庁 - This volatile component extracting device is provided with a sample tube 10 for hosing a sample formed of the solid matter containing the volatile component, a gas-filling device 16 for filling the sample tube with an inert gas, a thermostatic chamber 12 for housing the sample tube for holding the sample housed in the sample tube at a predetermined temperature, and a canister 20 in a previously decompressed state selectively connected to the sample tube.
揮発性成分を含む固形物からなる試料を収納する試料管１０と、この試料管に不活性ガスを充填するガス充填装置１６と、前記試料管を収容して該試料管に収納された前記試料を所定の温度に保つ恒温槽１２と、予め減圧された状態で前記試料管に選択的に接続されるキャニスタ２０とを備える。 - 特許庁 - To obtain a sample alignment device for a grain image reader, with which grains as a sample can be placed simply and quickly on a sample base in an aligned state.
簡単かつ迅速に、試料となる穀粒を試料台上に整列した状態で載置させることができる穀粒画像読取装置用試料整列器を得る。 - 特許庁 - A metal film 5 for preventing charge-up is applied to the surface of a sample 10 and is subsequently introduced into an FIB device to cut a sample piece 11 from the sample 10.
試料１０の表面にチャージアップ防止用の金属膜５のコートを施し、その後、ＦＩＢ装置に導入し、試料１０から試料片１１を切り出す。 - 特許庁 - A quality operation device 8 determines the qualities of the gas sample and the liquid sample in the sample main tube 1 on the basis of output results from the infrared analyzers 10, 20.
分量演算装置８は、赤外線分析装置１０，２０の出力結果に基づいて試料本管１の気体試料及び液体試料の分量を求める。 - 特許庁 - To provide an automatic analyzing device capable of washing the external face having been in contact with a sample on a sample dispensing probe without sacrificing the dispensing accuracy of the sample of the lower layer.
下層試料の分注精度を低下させることなくサンプル分注プローブの試料と接触した外面を洗浄することができる自動分析装置を提供する。 - 特許庁 - To provide a sample chamber for laser ablation, a laser ablation device and a sample analyzer capable of suppressing adhesion of particles onto the inner wall of the sample chamber or the like.
試料室等の内壁への微粒子の付着を抑えることができるレーザアブレーション用試料室、レーザアブレーション装置及び試料分析装置を提供すること。 - 特許庁
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