「sample point」を含む例文一覧(562)
＜前へ 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 次へ＞- The 1st peak search section 10-2-1 searches a signal point at which a sample value takes a maximum value at a 1-symbol length Ts and outputs a 1st user timing signal.
第１のピークサーチ部10-2-1は、１シンボル長Ｔ_Sにおいてサンプル値が最大値をとる信号点を探し出し、第１のユーザータイミング信号を出力する。 - 特許庁 - At this point, the light from the sample S is focused near the light receiving surface of the light detector 14 by the focusing system 13 after passing the objective lens 3a.
このときの標本Ｓからの光は、対物レンズ３ａを通った後に、結像光学系１３により受光素子１４の受光面付近で結像する。 - 特許庁 - A first sample-and-hold circuit SH1 samples and holds the voltage Vm1 of a point of junction between the primary coil 10a of a transformer 10 and a switching transistor Tr1.
第１サンプルホールド回路ＳＨ１は、トランス１０の１次コイル１０ａとスイッチングトランジスタＴｒ１の接続点の電圧Ｖｍ１をサンプルホールドする。 - 特許庁 - On the basis of the new measured values and old measured values stored in the storage device 340 relating to the same sample, the amount of variations in the zero-point errors is computed.
記憶装置３４０が記憶した、同一の試料に関する新しい測定値と古い測定値とに基づいて、零点誤差の変動量を算出する。 - 特許庁 - Further the invention provides a method of measuring local charging at a specified point on the sample and isolating and measuring the wide area electrostatic charge quantity from those local electrostatic charges.
また、試料上の特定箇所の局所帯電を計測し、その帯電量から大域帯電量分を分離して計測する手法を提案する。 - 特許庁 - A scanning probe microscope is provided where the probe 2 is temporarily separated from the sample surface after sampling the observation data, and is moved to a next observation point.
観測データを採取後は探針２を一旦試料表面から離し、次の観測点に移動させる走査型プローブ顕微鏡を提供する。 - 特許庁 - This allows the data acquisition to be performed rapidly, and the speed of about one second for each sample point on the ion source target 36 has been achieved.
これにより、データ取得が迅速に行われることが可能になり、イオンソースターゲット３６上の各サンプルポイントに対して約１秒のスピードが達成される。 - 特許庁 - Generated electrons 6b (main light ray) emitted in parallel with an optical axis from a sample 5 are focused by a cathode lens and intersect with the optical axis 3 at one point.
試料５から光軸に平行に放出された発生電子６ｂ（主光線）は、カソードレンズにより集光され１点で光軸３と交わる。 - 特許庁 - The detection of high sensitivity is possible since the light emitted from the laser 15 is converged into a small point with a small opening angle to get incident into the sample cell.
レーザー１５から発せられる光は小さな開口角で微小な点に集光して試料セル１１入射できるため、高感度検出が可能となる。 - 特許庁 - And also, the invention provides a method of measuring local charging at a predetermined point on the sample and isolating and measuring the wide area electrostatic charge quantity from those local electrostatic charges.
また、試料上の特定箇所の局所帯電を計測し、その帯電量から大域帯電量分を分離して計測する手法を提案する。 - 特許庁 - The dispersed electron beams 20-22 are collected again and irradiates an identical point on a sample 11 by an focusing action of an objective lens part energized by a power supply for energizing an objective lens 28.
分散した電子線は２８によって励起された対物レンズ部の集束作用により、再び集められて１１上の同一点を照射する。 - 特許庁 - Measurement precision is not reduced even if scanning when light is measured is applied to the outside of coloring scope, satisfactory measurement precision is obtained without being affected by the point fixation liquid amount, and measurement is possible by a small amount of sample without depending on the point fixation position.
測光時の走査が発色範囲外にかかっても測定精度が低下せず、点着液量の影響を受けず良好な測定精度が得られ、微量の検体で測定でき、点着位置に左右されない。 - 特許庁 - A point on a sample after the load test corresponding to a point of interest on the sample before the load examination is obtained by assuming that a position giving the greatest correlation coefficient is the same point (S9, S10).
そこで、負荷試験前の試料の凹凸プロファイル（基準高さ分布）と負荷試験後の試料の凹凸プロファイル（比較対象高さ分布）とを用い（Ｓ１、Ｓ２）、デジタル画像相関法と同様の手法により相関係数の分布を求め（Ｓ３〜Ｓ８）、最大の相関係数を与える位置が同一点であるとして（Ｓ９、Ｓ１０）、負荷試験前の試料上の注目点に対応する負荷試験後の試料上の点を求める。 - 特許庁 - Thereafter, the speed of the relative movement of the probe and the sample is detected by relatively moving the probe and sample (tracking the feature point S1c) so as to keep this state (S1d) and the control of the relative position is corrected using the detected speed (S2).
その後、その状態が維持されるように探針と試料を相対的に移動させる(特徴点を追跡する、S1c)ことにより該相対移動の速度を検出し(S1d)、検出された速度を用いて前記相対位置の制御を補正する(S2)。 - 特許庁 - To provide an environment sampling device capable of easily collecting a sample at a survey point where no electric power is available due to inconvenient traffic and capable of largely reducing the labor and cost for transporting the sample to a laboratory.
交通不便で電力も得られないような調査地点で容易に試料を採取することが可能で、しかもそれを実験室まで輸送する労力とコストを大幅に削減できる環境試料採取装置を提供する - 特許庁 - Here, f is the focal distance of the imaging optical system; h is the distance from the optical axis of the imaging optical system to an arbitrary point of the test sample; and θ is an angle which the optical axis of the imaging optical system and a main beam from the imaging optical system to the test sample form.
ここで、ｆ：結像光学系の焦点距離、ｈ：結像光学系の光軸から試料の任意の点までの距離、θ：結像光学系の光軸と結像光学系から試料への主光線とのなす角とする。 - 特許庁 - METHOD, SYSTEM AND INDICATION PROGRAM FOR ANALYZING AT LEAST ONE SAMPLE BASED ON TWO OR MORE OF TECHNIQUES FOR CHARACTERIZING SAMPLE IN VIEW POINT OF AT LEAST ONE COMPONENT AND GENERATED PRODUCT, AND FOR PROVIDING CHARACTERIZED DATA
少なくとも１つの成分および生成する生成物の観点でサンプルを特性付けし、特性付けデータを提供するための２つ以上の技術に基づいた少なくとも１つのサンプルの分析；方法、システムおよび指示プログラム - 特許庁 - To provide an evaluation method for distribution state in which a distribution state of a specific point in a sample is quantitatively evaluated objectively always on a constant scale not at a part of the sample, but over a wide range.
試料中の特定点の分布状態を、試料の一部ではなく広い範囲にわたって、客観的に、常に一定の尺度で、定量評価するための分布状態の評価方法を分布状態の評価方法を提供する。 - 特許庁 - An analysis is commenced, such that a sample gas that passes through the first column 8 is made to flow into the resistive tube channel 14, and a channel is switched at a predetermined time point, when a high-resolution analysis is carried out, such that the sample gas is made to flow into a second column 13.
まず第１カラム８を経た試料ガスを抵抗管路１４に流すようにして分析を開始し、高分解能分析を行う所定の時点で試料ガスを第２カラム１３に流すように流路を切り替える。 - 特許庁 - The electron beam emitted from an electron gun 11 is throttled narrow and scans a sample formed with a film and detects the defect existing inside the film of the sample by detecting the reflected electrons or the secondary electrons emitted from the scanning point.
電子銃１１から放出された電子線を細く絞り、膜形成された試料上を走査し、走査点から放出された反射電子又は二次電子を検出して試料の膜内部に存在する欠陥を検出する。 - 特許庁 - When a pattern arranged symmetric with respect to a rotating shaft on a sample is observed automatically or measured in accordance with procedures defined beforehand, a template image, an image at an observing point or a measurement point, or a view area which is to be a scanning area of a charged particle beam is made rotated by an angle which is automatically calculated from the coordinates on the sample.
試料上に回転軸対称に配置されたパターンを、予め定めた手順に従って自動的に観察又は計測する際、テンプレート画像、観察点若しくは計測点の画像又は荷電粒子線の走査範囲である視野領域を、試料上の座標から算出した角度だけ自動的に回転させる。 - 特許庁 - In an incident optical system, since an ellipsoidal mirror 33 has a confocal on a focal position A of light whose direction is changed by a plane mirror 31 and on a sample measuring point B(B'), the light whose direction is changed again by a plane mirror 32 is condensed by the ellipsoidal mirror 33 and the sample measuring point B or B' is irradiated therewith.
入射光学系において、楕円面鏡３３は平面鏡３１で方向を変えられた光の焦点位置Ａと試料測定点Ｂ（Ｂ’）とに共焦点を持つため、平面鏡３２でさらに向きを変えられた光は楕円面鏡３３で集光されて試料測定点Ｂ又はＢ’に照射される。 - 特許庁 - The reflected X-ray measuring means 6 is moved along the track obtained by setting an emitted X-ray vector in the same direction as the incident vector of incident X-rays to a reference point (zero point) to rotate the same centering around the normal line T from the center of the surface of the measuring sample to detect the diffracted light from the surface of the sample.
入射Ｘ線の入射ベクトルと同方向の射出Ｘ線ベクトルを基準点（０点）として、前記測定試料表面の中心からの法線Ｔの周りに前記射出ベクトルを回転して得た軌跡に沿って、前記反射Ｘ線測定手段６を移動し、試料表面からの回折光を検出する。 - 特許庁 - This machine is provided with a yarn missing point sampling function which stops taking up without performing yarn connection operation after cutting the yarn based on the conditions set during taking up, displays the set conditions for cutting, and checks the sampled yarn missing point sample and displayed set conditions for the yarn missing point.
巻取り中に設定された条件でカットされた後、糸継ぎ動作を行うことなく巻取りを停止すると共に、カットした設定条件を表示し、採取した糸欠点サンプルと表示された糸欠点の設定条件とをチェックできる糸欠点サンプル機能を搭載している。 - 特許庁 - A curved crystal arranged on a Rowland circle 5 is substituted with a plane crystal 6, and a point/parallel type multicapillary X-ray lens 4 is interposed between a sample 2 and the plane crystal 6 to provide a point focal point in an incident end face side and to emit a parallel beam in an emission end face side.
ローランド円５上に配置された湾曲結晶を平板結晶６に置き換え、試料２と平板結晶６との間に、入射端面側で点焦点を有し出射端面側で平行線束を出射する点／平行型のマルチキャピラリＸ線レンズ４を介挿する。 - 特許庁 - A conversion table for converting the brightness of an object point to a sub-pixel position is formed based on the time variation of the brightness at a sample point (step S100), and the brightness at the object point is converted to the sub-pixel position based on the conversion table so that the sub-pixel position is calculated (step S200).
サンプル点における輝度の時間変化に基づいて、対象点の輝度をサブピクセル位置に変換するための変換テーブルを作成し（ステップＳ１００）、その変換テーブルに基づいて対象点における輝度をサブピクセル位置に変換することにより、サブピクセル位置を算出する（ステップＳ２００）。 - 特許庁 - When CQI switch control information, notified from a high-order layer, is information showing a multiband CQI, a multiband receiving state generating part performs DCT processing of the receiving-state measurement result of each subband outputted from the receiving state measuring part, extracts a sample value of a prescribed sample point and quantizes the sample value.
上位レイヤから通知されたＣＱＩ切替制御情報がマルチバンドＣＱＩを示す情報である場合、マルチバンド受信状態生成部は、受信状態測定部から出力されたサブバンド毎の受信状態測定結果をＤＣＴ処理し、所定のサンプルポイントのサンプル値を抽出し、量子化する。 - 特許庁 - A spectrum estimation part 142 estimates as a first spectrum, a spectrum (spectral transmittance) at a sample point on an object sample image corresponding to an estimation object pixel constituting the object sample image, by using standard teacher data 154 which are teacher data prepared beforehand.
本発明のある実施形態において、スペクトル推定部１４２は、予め用意される教師データである標準教師データ１４２を用い、対象標本画像を構成する推定対象画素に対応する対象標本画像上の標本点におけるスペクトル（分光透過率）を第１のスペクトルとして推定する。 - 特許庁 - The bottom of the sample container 2 is formed into a curved shape to bring the fluorescence 4 radiated from a condensing point 3 to parallel luminous flux when the fluorescence 4 is emitted from the container and a pinhole is further installed at the focal point of a fluorescence condensing lens 5.
試料容器２の底を曲面形状として、集光点３から放射された蛍光４が容器から射出されるとき平行光束となるようにし、さらにピンホールを蛍光集光レンズ５の焦点に設置する。 - 特許庁 - A threshold suitable for extracting a point for composing the contour of the sectional shape is set by considering the amount of coating thickness in a sample section and the thickness of an air layer for improving the precision in the extraction position of the contour point.
断面形状の輪郭を構成する点を抽出するための適切な閾値を、試料断面の肉厚量や空気層の厚みを加味して設定することにより輪郭点の抽出位置の精度を高めるようにした。 - 特許庁 - To compensate deterioration in communication quality due to phading and the delay expansion of a propagation path in digital communication and to perform equalization by employing feedback type constitution of a subtractor, a delay element, and a multiplier and subtracting the product of an equalization output value which is one time point precedent and a coefficient from the sample value at the current point of time.
減算器と遅延素子と乗算器からなる帰還形の構成をとり、当該時点のサンプル値から、１時点前の等化出力値に係数を乗じたものを減算することにより等化を行う。 - 特許庁 - To provide a pretreatment method for a surface analysis sample capable of easily eliminating electric charge from an analysis point for performing accurate analysis by forming a conductive film in the vicinity of the analysis point without requiring any complicated operation.
煩雑な操作を必要とせず、分析点に近接させて導電膜を形成することにより、分析点からの電荷除去が容易に行え、正しい分析を行うことができる表面分析試料の前処理方法を提供する。 - 特許庁 - A relative position calculating section 63 obtains the relative positional relation of the sample line designated by the operator and a reference point on the ultrasonic image a brightness information acquiring section 62 acquires the brightness information of the reference point.
相対位置算出部６３は、超音波画像上において操作者によって指定されたサンプルラインと基準ポイントとの相対的な位置関係を求め、輝度情報取得部６２は、基準ポイントの輝度情報を取得する。 - 特許庁 - To provide a living body sample detector capable of preventing the error of the measured value between the starting point of a measuring flow channel and the completion point thereof even when a plate is made eccentric to produce the positional shift of the plate with respect to an optical unit.
プレートが偏心してプレートと光学ユニットとの位置ずれが生じた場合でも、測定流路の開始点から終了点までの間の測定値の誤差を抑えることができる生体サンプル検出装置を提供する。 - 特許庁 - In a sampling device, a sample is transported through a capillary tube active channel from a sampling point to a measuring point and the capillary tube active channel comprises a supporting body, a cover, and an intermediate layer between the supporting body and the cover.
このデバイスでは、サンプルが、サンプリング箇所から測定箇所まで毛管活性チャネルで輸送され、毛管活性チャネルが、支持体と、カバーと、支持体とカバーとの間に位置する中間レイヤーと、から実質的に構成されている。 - 特許庁 - To provide a design sample analytic method and device for obtaining design knowledge for a sample having the optional number of components, and a design evaluation method and device for evaluating a design evaluation point of view, based on the obtained design knowledge.
任意の数の構成要素からなるサンプルについてもデザイン知識を獲得できるデザインサンプル解析方法および装置と、獲得したデザイン知識に基づいてデザイン評価観点の評価を行うデザイン評価方法および装置を提供する。 - 特許庁 - In the second determining process S14, the graphite crucible 42 (Si sample 38) is heated to a second determination temperature not lower than the melting point of the Si sample 38 in an inert gas via the lower electrode member 18 and the upper electrode member 20.
また、第二定量工程Ｓ１４では、下部電極部材１８および上部電極部材２０を介して、黒鉛るつぼ４２（Ｓｉ試料３８）を不活性ガス中においてＳｉ試料３８の融点以上の第二定量温度に加熱する。 - 特許庁 - This application also provides a method of infiltrating a sample containing a reagent such as a dehydrating reagent like an alcohol, where the infiltrating material is heated to a temperature at or above the boiling point of the reagent, to boil off the reagent when the tissue sample comes into contact with the infiltrating material.
組織サンプルが浸透物質に接触するとき試薬を沸騰して取り除くために、浸透物質を試薬の沸点またはそれより高い温度まで加熱する、アルコールのような脱水試薬等の試薬を含むサンプルを浸透する方法。 - 特許庁 - In a first determining process S8, the graphite crucible 42 (the Si sample 38) is heated to a first determination temperature not higher than the melting point of the Si sample 38 in an inert gas via a lower electrode member 18 and an upper electrode member 20.
第一定量工程Ｓ８では、下部電極部材１８および上部電極部材２０を介して、黒鉛るつぼ４２（Ｓｉ試料３８）を不活性ガス中においてＳｉ試料３８の融点以下の第一定量温度に加熱する。 - 特許庁 - Next, the digital sample string around the discontinuous point in a predetermined range is added on the digital sample string of alias reduction pulses essentially having no DC bias on the basis of the phase of the discontinuous points, and a digital output waveform is outputted.
そして、あらかじめ定めた範囲の前記不連続点の周囲のデジタルサンプル列を、前記不連続点の位相に基づき、かつ本質的にＤＣバイアスのないエイリアス低減パルスのデジタルサンプル列と加算してデジタル出力波形を出力する。 - 特許庁 - A ramp waveform Ei=C.t as a reference input, a signal El corresponding to a load σ applied to a sample piece, and a signal Ee corresponding to a strain ω of a sample piece are input to an adding point 11, and a deviation signal Eerr is output.
加算点１１には基準入力としてランプ波形Ｅｉ＝Ｃ・t、試料片に印加される荷重σに対応した信号Ｅｌおよび試料片のひずみεに対応した信号Ｅｅが入力され、偏差信号Ｅｅｒｒが出力される。 - 特許庁 - A spectral characteristic estimation section 157 uses spectral radiation characteristics E of illumination at the divided regions belong to the prescribed pixel, when estimating the spectral transmittance of a target sample point corresponding to a prescribed pixel for composing a target sample image.
分光特性推定部１５７は、対象標本画像を構成する所定の画素に対応する対象標本点の分光透過率を推定する際に、この所定の画素の属する分割領域の照明の分光放射特性Ｅを用いる。 - 特許庁 - The light in the fixed polarized state is fed to a sample 9 from a light source 4 at a fixed angle, and the incident direction dependency of the polarized state of the reflected light generated at this time is measured by in-plane-rotating the sample 9 around a measurement point.
試料９に対して光源４から一定の偏光状態の光を一定の角度で入射し、その際に発生する反射光の偏光状態の入射方位依存性を測定点を中心に試料を面内回転させて測定する。 - 特許庁 - The apparatus for recording values related to zero-point errors is provided with both a spindle for rotating a sample and a sensor carriage 230 for supporting a linear-shape-measuring sensor unit 220, which includes a plurality of displacement sensors A, B, C, in such a way that the sensor unit 220 is opposed to the surface to be measured of the sample.
零点誤差関連値記録装置は試料を回転させるスピンドルと、複数の変位センサＡ，Ｂ，Ｃを含む真直形状測定用のセンサユニット２２０を試料の測定面に相対するように支持するセンサキャリッジ２３０を備える。 - 特許庁 - In particular, the speed value of each sample point is subjected to ternary coding processing by a ternary coding section 28, and a correlation value calculating section 30 calculates a correlation value on the basis of the processed result.
具体的には、三値化部２８によって各サンプル点の速度値が三値化処理され、その処理結果に基づいて相関値演算部３０が相関値を演算する。 - 特許庁 - A measuring point is moved continuously according to an operation sequence file by the rotary sample table 12 and the stage 13, after starting the measurement, to conduct continuously the measurement.
測定開始後は回転試料台１２およびステージ１３が動作シーケンスファイルにしたがって連続的に測定点を移動させ、連続的な測定をおこなう。 - 特許庁 - To improve calculation accuracy of an optical characteristic value distribution of a sample in the whole domain from the periphery of a light incidence point to a remote spot without increasing a calculation time.
算出時間を増大することなく、光の入射点近傍から遠方までの全領域において、試料の光学特性値分布の算出精度を向上させる。 - 特許庁 - The plurality of charged particle beams B generated from the plurality of charged particles beam 6 is constituted or set so that the charged particle beam forms one point-like beam on the sample 5.
複数の荷電粒子ビーム源６から発生された複数の荷電粒子ビームＢが試料５上で１つの点状ビームになるように構成または設定されている。 - 特許庁 - A subtractor 30 and a one-sample delay circuit 31 constitute a differentiation circuit and supply a differentiated value of the detection signal at each sampling point to an absolute-value calculating section 32.
減算器３０及び１サンプル遅延回路３１は、微分回路を構成し、各サンプリング点における検波信号の微分値を絶対値算出部３２へ供給する。 - 特許庁 - The displacement of the sample is detected by a displacement sensor 17, and supplied to the addition point 11 via a sensor amplifier 18 and an A/D converter 19 to feed back the displacement.
試料の変位は変位センサ１７で検出され、センサアンプ１８、Ａ／Ｄ変換器１９を介して、前記加算点１１に供給され、変位フィードバックが行われる。 - 特許庁
- 特許庁
- Copyright © Japan Patent office. All Rights Reserved.
