「sample point」を含む例文一覧(562)
＜前へ 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 次へ＞- To accurately align the position of a converging point of a propagating beam on a measurement surface of a sample on measuring a wide range with propagating light, and to always obtain the highest resolution by devising a method and a means to control the distance between a light probe and a sample.
光プローブと試料間距離を制御する方法や手段について工夫することにより、伝搬光による広範囲測定において、伝搬光束の集光点を試料の被測定面に対して正確に位置調整して、常に最も高い分解能を実現すること。 - 特許庁 - To inspect an internal flaw at high sensitivity in a non-destructive state and in a non-contact state with a compact configuration without an operating part by performing ultrasonic excitation to a sample surface in non-contact state, and by observing a sample interior in non-contact state by means for optical interference measurement of a point exciting an ultrasonic wave.
試料表面に非接触で超音波励起を行い、超音波を励起した点を光干渉計測する手段を用いた非接触で試料内部の観察を行うことにより、稼動部分が無く、コンパクトな構成で、高感度で非破壊・非接触に内部欠陥を検査する。 - 特許庁 - The present invention relates to a method for removing the impurities in a sample containing the physiologically active protein, which comprises the following steps of: (1) allowing the physiologically active protein-containing sample to be converted into an aqueous solution of low conductivity at a pH below the isoelectric point of the physiologically active protein; and (2) removing thus-formed particles.
以下の段階：１）生理活性タンパク質含有試料を、該生理活性タンパク質の等電点よりも低いｐＨの低伝導度水溶液状態とし、２）生じる粒子を除去する、を含む、生理活性タンパク質含有試料中の不純物を除去する方法。 - 特許庁 - The fixing device 1 is composed so that an observer observes, by the horizontal optical microscope 2, an active state of cell samples held at the sample fixing section 3 by the horizontal optical microscope 2 and the biological sample can be fixed at an arbitrary point of time in a specific phenomenon.
固定装置１は、観察者が水平型光学顕微鏡２で試料固定部３に保持された細胞試料の活動状態を水平型光学顕微鏡２で観察しながら、特定の現象の任意の時点で生体試料を固定し得るように構成されている。 - 特許庁 - In an automatic clock inverting circuit, receive data are sampled by detecting receive-data phase from a network terminal device, obtaining a proper sample point corresponding to the quantity of the delay of the transmission line and inverting sample-clock phase in the terminal device with an X. 21 interface.
X.２１インタフェースを有する網終端装置において、端末装置からの受信データ位相を検出し、伝送路の遅延量に応じた適切なサンプル点を求めて、サンプルクロック位相を反転させることによって、受信データのサンプリングを行なうことを特徴とする自動クロック反転回路。 - 特許庁 - A focal point of the optical microscope is converged on the sample surface under the condition where the probe is approached to the sample by the prove approaching mechanism, positional information of the driving mechanism is stored at this time, the focusing for the optical microscope in the automatic measurement is carried out using the positional information as a reference.
探針接近機構により探針と試料を接近させた状態で試料表面に光学顕微鏡の焦点を合せ、このときの駆動機構部の位置情報を記憶し、位置情報を基準として自動測定時の光学顕微鏡の焦点合せを行う。 - 特許庁 - By comparing the sample data P3 obtained at present with the sample data P0 obtained in the past as many as the number of sampling of a common multiple calculated based on the cycle of a noise signal superimposed on the image signal and the sampling cycle, the focusing point of the focusing lens is accurately detected at a high speed.
現在取得されたサンプルデータＰ3 と、画像信号に重畳する雑音信号の周期とサンプリング周期とに基づいて算出された公倍サンプル数分だけ過去に取得されたサンプルデータＰ0 とを比較することによりフォーカスレンズの合焦点が高精度にかつ高速に検出される。 - 特許庁 - The labeled sample is irradiated with performing time modulation of the laser light intensity by a prescribed frequency, and fluorescence of the labeled sample at this point is received by a plurality of detection sensors having each different light-receiving wavelength band, to thereby collect each detection value including phase information from each detection sensor.
レーザ光の強度を所定の周波数で時間変調して標識サンプルに照射し、このときの標識サンプルの蛍光を受光波長帯域の異なる複数の検出センサで受光することにより、位相情報を含む検出値を各検出センサから収集する。 - 特許庁 - The evaluation section 22 obtains the time interval between the time obtaining the sample in the specific point of the time waveform of the acceleration and the time obtaining the sample of the moment when shooting balls and shows the displacement amount between the time interval and the exemplified time interval shown by the ideal value parameter as the evaluation result.
評価部２２は、加速度の時間波形の特徴点のサンプルの取得時刻と、ボールの打撃の瞬間のサンプルの取得時刻との間の時間間隔を求め、この時間間隔と理想値パラメータが示す模範の時間間隔とのずれ量を、評価結果として提示する。 - 特許庁 - To provide a method for spark discharge atomic emission spectrometric analysis for maximizing a measurement region as an analysis point configured on a surface of a sample, implementing a component analysis of a sample according to a multiple-analysis logic, and improving the accuracy of the component analysis and a speed of an analysis process.
本発明は、試料面上に設定される分析点である測定領域の最大化を図り、多回分析ロジックに従った試料の成分分析を行い、成分分析の高精度化、分析処理の高速化を実現したスパーク放電発光分光分析方法に関する。 - 特許庁 - A similarity determination part 12 computes a distance in the dimensional space between the center of gravity of positions of main components of a population of other time series data mapped to the space and a feature point by the main components of the sample, and if the distance is short, determines that the sample is similar to the population.
類似判定部１２は、他の時系列データの母集団に関する主成分を当該次元の空間にマッピングした位置の重心と、サンプルの主成分による特徴点との同空間内の距離を求め、その距離が短い場合に、母集団と類似すると判定する。 - 特許庁 - One point on the calibration curve is the x-intercept value (namely, an estimated or experimental value for the logarithm of the minimum viable aerobic microbe count at a start (t_0) of testing in a sample effective for causing the sample to reach t_threshold substantially instantaneously upon a start of incubation).
較正曲線上の一方の点は、ｘ切片値（すなわち、サンプルを培養の開始時に実質的に即時にｔ_閾値に達するようにさせるのに有効な、サンプル中の試験の開始時（ｔ_０）における最小生存好気性菌数の対数の推定値または実験値）である。 - 特許庁 - The control means comprises: comparator means for comparing the input current value determined at each sample point with the input current value determined at the preceding sample point, to obtain a measure of current imbalance attributable to one or both of the sub-circuits associated with the compared input current values; and current balancing means to compensate for the current imbalance.
コントロール手段は、各サンプル点において測定された入力電流値と、先行するサンプル点において測定された入力電流値とを比較し、比較された入力電流値と関連付けられた一方または双方のサブ回路に起因する電流不均衡の測定値を取得する前記比較手段と、電流不均衡を補償する電流平衡手段とを有する。 - 特許庁 - By this constitution, the visible image of the sample by the measuring means is observed and the infrared absorption of the measuring region of the sample can be measured by the measuring means and an observation point and a measuring point can be positionally aligned by the control means and an observation mode and a measuring mode can be operated at the same time without being changed over.
これによって、表示手段によって試料の可視画像を観察を行うと共に、測定手段によって試料の測定領域の赤外吸収を測定することができ、制御手段によって試料上において観察ポイントと測定ポイントの位置を合わせることができ、観察モードと測定モードとを切り替えることなく同時に行うことを可能とする。 - 特許庁 - Additionally, this method includes the process of identifying the point (164) away from the surface of CAD three-dimensional model for the part using the same coordinate system among the point group of the image (104), and the process of finding the existence of any abnormality in the sample part or present abnormal images by utilizing the above identified point (106).
この方法はさらに、その画像の点群の中で、その部品の、同じ座標系を用いるＣＡＤ三次元モデルの表面から所定距離より離れている点（１６４）を特定する（１０４）ことと、その特定した点を利用して、その部品のサンプルにおける異常の存在を突き止めるか、異常の画像を提示する（１０６）こととを含む。 - 特許庁 - To prevent decrease in the sample transmission capacity of electron beams in a STEM observation with decreased acceleration voltage and the bad influence of a damaged layer generated by the application of ion beams, to remove the damaged layer effectively by minimizing the damage to a desired region in a sample, and to prevent processing failure by detecting an optimum processing completion point in time even if the thickness of a thin-film sample is reduced.
加速電圧を下げたＳＴＥＭ観察での電子ビームの試料透過能力の低下やイオンビームの照射により生じるダメージ層の悪影響を防ぎ、試料の所望の領域への損傷を最小限にしてダメージ層を効果的に除去すること、および薄膜試料の厚さがより薄くなっても最適な加工終了時点を検出して加工失敗を防ぐ。 - 特許庁 - In this length measuring method by the scanning electron microscope, the scanning electron microscope is auto-focused with a measuring point, using an output from a sensor for detecting a distance from an objective lens to the sample, and a change of a sample signal emitted from the sample is monitored while changing an excitation current of the objective lens, to detect the excitation current ΔIobj of the objective lens corresponding to a focus shift.
本発明の走査形電子顕微鏡による測長方法は、対物レンズから試料までの距離を検出するセンサの出力を用いて走査形電子顕微鏡を測定ポイントにオートフォーカスさせ、対物レンズの励磁電流を変化させながら試料から放出された試料信号の変化をモニターしてフォーカスずれに相当する対物レンズの励磁電流ΔIobjを検出する。 - 特許庁 - To provide a processing method which can finish fine processing with accuracy without taking much time for check of a datum point, in a con verged ion beam processing method for proceeding with processing by ion beams while referring to the reference mark being the datum point on a sample.
本発明の課題は、試料上の基準点である参照マークを参照しつつイオンビームにより加工を進める集束イオンビーム加工方法において、基準点確認に多くの時間をとられることなく、微細な加工を精度よく仕上げることができる加工方法を提供することにある。 - 特許庁 - To easily acquire height information with respect to a reference point or reference face outside a measuring range to facilitate comparison of a height of a measured data with the reference point or the like, when the measuring range on a sample surface is measured.
試料表面の或る測定範囲を測定するとき、当該測定範囲外にある基準点または基準面に対する高さ情報を容易に取得し、基準点等に対する測定データの高さの比較を容易に実現できる走査型プローブ顕微鏡の測定方法を提供する。 - 特許庁 - This ATR prism 1 of the present invention has a super-semispherical spherical face part 1a irradiated with incident light such as an infrared ray, and a super-hemispherical plane part 1b formed with a focal point O1 of the incident light, and a sample is set in the focal point O1.
本発明のＡＴＲプリズム１は、赤外光等の入射光が照射される超半球形状の球面部１ａと、入射光の焦点Ｏ１が形成される超半球形状の平面部１ｂとを有し、焦点Ｏ１に、試料が設置されることを特徴とする。 - 特許庁 - In an m-dimensional space formed of detection outputs by m pieces of odor sensors 31, a vector computing part 51 finds an odor vector Fx in which a measured result of a normal product is used as a starting point and in which a measured result of an unknown sample as a product to be evaluated is used as an end point.
ベクトル演算部５１は、ｍ個のにおいセンサ３１による検出出力により形成されるｍ次元空間内において、正常品の測定結果を起点とし評価対象品である未知試料の測定結果を終点としたにおいベクトルFxを求める。 - 特許庁 - The ATR prism 1 comprises both a super-semispherical spherical part 1a that is irradiated with an incident light of infrared light etc., a super-semispherical flat part 1b in which the focal point O1 of incident light is formed, and a sample is mounted on the focal point O1.
本発明のＡＴＲプリズム１は、赤外光等の入射光が照射される超半球形状の球面部１ａと、入射光の焦点Ｏ１が形成される超半球形状の平面部１ｂとを有し、焦点Ｏ１に、試料が設置されることを特徴とする。 - 特許庁 - An auxiliary value calculation section 4 calculates the value in which the normalization value for each sample calculated in the normalization value calculation section 3, is added to the value in which a coefficient according to the sampling interval number between the adjacent local minimal point and the local maximal point is multiplied with the normalization value, as the auxiliary value.
補正値算出部４は、正規化値算出部３で算出した各サンプルについての正規化値と、隣接する極小点と極大点との間のサンプリング間隔数に応じた係数を正規化値に乗算した値とを加算した値を、補正値として算出する。 - 特許庁 - In the sample producing method, a groove section 12 is formed by etching / removing the periphery of a region, including a prescribed test point 7 disposed on the surface of the semiconductor wafer 14 treated in prescribed processes in a semiconductor device production line, and the region including the prescribed test point 7 is made thin.
半導体デバイス製造ラインで所定の処理を施した半導体ウエハ１４に対し、ウエハ表面に形成された所定の検査箇所７を含む領域の周辺部をエッチング除去して溝部１２を形成するとともに所定の検査箇所７を含む領域を薄片化する。 - 特許庁 - Hence, even if there is an irradiation distribution, the values integrated by the imaging device camera 13 are equivalent to that in the case of any point of the sample being irradiated with the same light amount.
これにより、照度分布が有っても、時間遅延積分型の撮像素子カメラ１３で積分された値は、試料のどの点でについても、同じ光量の光で照明されたと等価な値となる。 - 特許庁 - The internal diffuse light measuring apparatus comprises a single light-receiving element 16, being arranged toward an area to be observed 16a centering on an irradiation point 19 of white laser light 12 to a sample 18.
内部拡散光測定装置は、試料１８に対する白色レーザ光１２の照射点１９を中心とした観測領域１６ａに向けて配置された単一受光素子１６を有している。 - 特許庁 - The altar sample picture 110 displays difference of far/near with respect to a fixed point as a picture and/or a photograph indicating the state of the altar 111 and the periphery of the altar 111.
祭壇見本図１１０は、祭壇１１１と祭壇１１１の周辺との状態を示す図および／または写真として、定点に対する遠近の相違を、縮尺を変えることによって表示している。 - 特許庁 - To provide an osmotic pressure measuring method by a freezing point depressing method for accurately measuring the osmotic pressure of a sample liquid with good reproducibility by a simple structure reduced in energy consumption, and an osmotic pressure measuring instrument.
簡易且つエネルギー消費の少ない構造で、再現性良く正確に試料液の浸透圧を測定できる氷点降下法による浸透圧測定方法及び測定装置を提供する。 - 特許庁 - Based on a potential contrast difference of the secondary electron images obtained by the irradiation with the charged particle beams selected depending on PN property of the sample, a failure point of leakage generated due to a defect inside the semiconductor device is detected.
試料のPN特性に応じて選択した荷電粒子ビーム照射によって得られた二次電子像の電位コントラスト差から、半導体装置内部の欠陥に基づくリーク不良箇所を検出する。 - 特許庁 - Measurement of the outflow time from the point of time when the outflow of the full sample of the prescribed quantity in the vessel 1 starts to the end of the outflow is executed by a stopwatch or a detector 3 automatically.
容器１内の所定量の全試料が流出し始めた時点より流出が終了するまでの流出時間の測定はストップウオッチによるか、もしくは検知器３により自動的に行う。 - 特許庁 - When an operator accesses the homepage, the addition of a point, the offer of a sample through a takeout port 117, or the free offering of a juice or the like to be sold by the automatic vending machine can be made.
操作者がホームページにアクセスしたときにはポイントを付けたり、取り出し口１１７から試供品を提供したり、自動販売機が販売しているジュース等を無料で提供することも可能である。 - 特許庁 - A measuring point is determined as a plurality of discrete sampling positions at a fixed interval, and the probe travels while being separated from the sample surface being retracted when traveling between the sampling positions.
測定箇所が一定間隔で離散的な複数のサンプリング位置として定められ、サンプリング位置の間の移動の際には探針は退避させられ試料表面から離れた状態で移動する。 - 特許庁 - When a user makes a non-contact card reading sensor 6 read card information from a point card or a credit card of an associated card company, the user can select and take back a required sample or approvals.
利用者は、提携カード会社のポイントカードやクレジットカードを非接触カード読み取りセンサー６にカードの情報を読み取らせてから欲しいサンプルや試供品を選び持ち帰ることができる。 - 特許庁 - An autocorrelation operation part 43 obtains the Doppler shift data in each sample point by amplifying the reception signal in accordance with the gain value controlled by the gain adjustment part 63 and performing a frequency analysis.
自己相関演算部４３は、ゲイン調整部６３によって制御されたゲイン値に従って受信信号を増幅して、周波数解析することで各サンプル点におけるドプラ偏移データを求める。 - 特許庁 - With respect to each cell arrangement point Q, amplitude A and phase θ of the composite wave of object light rays emitted from a plurality of sample points on the corresponding image contour line are determined by calculation.
個々のセル配置点Ｑについて、対応する画像輪郭線上の複数のサンプル点から放出された物体光の合成波の振幅Ａおよび位相θを演算によって求める。 - 特許庁 - To provide an interface for an inductively coupled plasma mass spectrometer capable of performing stable measurement longer than conventional especially for a sample including a matrix of a high fusing point.
特に高融点のマトリックスを含むサンプルに対して、従来よりも長時間にわたり安定した測定を実現可能とする、誘導結合プラズマ質量分析装置のための改良されたインターフェースの提供。 - 特許庁 - The color-dispersed linear bright lines of every wavelength are continuously imaged in a height direction on an optical axis 41, then, the light of one wavelength is focused on a certain one point of the surface of the sample 21.
色分散されたライン状の輝線は、光軸４１上に波長ごとに連続して高さ方向に結像し、試料２１の表面のある１つの点に１つの波長の光が焦点を結ぶ。 - 特許庁 - To provide an electron beam device capable of evaluating a sample with high throughput by a large beam current at an operating point of a large opening angle by using an object lens having a small aberration.
、収差の小さい対物レンズを用いて、大きい開口角の動作点で大きなビーム電流により高スループットで試料の評価を行うことが可能な電子線装置を提供すること。 - 特許庁 - The irradiating direction of the ultraviolet light from the lamp 7, the introducing direction of the sample molecules through the pipe 5 and the center axis L of the drift chamber 21 intersect at one point.
また、真空紫外ランプ７による真空紫外光の照射方向、試料導入管５を通した試料分子、及び、ドリフト室２１の長手方向中心軸Ｌは一点で交差している。 - 特許庁 - To provide a pressure medium oil without solidifying under high pressure such as more than 1.5 GPa, having low pour point temperature and excellent in compatibility with a sample to be used in a test or materials of a test machine.
超高圧、例えば１．５ＧＰａ以上においても固化せず、流動点が低く、かつ実験に用いる試料や実験装置の材質と適合性が優れる圧力媒体油を提供すること。 - 特許庁 - A clock, which can be used for generating a sample point for producing an oversample signal, is used and is independent of the baseband symbol clock, and it is not necessary that the clock is an integer multiple of the clock.
オーバサンプル信号を作り出すためのサンプルポイントを発生するのに利用可能なクロックが使用され、それはベースバンドシンボルクロックから独立しており、クロックの整数倍数である必要はない。 - 特許庁 - Namely, the number of the capacitors is set as a half of the number of bits of the digital image signal DAT, and a sample hold circuit is saved by a point sequential drive, to thereby miniaturize a source driver 32 and to aim to narrow the frame.
すなわち、コンデンサの個数をディジタル映像信号ＤＡＴのビット数の１/２にし、点順次駆動によってサンプルホールド回路を省いて、ソースドライバ３２を小型化にして狭額縁化を図る。 - 特許庁 - The interpolator calculates the relative phase of one sample relating to the prescribed point of the signals by using the values of the relative phase and first and second samples of the samples within the signal segments.
次いで、該補間器が該信号部分内の該サンプルの相対的位相及び該第一及び第二サンプルの値を使用して該信号の所定の点に関しての該１つのサンプルの絶対的位相を計算する。 - 特許庁 - Or a known amount of the matter to be measured is added to a sample which does not contain the matter to be measured nor the measurement-interfering substance to prepare the calibration curve, and the calibration curve is calibrated through the use of the 0 point.
或いは、被測定物質並びに該測定妨害物質を含まない試料に既知量の被測定物質を添加して作成した検量線を前記０点を用いて校正する。 - 特許庁 - The X-ray source arm 6 supports the X-ray irradiation devices 7, 8 in a position where an incident angle θs of an X-ray R0 with respect to the sample S is brought into at least one point within 0°-90° of angle range.
Ｘ線源アーム６は、試料Ｓに対するＸ線Ｒ０の入射角度θｓが０°〜９０°の角度範囲内の少なくとも１点となる位置でＸ線照射装置７，８を支持する。 - 特許庁 - In the method, the height with respect to the reference point existing outside the measuring range is measured to acquire the measured data in the measuring range, when the measuring range on the sample surface is measured.
この測定方法では、試料表面における測定範囲を測定するとき、測定範囲外に存する基準位置に対する高さ測定を行って測定範囲の測定データを取得するようにした。 - 特許庁 - A sample clock timing error measuring part 4 calculates the error direction and the error amount of a sample point by comparing the received IQ signals when ideally receiving known transmission preamble data with the IQ signals output by the A/D converter 2, and sets a phase correction value for correcting the calculated error to a phase shifter 5.
サンプルクロックタイミング誤差測定部４は、既知の送信プリアンブルデータを理想的に受信した場合の受信ＩＱ信号と、Ａ／Ｄ変換器２により出力されたＩＱ信号を比較しサンプル点の誤差方向及び誤差の量を算出し、位相シフタ５に算出した誤差を補正する位相補正値を設定する。 - 特許庁 - A pigment quantity estimating part 148 uses a plurality of the gradual pigment spectral characteristic values regarding the dyeing pigment obtained by the reference spectrum obtaining part 142 and estimates the pigment quantity of the dyeing pigment at the sample point on the dyed sample based on the spectral characteristic value obtained by the spectrum obtaining part 141.
色素量推定部１４８は、スペクトル取得部１４１が取得した分光特性値をもとに、基準スペクトル取得部１４２が取得した染色色素についての段階的な複数の色素分光特性値を用いて染色標本上の標本点における染色色素の色素量を推定する。 - 特許庁 - In the optical surface measurement apparatus that radiates polarized plane wave to a sample 1 and measures variation of the polarized state by reflection on the sample 1 with a sensor 11, a polarizing element 8 is disposed on the focal point of a lens 7 on the reflection side.
ある偏光状態にある平面波を試料１に照射し試料１の反射による偏光状態の変化をセンサー１１によって測定することを特徴とする光学式表面測定装置において、反射側のレンズ７の焦点に偏光素子８を置くことを特徴とする表面測定装置。 - 特許庁 - This fluid treatment apparatus is constituted of two or more treatment fluid jet nozzles for ejecting treatment fluids to almost one point on a sample from different directions, the discharge port of the treated fluid provided above the treatment region and a mechanism for supplying the fluid for separating the fluid treatment region on the sample from the outside of the treatment region.
異なる方向から試料上の略１点に向かい処理流体を噴射する２つ以上の処理流体噴射ノズルと、処理領域上方に設けられた処理済み流体の排出口と、試料上の流体処理領域を処理領域外から分離する流体を供給する機構により構成される。 - 特許庁
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