「test object」を含む例文一覧(1171)
＜前へ 1 2 .... 14 15 16 17 18 19 20 21 22 23 24 次へ＞- A test code is generated from the logically summed unique code (618) and tested for equality with the logically summed error code to determine if more than one object was selected (620).
論理和がとられたユニークなコードからテストコードが生成され６１８、論理和がとられたエラーコードとの同等性がテストされて１つより多い対象物が選択されたかを判定する６２０。 - 特許庁 - This testing device 200 which is adapted to test the concentration of an object to be analyzed in a solution has a picking-up area 210 having a first volume for housing the solution.
液体中の分析対象物の濃度を試験するように適合された試験装置２００は、液体を収容するための第１の容積を有するピックアップ区域２１０を有する。 - 特許庁 - The rotational movement, between the displacement measuring probe and the optical test surface, defines the data surface of a globe shape or an approximate globe shape of an object that the measured values of the probe are to be acquired.
変位計測プローブと光学テスト表面との間の回転運動は、プローブの計測値が取得される対象となる球形または近似球形データ表面を画定する。 - 特許庁 - To provide a probe card capable of testing the electrical property of an object under test correctly by contacting all the probe pins surely corresponding electrode pads when overdriven, without damage of probe pins and semiconductor elements, even when the object, such as an IC chip, is integrated highly and grown in size.
ICチップ等の被検査体が高集積化、大型化しても、プローブピンや半導体素子が損傷を受けることなく、オーバードライブ時に全てのプローブピンを対応する電極パッドに確実に接触させて、被検査体の電気的特性の検査を正確に行うこと。 - 特許庁 - To provide a friction test device capable of correctly analyzing μ-S characteristic between an object to be tested and a road surface having various conditions, and particularly accurately analyzing the relationship between the object to be tested having a high temperature dependence and the road surface on a testing machine.
被試験体と様々な条件の路面との間のμーＳ特性を正確に解析し、特に温度依存性の高い被試験体と路面との関係を精度良く、試験機上にて解析することができる摩擦試験装置を提供することを目的とする。 - 特許庁 - The test master can vary an input timing of the command for competition evaluation into the evaluation object macro over a part or the whole of a time range from a starting point of time of operation of the evaluation object macro up to just before finish time with respect to the access.
テストマスタは、前記アクセスに対する評価対象マクロの動作の開始時点から終了直前までの時間範囲の一部又は全部にわたって、前記評価対象マクロに対する前記競合評価用の命令の投入のタイミングを可変させる。 - 特許庁 - Information regarding the debugging which is generated by the compiling and linking processes and information program rearrangement by an object process are connected by using the recognition numbers as media and then debugging information for the source code debugging in the test operation of the object processor is generated.
コンパイル・リンク処理で生成するデバッグに係る情報と、対象プロセッサでのプログラム再配置情報とを、上記の認識番号を媒介として結び付け、それによって、対象プロセッサでのテスト動作におけるソースコードデバッグのためのデバッグ情報を作成する。 - 特許庁 - For the purpose, outlines of the test pattern image in picked-up images before and after the enlargement are compared and if there are matching parts, it is judged that the projection area projects from the object object, thereby putting the projection area back to the size before the enlargement.
従って、拡大の前後の撮像画像内に写ったテストパターン画像の輪郭を比較し、一致する部分がある場合には、投写領域が投写対象物からはみ出したと判断し、投写領域の大きさを拡大前の大きさに戻すようにする。 - 特許庁 - In a light-shielding case 104, an inspecting apparatus 100 is provided with a wafer tray 1 which holds a wafer scale lens 2 as an inspection object, an object for test 101, a light-receiving section 103 which is a master chip for inspection, and a holding base 102 which holds the light-receiving section 103.
検査装置１００は、遮光筺体１０４内に、検査対象となるウエハスケールレンズ２を保持するウエハトレイ１と、テスト用の被写体１０１と、検査用のマスターチップである受光部１０３と、受光部１０３を保持する保持台１０２とを備えている。 - 特許庁 - When a compensation is to be made for the dispersion in the voltage amplitudes of input video signals, a maximum luminance test pattern, which is the object of comparison, is displayed in a portion of on-screen and an operator conducts an adjustment to reduce the difference between the test pattern and the input picture to maximum luminance video signals.
入力映像信号の電圧振幅のバラツキを補正する際に、比較の対象となる最大輝度のテストパターンをオンスクリーンの一部の領域に表示させ、このテストパターンと最大輝度の映像信号に対する入力画像との差をなくすようにオペレータに調整を行わせる。 - 特許庁 - In this impact testing device, a honeycomb block test piece 11 is loaded on an installation stand 10 having a smooth surface with cell opening parts 11a upward and downward, and an impact absorbing characteristic is measured by dropping a weight object W having a smooth bottom face from the upper side of the honeycomb block test piece 11.
衝撃試験装置は、表面が平滑な設置台１０上に、セルの開口部１１ａを上下にしてハニカムブロック供試体１１を載置し、ハニカムブロック供試体１１の上方から平滑な底面を有する重量物Ｗを落下させて衝撃吸収特性を測定するものである。 - 特許庁 - To obtain a reliability growth model decided at an initial stage of a test process in a software test process evaluation system using a reliability growth model obtained by modeling a relation between evaluation quantity to software of an evaluation object and a fault discovered for the evaluation quantity.
評価対象のソフトウェアに対する評価の量とその評価量に対して発見される障害の関係をモデル化した信頼度成長モデルを用いるソフトウェアのテストプロセス評価方式において、テストプロセスの初期段階で確定した信頼度成長モデルが得られるようにする。 - 特許庁 - To provide an inspection jig and its manufacturing method capable of performing a highly reliable continuity inspection without any separation of a part of a test electrode or a wring layer from an insulated board even when the continuity inspection is carried out repeatedly by pressing the test electrode in the inspection jig onto an inspected object.
検査治具の検査電極を被検査体に押圧して繰り返し導通検査を行っても、検査電極及び配線層の一部が絶縁基板より離脱することなく、信頼性の高い導通検査ができる検査治具及びその製造方法を提供することを目的とする。 - 特許庁 - Layout polygonal data forming the test pattern is created, and informations on a design rule identifier, a check sort of rule, a check value, a fine adjustment range of check pattern, and steps are added to an edge of a counterpart as a checking object of polygonal data within a predetermined range, thereby, the correct test pattern can be formed.
テストパターンを構成するレイアウトのポリゴンデータを作成し、そのポリゴンデータのチェック対象となる対のエッジに、デザインルール識別子、ルールのチェック種別、チェック値、チェックパターンの微調整範囲およびステップの情報を、所定の範囲内で順次付加させていくことで正しいテストパターンを生成する。 - 特許庁 - The test pattern generation method includes a property generation step for outputting a property that describes an operation of a circuit based on circuit information and failure information of a detection object in the circuit, and a format verification step for outputting a test pattern of the circuit based on the property.
本発明のテストパターン生成方法は、回路情報と、回路における検出対象の故障情報とに基づいて、回路の動作を記述するプロパティを出力するプロパティ作成工程と、前記プロパティに基づいて、回路のテストパターンを出力する形式検証工程とを含む。 - 特許庁 - To provide an MR element test apparatus having a self failure diagnosis function for an electromagnet unit for applying a magnetic field to a test object, and causing a magnetic pole plane of the electromagnet unit to have a uniform magnetic field distribution in a wide area.
本発明はＭＲ素子試験装置に関し、より詳細には被試験体に磁界印可を行う電磁石ユニットに対する自己故障診断機能を備えると共に、電磁石ユニットの磁極面が広い領域で均一な磁界分布を有するＭＲ素子試験装置に関するものである。 - 特許庁 - Test image data produced from a 1st test image generating circuit are given to the image processing system in place of input image data from a scanner section, the data pass through each image processing block in a through mode and data of a check object are selected among respective outputs.
この発明は、第１のテスト画像発生回路で発生したテスト画像データをスキャナ部からの入力画像データの代りに画像処理系に入力し、そのとき画像処理の各ブロックをスルーモードで通過させ、それぞれの出力の中から検査対象のデータを選択する。 - 特許庁 - A virtual CPU 2 (program execution circuit) and a virtual RAM 3 (program storage circuit) are modeled on a computer by a hardware description language; the entire test program is stored in the virtual RAM 3; and a semiconductor integrated circuit modeled by a hardware description language of a test object is tested.
仮想ＣＰＵ２（プログラム実行回路）と仮想ＲＡＭ３（プログラム格納回路）とをハードウェア記述言語によりコンピュータ上でモデル化し、テストプログラムの全てを仮想ＲＡＭ３に格納し、テスト対象のハードウェア記述言語でモデル化された半導体集積回路をテストする。 - 特許庁 - This apparatus includes the DUT substrate to be electrically connected to the test object and having a plurality of first contacts on a side thereof, and a connecting portion sliding on the test head and having a plurality of second contacts to be electrically connected to the first contacts of the DUT substrate.
本装置は、被試験対象と電気的に接続し、側面に複数の第１接点を設けるＤＵＴ基板と、テストヘッド上をスライドし、ＤＵＴ基板の第１接点に電気的に接続する複数の第２接点を設ける接続部とを備えたことを特徴とする装置である。 - 特許庁 - Related to a plurality of moving blades 7, a plurality of function relationships is established between a non- constrain vibration frequency by a non-constrain test and a constrain vibration frequency by a constrain test, and a vibration frequency estimated value is calculated based on the function relationship of a vibration frequency measurement value of an estimated-object moving blade 7.
複数動翼７について、非拘束試験による非拘束時振動数と拘束試験による拘束時振動数との間の複数の関数関係を確定し、推定対象動翼７の振動数計測値を関数関係に基づいて振動数推定値を計算する。 - 特許庁 - To provide a management object heating device equipped with an IC tag which can quickly perform analysis and/or test of a sample in a frozen microtube by defrosting the frozen microtube in a short time under appropriate defrosting conditions, and especially, can immediately cope with urgent analysis and/or test.
冷凍されたマイクロチューブ内の試料を、適正な解凍条件で短時間に解凍して分析や試験を迅速に行なうことができ、とくに緊急に分析や試験を行う際に即応できる、ＩＣタグを備えている管理対象物の加熱装置を提供する。 - 特許庁 - Each output is compared with an output of a 2nd test image generating circuit whose start is delayed against the 1st test image generating circuit by a delay of the selected check object data to discriminate whether or not data transfer timing and a bit check of a data line are acceptable.
この選択した検査対象のデータの遅延分だけ第１のテスト画像発生回路よりスタートを遅らせている第２のテスト画像発生回路の出力と比較することでデータ転送のタイミングおよびデータラインのビットチェックがＯＫか判定ができるようにしたものである。 - 特許庁 - A tester part 31 has a testing unit 32 composed of a plurality of cards mounted with an LSI in the same as the inspection object LSI, and electrically connected to the test card by removing one card among these cards, a PC 33 for controlling operation of the testing unit, and a test program 34.
テスタ部３１は、被検査ＬＳＩと同じＬＳＩが実装されている複数枚のカードから構成され、その中でカード１枚を取り除いてテストカードに電気的に接続されるテスト用ユニット３２と、テスト用ユニットを動作制御するＰＣ３３と、テストプログラム３４を有する。 - 特許庁 - The measuring unit controls the laser tracker to measure three-dimensional coordinates of the high-frequency characteristic test object related to a propagation axis of a high-frequency signal (26) of the high-frequency characteristic test object and to measure three-dimensional coordinates of the one or plurality of reflectors related to a propagation axis of a high-frequency signal (28) of the one or plurality of reflectors.
該計測ユニットは、前記レーザトラッカーを制御して、前記高周波特性試験対象物の高周波信号（２６）の伝播軸に関する前記高周波特性試験対象物の三次元座標の計測と、前記１つまたは複数のリフレクタの高周波信号（２８）の伝播軸に関する前記１つまたは複数のリフレクタの三次元座標の計測とを行わせるように構成されている。 - 特許庁 - This semiconductor testing device for performing a test by giving a test signal generated based on pattern data to a test object includes a pattern editor means for describing the pattern data on the spread sheet constituted by using the rectangular region partitioned by rows and columns as the minimum unit, creating the pattern file of a spread sheet form, and editing the pattern file.
本発明は、パターンデータに基づいて生成した試験信号を被試験対象に与えて試験を行う半導体試験装置において、行および列によって区切られた矩形領域を最小単位として構成したスプレッドシートに前記パターンデータを記述し、スプレッドシート形式のパターンファイルを作成するとともに、前記パターンファイルを編集するパターンエディタ手段を備えたことを特徴とする。 - 特許庁 - The coverage measurement unit acquires a control program, extracts execution paths of the control program, extracts an FSM from among the extracted execution paths, narrows down a test object when extracting the execution path or the FSM, acquires test execution log information, refers to the acquired test execution log information, and performs coverage measurement on the basis of the extracted FSM.
カバレージ測定装置は、制御プログラムを取得し、制御プログラムの実行パスを抽出し、抽出した実行パスの中からＦＳＭを抽出し、上記実行パスの抽出時又はＦＳＭの抽出時にテスト対象の絞り込みを行い、テスト実行ログ情報を取得し、取得したテスト実行ログ情報を参照し、抽出したＦＳＭに基づいたカバレージ測定を行う。 - 特許庁 - To provide a test piece carrier for a transmission type electron microscope and its manufacturing method, a test piece for the transmission type electron microscope and its manufacturing method, as well as observation and crystal structure analysis methods using the test piece for the transmission type electron microscope, wherein observation using the transmission type electron microscope can obtain observation data of an object to be observed in various directions.
透過型電子顕微鏡を用いた観測により、種々の方向における観測対象物の観測データを取得することが可能な、透過型電子顕微鏡用試料保持体およびその製造方法、透過型電子顕微鏡用試料およびその製造方法、並びに、透過型電子顕微鏡用試料を用いた観測方法および結晶構造解析方法を提供する。 - 特許庁 - A test on a voting object is given with every voting object at a voting site provided by a vote managing system 30, and the right of voting is imparted to persons having a prescribed score or more, and votes are accepted via the Internet 22 by voters 40a and 40b to which the right of voting is imparted.
投票管理装置３０が提供する投票サイトで、投票対象毎に投票対象に関するテストを行なって所定の成績以上の者に投票権を付与し、投票権が付与された投票者４０ａ，４０ｂによるインターネット２２を介しての投票を受け付ける。 - 特許庁 - Before inspecting an inspection object 1, the light quantity of a test pattern 1a is measured with an accumulation type line sensor 7, whether the measurement results are within a predetermined reference value range is judged, calibration is conducted according to the judgment, and then the inspection object 1 is inspected.
検査対象１を検査する前には、テストパターン１ａの光量を蓄積型ラインセンサ７で測定し、測定結果が予め定められている基準値範囲内に入っているかを判断し、それに応じてキャリブレーショウンを行い、その後に検査対象１を検査する。 - 特許庁 - This IC test device for testing an object to be tested is provided with a plurality of pin electronics cards for giving and receiving signals to and from the tested object, and a daisy chain signal conductor for daisy-chain connecting between the pin electronics cards, thereby performing data transmission.
本発明は、被試験対象を試験するＩＣ試験装置において、被試験対象と信号の授受を行う複数のピンエレクトロニクスカードと、このピンエレクトロニクスカード間をディジチェーン接続するディジチェーン信号線とを設け、データ伝送を行うことを特徴とするものである。 - 特許庁 - A reference image recording apparatus records a test pattern image on the electronic paper being a calibration object and derives paper calibration data for correcting variations in the finish of the recording image due to the electronic paper being the calibration object on the basis of the finish of the image (refer to Figure 2 (A)).
基準としての画像記録装置により校正対象の電子ペーパにテストパターン画像を記録し、該画像の仕上がりに基づいて校正対象の電子ペーパに起因する記録画像の仕上がりの変動を補正するためのペーパキャリブレーションデータを導出する（（Ａ）参照）。 - 特許庁 - The file storage part (9) includes: a net list (21) showing connection information of a circuit to be an object of generation of a test pattern; and a start/end point list (22) showing a terminal to be the start point of a failure detection object area among circuit to be shown on the net list.
そのファイル格納部（９）は、テストパタンの生成の対象となる回路の接続情報を示すネットリスト（２１）と、ネットリストに示される回路のうち、故障検出の対象となる故障検出対象領域の起点となる端子を示す始終点リスト（２２）とを備えるものとする。 - 特許庁 - Supply of a clock signal to functional blocks other than a functional block being an object of current measurement out of a plurality of functional blocks (2A-2D) is stopped, and a built-in self test circuit and a scan circuit are operated in the functional block which is the object of current measurement.
複数の機能ブロック（２Ａ〜２Ｄ）のうち電流測定対象とされる機能ブロックを除く他の機能ブロックについて上記クロック信号の供給を停止し、且つ、上記電流測定対象とされる機能ブロックにおける上記ビルトインセルフテスト回路と上記スキャン回路とを動作させる。 - 特許庁 - The method and device for improving angiography images are used with a radiation imaging device (100) which is provided with an X-ray source (103), a device (102) for recording images and a test object (200) positioned in such a way that an interested area (104) of an object of imaging is presented.
Ｘ線源（１０３）と、画像を記録するためのデバイス（１０２）と、撮像対象の関心領域（１０４）を提示するように位置決めした被検体（２００）とを備える放射線撮像デバイス（１００）と共に使用される、アンギオグラフィ画像を改善させるための方法及び装置である。 - 特許庁 - The inspection device 301 for inspecting the object of inspection 111 such as the semiconductor wafer is equipped with a means 311 which senses the movement of the test head 131, and a prober control 120 which automatically controls the position of the mount 112 where the object of inspection 111 is mounted on the basis of the sensing result.
半導体ウエハなどの被検査体１１１の検査装置３０１において、テストヘッド１３１が移動したことを感知する手段３１１、およびその感知した結果に基づいて、プローバ制御部１２０が被検査体１１１の載置台１１２の位置調整を自動的に行うように構成した。 - 特許庁 - Further, an electrical connection device includes a connector brought into contact with each corresponding electrode arranged at a position corresponding to each electrode of an object to be inspected to perform energization in a device brought into contact with an electrode of the object to be inspected to perform a test, and uses the contactor as a corresponding contactor.
また、電気的接続装置は、被検査体の電極に接触して試験を行う装置において、上記被検査体の各電極に対応する位置に配設され当該各電極に接触して通電する接触子を備え、当該接触子として上記接触子を用いた。 - 特許庁 - To provide a nondestructive X-ray testing apparatus that is light in weight, easy to install, free from X-ray irradiation, and capable of acquiring X-ray transmission images of a linear test object on the spot in multiple directions and in a nondestructive process, thereby enabling the state of deterioration and other aspects of the object to be precisely checked.
軽量かつ設置が容易で、さらにＸ線被爆なく、直線状の被検査物をその場で非破壊に多方向からのＸ線透過像を取得し、被検査物の劣化状況等を高精度で検査できるＸ線非破壊検査装置を提供する。 - 特許庁 - To provide a test system and a junction box for power supply and grounding which can reduce the influence of noise when a tester is used in a noisy environment together with an apparatus for handling/probing an object to be measured.
ノイズの多い環境で、テスタを、被測定対象をハンドリング・プロービングする装置と共に使用する場合に、ノイズの影響を低減するテストシステム及び電源・接地の接続箱を提供する。 - 特許庁 - To provide a balancing machine capable of making a person superficial in knowledge and experience as to each degree of vibration mode of a testing object correct easily unbalance in the each degree of vibration mode and carry out a balance test easily.
試験体の各次数の振動モードに関する知識や経験が浅い者でも、各次数の振動モードの不釣合いの修正を容易に行うことができて、釣合い試験を容易に行う。 - 特許庁 - To exclude the displacement of load meters themselves and to obtain original repulsion of a test object by preparing at least one pair of load meters having different rigidity values and calculating outputs from respective load meters.
剛性の異なる荷重計を少なくとも１組を備え、おのおのの荷重計からの出力を演算をすることにより、荷重計自身の変位を排除し、被検体本来の反発力を得る。 - 特許庁 - To provide a test having a function for finding out an instruction which is a factor, and an object function when an expected value and an executed result value are not matched and avoiding the occurrence of a defect caused by the same factor.
期待値と実行結果値とが不一致の場合、要因となった命令及び対象機能を見つけ出し、同一要因による不良の発生を回避する機能を有する試験を提供する。 - 特許庁 - To provide an impact absorbing floor which can reduce damage to a person caused by fall and breakage of a falling object itself and a floor and satisfies a maximum acceleration of 100G or less in JIS A6519 hardness test.
人の転倒によるダメージの緩和、落下物自体の破壊の低減、床の損傷の低減し、ＪＩＳ Ａ６５１９の硬さ試験の最大加速度を１００Ｇ以下とするる衝撃緩衝床を提供する。 - 特許庁 - To provide a testing system devised so as to be capable of efficiently pinpointing a part where a fault occurs in a system being a test object including a plurality of components, on the occasion of the occurrence of the fault.
複数の構成部分を含む試験対象の機器に故障が発生したときに、効率よく故障が発生した部位を特定することができるように工夫された試験装置を提供する。 - 特許庁 - The system receives a data slice (18) from a transmission source (12) and subjects the data slice to random delay and known delay (14) and transmits the delayed data slice to a test object chip (16) and thus emulates the propagation delay.
システムは、送信元(12)からデータスライス(18)を受信して、データスライスにランダム遅延又は既知の遅延を施し(14)、遅延したデータスライスを被試験チップ(16)に送信することにより、伝搬遅延をエミュレートする。 - 特許庁 - A test piece 20 comprises the micro-grid 10 and an object to be observed (a protein layer 18 for example) which is cladded at the lateral side of the carbon nanotube 16 used as a component of the micro-grid 10.
また本発明の試料２０は、本発明のマイクログリッド１０と、マイクログリッド１０を構成するカーボンナノチューブ１６の側面に被覆した観測対象物（例えば、蛋白質層１８）とから構成される。 - 特許庁 - To make a person superficial in knowledge and experience as to each degree of vibration mode of a testing object correct easily unbalance in the each degree of vibration mode and carry out a balance test easily.
試験体の各次数の振動モードに関する知識や経験が浅い者でも、各次数の振動モードにおける不釣合いの修正を容易に行うことができて、釣合い試験を容易に行う。 - 特許庁 - To implement seal inspection to an insulator as a test object, loaded to electrical cable so as to cover exposed parts of fibers, without delivering a damage and with a high inspection efficiency.
検査対象である、芯線が露出した部分を被覆するように電線に装着された絶縁体に対して、ダメージを与えることなく、且つ高い検査効率によってシール検査を行うこと。 - 特許庁 - A sensor material 5 and the test object solution that are coloration selective adsorbents are uniformized by slightly shaking a whole detecting tube and, when a heavy metal ion subject to the detection is detected, it shows a color reaction.
呈色性選択吸着剤であるセンサ材５と被試験液は，検出管全体を軽く振ることで均一となり、対象とする重金属イオンが検出できれば呈色反応を示す。 - 特許庁 - To provide an X-ray device for foreign matter detection that can easily adjust the detection sensitivity of X-rays without having to put a test piece into a pipe in which an object of checkup is flowing.
テストピースを被検査物が流れるパイプの中に投入しなくても、簡単にＸ線の検出感度を調整することができるＸ線異物検査装置を提供することを課題とする。 - 特許庁 - The thickness of the test object or the material quality changed part is measured from the distance between the transmission probe T and the receiver probe R, and the path length of the incident bottom surface mode conversion pulse.
送信側探触子Ｔと受信側探触子Ｒとの間の距離および入射した底面モード変換パルスの路程とから、試験体の厚さ、および材質の変化した部分の厚さを測定する。 - 特許庁
- 特許庁
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