「sample device」を含む例文一覧(4634)
＜前へ 1 2 .... 18 19 20 21 22 23 24 25 26 .... 92 93 次へ＞- SAMPLE PROCESSING DEVICE AND METHOD AND METHOD OF MANUFACTURING FOR PHOTOMASK
試料処理装置および試料処理方法、フォトマスクの製造方法 - 特許庁 - METHOD AND DEVICE FOR SCANNING SAMPLE WITH SCANNING PROBE MICROSCOPE
走査型プローブ顕微鏡を用いたサンプル走査方法および装置 - 特許庁 - NUMBER CONCENTRATION MEASURING METHOD AND DEVICE OF PARTICULATE IN SAMPLE WATER
試料水中の微粒子の個数濃度測定方法および装置 - 特許庁 - FOCUSED ION BEAM DEVICE ENABLING OBSERVATION AND MACHINING OF LARGE SAMPLE
大きな試料の観察・加工を可能とする集束イオンビーム装置 - 特許庁 - FOCUSED ION BEAM DEVICE, AND PROCESSING METHOD OF SAMPLE USING THE SAME
集束イオンビーム装置、及びそれを用いた試料の加工方法 - 特許庁 - METHOD AND DEVICE FOR OPTICALLY MEASURING CHARACTERISTIC OF METAL SAMPLE
金属試料の特性を光学的に測定する方法及び装置 - 特許庁 - SAMPLE-AND-HOLD CIRCUIT, CIRCUIT DEVICE, A/D CONVERSION CIRCUIT AND ELECTRONIC APPARATUS
サンプル・ホールド回路、回路装置、Ａ／Ｄ変換回路及び電子機器 - 特許庁 - A praparat, a prepared specimen includes a sample to be observed by the microscopic device.
プレパラートは、顕微鏡装置で観察するための試料を含む。 - 特許庁 - DEVICE EVALUATING METHOD AND EVALUATION SAMPLE USING ELECTRON-BEAM HOLOGRAPHY
電子線ホログラフィーによる素子評価方法及び評価用試料 - 特許庁 - DEVICE AND METHOD FOR DETERMINING ANALYTE IN FLUID SAMPLE
液体サンプル中の分析物を測定するための装置及び方法 - 特許庁 - DEVICE AND METHOD FOR CORRECTING OUTPUT OF SAMPLE-AND-HOLD CIRCUIT
サンプルホールド回路の出力補正装置および出力補正方法 - 特許庁 - DEVICE AND METHOD FOR SEPARATING SAMPLE AND MANUFACTURE OF SUBSTRATE
試料の分離装置及び分離方法並びに基板の製造方法 - 特許庁 - BEAM ADJUSTING SAMPLE, BEAM ADJUSTING METHOD, AND BEAM ADJUSTING DEVICE
ビーム調整用試料、ビーム調整方法及びビーム調整装置 - 特許庁 - DEVICE AND METHOD FOR MOVING SAMPLE IN ELECTRON MICROSCOPE OR THE LIKE
電子顕微鏡等の試料移動装置及び試料移動方法 - 特許庁 - The device is provided for image recognition of a relative movement between the extraction sample and the sample with high precision, by providing an index to improve the precision of the image recognition on a region of an extraction sample in a sample and other region, or a transporting means to transport the extraction sample, and a sample holder capable retaining the extraction sample.
本発明は、試料における摘出試料となる領域や、それ以外の領域、若しくは、摘出試料を移送する移送手段や、摘出試料を保持できる試料ホルダに、画像認識の精度を向上させる指標を設け、摘出試料と試料の相対的移動等を高精度に画像認識することに関する。 - 特許庁 - LIQUID SAMPLE DISPENSING DEVICE, AND BIOCHEMICAL REACTION DEVICE EQUIPPED WITH SAME
液体試料分注装置及び液体試料分注装置を備えた生化学反応装置 - 特許庁 - SAMPLE HOLDER FOR CHARGED PARTICLE BEAM DEVICE AND RESERVE EXHAUST CHAMBER FOR CHARGED PARTICLE BEAM DEVICE
荷電粒子ビーム装置用試料ホルダ及び荷電粒子ビーム装置の予備排気室 - 特許庁 - CHARGED PARTICLE BEAM DEVICE AND METHOD OF IRRADIATING SAMPLE WITH CHARGED PARTICLE BEAM BY USING CHARGED PARTICLE BEAM DEVICE
荷電粒子線装置及びそれを用いた試料への荷電粒子照射方法 - 特許庁 - METHOD AND DEVICE FOR OBSERVATION OF SAMPLE SURFACE, METHOD AND DEVICE FOR FLAW INSPECTION
試料表面の観察方法及びその装置並びに欠陥検査方法及びその装置 - 特許庁 - DEVICE AND METHOD FOR IMPROVING CONTRAST OF CHARGE PARTICLE BEAM DEVICE CHECKING SAMPLE
試料を検査する荷電粒子ビーム装置のコントラストを向上させる装置及び方法 - 特許庁 - SCANNING PROBE MICROSCOPE DEVICE, NANO TWEEZERS DEVICE, AND SAMPLE SURFACE SHAPE OBSERVATION METHOD
走査型プローブ顕微鏡装置、ナノピンセット装置および試料表面形状観察方法 - 特許庁 - SAMPLE PLACING DEVICE, VACUUM CHAMBER DEVICE, ELECTROSTATIC LATENT IMAGE FORMING APPARATUS, ELECTROSTATIC LATENT IMAGE MEASURING INSTRUMENT
試料載置装置、真空チャンバ装置、静電潜像形成装置、静電潜像測定装置 - 特許庁 - DEVICE FOR CUTTING SILICON INGOT AND METHOD OF CUTTING SAMPLE IN THE DEVICE FOR CUTTING SILICON INGOT
シリコンインゴットの切断装置及びシリコンインゴットの切断装置におけるサンプル切断方法 - 特許庁 - SAMPLE COLLECTION DEVICE FOR SOIL POLLUTION INVESTIGATION, AND SOIL POLLUTION INVESTIGATION DEVICE USING IT
土壌汚染調査用試料採取装置およびこれを使用した土壌汚染調査装置 - 特許庁 - To provide a sample transfer method whereby a sample can be observed in a short time while maintaining its condition in the atmosphere, a sample transfer device, and an electrostatic latent image measuring device.
大気中での試料状態を維持したまま、短時間で電子ビームで観察することが可能となる試料移送方法、試料移送装置、静電潜像測定装置を提供する。 - 特許庁 - To provide a sample fluid variable pressure reducing device resolving accumulation of sample fluid and reducing pressure of the sample fluid in a state so that the sample fluid can be accurately analyzed.
試料流体の滞留を解消するようにして、正確な試料流体分析を実施できるような状態で試料流体を減圧する試料流体可変減圧装置を提供する。 - 特許庁 - To provide a sample holding device and a charged particle beam apparatus, capable of restraining effectively a sample from being deformed when moving the sample, even in a wafer as a sample deformed with its part floated.
本発明は、試料の一部が浮いたように変形したウエハであっても、試料移動時の試料変形に効果的に抑制する試料保持装置、及び荷電粒子線装置の提供を目的とする。 - 特許庁 - To identify a sample using a simple device, by ionizing the sample immediately by irradiating the sample with a laser, and by introducing the ionized sample to a mass spectrometer.
本願発明の課題は、試料にレーザーを照射することにより、直ちに試料をイオン化し、該イオン化した試料を質量分析器に導き、試料の同定をより簡便な装置により達成することである。 - 特許庁 - To provide a plate for a centrifugal device and the centrifugal device, capable of moving a liquid sample, by a centrifugal force to determine quantitatively the liquid sample in a sample holding part, and capable of making the liquid sample of fixed amount surely flow into a flow passage.
液体試料を遠心力によって移動させて、液体試料を試料保持部内で定量化を行い、確実に一定量の液体試料を流路内に流入する遠心装置用プレート、及び遠心装置を提供する。 - 特許庁 - The testing device 10 for the sample of the viscoelastic body includes the sample holding means 30 which fixes the sample 40 statically, and a testing means 20 for testing the sample, and, in the testing device 10, the sample holding means 30 and the testing means 20 are individually provided respectively.
また、粘弾性体の試料を試験する装置であって、試料４０を静的に固定可能な試料保持手段３０と、試料を試験する試験手段２０とを備え、試料保持手段３０と試験手段２０とがそれぞれ独立して設けられている試験装置１０である。 - 特許庁 - The X-ray analyzer also has a sample chamber R0 capable of setting the sample S inside, a sample support device 48 for supporting the sample S on the measuring position, and an atmosphere generation device for setting the sample chamber R0 in the atmosphere different from vacuum atmosphere in the vacuum path 17.
このＸ線分析装置は、試料Ｓを内部にセットすることができる試料室Ｒ０と、試料Ｓを測定位置に支持する試料支持装置４８と、試料室Ｒ０を真空路１７内の真空雰囲気と異なる雰囲気にするための雰囲気生成装置とを有する。 - 特許庁 - This device has a constitution wherein a placing face 2a for placing the sample thereon on the sample stand 2 of the sample fixing device 10 is formed to have a curved face ridged in an approximately arced shape in a sectional view, and a sample presser band 3 for pressing the sample S along the placing face 2a by a uniform abutting force is provided.
試料固定装置１０の試料台２の、試料Ｓを載置する載置面２ａを、断面視略円弧状に隆起した曲面に形成し、その載置面２ａに沿って試料Ｓを均等な当接力で押える試料押えバンド３を備える構成にした。 - 特許庁 - DEVICE OF CALCULATING SAMPLE OBSERVATION CONDITION, AND MICROSCOPE SYSTEM EQUIPPED THEREWITH
標本観察条件演算装置およびこれを備える顕微鏡システム - 特許庁 - SAMPLE SUCKING AND DISPENSING DEVICE AND SPECIMEN MANUFACTURING APPARATUS EQUIPPED WITH IT
試料吸引分注装置およびそれを備えた標本作製装置 - 特許庁 - DEVICE AND METHOD FOR PREPARING SAMPLE FOR THERMAL ANALYSIS
熱分析用試料作製装置及び熱分析用試料作製方法 - 特許庁 - DEVICE FOR INDICATING POSITION OF SAMPLE HOLDER CAPABLE OF ORIENTING AND ALIGNING MICROTOME
ミクロトームの配向・位置合せ可能な試料ホルダの位置を指示する装置 - 特許庁 - DETECTION METHOD, DETECTION DEVICE, DETECTING SAMPLE CELL AND KIT
検出方法、検出装置、検出用試料セルおよび検出用キット - 特許庁 - SYSTEM FOR AUTOMATIC ESR MEASUREMENT COMBINED WITH DEVICE FOR COLLECTING AND PREPARING SAMPLE
試料採取、調製装置と組み合わせた自動ＥＳＲ測定システム - 特許庁 - METHOD AND DEVICE FOR PREPARING SAMPLE BY CONTROLLING OXYGEN PARTIAL PRESSURE
酸素分圧制御による試料作成方法および試料作成装置 - 特許庁 - MICROCHEMICAL ANALYZER, ITS MEASURING METHOD, AND TEST SAMPLE PICKING DEVICE
マイクロ化学分析装置、その測定方法、及び被検試料採取器具 - 特許庁 - ASSIST PATTERN DISCRIMINATOR, ASSIST PATTERN DISCRIMINATING METHOD AND INSPECTION DEVICE OF SAMPLE
アシストパターン識別装置、アシストパターン識別方法及び試料検査装置 - 特許庁 - SYRINGE CHECK MEMBER AND CHROMATOGRAPHIC SAMPLE INJECTION DEVICE USING THE SAME
シリンジチェック部材及びそれを用いたクロマトグラフ用試料注入装置 - 特許庁 - ACQUISITION DEVICE OF DATA RELATED TO WET ANGLE OF SAMPLE WITH RESPECT TO LIQUID
試料の液体に対するぬれ角に関する情報の取得装置 - 特許庁 - DEVICE FOR OBSERVING SAMPLE WITH PARTICLE BEAM AND OPTICAL MICROSCOPE
粒子ビーム及び光を用いる顕微鏡で試料を観察する装置 - 特許庁 - SHEARING DEVICE AND SHEARING PROCESSING METHOD OF EMISSION SPECTROCHEMICAL ANALYSIS SAMPLE
発光分光分析試料のせん断装置及びせん断処理方法 - 特許庁 - DEVICE AND METHOD FOR PROVIDING LEAFLET AND OTHER ADVERTISEMENT MEDIUM SAMPLE
チラシその他の広告媒体サンプルの提供装置及び提供方法 - 特許庁 - SAMPLE CHAMBER FOR GAS EXHAUSTION AND CIRCUIT PATTERN FORMING DEVICE USING THE SAME
気体排気用試料室及びそれを用いた回路パターン形成装置 - 特許庁 - DEVICE FOR ADJUSTING QUANTITY OF LIGHT AND ILLUMINANCE AND SAMPLE-INSPECTING APPARATUS WITH THE SAME
光量照度調整装置及びそれを備えた試料検査装置 - 特許庁 - SURFACE PLASMON RESONANCE ANGLE DETECTION DEVICE, AND SAMPLE TEMPERATURE CONTROL METHOD
表面プラズモン共鳴角検出装置及び試料温度制御方法 - 特許庁 - EVALUATION METHOD OF SEMICONDUCTOR TEST SAMPLE, AND MANUFACTURING METHOD OF SEMICONDUCTOR DEVICE
半導体試料の評価方法及び半導体装置の製造方法 - 特許庁
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