To provide a liquid sample dispensing device can dispense accurately a necessary amount of liquid sample into each reaction container. 必要量の液体試料を反応容器に精度良く分注する液体試料分注装置を提供する。 - 特許庁
To provide a device and method for vacuum processing, capable of uniforming temperature of a sample within a surface of the sample. 試料温度を面内で均一にすることのできる真空処理装置および真空処理方法を提供する。 - 特許庁
To provide a liquid sample dispensing device can dispense accurately a required amount of liquid sample into each reaction container. 必要量の液体試料を反応容器に精度良く分注する液体試料分注装置を提供する。 - 特許庁
To provide a sample processing device capable of making a suitable sample for observation by a transmission electron microscope. 透過電子顕微鏡の観察に適した試料を作製することができる試料加工装置を提供する。 - 特許庁
The sample water analyzing device 1 comprises a detector 2 having a detecting part 2a and a sample water analyzing unit 3. 試料水分析装置1は、検知部2aを有する検出器2と、試料水分析ユニット3とを備えている。 - 特許庁
The device can include a sample tube having a sample lumen and a generally parallel vacuum lumen. この装置は、サンプル内孔部および概ね平行な真空内孔部、を有するサンプル・チューブ、を含むことができる。 - 特許庁
To provide a sample holder and an ion beam processing device capable of preparing easily a favorable sample suitable for observation. 観察に適した良好な試料を簡単に作製できる試料ホルダおよびイオンビーム加工装置を提供する。 - 特許庁
To provide a device for measuring a sample allowing measurements multiple times in a short time, using the same sample. 同じ試料を利用して短時間に複数回の測定が可能な試料測定装置を提供すること。 - 特許庁
SAMPLE-AND-HOLD PULSE SIGNAL GENERATING CIRCUIT, AND INFORMATION RECORDING/REPRODUCING DEVICE サンプルホールドパルス信号生成回路及び情報記録/再生装置 - 特許庁
SAMPLE ANALYSIS DEVICE, AND CALIBRATION METHOD FOR RADIATION LIMITING DIAPHRAGM 試料分析装置および放射線制限絞りのキャリブレーション方法 - 特許庁
PROCESS MONITOR AND CONTROL METHOD FOR SAMPLE PROCESSING DEVICE 試料処理装置用プロセスモニタ及び試料処理装置の制御方法 - 特許庁
TEST PIECE FOR ANALYZING HUMOR SAMPLE AND READING BY DETECTING DEVICE 体液サンプルを分析し検出装置で読み取るための試験片 - 特許庁
SAMPLE ANALYSIS DEVICE, PROGRAM, AND RECORDING MEDIUM RECORDING ITS PROGRAM 試料分析装置、プログラムおよびそのプログラムを記録した記録媒体 - 特許庁
MICROSCOPIC OBSERVATION DEVICE HAVING AUTOMATIC TRACKING FUNCTION OF SPECIMEN SAMPLE 標本試料の自動追尾機能を備えた顕微鏡観察装置 - 特許庁
STAGE FOR MOUNTING SAMPLE THEREON, XY STAGE AND CHARGED PARTICLE BEAM DEVICE 試料載置用のステージ、XYステージおよび荷電粒子線装置 - 特許庁
METHOD AND DEVICE FOR ANALYZING SAMPLE CONTAINING A PLURALITY OF FLUORESCENT MATERIALS 複数の蛍光物質を含む試料の分析方法及び装置 - 特許庁
CAMERA DEVICE AND ITS SAMPLE IMAGE DISPLAY METHOD, AND RECORDING MEDIUM カメラ装置及びその見本画像表示方法、並びに記録媒体 - 特許庁
DEVICE AND METHOD FOR CREATING BOUNDARY SAMPLE, AND INSPECTION APPARATUS 限度見本作成装置、限度見本作成方法および検査装置 - 特許庁
SUBSTRATE FOR ELECTROPHORESIS, AND BIOLOGICAL TEST SAMPLE ANALYZING DEVICE AND METHOD 電気泳動用基板、生体検査試料分析装置及びその方法 - 特許庁
METHOD AND DEVICE FOR COLLECTING SAMPLE OF TISSUE AT RADIOGRAPHIC EXAMINATION 放射線検査時に組織の標本を採取する方法及び装置 - 特許庁
METHOD AND DEVICE FOR PURIFYING AND DESALTING BIOLOGICAL SAMPLE 生物学的サンプルを精製および脱塩する方法並びに装置 - 特許庁
SAMPLE PREPARING DEVICE AND METHOD OF GENERATING CALIBRATION CURVE USING THE SAME サンプル調製装置及びこれを用いた検量線作成方法 - 特許庁
METHOD AND DEVICE FOR PERFORMING SURFACE ANALYSIS ON SAMPLE サンプルの表面分析を行う方法及びこれを実施する装置 - 特許庁
SAMPLE HOLDER FOR FOCUSED ION BEAM PROCESSING, AND FOCUSED ION BEAM DEVICE 集束イオンビーム加工用試料ホルダ及び集束イオンビーム装置 - 特許庁
ELECTRON-SPECTROSCOPE DEVICE, ELECTRON SPECTROSCOPE AND SAMPLE ANALYSIS METHOD 電子分光装置および電子分光器ならびに試料分析方法 - 特許庁
DEVICE AND METHOD FOR CARRYING AND DECELERATING FOLDED SAMPLE 折り見本の搬送および減速装置と搬送および減速方法 - 特許庁
SAMPLE STIRRING DEVICE AND FLOW TYPE PARTICLE MEASURING APPARATUS EQUIPPED THEREWITH 試料撹拌装置及びそれを備えたフロー式粒子測定装置 - 特許庁
DEVICE FOR BRAKING SAMPLE AND DEFECTIVE SHEET OF SHEET PROCESSING MACHINE 枚葉紙処理機械の見本紙および不良紙を減速させる装置 - 特許庁
METHOD AND DEVICE FOR DIVIDING SAMPLE AND ITS PROGRAM RECORDING MEDIUM 事例分類方法、事例分類装置、およびそのプログラム記録媒体 - 特許庁
SAMPLE DEGRADING DEVICE AND IMPURITY ANALYZING METHOD 試料分解処理装置及びこれを用いた不純物分析方法 - 特許庁
To provide an electrophoretic transfer device eliminating removal of a sample from a gel device when the sample is electrophoretically separated and transferred. 試料を泳動分離して転写をおこなう際に、ゲルの装置からの取り外しを不要とした電気泳動転写装置を提供する。 - 特許庁
SAMPLE POSITIONING METHOD AND LINE WIDTH MEASURING DEVICE THEREWITH 試料位置決め方法及びその方法を用いた線幅測定装置 - 特許庁
METHOD FOR PREPARING SAMPLE TO BE INSPECTED AND METHOD FOR INSPECTING SEMICONDUCTOR DEVICE 被検試料の作製方法及び半導体装置の検査方法 - 特許庁
METHOD AND DEVICE FOR ADJUSTING ANALYTICAL SAMPLE FOR ANLALYZING COMPONENT IN METAL 金属中成分分析用試料の調整方法及び装置 - 特許庁
OBSERVING METHOD OF MAGNETIC SAMPLE, OBSERVING DEVICE, AND OBSERVING TOOL THEREOF 磁性試料の観察方法、観察装置およびその観察用治具 - 特許庁
DEVICE AND METHOD FOR PREPARING SAMPLE FOR MASS SPECTROMETRY 質量分析用の試料の調製装置及びその調製方法 - 特許庁
METHOD AND DEVICE FOR SURFACE-TREATING SAMPLE USING PLASMA プラズマを用いた試料の表面処理方法及び表面処理装置 - 特許庁
METHOD AND DEVICE FOR ANALYZING SAMPLE HAVING A PLURALITY OF CRYSTALLINE PHASES 複数の結晶相を有する試料の解析方法および装置 - 特許庁
SAMPLE PREPARATION METHOD FOR OBSERVING FAULT PLACE OF SEMICONDUCTOR DEVICE 半導体装置の不良箇所観察のためのサンプル作製方法 - 特許庁
ELECTRODE PRESSING UNIT FOR THERMOELECTRICITY MEASURING INSTRUMENT, AND SAMPLE SUPPORT DEVICE 熱電気測定装置の電極押さえユニット及び試料支持装置 - 特許庁
EVALUATION METHOD AND DEVICE FOR CONDUCTIVE SAMPLE 導電性試料の評価方法及び導電性試料の評価装置 - 特許庁
PHASE ADJUSTING METHOD FOR SAMPLE-AND HOLD PULSE, AND PHASE ADJUSTING DEVICE サンプル&ホ—ルドパルスの位相調整方法および位相調整装置 - 特許庁
METHOD FOR OBSERVING SAMPLE IMAGE IN SCANNING CHARGED PARTICLE BEAM DEVICE 走査型荷電粒子ビーム装置における試料像観察方法 - 特許庁
SAMPLE-HOLD CIRCUIT, ANALOG DIGITAL CONVERTER CIRCUIT, DIGITIZING DEVICE サンプルホールド回路並びにアナログ−デジタル変換回路及びデジタル化装置 - 特許庁