SAMPLE GENERATING DEVICE AND METHOD 試料作成装置および方法 - 特許庁
ARTICLE SAMPLE FOR AUTOMATIC VENDING MACHINE 自動販売機用商品見本 - 特許庁
MINUTE SAMPLE STAND, SUBSTRATE FOR FORMING THE MINUTE SAMPLE STAND, METHOD FOR MANUFACTURING THE MINUTE SAMPLE STAND, AND ANALYZING METHOD USING THE MINUTE SAMPLE STAND 微小試料台、微小試料台作成用基板、微小試料台の製造方法および微小試料台を用いた分析方法 - 特許庁
OBTAINING METHOD OF MEDICAL SAMPLE 医療用検体の採取方法 - 特許庁
CONTROL DEVICE OF SAMPLE STORAGE CONTAINER 試料保存容器の管理装置 - 特許庁
ANALYZING SAMPLE PRESERVING DEVICE AND SAMPLE INJECTION DEVICE OF ANALYZER 分析装置の分析試料保存装置及び試料注入装置 - 特許庁
APPARATUS FOR SUPPORTING SAMPLE INSPECTION DEVICE, METHOD FOR INSPECTING SAMPLE AND PROGRAM 試料検査装置の支援装置、試料検査方法及びプログラム - 特許庁
ILLUMINATION CONTROL METHOD OF SAMPLE ANALYZER, AND SAMPLE ANALYZER 試料分析装置の照明制御方法および試料分析装置 - 特許庁
SAMPLE CARTRIDGE FOR MEASURING ELECTRIC PROPERTY OF LIQUID SAMPLE AND DEVICE THEREOF 液体試料の電気特性測定のためのサンプルカートリッジと装置 - 特許庁
CROSS SECTION EVALUATION DEVICE OF SAMPLE AND CROSS SECTION EVALUATION METHOD OF SAMPLE 試料の断面評価装置及び試料の断面評価方法 - 特許庁
To provide a sample analysis apparatus and method capable of evaluating the local nonuniformity of a sample structure. 試料の構造の局所的な不均一性を評価する。 - 特許庁
SAMPLE HOLDER, SCANNING PROBE MICROSCOPE AND HEATING METHOD FOR SEMICONDUCTOR SAMPLE 試料ホルダ、走査プローブ顕微鏡及び半導体試料加熱方法 - 特許庁
A cartridge 101 includes a sample port 103 and a sample flow path. カートリッジ101は試料孔103と試料流路とを含む。 - 特許庁
METHOD OF MANUFACTURING ELUTION TEST SAMPLE OF MINERAL AND TEST SAMPLE 鉱物の溶出試験用サンプルの製造方法及び試験用サンプル - 特許庁
CONTAINER FOR CLEANING SAMPLE HOLDER, SAMPLE HOLDER CLEANING STATION, SYSTEM FOR CLEANING SAMPLE HOLDER, AND METHOD FOR CLEANING THE SAMPLE HOLDER 試料ホルダー洗浄容器、試料ホルダー洗浄ステーション、試料ホルダーの洗浄のためのシステム、及び試料ホルダーの洗浄のための方法 - 特許庁
SAMPLE STAGE, AND MEASUREMENT, INSPECTION AND OBSERVATION APPARATUS INCLUDING SAMPLE STAGE 試料ステージ及び試料ステージを備えた測定,検査,観察装置 - 特許庁