「sample point」を含む例文一覧(562)
＜前へ 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 次へ＞- The two-dimensional detector 50 two-dimensionally receives the X-ray diffracted by the sample 30 and detects the X-ray at each point in the light receiving area thereof.
２次元検出器５０は、試料３０により回折されたＸ線を２次元的に受光し、その受光領域内の各点においてＸ線を検出する。 - 特許庁 - Laser light which is long in one direction and radiated on a sample 2 is scanned in a direction perpendicular to the longitudinal direction on the focal point face of an objective lens 18 with a polygon mirror 15.
ポリゴンミラー１５により、対物レンズ１８の焦点面において、試料２に照射する一方向に長いレーザ光を長手方向と垂直な方向にスキャンする。 - 特許庁 - To obtain a sample-and-hold circuit which can suppress voltage variation at each input terminal of a differential amplifying circuit as a virtual grounded contact point according to the frequency of an input signal.
入力信号の周波数に応じて、仮想接地点をなす差動増幅回路の各入力端の電圧変動を抑制することができるサンプルホールド回路を得る。 - 特許庁 - Since the crossover 5 is to be positioned at the rear focal point of the second objective lens 7, each electron beam is vertically entered to the surface of the sample 8.
このとき、クロスオーバ５の位置が第２対物レンズ７の後方焦点位置になるようにされているので、各電子線は、いずれも試料８表面に垂直入射する。 - 特許庁 - Since there may be the cases that these pulse signals include distortions, the timing controlling portion 4 forces a sampling portion 7 to sample the voltage values of a point A at the timings of avoiding these distortions.
このパルス信号には歪みが含まれる場合もあり、タイミング制御部４は、この歪みを避けるタイミングでサンプリング部７により、点Ａの電圧値をサンプリングさせる。 - 特許庁 - A 'viewing confirmation' bit, which is one of the attribute information of viewing data indicates whether or not the user is actually viewing the program at the point of time of gathering a viewing sample.
視聴データの属性情報の一つである「視聴確認」ビットは、視聴サンプルが収集された時点で実際にユーザが番組を視聴しているか否かを表す。 - 特許庁 - To provide a signal processor and a signal processing method that can perform smooth signal reproduction when a discrete signal having irregular sample point intervals is reproduced.
標本点間隔が不均等の離散信号の再生において、滑らかな信号再生を行なうことができる信号処理装置及び信号処理方法を提供すること。 - 特許庁 - To suppress acceleration at stage movement when photographing a stuck image or when performing multiple point observation over a visual field, and to prevent deformation of a sample.
本発明では、張り合わせ画像撮時や視野を越える多点観察時のステージ移動における加速度を低く抑え、試料の変形を防止することを目的とする。 - 特許庁 - To provide a practical titrimetric analysis device capable of easily and precisely detecting the neutralization point of a sample from color change of an indicator by titration.
滴定による指示薬の色変化から試料の中和点を簡易に、しかも高精度に検出することのできる実用性の高い滴定分析装置を提供する。 - 特許庁 - A probe scanning time computing means 12 obtains probe scanning times T1, T2, and T3 at a point MS on a sample 4 corresponding to the target locations M1, M2, and M3.
探針走査時刻算出手段１２は、目標位置Ｍ_１，Ｍ_２，Ｍ_３に対応する試料４上の点Ｍ_Ｓでの探針走査時刻Ｔ_１，Ｔ_２，Ｔ_３を求める。 - 特許庁 - The magnetization starts to get mild in both the ^1Hs contained in the sample and the contact liquid, from a time point when the pulse magnetic field is stopped, and a relaxation time is longer in the ^1H of the contact liquid.
パルス磁場を停止した時点から、試料及び接触液に含まれる^1Hは共にその磁化が緩和し始めるが、その緩和時間は接触液の^1Hの方が長い。 - 特許庁 - To provide a sample stage control method and an electron beam device in an electron beam device capable of adjusting an analysis position to a focus point of an electrospectrometer.
分析位置を電子分光器のフォーカス点に合わせることができる電子線装置における試料ステージ制御方法および電子線装置を提供すること。 - 特許庁 - A sine function calculation circuit 34 receives the present amplitude and phase, and generates a digital component signal with respect to a present sample point to one of the sine curves.
正弦関数計算回路（３４）が現在の振幅と位相を受け、正弦曲線の一つに対する現在サンプル点に対するディジタル成分信号を発生する。 - 特許庁 - To provide a using method for a Curie point type pyrolysis device, which enables reutilization of a pyrofoil used in the pyrolysis device and works effectively even for a solution sample.
本発明は、キューリ−ポイント型熱分解装置に使用するパイロホイルの再利用を可能とし、溶液試料に対しても有効な方法の提供を課題とする。 - 特許庁 - To provide a measuring chamber by which a precise measuring point is ensured even when an angle of incidence is changed in a measurement by an ellipsometer using a sample chamber having an incident optical window.
入射光学窓を有する試料室を用いるエリプソメータ測定において、入射角を変えても正確な測定点を確保できる測定室を提供する。 - 特許庁 - Then, design knowledge fulfilling a design evaluation point of view is held in a design knowledge holding part 31, based on the sample profile 23 and a label 24 by a design knowledge obtaining part 25.
次にデザイン知識獲得部２５において、サンプルプロファイル２３とそのラベル２４に基づいて、デザイン評価観点を満たすデザイン知識をデザイン知識保持部３１に保持させる。 - 特許庁 - To provide an X-ray source of a point X-ray source with high brightness realized by a small-sized device, and capable of irradiating a sample in the atmosphere.
小型の装置で実現した高輝度な点Ｘ線源であって、大気中の試料への照射が可能なＸ線源を提供することが、本発明の課題である。 - 特許庁 - Then, a halation judging part 21 inputs image luminance at each sample point and the average luminance value from the detection part 12, and derives a contrast coefficient for preventing halation from a contrast coefficient part 22 so as to add to ordinary contrast in automatic light control when there exists the image luminance whose difference from the average luminance value is equal to or above a threshold in the image luminance at the sample point.
そして、ハレーション判断部２１は、平均映像信号レベル検出部１２からの各サンプルポイントでの画像輝度と平均輝度値とを入力し、サンプルポイントの画像輝度の中に平均輝度値との差が閾値以上のものがある場合、コントラスト係数部２２からハレーション防止のコントラスト係数を引き出し、通常の自動調光のコントラストに加える。 - 特許庁 - The skew adjustment circuit comprises a sampling point selection section 300 that performs comparison processing on oversampled data, estimates transition points of serial data, and outputs a sampling point selection signal, and a data recovery section 400 that outputs the oversampled data at the sampling point selected by the selection signal, as sample data for the serial data.
スキュー調整回路は、オーバーサンプルデータの比較処理を行い、シリアルデータの遷移点を推定し、サンプリングポイントの選択信号を出力するサンプリングポイント選択部３００と、選択信号により選択されるサンプリングポイントでのオーバーサンプルデータをシリアルデータのサンプルデータとして出力するデータリカバリ部４００を含む。 - 特許庁 - Since a synchronization point (a point at which the amplitude of baseband signal waveform is maximized) of a signal input to a filter part 3 is previously recognized by symbol synchronization timing determined by a timing synchronization part 5, filter processing can be executed by the filter part 3 by selecting only a sample point synchronized with the symbol synchronization timing.
フィルタ部３に入力する信号の同期点（ベースバンド信号波形の振幅が最大となる点）がタイミング同期部５で決定するシンボル同期タイミングによって予め判っているから、そのシンボル同期タイミングに同期したサンプル点のみを選択してフィルタ部３でフィルタ処理することができる。 - 特許庁 - A plurality of point probes having sharp tips 1, 2, 3 and 4 access sample electrodes 5, 6, 7 and 8 respectively until contact currents saturate and contact with them securely, while observing through a scanning electron microscope, by the control of a point probe moving control circuit 18 by using point probe moving mechanisms 14, 15, 16 and 17.
走査型電子顕微鏡で観察しながら、探針移動制御回路１８による制御で、探針移動機構１４、１５、１６、１７により、鋭利な先端を有する複数の探針１、２、３、４を、それぞれ試料電極５、６、７、８に接触電流が飽和するまで接近させ、確実に接触させる。 - 特許庁 - To provide an electron probe microanalyzer, provided with an optical observation system of satisfying both requests of shallow focal point depth and high magnification observation for accurately aligning the analytical point, and of wide-view field and low magnification observation for searching for the analytical point in a thin sample by a transmission optical image.
分析点の位置合わせを精度よく行うための浅い焦点深度及び高倍率観察と、薄片試料の分析点探しを透過光学像によって行うときの広い視野及び低倍率観察という両方の要求を満たす光学観察系を備える電子プローブマイクロアナライザの提供。 - 特許庁 - In the case that each sample point before and after received data has already been band-limit-processed, a switching circuit SW2 outputs data S8 resulting from applying no band limit processing to the received data but only thinning data at an interpolation point.
前後の各々のサンプル点が、既に帯域制限処理されたものである場合には、入力されたデータに帯域制限処理を行わずに単に補間点のデータを間引くだけの処理が行われたデータＳ_8がスイッチング回路Ｓｗ２から出力される。 - 特許庁 - The method includes the steps of conducting a beam dimension correction when writing for each point within a writing field determined by a writing device (Step S1), obtaining a function for correcting beam dimension at each point within the writing field (Step S2), and writing to a sample using this (Step S4).
描画時に行うビーム寸法校正を、描画装置によって決まる描画フィールド内の各点で行い（ステップＳ１）、描画フィールド内の各点でのビーム寸法校正関数を求め（ステップＳ２）、これを用いて試料に描画する（ステップＳ４）。 - 特許庁 - As a function of the minimum and maximum values of capacitance measured at each point and the depth on or from the topside surface 16 where each point resides, the electrically active dopant density of the semiconductor wafer or the sample 10 can be determined.
各ポイントで測定された最小及び最大キャパシタンスと、各ポイントが存在する上面１６上又は上面１６からの深さとの関数として、半導体ウエハ又はサンプル１０の電気活性ドーピング密度を測定することができる。 - 特許庁 - To calculate viscoelastic characteristics, by applying strain input to a sample rubber simultaneously with specifying a blow point and to deduce the blow point under actual manufacturing condition of a rubber product with high accuracy.
ブローポイントの特定と同時に、サンプルゴムに歪み入力を与えて粘弾性特性を求めることができ、しかも、実際のゴム製品を製造する条件下でのブローポイントを高精度に推定することのできるブローポイント測定方法を提供する。 - 特許庁 - In this method, it is found that the sample can specify a range showing the state of a constant state at the freezing temperature, by latent heat from the differential scanning calorimetry result in the cooling process, and the freezing point of the sample is determined, based on the data in this range.
冷却過程の示差走査熱量測定結果から試料が潜熱により凝固温度で一定温度の状態を示す範囲を特定することが可能であることを発見し、この範囲のデータから試料の凝固点を求める方法を示した。 - 特許庁 - A characteristic X-ray emitted from the micro area 3 on the sample 2 in response to irradiation with an electron beam 1 is efficiently collected by the X-ray lens 10 to be guided to a position distant from the sample 2, and is emitted to be converged in the focal point F4.
電子線１の照射に応じて試料２上の微小領域３から放出された固有Ｘ線はＸ線レンズ１０で効率良く収集されて試料２から離れた位置まで案内され、焦点Ｆ４に収束するように出射される。 - 特許庁 - A mechanism part capable of inserting and removing an evaluation substrate for evaluating a contamination degree within a sample chamber to and from the sample chamber is provided, and the contamination degree is estimated from the shape of deposit formed by concentrically emitting electron beams to one point on the evaluation substrate.
試料室内の汚染度合を評価するための評価用基板を試料室に出し入れ可能な機構部を設け、電子線を評価用基板上に一点集中照射させることによって形成させた堆積物の形状から汚染度合を推測する。 - 特許庁 - The transmitted light transmitted through the sample 1 is compared with the light intensity of transmitted light transmitted through a normal part, to thereby detect a defect 12 in the sample 1 from the scanning quantity of the measuring device 4 from the scanning base point where decline of the light intensity of the transmitted light is seen.
試料１を透過した透過光を、正常部を透過した透過光の光強度と比較して、透過光の光強度の低下が見られる時の走査基点からの測定器４の走査量から試料１における欠陥１２を検出する。 - 特許庁 - The main control system 34 reads out the voltage map stored in the memory device 43 when observing the sample 4, and controls the voltage to be applied to a secondary optical system 20 or the voltage to be applied to the sample 4 so as to correct the focal point position of the secondary beam B2.
主制御系３４は、試料４の観察を行う際に記憶装置４３に記憶された電圧マップを読み出し、二次光学系２０に印加する電圧又は試料４に印加する電圧を制御して二次ビームＢ２の焦点位置を補正する。 - 特許庁 - For observing the sample image, the sample is made to move synchronized to the scanning direction of the imaging device camera 13, thereby accumulating on each corresponding imaging device of the imaging device camera 13 the light intensity produced by secondary electrons, back scattering electrons and reflected electrons 8 from a point of the sample.
試料の像を観察する場合には、時間遅延積分型の撮像素子カメラ１３の走査方向に合わせて、試料を移動させ、それにより、同じ点からの２次電子、後方散乱電子及び反射電子８によって発生する光の強度が、時間遅延積分型の撮像素子カメラ１３の各撮像素子に蓄積されながら移動していくようにする。 - 特許庁 - This stabilizer 1 includes a contact face 1a brought into contact with a sample A within a visual field range of an observation optical system 4 or in the periphery thereof, and a point observable simultaneously with the sample A by the observation optical system 4, in the vicinity of the contact face 1a contacting with the sample A within the visual field range of the observation optical system 4.
観察光学系４の視野範囲内またはその周囲において試料Ａに接触させられる接触面１ａを備え、観察光学系４の視野範囲内における試料Ａとの接触面１ａ近傍に、観察光学系４により、試料Ａと同時に観察可能な照準を備えるスタビライザ１を提供する。 - 特許庁 - On the basis of the obtained coordinates, by a means (5) for elevating and lowering a hardness measuring part (4), the hardness-measuring part (4) is vertically moved to location, at which the point of measurement of the sample is in focus.
得られた座標に基づいて、硬さ測定部昇降手段（５）により硬さ測定部（４）を試料の測定点に対して焦点の合う位置へ鉛直方向に動かす。 - 特許庁 - To provide a digital printing device from which a booklet sample can be easily obtained without stopping the continuous output of printed matter at an arbitrary point by a simple operation by an operator.
オペレータの簡単な操作により任意の時点において、印刷物の連続出力を停止させることなく、冊子のサンプルを容易に取得できるデジタル印刷装置を提供する。 - 特許庁 - Then, a point light source image which is an observation image of the sample 101 is picked up by being imaged on an imaging surface of an imaging device 140 through an imaging lens 131 and the objective lens 133.
そして、この試料１０１の観察像である点光源像が結像レンズ１３１および対物レンズ１３３を介して撮像装置１４０の撮像面に結像されて撮像される。 - 特許庁 - To provide a method capable of easily determining an end point by anybody, and capable of also automatically controlling a determination, without relying on an experience of a skilled person, in a polishing process of an ore sample.
鉱石試料の研磨工程において、熟練者の経験に頼ることなく、誰にでも簡単に終点の判定ができ、更には判定の自動化も可能な方法を提供する。 - 特許庁 - A data updating interval difference minimizing means 108 switches the sample point flags to reduce a difference among the respective data updating intervals of the respective radars, based on the data updating interval contribution factors.
データ更新間隔差最小化手段１０８は、データ更新間隔寄与因子に基づいて、各レーダのデータ更新間隔の差が縮小するように、サンプル点フラグの切り換えを行う。 - 特許庁 - A stage movement control part 42 moves a movable stage 11 in the Z-axis direction (optical axis direction of an objective lens 12A), and moves the focal point for a sample part in the thickness direction.
ステージ移動制御部４２は可動ステージ１１をＺ軸方向（対物レンズ１２Ａの光軸方向）に移動させて、サンプル部位に対する焦点を厚み方向に移動させる。 - 特許庁 - Then, an inspection system determination part 111 determines the inspection system of the lot as an inspection system with a larger sample size according as the quality points calculated by the quality point calculation part 109 is low.
そして、検査方式決定部１１１は、品質点数算出部１０９が算出した品質点数が低いほど、ロットの検査方式をサンプルサイズが大きい検査方式に決定する。 - 特許庁 - A vector detection section 1-2 detects a vector comprising the real number of the correlation result of a reception signal at each sample point inputted from a complex matched filter 1-1 and an imaginary component.
ベクトル検出部１−２は、複素マッチトフィルタ１−１から入力される各サンプル点における受信信号の相関結果の実数及び虚数成分から成るベクトルを検出する。 - 特許庁 - The scanning points of an input image are thinned and sample at prescribed intervals, the sampled data are compared with data sampled just before and a difference is found for each sampling point.
入力画像の走査点を所定のインターバルで間引いてサンプリングし；サンプリングされたデータと、直前にサンプリングされたデータとを比較して各サンプリング点毎にその差分を求める。 - 特許庁 - A probe is set to the state fixed to a certain one point to detect the relative vibration between a measuring head and a sample, and the resonance frequency of the relative vibration is calculated from the detection result.
探針をある一点に固定した状態にして測定ヘッドと試料との間の相対振動を検出し、その検出結果から相対振動の共振周波数を算出する。 - 特許庁 - When a sample stage is manually moved, a control device 6 stops the action of the point analysis, and starts the function of a scanning electron microscope to obtain a SEM image.
手動により試料ステージの移動を行おうとする場合、制御装置６は点分析の動作を停止し、走査電子顕微鏡の機能を起動してこのときのＳＥＭ像を得る。 - 特許庁 - The error signal from the addition point 11 is supplied to a servo valve 14 via a PID adjustment unit 12 and a D/A converter 13, and an actuator 15 is driven and loaded on the sample.
加算点１１からの誤差信号は、ＰＩＤ調節部１２、Ｄ／Ａ変換器１３を介してサーボバルブ１４に供給され、アクチュエータ１５が駆動されて試料に載荷される。 - 特許庁 - An eliminating section 32 discriminates, with regard to each sample point, a blood flow component and a residual unnecessary component from the combination of the speed value and the correlation value, and carries out residual unnecessary signal eliminating processing.
除去部３２は、各サンプル点ごとに、速度値及び相関値の組合せから血流成分と残留不要成分とを弁別し、残留不要信号を除去する処理を実行する。 - 特許庁 - The particle detector may be provided with a convergence lens 7 for converging the scattered light Ls, and a slit 8 in parallel to the flow direction of the sample fluid 1 in a focal point of the convergence lens 7.
また、散乱光Ｌｓを集光する集光レンズ７と、この集光レンズ７の焦点に試料流体１の流れる方向と平行なスリット８を備えてもよい。 - 特許庁 - A clock reproducing section 20 ANDs bits of standardized digital data and bits of 0xOFF, determines a distance between a frequency and a convergent point in sample data and extracts a sampling position where the distance is minimized, as a Nyquist point.
クロック再生部２０は、規格化されたデジタルデータの各ビットと０ｘ０ＦＦＦとの各ビットとのＡＮＤをとり、その結果から、サンプルデータにおける周波数と収束点との距離を求め、その距離が最も小さくなるサンプリング位置をナイキスト点として抽出する。 - 特許庁 - A measurement area 0201 including a minute analysis point 0200 in an insulative film 0203 on a sample surface and a reference area 0202 positioned in the vicinity of the measurement area 0201 and composed and constructed equally to the measurement area 0201 excepting exclusion of the minute analysis point 0200 are irradiated by X-rays alternately.
試料表面の絶縁膜0203中にある、微小分析点0200を含む測定領域0201と、測定領域0201の近傍にあって微小分析点0200を含まないこと以外は組成、構造が測定領域0201に等しい参照領域0202にX線を交互に照射する。 - 特許庁 - Subsequently, in case that the angle θ2 is no smaller than the predetermined angle θA, or the angle θ4 is no smaller than the predetermined angle θB, a line segment connecting a start point O1 constituting the target vector TV1 with a sample point S2 is recognized as one approximate line segment L1.
そして、角度θ２が所定角度θＡ以上或いは角度θ４が所定角度θＢ以上であった場合には、対象ベクトルＴＶ１を構成する始点Ｏ１と標本点Ｓ２とを結ぶ線分が一本の近似線分Ｌ１として認識される。 - 特許庁
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