「test object」を含む例文一覧(1171)

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  • A source file is converted using a primary key possessed by a program provider to create a distribution file 13 and a secondary key 13a and only in a case of using the distribution key and the secondary key, an object file of the test program can be created.
    ソースファイルをプログラム提供者の保有する１次キーを用いて変換することにより流通ファイル１３と２次キー１３ａを作成し、流通ファイルと２次キーとを用いた場合にのみテストプログラムのオブジェクトファイルを作成できるようにしている。 - 特許庁
  • Among signals obtained by using an optical system similar to an optical coherence tomography, signals caused by a surface reflection light and scattering light for one time on a surface layer of an object to test are removed, and signals caused by multiple scattered light are extracted and imaged.
    光コヒーレンストモグラフィと同様な光学系を用いて得た信号のうち、検査対象の表面反射光及び表層の一回散乱光に起因する信号を取り除き、多重散乱光に起因する信号を抽出し、画像化する。 - 特許庁
  • To provide a probing apparatus for sufficiently and automatically performing probing even when the pitch between measuring points on an measurement object is narrow with an inexpensive constitution and easy control, in an electric characteristic test of an electronic component requiring multiple point waveform measurement.
    多点波形測定を必要とする電子部品の電気特性試験において、安価な構成で、かつ簡易な制御によって、被測定物測定点間が狭ピッチであっても、問題なく自動的にプロービングが可能なプロービング装置を得ること。 - 特許庁
  • At the time of verifying equivalency, only the comparison object circuit of the prepared test circuit is replaced, and the similar verification is operated, and a difference between the verification result and the above mentioned result is compared, and when the difference is within an allowable range, it is judged that those circuits are equivalent.
    等価性を検証したい場合は、上記で作成したテスト回路の比較対象回路のみ置き換えて、同様の検証を行い、結果を得た後、上記で得た結果と差を比較し、差が許容範囲内であれば等価であると判断する。 - 特許庁
  • A calibration mode is set by a CAL.SET switch 302b, and in the case of setting this mode, the luminance ratio of a film plane to the image pickup surface is calculated by test-exposing an object whose luminance is a standard one, and the ratio is previously stored in a memory.
    ＣＡＬ．ＳＥＴスイッチ３０２ｂによりキャリブレーションモードが設定可能で、このモードでは標準的な明るさを有する被写体をテスト露光することによりフィルム面と撮像面との輝度比が算出され、予めメモリに記憶される。 - 特許庁
  • When the measured temperature is a regulated value or more, a temperature control means (variable resistor 8) is controlled, and the air quantity of a temperature control means (cooling fan 7) is adjusted to cool the object to the regulated value, whereby a high-temperature test is performed.
    この測定温度が規定値以上になった場合には、温度制御手段（可変抵抗器８）を制御し、温度制御手段（冷却ファン７）の風量を調整して被試験物を規定値まで下げることにより、高温試験を行う。 - 特許庁
  • The measuring circuit comprises a pull-down circuit 4 and a pull-up circuit 5 used in a test mode when flash measured to test measure in parallel a flash of each pad 3 as an object to a pellet 1 of a wafer state to eliminate an external level input by fixing an internal input level to a predetermined value, and opens a flash measurement eliminating pad group 30 of the each pad 3.
    この測定回路は、ウエハ状態のペレット１に対し、各パッド３のフラッシュ部を成すものを対象に並列にテスト測定するフラッシュ測定時にテストモードで用いられ、内部での入力レベルを所定値に固定して外部からのレベル入力を不要にするプルダウン回路４及びプルアップ回路５を具備して各パッド３のフラッシュ測定不要パッド群３０をオープンにする。 - 特許庁
  • This device comprises a tester model which simulates the circuit operation of the tester, DUT models with different delay quantities of internal operation which simulate the circuit operation of the test object, a selection means which selects one of the DUT models and connects it to the tester model, and a determination means which determines the DUT model based on the test program, and makes the selection means select it.
    本装置は、テスタの回路動作をシミュレーションするテスタモデルと、被試験対象の回路動作をシミュレーションし、内部動作の遅延量が異なるＤＵＴモデルと、これらのＤＵＴモデルを選択し、テスタモデルと接続する選択手段と、テストプログラムに基づいて、ＤＵＴモデルを判断し、選択手段に選択させる判断手段とを備えたことを特徴とする装置である。 - 特許庁
  • To provide a trace mechanism capable of tracing surely a traced object without running out from an orbit given preliminarily, and a recording reproducing test device capable of scanning surely a medium by a probe without running out from an orbit given preliminarily.
    この発明は、予め与えられた軌道から外れることなく被トレース体をトレーサーで確実にトレースできるトレース機構、および予め与えられた軌道から外れることなく媒体をプローブで確実に走査できる記録再生試験装置を提供することを課題とする。 - 特許庁
  • When clutter map data 10 prepared without using CFAR processing are referred to detect the target, the radar signal processor has processing changing parts 11, 12 for being changed into the CFAR processing when an object is a clutter region, and fixing threshold test when it is a clutter-free region.
    ＣＦＡＲ処理を用いずに作成したクラッタマップデータ１０を参照して目標検出するときに、対象がクラッタ領域のときはＣＦＡＲ処理に、クラッタフリー領域のときは固定スレッショルド検定に切替える処理切替部１１、１２を備える。 - 特許庁
  • The edge of the existing pile of a test object and a foundation building frame of the existing building is cut, and a jack is set at an upper end part of the existing pile, and reaction is taken to a vicinal existing building frame, and the support performance is measured by applying a vertical load to the existing pile by the jack.
    試験対象の既存杭と既存建物の基礎躯体との縁を切り、既存杭の上端部へジャッキを設置し、近傍の既存建物躯体に反力をとり、前記ジャッキにより既存杭に鉛直荷重を加えて支持性能を測定する。 - 特許庁
  • To effectively prevent damage of each part, even if a testing object is short-circuited and so on, applying a testing device to a test of a semiconductor element which operates by a high voltage such as a plasma display panel (PDP) driving IC or the like for example.
    本発明は、試験装置に関し、例えばＰＤＰ（プラズマディスプレー）パネルドライブ用ＩＣ等の高電圧で動作する半導体素子の試験装置に適用して、試験対象が短絡した場合等にあっても、各部の損傷を有効に回避することができるようにする。 - 特許庁
  • In this model parameter sampling method, a more realistic distribution of characteristics is calculated, by accurately incorporating into a test element model the correlations between characteristics, dependent on the positional relations between the devices in the object system comprising a plurality of devices.
    本発明のモデルパラメータ抽出方法は、対象としている複数個の装置からなる系内の各装置の相対的位置関係に依存した特性の相関関係を素子モデルの中に正確に組み込むことによって、より現実に近い特性の分布を計算する。 - 特許庁
  • The flip-flops 5 with a reset terminal are inserted on the scan paths 3 and the flip-flops 5 with reset terminal are specified by a mask register 4 and are reset, so that the flip-flop values out of the test object for inputting in the flip-flops 5 with reset terminal are initialized and masked.
    スキャンパス３上にリセット端子付きフリップフロップ５を挿入し、マスクレジスタ４によりリセット端子付きフリップフロップ５を指定してリセットすることにより、リセット端子付きフリップフロップ５に入力するテスト対象外フリップフロップの値を初期化し、マスクする。 - 特許庁
  • To provide a testing and recording device for dies and a testing and recording method for dies which can surely distinguish and view minute irregularity on a test object such as dust and blemish on a non-plane molding face of a die from a specific reflection area.
    金型の非平面状成形面上にあるゴミや傷等の微小凹凸検査対象を、非平面状成形面上の特定反射域と区別して確実に視認できる金型用検査記録装置及び金型の検査記録方法を提供する。 - 特許庁
  • In this test object, the steel beam 10 is surrounded with the fire-resistant wall 51, a floor sheet 62 provided in an upper part of an upper flange 11 in the steel beam 10, and a fire-resistant coating material 20 for coating an anti-fire-resistant wall side of the steel beam and a lower flange 14 side of the steel beam.
    試験体は、鉄骨梁１０を、耐火壁５１と、鉄骨梁１０の上フランジ１１上部へ設けられたフロア板６２と、鉄骨梁の反耐火壁側および鉄骨梁の下フランジ１４側を被覆する耐火被覆材２０とによって囲繞させている。 - 特許庁
  • In order to accomplish the object, the electric equipment 4 capable of changing respective functions of an execution part 5 turned ON by the respective switches is made to a constitution that a plurality of switches 6-9 are successively lighted at execution of the action test.
    上記目的を達成するために本発明は、各々のスイッチによってＯＮされる実行部５の各々の機能が変更可能である電気機器４において、動作試験の実施時に、複数のスイッチ６〜９が順に点灯する構成としたものである。 - 特許庁
  • When the glossiness of the concrete surface is measured, metallic foil is pressed to the concrete surface as an evaluation object, and a surface state of the concrete is embossed and transferred to the metallic foil, followed by measuring the glossiness of the metallic foil as a test piece by the gloss meter.
    コンクリート表面の光沢度を測定するに際しては、評価対象のコンクリート表面に金属箔を押し当ててその表面状態を金属箔に型押しして写し取り、該金属箔を試験体としてその光沢度を光沢度計により測定すると良い。 - 特許庁
  • 1. Equipment with an excitation force of 50 kilonewtons or more in a state with no test object present, and capable of generating vibrations with an acceleration effective value of 98 meters per second squared or more, in a frequency range from exceeding 20 hertz and less than 2,000 hertz.
    （一）　試験体がない状態における加振力が五〇キロニュートン以上のものであって、二〇ヘルツ超二、〇〇〇ヘルツ未満の周波数範囲で加速度の実効値が九八メートル毎秒毎秒以上の振動を発生させることができるもの - 日本法令外国語訳データベースシステム
  • i. Equipment with exciting force of 50 kilonewtons or more in a state with no test object present and capable of generating vibrations with effective rate of acceleration of 98 meters per second squared or more even at a frequency of 20 hertz or more and 2,000 hertz or less
    １　試験体がない状態における加振力が五〇キロニュートン以上のものであって、二〇ヘルツ以上二、〇〇〇ヘルツ以下のいずれの周波数においても加速度の実効値が九八メートル毎秒毎秒以上の振動を発生させることができるもの - 日本法令外国語訳データベースシステム
  • The relative positions of the transmitting element 20, the receiving element 30, and the test object 100 are set so that a gas propagation time ta in a gas route RA between the transmitting element and the receiving element is longer than a propagation time tb of the reflected wave in a reflecting route RB.
    反射経路ＲＢにおける反射波の伝播時間ｔｂよりも送信子及び受信子間の気中経路ＲＡの気中伝播時間ｔａが長くなるように送信子２０、受信子３０及び試験体１００の相対位置を設定する。 - 特許庁
  • The test machine is provided with a moving member guiding means 8 for keeping the attitude of the moving member 7, wherein the moving member guide means 8 is inhibiting an attitude change while allowing the positional change of the moving member 7 which is provided with the engaging part 6 for connecting with the operation lever 5 of the testing object 2 and a cam plate mounting part 4.
    試験対象物２の操作レバー５に接続する係合部６とカム板取付部４とを備えた移動部材７の位置変化を許容して姿勢変化を禁止する移動部材ガイド手段８を設け、移動部材７の姿勢を保持する。 - 特許庁
  • This raster microscope has a light source to illuminate an object under test, a detection beam path and a detector disposed in the beam path to detect the light emitted from the object, and is also provided with a light injector which can lead the light other than the emitted light into the above beam path and supply it to the detector.
    被検対象を照明するための光源と、検出ビーム路と、該検出ビーム路に配されると共に被検試料から射出する検出光を検出するための検出器とを有するラスタ顕微鏡において、検出光以外の光を、前記検出ビーム路に差込入射可能としかつ前記検出器に供給可能とする差込入射装置を有することを特徴とする。 - 特許庁
  • The gas sensor assembly 100 comprises a radiation source 102 emitting radiation 116; a gas measuring chamber 104 filled with test gas 110 containing at least one type of object to be measured; and at least one detector device 108 for detecting the radiation and generating a detector signal 109, that depends on one or both of the presence and concentration of the object to be measured.
    ガスセンサ組立体（１００）は、放射（１１６）を放出する放射源（１０２）、少なくとも１種類の被計測物を含む試験ガス（１１０）で充填され得るガス計測室（１０４）、及び放射を検出し、被計測物の存在及び濃度の一方又は両方に依存した検出器信号（１０９）を生成する少なくとも１個の検出器デバイス（１０８）を具備する。 - 特許庁
  • Further, the image recording apparatus being a calibration object records a test pattern image on the electronic paper by using the electronic paper whose paper calibration data are known and employing image data corrected by the paper calibration data and derives machine calibration data to correct variations in the finish of the recorded image due to the image recording apparatus being the calibration object on the basis of the finish of the image (refer to Figure 2(B)).
    また、ペーパキャリブレーションデータが既知の電子ペーパを用い、該ペーパキャリブレーションデータに基づいて補正した画像データを持ちて校正対象の画像記録装置により電子ペーパにテストパターン画像を記録し、該画像の仕上がりに基づいて校正対象の画像記録装置に起因する記録画像の仕上がりの変動を補正するためのマシンキャリブレーションデータを導出する（（Ｂ）参照）。 - 特許庁
  • The method includes steps for: interferometrically profiling a first surface of the test object with respect to a first datum surface; interferometrically profiling a second surface of the test object with respect to a second datum surface different from the first datum surface; providing a spatial relationship between the first and second datum surfaces; and calculating the geometric property based on the interferometrically profiled surfaces and the spatial relationship between the first and second datum surfaces.
    この方法は、第１基準面に対して、試験対象物の第１表面を干渉法によってプロファイルする工程と、第１基準面とは異なる第２基準面に対して、試験対象物の第２表面を干渉法によってプロファイルする工程と、第１基準面と第２基準面との間の空間的関係を提供する工程と、干渉法によってプロファイルした表面、並びに第１基準面と第２基準面との間の空間的関係に基づいて、試験対象物の幾何学的特性を計算する工程とを含む。 - 特許庁
  • An inspection step for writing and reading a test signal while the positive and negative polarities are inverted by signal lines is carried out twice while the polarities of the test signal are changed, obtained voltages of respective pixels are extracted by the polarities, and the voltages having the same polarities are rearranged as to all the object pixels of the inspection and compared with expected values.
    信号線１本毎に正負極性を反転させてテスト用信号の書き込みと読み出しを行う検査ステップを、前記テスト用信号の極性を入れ替えて２回実行し、得られた各画素の電圧を極性毎に抽出して、検査対象となった全画素について同一極性の電圧が配置されるように並べ替え、この並び替えた同一極性の電圧と期待値とを比較するようにした。 - 特許庁
  • The system 110 also includes an alternating current (AC) source 118 for supplying a current through the probe 112, wherein the AC source 118 and the probe 112 are configured to generate a controlled plasma channel 120 between a tip of the probe 112 and the test object 114.
    システム（１１０）はまたプローブ（１１２）を介して電流を供給するための交流（ＡＣ）電源（１１８）も含み、ＡＣ電源（１１８）およびプローブ（１１２）はプローブ（１１２）の先端と検査対象（１１４）の間に制御されたプラズマチャネル（１２０）を生成するように構成される。 - 特許庁
  • The gain of plural sets of data of plural kinds of information relating to a state of the image forming apparatus is performed during an operation test after the manufacture of a plurality of image forming apparatuses, with regard to a plurality of the image forming apparatuses of the same type containing the image forming apparatus as a state discrimination object.
    画像形成装置の状態に関連した複数種類の情報の複数組のデータの取得を、状態判定対象の画像形成装置を含む同じ機種の複数の画像形成装置について、その複数の画像形成装置の製造後の稼働テスト中に行う。 - 特許庁
  • The learnt electing directional learning tendency is applied to the result obtained by successively executing rotating conversion processing to rectangles per line in a test line that is a character direction identifying object line, whereby the easiness of appearance by character directions of this line is evaluated to determine the character direction.
    そして、文字方向識別対象行である試験行の行内矩形に対して、回転変換処理を順次実施した結果に対して、先の学習した正立方向の学習傾向を適用することによって、当該行の文字方向別の出現しやすさを評価し、文字方向を判定する。 - 特許庁
  • In order to rise the temperature of devices in the electronic equipment serving as an object of the thermic test to a junction temperature, rotational frequency of a cooling fan is computed (processing 504) from a prepared temperature control table and controls the cooling fan so as to rotate at the computed rotational frequency (processing 505).
    温度試験の対象となる電子機器内のデバイスの温度をジャンクション温度まで高めるため、予め作成しておいた温度制御テーブルから、冷却ファンの回転数を算出し（処理５０４）、算出した回転数で冷却ファンが回転するように制御する（処理５０５）。 - 特許庁
  • And in a test for the redundant memory cell regions 1b and 1c, when the redundant memory cell column or the redundant memory cell row is already replaced, it is judged that the redundant memory cell column or the redundant memory cell row should be excluded from an object of replacement.
    そして、冗長メモリセル領域１ｂ及び１ｃに関するテストにおいて、冗長メモリセル列又は冗長メモリセル行が置換済みである場合には、当該冗長メモリセル列又は当該冗長メモリセル行を置換の対象から除外すべきと判断されるように構成している。 - 特許庁
  • To provide an operation testing device for a microprocessor accurately judging whether or not the prescribed processing of a test object can be operated within unit time during the operation of a real time processor for the real time processor performing the prescribed processing by a microprogram within the unit time by using the microprocessor.
    マイクロプロセッサを用いて単位時間内にマイクロプログラムによる所定処理を行なう実時間処理装置に対し、実時間処理装置の稼動中に試験対象の所定処理が単位時間内で動作可能かどうか正確に判断するマイクロプロセッサの動作試験装置を提供すること。 - 特許庁
  • When the test object is a semiconductor wafer, generation of the false report because of a brightness unevenness is avoided without decreasing the sensitivity, and moreover, the sensitivity can be adjusted easily by a single threshold by a means for preliminarily reducing a difference of brightnesses of images generated by a film thickness difference in the wafer.
    また、検査対象が半導体ウェハであった場合、ウェハ内の膜厚の違いにより生じる画像間の明るさの違いをあらかじめ合わせ込む手段により、感度を落とさずに明るさむらによる虚報の発生を避け、かつ、唯一のしきい値で容易に感度調整を可能とする。 - 特許庁
  • The testing device allows the operational amplifier 18 to operate and perform a test to make the current flowing fixed in value, in the testing object transistor 14 so that the current quantity flowing in a resistor 24 becomes fixed, by applying a desired voltage from DAC 16 to a positive input end of the operational amplifier 18.
    ＤＡＣ１６から所望の電圧をオペアンプ１８の正入力端に印加することで、抵抗２４に流れる電流量が一定になるように、オペアンプの１８が動作して、試験対象トランジスタ１４に流れる電流を一定値とする試験が行われる。 - 特許庁
  • Leakage or no leakage in a gas supply line is determined by introducing gas in the gas supply line which is a leakage test object among a plurality of gas supply lines into an analyzer, varying the flow rate and pressure of gas flowing through the gas supply line, and measuring the concentration of impurities in the gas.
    複数のガス供給ラインの中の漏洩検査対象となるガス供給ラインのガスを分析計に導入し、該ガス供給ラインを流れるガスの流量又は圧力を変化させて該ガス中の不純物濃度を測定することにより、該ガス供給ラインにおける漏洩の有無を判定する。 - 特許庁
  • This system used for the stress corrosion cracking test for tubes in nuclear power generation is provided with a tube material 310 of a testing object and a heater 340, a tube inside is formed into a sealed space 315 sealed with end plugs 311, 312, and stores a strong alkaline solution 316.
    原子力発電における配管類の応力腐食割れ評価試験に用いるシステムであって、試験対称とする管材３１０及び加熱装置３４０を具え、管材内部は端栓３１１、３１２により密封された封止空間３１５とし、強アルカリ応溶液３１６を収容する。 - 特許庁
  • The elongate strip includes a longitudinal cross-section with a width and thickness giving an aspect ratio greater than unity, and matched to an ultrasonic transducer such that excitation induces a substantially non-dispersive ultrasonic signal which propagates along the elongate strip to the proximal end and enters the object under test.
    細長いストリップは、幅及び厚さが１対１よりも大きなアスペクト比をもつ縦断面を有し、超音波トランスデューサに整合し、励起により、細長いストリップに沿って近位端に進行して試験対象物に進入する、実質的に非分散性の超音波信号を誘導する。 - 特許庁
  • Further, absorption of dimensional error in the part of the B surface 3 of the measuring object 1 by use of an elastic material with low hardness for the strip seal 7, or design of the contact shape of the connecting portion between the cord-like seal 6 and the strip seal 6 as not a surface shape but a linear shape is effective for the airtightness test.
    また、帯状シール（7）に硬度の低い弾性材を使用することで、被測定物（1）のＢ面（3）部分の寸法誤差を吸収できることや、紐状シール（6）と帯状シール（7）のつなぎ部分の当たり形状を面から線にすることは、気密試験に有効です。 - 特許庁
  • To provide a simple and safe printing test method of a gravure ink for evaluating the quantity of a gravure ink without causing whitening even under high humidity condition in a manufacturing site of the gravure ink which is a dangerous object manufacturing factory and a printing testing machine used for the same.
    本発明は、危険物製造所であるグラビアインキの製造現場において、高湿度下においてもブラッシングを起こすことなく、グラビアインキの品質を評価するための簡便かつ安全な印刷試験方法と、その方法に用いる印刷試験機を提供することを課題とする。 - 特許庁
  • The DPV is composed of an object model 110 that comprehends things in a printing domain, graphic rendering technology 120 that supports existing standards and components, a validation model 130 that knows how to test for validity of jobs and user operations and an integration with external services.
    ＤＰＶは、印刷ドメイン内の事柄を理解するオブジェクトモデル１１０、既存のスタンダードと構成要素を支援するグラフィックレンダリング技術１２０、ジョブとユーザオペレーションの妥当性を試験する方法を知るための妥当性確認モデル１３０、および外部サービスとの統合からなる。 - 特許庁
  • Moreover, the apparatus can determine whether a flaw is a protruded flaw or a recessed flaw from the surface, by detecting and determining if there is a shadow of the flaw on the opposite direction to the incident light from the light source to the test object.
    また、被検査物表面の傷部分の周囲において、被検査物への光源からの光の入射方向と反対方向に傷部分の影が生じているか否かを検知、判定することにより、傷部分が表面から出っ張った傷なのか、引っ込んだ傷なのかを判断することができる。 - 特許庁
  • The irradiation test reactor 1 includes a reactor vessel 2, a core tank 3 which is stowed in the vessel 2 and where a core 32 is composed and in-pile loops 4 which guide an atmospheric medium to the core 32 and enables the irradiation of an object T to be irradiated that is located in the core 32.
    この照射試験炉１は、原子炉容器２と、原子炉容器２内に収容されると共に炉心３２が構成される炉心槽３と、炉心３２に雰囲気媒体を導くインパイルループ４とを含み、炉心３２に配置された被照射体Ｔに対して照射を行い得る。 - 特許庁
  • A contact probe 13 is arranged corresponding to an arrangement pattern of a test pad 11 provided in a circuit formation domain 5a which is an inspection object on the upper surface of a holder substrate 15 provided on this contact unit 2, and an inspection probe group 14a-14d is arranged corresponding to dummy pads 7a-7d.
    コンタクトユニット２に備わるホルダ基板１５の上面には、検査対象たる回路形成領域５ａに備わるテストパッド１１の配置パターンに対応してコンタクトプローブ１３が配置されると共に、ダミーパッド７ａ〜７ｄに対応して、検出プローブ群１４ａ〜１４ｄが配置される。 - 特許庁
  • The inspection system includes a test signal source, a signal detection part, a signal process part, an analysis unit, and an integration circuit provided with a boundary scanning function and can be used for inspecting whether the pins of an inspecting object, e.g. integrated circuit are surely connected to the printed substrate assembly.
    本発明の検査システムは、テスト信号源、信号検出部、信号処理部、分析ユニット、およびバウンダリスキャン機能を有する集積回路を含み、たとえば集積回路のような被検体のピンが確実にプリント基板アセンブリに接続しているかどうかを検査するのに用いることができる。 - 特許庁
  • To substantially and highly efficiently perform a high voltage inspection without involving short circuit failure by a simple configuration even when clearly and accurately performing a high-voltage application test collectively for a plurality of inspection object devices in a current waveform (or a voltage waveform) conformed to the standards.
    検査対象の複数個のデバイスに対して一括して、規格に適合した電流波形（または電圧波形）で明確かつ正確に高電圧印加試験を行う場合にも、簡単な構成でショート不良が混在することなく、高電圧検査を大幅に効率よく行う。 - 特許庁
  • Alternatively, the stimulation of a T cell is therapeutically useful because this method stimulates the antitumor response in the test object, stimulates the response to the pathogen or to vaccination and enhancing the immune response to the antigen.
    別法として、本発明方法にしたがったＴ細胞応答の刺激は、被検体における抗腫瘍応答を刺激すること、病原体あるいはワクチン化に対する応答を刺激することなどの抗原に対する免疫応答を強化することにおいて治療上有用である。 - 特許庁
  • To provide an optical rotation component analyzer capable of analyzing components of an optical rotation substance contained in a test object such as sugar with optical rotation property, and tissue, blood and molecule of a living body and minimally invasively or noninvasively analyzing components of the optical rotation substance of the living body.
    本発明は旋光性をもつ糖質、生体の組織、血液、分子などの検体に含まれる旋光物質の成分分析ができまた微侵襲または無侵襲で生体の旋光物質の成分分析ができる旋光成分分析装置を提供することを課題とする。 - 特許庁
  • The system includes a parallel/serial converter for converting a parallel output of the IC tester into a serial signal, and the first differential current driver for converting an output from the parallel/serial converter into a differential current signal and outputting it to the test object.
    本システムは、ＩＣテスタのパラレル出力をシリアル信号に変換するパラレル／シリアル変換器と、このパラレル／シリアル変換器の出力を差動電流信号に変換し、被試験対象に出力する第１の差動電流ドライバとを備えたことを特徴とするシステムである。 - 特許庁
  • Further, since an optical disk control(ODC) chip 10 being an object for inspection is provided with the format information of the reproduced data, the evaluation board 20 capable of automatically producing the test data is supplied at a low cost with the a simple constitution by obtaining the timing for substituting for the error data from the ODC chip 10.
    さらに、検査対象であるＯＤＣチップ１０は、再生データのフォーマット情報を持っているので、そのＯＤＣチップ１０からエラーデータに置換するタイミングを取得することにより、テストデータを自動生成可能な評価ボード２０を簡略な構成で低コストで供給可能とする。 - 特許庁
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