SAMPLE OBSERVATION SYSTEM AND ADJUSTING METHOD OF SAMPLE OBSERVATION SYSTEM 標本観察システム及び標本観察システムの調整方法 - 特許庁
LATERALLY TRANSFERRING DEVICE OF SAMPLE RACK AND SAMPLE RACK SUPPLYING DEVICE 検体ラック横搬送装置および検体ラック供給装置 - 特許庁
MODEL SAMPLE OF PORTABLE PHONE SET 携帯電話機の形態見本 - 特許庁
SAMPLE ANALYZER, AND ADAPTER FOR SAMPLE CONTAINER SET USED THEREFOR 試料分析装置とそれに用いる試料容器セット用アダプタ - 特許庁
SAMPLE INJECTION AND COLLECTING APPARATUS 試料の注入採取装置 - 特許庁
MAKER SAMPLE CONCENTRATED MANAGEMENT SYSTEM メーカーサンプル集中管理システム - 特許庁
SAMPLE HOLDER OF CENTRIFUGE 遠心分離機の試料用ホルダ - 特許庁
CIGARETTE SAMPLE FOR AUTOMATIC VENDING MACHINE 自動販売機用煙草見本 - 特許庁
a sample for ten days free trial
10日間無料試用のサンプル - 日本語WordNet
To determine the quantities of a gas sample and a liquid sample W0 in the sample flowing in a sample main tube 1 respectively with excellent response. 試料本管1を流れる試料中の気体試料及び液体試料W0の分量をそれぞれ応答良く求める。 - 特許庁
SAMPLE PLATFORM AND SCANNING ELECTRON MICROSCOPE EQUIPPED WITH THE SAMPLE PLATFORM 試料台及びその試料台を備えた走査電子顕微鏡 - 特許庁
SAMPLE STAGE OF ELECTRON MICROSCOPE 電子顕微鏡の試料ステージ - 特許庁
SAMPLE GROUNDING MECHANISM, SAMPLE GROUNDING METHOD, AND ELECTRON BEAM EXPOSURE SYSTEM 試料接地機構、試料接地方法、及び電子線露光装置 - 特許庁
SAMPLE HOLDER FOR ELECTRON MICROSCOPE 電子顕微鏡用試料ホルダ - 特許庁
SAMPLE HOLDER FOR ELECTRON MICROSCOPE 電子顕微鏡用試料ホルダ。 - 特許庁