「test object」を含む例文一覧(1171)

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  • The network evaluation device 1 confirms communication states of the test object apparatuses 6, 8, 10, 12, 14, and 16 and the communication state between the simulated server 2 and simulated client 4 before and after the generation and after the recovery of the failure.
    ネットワーク評価装置1は、障害の発生前後、及び復旧後における、試験対象機器6,8,10,12,14,16の通信状態、模擬サーバ2及び模擬クライアント4間の通信状態を確認する。 - 特許庁
  • To inspect a projection coverage of a narrow part of an object by means of visual observation; to reduce operation cost of a projection coverage confirming test; and to improve measuring accuracy in surface processing treatment of shot peening and a shot blast.
    ショットピーニングやショットブラストの表面加工処理において、対象物の狭隘部の投射カバレージの目視による検査を可能とし、投射カバレージ確認試験の実施コストを低減し、かつ、測定精度を向上させる。 - 特許庁
  • First of all, test working is performed while using a device (grinding device) becoming an object and data are collected concerning the setting value (grinding pressure/speed) of the device, the state value (temperature) of the device and the evaluation value (working accuracy) of the worked result.
    先ず、対象となる装置(研磨装置)を用いて試験加工を行い、装置の設定値(研磨圧力・速度)、装置の状態値(温度)及び加工結果の評価値(加工精度)についてデータを収集する。 - 特許庁
  • A thermal conductive container 15, in which a cooling-and-heating object accommodating container 14 comprising a bottle such as a test tube, beaker, petri dish, vial and so on or a plastic container is put to stand, is fixed adjacent thereto.
    試験管、ビーカー、シャーレ又はバイヤル瓶等各種瓶類若しくはプラスチック製容器でなる被冷却加熱対象物収容容器14を挿置可能ならしめる熱伝導容器15を隣接固定している。 - 特許庁
  • To provide test- and manufacturing method and a device for a magnichanical sensor when an object having a snap ring for holding a bearing is manufactured in order for the sensor to accurately operate when it detects the presence of the snap ring.
    ベアリングを把持するスナップリングを有する物体を製造する際においてスナップリングの存在を検出するときに正確に動作するように、マグニカニカルセンサを試験及び製造する方法並びに装置を提供する。 - 特許庁
  • To provide an eddy current flaw detection device for detecting flaws present under a surface of a conductivity test object material such as a steel material quickly and accurately by decreasing time loss occurring at electric scanning.
    電気的走査に際して生じる時間ロスを低減し、高速且つ正確に鋼材など導電性被検査材の表面皮下に存在する欠陥を検査することが可能な渦流探傷装置を提供する。 - 特許庁
  • A cleaning liquid supplied from the liquid supply device is ejected from a WJ outlet through the WJ soft tube, and a first WJ route and a second WJ route of the WJ hard tube and cleans the interior of a test object.
    送液装置から送られた洗浄液は、WJ軟質チューブ、WJ硬質チューブの第1WJ路、第2WJ路を通ってWJ出口から噴射され、被検体内部が洗浄される。 - 特許庁
  • The leakage wave P4 and the orthogonal reflected wave P2 are received in the uninterfered state respectively, and a sound velocity of the leakage elastic surface wave P5 generated on the test object S can be obtained precisely by comparing these waves.
    また、漏洩波P4と直交反射波P2とをそれぞれ干渉を受けない状態で受信し、これらの比較により試験体Sに発生する漏洩弾性表面波P5の音速を精度良く求め得る。 - 特許庁
  • To provide a probe driving device which prevents an overload from being applied to a probe and a transmission shaft when the probe is caught in a test object tube, and an internal flaw detector including the same.
    検査対象管内でプローブが引っ掛かったときにプローブや伝達軸に過負荷が加わることを防止するプローブ駆動装置及びこの装置を備えた内挿型探傷装置を提供することを課題とする。 - 特許庁
  • The information corresponding to the plurality of models may include information on at least one amplitude component of a transformed part (e.g., a Fourier transformed part) of the scanning interferometry signal corresponding to each model of the test object.
    複数のモデルに対応する情報は、試験対象物の各モデルに対応する走査干渉分光信号の変換分(例えば、フーリエ変換分)の少なくとも1つの振幅成分についての情報を含んでもよい。 - 特許庁
  • By a processing reception unit 22 and a report display unit 31a, information obtained by performing image processing to a DICOM image object belonging to an identified test is applied to a designated input field in the medical report.
    処理受付部22、レポート表示部31aにより、特定した検査に属するDICOM画像オブジェクトに対して画像処理を行って得た情報を医用レポートの指定された入力欄に適用する。 - 特許庁
  • A probe device is arranged at an upper part of a test object with an electrode, and includes: a probe device body; a cleaning device coupled to the probe device body; and a coupling device coupling the cleaning device to the probe device.
    プローブ装置は、電極を備える被検査体の上方に配置されて、またプローブ装置本体と、該プローブ装置本体に結合された清掃装置と、該清掃装置を前記プローブ装置に結合する結合装置とを含む。 - 特許庁
  • To provide an image recognition method, which includes the creation of a master pattern to realize high-speed and high-precision search of an image pattern regardless of deformation variation of a test object or variation on assembling.
    被検対象物の変形バラツキ又は組み付け上のバラツキに拘わらず、高速且つ高精度に画像パターンのサーチを実現するためのマスタパターンの生成を含む画像認識方法を提供することを目的とする。 - 特許庁
  • A controller 80 is connected with the thermistor 60 and selects one parameter of optimization object from parameters related to recording on the disk 10, and records optional data on a test track to acquire first bit error rate.
    コントローラ80は、サーミスタ60と結合されてディスク10上での記録と関連したパラメータのうちから最適化対象のパラメータを一つ選択し、テストトラックに任意のデータを記録して第1ビットエラー率を獲得する。 - 特許庁
  • An instance retrieval part 15 searches for instances similar to the input music from an instance data base 2 wherein test pieces of instances and polyphonic melodies of arrangement instances are represented by object items and stored.
    事例検索部15によって,事例の課題曲と事例の編曲例の多声旋律をあらかじめオブジェクト項で表現して蓄積している事例ベース20から入力楽曲に類似する事例を検索する。 - 特許庁
  • A measuring object is hung upward, mainly at the most apex part of a drop test platform, by a grasping device and a piezoelectric sensing platform is installed separately downward, while a CCD camera is installed outside the piezoelectric sensing platform.
    主に落下試験プラットフォームの最頂点において挟持装置により被測定物を上方に吊下げ、下方には別に圧電感知プラットフォームを設置し、かつ該圧電感知プラットフォーム外にはCCDカメラを設置する。 - 特許庁
  • To provide a microphotographic device capable of photographing each test object without restrictions of photographing intervals, etc. when implementing a multipoint time-lapse photography for a plurality of photographing ranges, and a control method thereof.
    複数の撮影範囲に対して多点タイムラプス撮影を行なう際、撮影間隔時間等に制限される事なく、各々の被検物の撮影を行なえる顕微鏡写真装置および制御方法を提供すること。 - 特許庁
  • The verification simulator includes a storing part which stores information of a model in which operation of a device is described, and a simulation processing part which performs simulation processing of a verifying object device based on the model and test input information.
    検証シミュレータは、デバイスの動作が記述されたモデルの情報を記憶する記憶部と、モデルとテスト入力情報に基づき検証対象デバイスのシミュレーション処理を行うシミュレーション処理部を含む。 - 特許庁
  • The information corresponding to the multiple models may include information about at least one amplitude component of a transform (for example, a Fourier transform) of a scanning interferometry signal corresponding to each of the models of the test object.
    複数のモデルに対応する情報は、試験対象物の各モデルに対応する走査干渉分光信号の変換分(例えば、フーリエ変換分)の少なくとも1つの振幅成分についての情報を含んでもよい。 - 特許庁
  • To provide a means capable of determining simply and surely a proper processing condition of a sound signal differentiated by an inspection object, in an acoustic test method using a processing means of the sound signal and a neural network (NNW).
    音信号の加工手段とニューラルネットワーク(NNW)を用いる音響検査方法において、検査対象によって相違する音信号の適正加工条件を、簡便かつ確実に決定できる手段を提供する。 - 特許庁
  • After completion of execution of the instruction sequence, the control part 12 instructs the generation part 11 to shift the instruction sequence, and the control part 12 makes the device 2 of the test object execute the shifted new instruction sequence.
    該命令列の実行後、試験実行制御部12がランダム命令生成部11に指示して該命令列をシフトし、試験実行制御部12が、被試験対象装置2に該シフトされた新たな命令列を実行させる。 - 特許庁
  • To provide a probe, and an inspection device using it which enhance the degree of freedom of the arrangement of test terminals in an inspecting object, and also facilitate handling of inspection of a plurality of kinds of boards whose terminal positions for testing are different.
    検査対象物におけるテスト端子配置の自由度が増し、また、テストを行う端子位置の異なる複数種類の基板検査への対応も容易になるプローブ及びこれを用いた検査装置を提供する。 - 特許庁
  • In an atmospheric corrosion test method, salt is deposited on an object to be tested, by spraying salt water in a space held under one condition set within a range of temperature of 0 to 60°C and relative humidity of 10 to 98%.
    大気腐食試験方法において、被試験体への塩分の付着を、温度0〜60℃、相対湿度10〜98%の範囲から設定した1つの条件に保持された空間での塩水噴霧により行う。 - 特許庁
  • If a user looks at and understands the coarseness of an image quality of the test-reproduced and displayed video, and when an instruction to execute dubbing is given dubbing of the compressed video data of a dubbing object is started.
    そして、ユーザが前記試し再生され表示された映像の画質の粗さを見て了解した場合に、ダビングを実行する指示が与えられると、ダビング対象の前記圧縮された映像データがダビング開始される。 - 特許庁
  • When a flying object for collision to be used for high-speed gelatin test is to be made of a mass of gelatin, gelatin powder of 360-600 g is dissolved in hot water 1L to form a liquified gelatin, and this is shaped into a spherical form.
    高速打ち込み試験に用いる衝突用飛翔体をゼラチン塊で形成するに際し、湯1Lに対してゼラチン粉末360〜600gを溶かして液状ゼラチンとし、これを球形に成形するものである。 - 特許庁
  • Even in the case the small lens to be a test object is a small eccentric lens, a standard pattern image for testing can be easily detected y moving the CCD camera 291 along the direction of curvature of the small lens.
    測定対象となる小レンズが、小(偏心)レンズであっても、CCDカメラ291を小レンズの曲率方向に沿って移動させることで、検査用基準パターン画像を検出することを容易にできる。 - 特許庁
  • The index image projection section 30 together with the half mirror 26 and the objective lens 11 constitutes an index projection optical system which projects two index images onto the test object S from different directions via the objective lens 11.
    指標像投射部30はハーフミラー26および対物レンズ11と共に、対物レンズ11を介して被検体Sに二つの指標像を異なる方向から投影する指標投影光学系を構成している。 - 特許庁
  • A non-interference-system wave front measuring part 3 stores the respective center-of-mass positions of a plurality of condensing spots based on the light condensed by a measuring object optical system 2 in a ground test, as reference center-of-mass positions.
    非干渉方式波面計測部3は、地上試験において測定対象光学系2で集光された光に基づく複数の集光スポットの各重心位置を基準重心位置とし記憶している。 - 特許庁
  • Concerning each of a reference lens and a test lens, displacement caused by refraction of each beam when a plurality of beams entering from the lens surface side on the object side are output from a lens surface on the eyeball side is mapped.
    リファレンスレンズと被験レンズのそれぞれについて物体側のレンズ面側から入射した複数の光線がそれぞれ眼球側のレンズ面から出射された際の同各光線毎の屈折による変位をマッピングする。 - 特許庁
  • To provide an acoustic lens which is excellent in tight adhesiveness to an object under test and reduces a propagation loss of ultrasonic waves, an ultrasonic probe including the acoustic lens, and an ultrasonic diagnostic apparatus including the ultrasonic probe.
    被検体への密着性に優れ、超音波の伝播損失の少ない音響レンズ、該音響レンズを有する超音波探触子、および該超音波探触子を有する超音波診断装置を提供する。 - 特許庁
  • To provide a semiconductor integrated circuit testing apparatus and a method, capable of acquiring digital waveform data wherein the position on the time base is accurate, when testing a test object device for outputting analog signal.
    アナログ信号を出力する被試験対象デバイスを試験する場合において、時間軸上の位置が正確なデジタル波形データを得ることのできる半導体集積回路試験装置及び方法を提供する。 - 特許庁
  • To further increase the propagation efficiency of a transmitted ultrasonic wave to an object under test, in an ultrasonic transducer comprising an acoustic matching layer, and to reduce noise resulting from multiple reflection in the ultrasonic transducer.
    音響整合層を含む超音波トランスデューサにおいて、送信された超音波の被検体への伝搬効率をさらに向上させると共に、超音波トランスデューサ内における多重反射に起因するノイズを低減する。 - 特許庁
  • To enable to inspect flaw easily, even in the case of a test object to which close installation of a flaw detection device is difficult and whose surface is changed greatly from a mirror finished surface to a diffusing surface.
    疵検査装置を、検査対象に近接設置が困難な検査対象であって、かつ検査対象の表面が、鏡面から拡散面まで大幅に変化するような場合であっても、容易に疵検査を可能とする。 - 特許庁
  • This dynamic balance testing machine has base part, a rotation support member 4 supported by the base part and rotatably holding the rotation body 7 as a test object, and a vibration detection sensor which detects the vibration accompanying rotation of the rotation body 7.
    動釣合試験機は、基部と、基部に支持され試験対象である回転体7を回転自在に保持する回転支持部材4と、回転体7の回転に伴う振動を検出する振動検出センサとを有する。 - 特許庁
  • A transmission apparatus 1-31 transmits a loop control request frame, to which a code for requesting a loopback connection within the test object frame transmission interval is assigned to a particular area of a MAC frame, to a transmission apparatus 1-32.
    伝送装置1−31は、試験対象のフレーム伝達区間の折返し接続を要求するコードをMACフレームの特定の領域に割当てたループ制御要求フレームを伝送装置1−32に送信する。 - 特許庁
  • To provide an installation structure for mounting in an opening part of a test object, mounting members that include a tube member or a plug member which are at low cost and are less apt to have deterioration in a sealing member, thus enabling prolongation of the lifetime of the sealing member.
    シール部材に劣化が生じ難く長寿命化が図れるとともに、安価につく管部材や栓部材を含む取付部材を被検査物の開口部に取り付けるための取付構造を提供すること。 - 特許庁
  • The tester comprises the formatter for outputting a test signal, a latch circuit that is disposed every tested object, inputs the output of the formatter, and outputs it through or outputs it while holding it, and a driver for inputting the output of the latch circuit and outputting it to the tested object.
    本装置は、試験信号を出力するフォーマッタと、被試験対象ごとに設けられ、フォーマッタの出力を入力し、スルーして出力または保持して出力するラッチ回路と、このラッチ回路の出力を入力し、被試験対象に出力するドライバとを備えたことを特徴とする装置である。 - 特許庁
  • This device includes a test master (110) wherein, when receiving access to an evaluation object macro (120) from a CPU (200) which is a host device, and detecting that the access is a competition evaluation start access determined beforehand, a command for competition evaluation is inputted into the evaluation object macro at a prescribed timing with respect to the access.
    上位装置であるCPU(200)から評価対象マクロ(120)に対するアクセスを受け、前記アクセスが予め定められた競合評価開始アクセスであることを検出すると、前記アクセスに対して、所定のタイミングで、競合評価用の命令を前記評価対象マクロに投入するテストマスタ(110)を備える。 - 特許庁
  • This inspection probe 1 constitutes a substrate part 5 having a wiring layer 7 in which an inner layer wiring 8 for connecting an insulating layer 6 is formed and the electrode of an object to be inspected to a test substrate, and a projecting electrode part 2 for coming into contact with the electrode of the object to be inspected is formed on the surface of the substrate part 5.
    本発明による検査プローブ1は、絶縁層6と被検査物の電極をテスト基板に接続するための内層配線8を形成した配線層7を有する基板部5を構成し、その基板部5の表面に被検査物の電極に接触するための突起状電極部2を形成した。 - 特許庁
  • When the fluid is made to flow along a measured object to measure shearing stress acting on the measured object and a direction thereof by the fluid, two hue values are detected based on an image of the shearing stress liquid crystal for measurement photographed by the two color cameras, and the two hue values are compared with the test value stored in the memory.
    被測定物に沿って流体を流し、流体により被測定物に作用する剪断応力とその方向を測定するには、2つのカラーカメラによって撮影された測定用の剪断応力液晶の画像に基づいて2つの色相値を検出し、メモリに格納された検定値と2つの色相値とを比較する。 - 特許庁
  • To provide a three-dimensional measuring instrument capable of measuring a three-dimensional position of an object, using a photographed signal of the object with a video camera, and a video type extensometer and a video type width meter capable of eliminating errors along three axial directions of a test piece and caused by rotation around axes thereof, applying it.
    ビデオカメラによる対象物の撮影信号を用いて、対象物の3次元位置を計測することのできる3次元計測装置と、それを応用して試験片の3軸方向およびこれらの軸回りの回転による誤差を無くすことのできるビデオ式伸び計および幅計を提供する。 - 特許庁
  • To provide an image processor which can obtain digital image data of good image quality by correcting resolution of image deteriorated by imaging main faces of an imaging object in a state where a perpendicular line of a main face of the imaging object and an optical axis extending to the imaging direction in an un-parallel status, and to provide a test device.
    撮像対象物の主面の垂線と、撮像方向に伸びる光軸とが非平行な状態で撮像対象物の主面を撮像することによって低下した画像の解像度を補正し、画質の良いデジタル画像データを得ることができる画像処理装置及び検査装置を提供する。 - 特許庁
  • The gas sensor structure (100) is provided with a radiation source (102) for emitting radiation (116), a gas measurement chamber (104) filled with a test gas (110) containing at least one measured object, and at least one detector (108) for generating an output signal as a function of the existence and concentration of the measured object.
    ガスセンサ構造(100)は、放射(116)を放出する放射源(102)、少なくとも1種類の被計測物を含む試験ガス(110)で充填され得るガス計測室(104)、及び被計測物の存在、被計測物濃度の関数として出力信号を生成する少なくとも1個の検出器(108)を具備する。 - 特許庁
  • The number of polygons consisting of the polygon groups arranged in a second direction is decided so that image data corresponding to the polygons positioned at the border sections to the object blocks among polygons consisting of a just before block that is a just before block of the object blocks is stored in a z data cache 126 when a depth test is performed by using image data corresponding to the polygons consisting of the object blocks.
    ポリゴン群を構成するポリゴンの第1の方向に並ぶ数は、対象ブロックを構成するポリゴンに対応する画素データを用いてデプステストが行われるときに、その対象ブロックの直前の対象ブロックである直前ブロックを構成するポリゴンのうち、対象ブロックとの境界部分に位置するポリゴンに対応する画素データを、zデータキャッシュ126が記憶しているように、決定される。 - 特許庁
  • This apparatus is characterized by having a DUT (device under test) simulation means for simulating behaviors of the tested object, a tester simulation means for simulating behaviors of the tester based on a test program, and a delay simulation means for delaying behaviors of transferring signals, by a certain amount of delay, between the DUT simulation means and the tester simulation means.
    本装置は、被試験対象の動作をシミュレーションするDUTシミュレーション手段と、テストプログラムに基づいて、テスタの動作をシミュレーションするテスタシミュレーション手段と、DUTシミュレーション手段とテスタシミュレーション手段との信号授受の動作を、遅延量により遅延させる遅延シミュレーション手段とを有することを特徴とする装置である。 - 特許庁
  • A fault detection rate calculation part 7 computes data indicating fault detectability in each combined circuit block with the input values input and determines external detectability of fault points included in the fault detectability data to calculate a fault detection rate 5 of a test pattern 3 for the test object logic circuit 2.
    故障検出率算出部7では、その入力値が入力される各組合せ回路ブロックにおける故障検出性を示すデータを求め、その故障検出性データに含まれる故障個所についての外部検出可能性を判断することにより、テスト対象論理回路2に対するテストパターン3の故障検出率5を算出する。 - 特許庁
  • To provide a working position conveying device for an element conveyor of a test handler of a semiconductor element and a working position confirming method, capable of accurately, quickly and automatically confirming and resetting the working position of the element conveyor to a replacement kit used when the kind of the semiconductor element of a test object is changed.
    テスト対象の半導体素子の種類が変化することにより交替される差替キットに対して素子搬送装置の作業位置を正確且つ迅速で、自動的に認識して再設定できるようにした半導体素子のテストハンドラの素子搬送装置の作業位置認識装置及びこれを用いた作業位置認識方法を提供する。 - 特許庁
  • The device is characterized by having a performance board to be electrically connected to the test head, having a positioning pin provided on the center, and having the DUT board to be electrically connected to the fringe of the performance board through a connector and electrically connected to a test object, divided and positioned relative to each division by positioning pins.
    本装置は、テストヘッドに電気的に接続し、中心に位置決めピンが設けられるパフォーマンスボードと、このパフォーマンスボードの外縁でコネクタを介して電気的に接続すると共に、被試験対象に電気的に接続し、分割され、分割ごとに、位置決めピンで位置決めされるDUTボードとを有することを特徴とする装置である。 - 特許庁
  • To evaluate the remaining life of equipment based on actualy measured values from the viewpoint of soundness maintenance of the incore equipment in an atomic power plant or the like by sampling a material exposed to neutron irradiation of the nuclear reactor incore equipment as a test piece corresponding to evaluation object portion, operation period, test method or the like in the minimum range wherein a structural material function is not lost.
    原子炉炉内機器の中性子照射を受けた材料を評価対象部位、運転期間、試験方法等に対応して、かつ構造材の機能を失わない最小限度の範囲で試験片としてサンプリングし、原子力プラントなどの炉内機器の健全性維持の面から機器の余寿命を実測値に基づいて評価する。 - 特許庁
  • An inspection circuit for a semiconductor device, in which a plurality of IC chips are arranged on a wafer through a scribing lane, has inspection pads that execute probe test in an IC chip, and electrically connects on the scribing lane internal signal lines of an IC chip 1 as a test object to inspection pads 2c and 2d of IC chips 2 and 3 adjacent to each other on the wafer.
    複数のICチップがスクライブレーンを介してウェハ上に配置された半導体装置の検査回路であって、ICチップ内にプロービング検査を実施する検査用のパッドを備え、検査対象となるICチップ1の内部信号線をウェハ上で隣接するICチップ2,3の検査用のパッド2c,2dに、スクライブレーン上で電気的に接続した。 - 特許庁
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