「sample device」を含む例文一覧(4634)
＜前へ 1 2 .... 21 22 23 24 25 26 27 28 29 .... 92 93 次へ＞- METHOD FOR DETECTING IMAGE OF ORGANISMIC SAMPLE BY HETERODYNE DETECTION AND ITS DEVICE
ヘテロダイン検波による生体試料の画像検出方法及びその装置 - 特許庁 - STRESS MEASURING INSTRUMENT FOR MICROTOME AND SAMPLE DETERMINING DEVICE FOR MICROTOME
ミクロトーム用応力測定装置、およびミクロトームにおける試料判定装置 - 特許庁 - METHOD FOR ADJUSTING OPTICAL AXIS OF SUBSTRATE INSPECTION DEVICE, AND OPTICAL AXIS ADJUSTING SAMPLE
基板検査装置の光軸調整方法および光軸調整用サンプル - 特許庁 - To one of electrodes of a sample switching device 1 in an open circuit state, a direct current voltage equivalent to the rated voltage peak value of the sample switching device is applied.
開路状態の供試開閉装置１の電極の片側に供試開閉装置定格電圧波高値相当の直流電圧を印加する。 - 特許庁 - This device can be applied for a device measuring distortion inside a sample or measuring other properties or attributes of the sample for example such as temperature.
本装置は、試料内の歪みを測定するための或いは例えば温度のような試料の他の特性又は属性を測定するための機器とすることができる。 - 特許庁 - PRELIMINARY TREATMENT METHOD AND DEVICE FOR SAMPLE FOR ANALYZING TRACE ELEMENT IN METAL
金属中微量成分分析用試料の予備処理方法および装置 - 特許庁 - The magnetic measurement device capable of exciting the sample and also measuring the physical properties of the sample is provided with a device for controlling the temperature distribution.
試料を励磁することができ、かつ前記試料の物性を測定する磁気的測定装置において、前記試料の温度分布を制御する装置を備える。 - 特許庁 - CHARGED PARTICLE BEAM DEVICE, AND SAMPLE SUPPLY METHOD FOR IT
荷電粒子線装置および荷電粒子線装置用試料供給方法 - 特許庁 - To provide a sample introducing device capable of measuring precisely a sample quantity introduced into a medium even when the quantity is a micro- quantity, and capable of compactifying the device.
媒体中に導入されるサンプルの量が微量となっても精度良く計量でき、装置の小型化もできる試料導入装置を提供すること。 - 特許庁 - SAMPLE-COOLING DEVICE FOR X-RAY ANALYSIS APPARATUS, AND X-RAY ANALYSIS APPARATUS
Ｘ線分析装置の試料冷却装置及びＸ線分析装置 - 特許庁 - IMMUNOLOGICAL DETECTION METHOD AND DEVICE OF PROTOPORPHYRINS IN BIOLOGICAL SAMPLE
生体試料中のプロトポルフィリン類の免疫学的検出方法及び装置 - 特許庁 - To provide a device for focusing a microscope objective on a sample.
顕微鏡対物レンズをサンプルに合焦させるための装置を提供する。 - 特許庁 - FIB DEVICE FOR TEM SAMPLE PROCESSING EQUIPPED WITH FUNCTION FOR AUTOMATICALLY RECOGNIZING BENDING
曲がり自動認識機能を備えたＴＥＭ試料加工用ＦＩＢ装置 - 特許庁 - AUTOMATIC SMEAR FORMING DEVICE AND AUTOMATIC SAMPLE ANALYZING SYSTEM EQUIPPED THEREWITH
自動塗抹標本作製装置とそれを備えた自動試料分析システム - 特許庁 - Then, the density of the sample for setup is automatically measured by using the device.
また、該装置を用いてセットアップ用サンプル２１の濃度を自動で測定する。 - 特許庁 - SURFACE PLASMON RESONANCE ANGLE DETECTION DEVICE AND SAMPLE SUPPLY COLLECTION METHOD
表面プラズモン共鳴角検出装置及び試料供給回収方法 - 特許庁 - METHOD AND DEVICE FOR GRASPING WAVELENGTH-DEPENDENT CHARACTERISTIC OF ILLUMINATED SAMPLE
照明された試料の波長依存特性把握のための方法および装置 - 特許庁 - NONCONTACT TEMPERATURE MEASURING DEVICE, SAMPLE BASE, AND NONCONTACT TEMPERATURE MEASUREMENT METHOD
非接触温度測定装置、試料ベース、および非接触温度測定方法 - 特許庁 - OBSERVATION METHOD FOR SAMPLE BY USE OF SCANNING TYPE ELECTRON MICROSCOPE AND ITS DEVICE
走査型電子顕微鏡を用いた試料の観察方法及びその装置 - 特許庁 - SAMPLE-MANUFACTURING METHOD OF TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE, AND CONVERGENT ION BEAM DEVICE
透過型電子顕微鏡の試料作製方法および集束イオンビーム装置 - 特許庁 - This scanning electron microscope provided with a sample transfer device.
試料移送装置を備えた走査電子顕微鏡を例にとって説明する。 - 特許庁 - SYSTEM, DEVICE AND METHOD FOR DETERMINING DENSITY OF ANALYTE IN SAMPLE
サンプル中の分析物の濃度を決定するためのシステム、デバイス、及び方法 - 特許庁 - DEVICE FOR DETECTING ANALYTE IN SAMPLE BASED ON ORGANIC MATERIAL
有機材料に基づいてサンプル中の被分析物を検出するための装置 - 特許庁 - SPECIMEN IMMOBILIZING METHOD AND SAMPLE SLIDE PREPARING DEVICE UTILIZING THE SAME
検体固定方法およびこの方法を利用した標本スライド作成装置 - 特許庁 - This device is specifically useful for photographing a fluorescent image of a biological sample.
このような装置は、特に、生物試料の蛍光像撮像に有用である。 - 特許庁 - To provide a humidifying device for a sample block capable of making a thickness of a flake cut in a sample slicing device accurately coincide with a target value.
試料薄切装置において切り取られた薄片の厚さを正確に目標値に一致させることができる試料ブロックの加湿装置を提供する。 - 特許庁 - METHOD AND DEVICE FOR IDENTIFYING PROCESS VARIABLES AND SAMPLE FOR EVALUATION
プロセス変数同定方法、プロセス変数同定装置、及び評価用試料 - 特許庁 - DEVICE FOR EXECUTING MEASUREMENT AND/OR COLLECTING SAMPLE OF FUSED METAL
測定を実施し且つ／又は溶融金属の試料を採取するための装置 - 特許庁 - METHOD FOR COLLECTING SOIL SAMPLE BY DEPTH AND COLLECTING DEVICE USED FOR THE METHOD
土壌試料の深度別採取方法及びそれに用いる採取装置 - 特許庁 - The pre-processing of the sample for this atom probe device is composed of a step for cutting a sample desired observation region into a block shape using an FIB device, a step for transferring the block-shaped cut sample to a sample substrate to fix the same and a step for processing the block-shaped sample fixed on the sample substrate into a needle tip shape by FIB etching processing.
本発明のアトムプローブ装置用試料の予備加工は、ＦＩＢ装置を用いて試料所望観察部位をブロック状に切り出すステップと、該ブロック状の切り出し試料を試料基板上に移送して固定するステップと、該試料基板上に固定されたブロック状の試料をＦＩＢエッチング加工によって針先形状に加工するステップとからなる。 - 特許庁 - A microscopic image acquisition device 11 includes: an illuminating light source 26 for radiating light to the sample; an imaging device 33 for imaging the sample through an optical system expanding light from the sample; and a controller 15 for setting the shutter time when imaging the sample by the imaging device 33.
顕微鏡画像取得装置１１は、標本に光を照射する照明光源２６と、標本からの光を拡大する光学系を介して、標本を撮像する撮像素子３３と、撮像素子３３が標本を撮像する際のシャッタ時間を設定する制御装置１５とを備える。 - 特許庁 - This device is provided with a holder having a margin for placing a sample or a sample container storing the sample, and a hole for transmitting the electromagnetic wave roughly at the center of the sample holder installation face, and formed so that the sample holder installation face is tilted properly from the vertical direction.
試料または試料を入れた試料容器を設置するための縁をつけたホルダーと、試料ホルダー設置面のほぼ中央に電磁波を透過させる孔を設け、試料ホルダー設置面は鉛直方向から適切な傾きをもたせる構成とした。 - 特許庁 - To provide a sample supplying device capable of substituting a sample solution after measurement for a new one without being contaminated by the residual sample solution while a measurement site is continuously being dipped into the sample solution even in a small amount of sample solution.
試料溶液が少量であっても、測定部位が常に試料溶液に浸っている状態で、残留する試料溶液に汚染されることなく、測定後の試料溶液を新しい試料溶液と置換することができる試料供給装置を提供する。 - 特許庁 - To provide a solid sample impurity analysis device capable of simply examining contents of impurities in a solid sample.
簡易的に固形試料中の不純物の含有量を調べることができる固形試料不純物分析装置を提供する。 - 特許庁 - To provide a sample rack transfer device having a simple structure and capable of being manufactured easily by simplifying a delivery mechanism of a sample rack.
サンプルラックの送り出し機構を簡略化することで、簡単な構造で、容易に作製が可能なサンプルラック移送装置とする。 - 特許庁 - The respective cassette is capable of storing various sample sheets separately and is provided with a horizontally driving device which horizontally-transfers the respective sample sheets.
各カセットは、種々のサンプルシートを個々に収容可能であり、各サンプルシートを水平移送する水平駆動機構を備える。 - 特許庁 - To provide a sample hold timing determination device which determines the sample hold timing easily without performing intricate work.
サンプルホールドタイミングの決定を煩雑な作業を行うことなく簡単に行うことが可能なサンプルホールドタイミング決定装置を提供。 - 特許庁 - In this case, sample points which are included in the probe information by the on-vehicle device 3 are made to be only sample points near an end point of the road link.
この場合、車載機３がプローブ情報に含めるサンプル点は、道路リンクの端点付近のサンプル点のみとした。 - 特許庁 - To provide a device for collecting a sample from the inside of an oral cavity and quickly and easily measuring an analyzed object contained in the sample.
口腔内試料を採取し、そしてその中に含まれる分析物を、迅速かつ簡便に測定するデバイスを提供する。 - 特許庁 - To provide a transmission electron microscope observation sample preparing method for a solid phase reactive sample and a charged particle beam device.
固相反応試料の透過電子顕微鏡観察用試料作製方法および荷電粒子ビーム装置を提供する。 - 特許庁 - COMMON SAMPLE HOLDER FOR SCANNING ELECTRON MICROSCOPE AND FOCUSED-ION BEAM DEVICE, AND SAMPLE-PREPARATION METHOD FOR TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE
走査型電子顕微鏡と集束イオンビーム装置との共用試料ホルダー及び透過型電子顕微鏡用の試料作製方法 - 特許庁 - To provide a method and apparatus for measuring polarization dependence, capable of impinging an emission device to a rotary sample stand without changing the angle of the rotary sample stand.
回転試料台の角度を変えずに付き当てることが可能な偏波依存性測定方法及び装置を提供する。 - 特許庁 - To improve the reliability for determining existence of positional deviation of a sample body relative to a sample stand, in a positional deviation determination device.
位置ずれ判定装置において、試料台に対する試料体の位置ずれの有無を判定する信頼性を向上させる。 - 特許庁 - In this device, a sample 8 is irradiated with light passing through a rectangular slit 4 to observe a slit image reflected on the sample 8 by a camera 6.
長方形のスリット４を通した光を試料８に照射させ、試料８に映るスリット像をカメラ６で観察する。 - 特許庁 - To provide a sample liquid injection device capable of precisely storing sample liquid of a desirable quantity and quickly storing the same also.
所望量の試料液を精度よく容器に収容できるようにすると共に、この収容が迅速にできるようにする。 - 特許庁 - To provide biopsy device and method which can be used in order to collect a tissue sample such as a mammary tissue biopsy sample.
乳房組織生検標本などの組織標本を採取するために用いられうる生検装置および方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a thermal spraying material evaluation sample preparation device capable of preparing a sample hardly generating dispersion in a test result.
試験結果にばらつきが生じにくい試料を作製することができる溶射材評価試料作製装置を提供する。 - 特許庁 - COLLECTING DEVICE FOR PRINTED CASSETTE AND/OR PRINTED EXAMINED SAMPLE SUPPORT BODY FOR HISTOLOGICAL OR CYTOLOGICAL SAMPLE
組織学的又は細胞学的試料のためのプリントされたカセット及び／又はプリントされた被検試料支持体の収集装置 - 特許庁 - A gripper, etc. is not required to be arranged on the lower side of the sample container, thereby reducing the height of a sample container conveyance device.
また、試料容器の下方にグリッパ等を配置する必要がなく、その分だけ装置の高さを低くすることができる。 - 特許庁 - SAMPLE STAGE FOR FOCUSED ION BEAM PROCESSING DEVICE, AND METHOD FOR MAKING TRANSMISSION TYPE ELECTRON MICROSCOPE PLANE-OBSERVED SEMICONDUCTOR THIN SAMPLE
集束イオンビーム加工装置の試料ステージと透過型電子顕微鏡平面観察用半導体薄片試料の作製方法 - 特許庁
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