「test object」を含む例文一覧(1171)
＜前へ 1 2 .... 14 15 16 17 18 19 20 21 22 23 24 次へ＞- Test pattern generation can be achieved simply and in a short time by making an LSI chip 101 operate, an object to be evaluated, by an actual device set board apparatus 100 in which the LSI chip 101 is installed, probing its LSI terminal signals 111 to 116, 124, 125, and converting its probe signals 118 to 123, 127 into a test pattern 170 of arbitrary format.
評価対象とするＬＳＩチップ１０１を搭載する実機セットボード装置１００でＬＳＩチップ１０１を動作させ、そのＬＳＩ端子信号１１１〜１１６，１２４，１２５をプローブし、そのプローブ信号１１８〜１２３，１２７を任意のフォーマットのテストパターン１７０へ変換することで、簡便にかつ短時間でのテストパターン生成が可能となる。 - 特許庁 - Inspection object parts Fa, Fb of each propagation route are positioned at each different depth in the aligned state on an inspection part center line FL relative to the depth direction, and set on a surface layer part and a middle part or a deep part of the test body.
各伝播経路の検査対象部Ｆａ，Ｆｂが深さ方向に対する検査部中心線ＦＬ上に並んで異なる深さに位置すると共に試験体の表層部と中間部又は深部に設定されている。 - 特許庁 - In this probe card 10, the each probe 12 is extended from a substrate 11 therefor, and a test signal is transmitted and received to/from each contact area (pad and bump) in a chip area of a semi-conductor wafer Waf that is a measured object.
プローブカード１０は、その基板１１から各探針１２が伸長され、被測定対象となる半導体ウェハＷａｆのチップ領域における各接触領域（パッドやバンプ等）にテスト信号の授受が行われるものである。 - 特許庁 - When the component registered in a non-performance component storage part 58 by a performance control part 56 since the test has failed exists, the upgrade trial part 53 performs the upgrade of the component with the component as the object of upgrade.
バージョンアップ試行部５３は、テストに失敗したことで実行制御部５６により未実行コンポーネント記憶部５８に登録されたコンポーネントが存在すれば、当該コンポーネントをバージョンアップ対象のコンポーネントと共にバージョンアップを実行する。 - 特許庁 - The test head has a conductive contact pin 1 for bringing a leading end part 1a into touch with an object to be inspected, and a conductive receiving pin 3 for electrically connecting the contact pin 1 to a predetermined inspecting means.
テストヘッドは、先端部１ａを被検査物に接触させるための導電性の接触ピン１と、この接触ピン１を所定の検査手段に対して電気的に接続するための導電性の受けピン３とを備えている。 - 特許庁 - To provide a method for manufacturing a sheet-like probe capable of realizing a successful state of electric connection with a wafer, even in the case that a pitch of test electrodes on the wafer being an object to be tested is very narrow.
検査対象であるウエハにおける被検査電極のピッチが極めて小さいものであっても、ウエハに対する良好な電気的接続状態を確実に達成することができるシート状プローブの製造方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a verifying method for design which automatically generates a smart test bench having a function of automatically deciding proper restriction conditions of vector generation according to information on both the design and characteristics of an object to be inspected.
検査対象の設計と特性の両方の情報に基づいて、適切なベクトル生成の制約条件を自動的に判定する機能を備えるスマート・テストベンチを自動的に生成する、設計の検証方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a method of capturing an optical image, capable of capturing the image by reducing the time of feedback control required to achieve a proper aberration correction amount when the position of a test object, a subject for imaging, is changed.
撮像対象である被検査物の位置が変化した際に、適正な収差の補正量となるまでに必要とされるフィードバック制御による時間を低減させ、撮像することが可能となる光画像の撮像方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a computer simulation method capable of precisely simulating dynamic phenomenon such as a collision against a structure using concrete as a constituent object and dispensing with an expensive dynamic test for obtaining various material constants of concrete.
コンクリートを構成物とする構造物に対する衝突のような動的現象を精度よくシミュレーションでき、且つコンクリートの各種材料定数を得るために高価な動的試験が不要なコンピュータシユレーション方法を提供する。 - 特許庁 - A temporary wiring device for inspection is mounted on the wiring board 10 of an inspecting object instead of a semiconductor integrated circuit for display control, each inspection probe is brought into contact with each signal line of the wiring board 10, and it is arranged in a test furnace 45.
表示制御用の半導体集積回路に替え、検査用仮配線装置を検査対象の配線基板１０に搭載し、配線基板１０の信号線に検査プローブを当接し、試験炉４５内に配置する。 - 特許庁 - To provide a means capable of measuring the error rate of even a test object device that receives packets through a plurality of respective transmission paths and can output a multiplexed packet group obtained by multiplexing the received packets through a single transmission path.
複数の伝送路のそれぞれを介してパケットを入力しこれらを多重化した多重化パケット群を単一の伝送路を介して出力可能な試験対象装置に対しても誤り率測定可能な手段を提供すること。 - 特許庁 - When the test object program 191 is terminated, an inclusion result recording part 140 determines a branch instruction step in which all execution paths at a branch destination are executed, and sets a path inclusion flag to the determined branch instruction step.
試験対象プログラム１９１が終了した場合、網羅結果記録部１４０は分岐先の全ての実行経路が実行済みである分岐命令ステップを判定し、判定した分岐命令ステップに経路網羅フラグを設定する。 - 特許庁 - An acquisition means 4 acquires an argument of a method designated and its type, and when a message generated by a requester 51 is captured by a given test value, a SOAP (simple object access protocol) message type name acquisition means 7 acquires a type name from a body part.
取得手段４は指定されたメソッドの引数、型を取得し、与えられたテスト値によって、リクエスタ51によって生成されたメッセージが捕獲されると、SOAPメッセージ型名取得手段７は、ボディ部から型名を取得する。 - 特許庁 - A fluoroscopic image of an empty container is previously registered as a mask image data, differential computing is carried out with each test object fluoroscopic image, and foreign matter detection processing is carried out on an image data obtained as a result of the differential computing.
空容器のＸ線透視画像データを予めマスク画像データとして登録しておき、各検査対象物のＸ線透視画像データとの間で差分演算し、この結果の画像データに対して異物検出処理を行う。 - 特許庁 - This method can be effectively utilized for operating a test device for telecommunication equipment provided so as to be operated on a network composed of plural frequencies or frequency channel, especially, telecommunication equipment for measuring the quality of a telephone for moving object.
本発明は、複数の周波数または周波数チャネルからなるネットワークにおいて動作するように設けられた電気通信装置、特に移動体電話の品質測定のための電気通信装置のテスト装置の操作に役立つ。 - 特許庁 - A wavelength scanning interferometer measures an absolute distance to an object on the basis of a signal of interference light between reference light, which is divided from a light flux emitted from a light source while changing a wavelength of the light flux, and test light.
波長走査干渉計は、光源から射出される光束の波長を変更しながら該光束から分割された参照光と被検光との干渉光の信号に基づいて被検体までの絶対距離を計測する。 - 特許庁 - To provide an apparatus for testing a filter, capable of precisely measuring removal efficiency of the filter being disposed in a duct channel, such as a large-sized duct channel in which concentration values of a test-use object are varied widely.
本発明は、大型ダクト経路のように、検査用対象物の濃度のばらつきが大きいダクト経路内に設置されたフィルタの除去効率を、高い精度で測定することができるフィルタ検査装置を提供することを目的とする。 - 特許庁 - The cleaning device includes the front end which can contact the electrode by relative movement in the vertical direction where the probe device body and the test object approach each other and separate from each other at a lower part and a front part from the needle tip.
前記清掃装置は、前記プローブ装置本体と前記被検査体とが相寄り相離れる上下方向への相対移動により前記電極に接触可能の前端部を前記針先より下方及び前方に備える。 - 特許庁 - An output data signal A of a test object circuit 1 and an expected value signal B from an expected value input terminal 2 are compared by a comparing means 3, and the comparison result signal C is held in a nonconformity holding means M1 when the signal C represents nonconformity.
テスト対象回路１の出力データ信号Ａと期待値入力端子２からの期待値信号Ｂとを比較手段３で比較し、その比較結果信号Ｃが不一致を示すとき不一致保持手段Ｍ１において保持する。 - 特許庁 - To provide an ultrasonic inspection device capable of removing deficiency of a conventional device, concerning flaw detection in a screw tooth flank in which an ultrasonic wave can be emitted only in the device axial center direction and flaw detection of the test object circumference is difficult.
超音波を装置軸心方向にしか発射できず、被検体外周の欠陥検出が難しいネジ歯面内欠陥検出に関して、従来装置の不具合を解消できる超音波探傷装置を提供する。 - 特許庁 - Ultrasonic waves P1, P3 are transmitted from an ultrasonic wave transmitting/ receiving surface R arranged in a rough arc shape to a test object S surface, and simultaneously a leakage wave P4 and an orthogonal reflected wave P2 are received by the transmitting/ receiving surface R.
略円弧状に配置された超音波の送受信面Ｒから試験体Ｓ表面に超音波Ｐ１，Ｐ３を送信すると共に送受信面Ｒにより漏洩波Ｐ４と直交反射波Ｐ２とを受信する。 - 特許庁 - An ultrasonic probe diagnostic apparatus diagnoses the ultrasonic probe 200 based on the condition of the ultrasonic probe 200 receives reflected ultrasonic waves from a test object placed to face the ultrasonic probe 200 in which a plurality of ultrasonic oscillators 202a are arranged.
複数の超音波振動子２０２ａが配列された超音波プローブ２００に対向配置されたテスト物体からの反射超音波を超音波プローブ２００が受信する状況に基づいて超音波プローブ２００を診断する。 - 特許庁 - Discharge circuits 4, 6 for discharging the accumulated charge in a cable connected to a measuring object are provided, and operation of the discharge circuits 4, 6 is controlled by a low-order program according to a test instruction by a control program.
本発明は、測定対象に接続されたケーブルの蓄積電荷を放電させる放電回路４、６を設け、制御プログラムによる試験の指示に対応して、この放電回路４、６の動作を下位のプログラムにより制御する。 - 特許庁 - In a test stage, the image pickup object 10 is tentatively made to flow to a conveyance direction C, and rotated only at a predetermined angle at a position 10a of the turn table T1, and made to pass through the linear visual field area F of a line sensor 20 so as to be imaged.
テスト段階では、試験的に撮像対象物１０を搬送方向Ｃに向かって流し、ターンテーブルＴ１の位置１０ａで所定角度だけ回転させ、ラインセンサ２０の線状視野領域Ｆを通過させて撮像する。 - 特許庁 - A chromatography analyzer 1 includes a light source 2, an irradiation optical system 3, a line sensor 4, a detection optical system 5, a scanning device 6 which scans a test piece 9 as an object to be scanned in a scanning direction, and a control part 7 which controls the respective parts.
クロマトグラフィー分析装置1は、光源2と、照射光学系3と、ラインセンサ4と、検出光学系5と、試験片9を走査対象物として走査方向に走査させる走査装置6と、各部を制御する制御部7とを備える。 - 特許庁 - In the impact applying process using a simulating drop apparatus for simulating the robot arm inclined and fallen by its own weight, an impact is applied to a to-be-impacted object 14 by dropping a drop means 10 having an attached test skin member 11.
自重により傾動落下するロボットアームを模擬する模擬落下装置を用い、先ず、衝撃付与工程により、試験用表皮部材１１を取り付けた落下手段１０を落下させて被衝突体１４に衝撃を付与する。 - 特許庁 - When a level change of the detected noise signal received by the receiver 8 is according to a level change of the noise applied to the test object 1, a discriminator 7 determines that the noise applied to a detection position propagates.
判別器７は、受信機８で受信されたノイズ検出信号のレベル変化が、試験対象物１に印加したノイズの印加レベルの変化に追従したものであった場合、検出位置に印加したノイズが伝搬したと判定する。 - 特許庁 - To provide a performance test device having a workpiece fixing device that presses and fixes a fixing object such as a valve body and can easily supply hydraulic fluid into an oil chamber in a short time.
バルブボデーなどの被固定物を押圧して固定するワーク固定装置を備えた性能試験装置において、油室内に簡単かつ短時間に作動油を供給することができるワーク固定装置を備えた性能試験装置を提供する。 - 特許庁 - After that, the test object is added only to the measuring chip 6 to similarly make measurement, and then the difference in sensitivity is used to calibrate measurement result of the reference unit 5', compensating measurement result of the measuring unit 5, based on the calibrated measurement result.
その後測定チップ６のみに被検体を添加し、同様に測定を行い、リファレンスユニット５’の測定結果を前述の感度差を用いて校正し該校正された測定結果により、測定ユニット５の測定結果を補正する。 - 特許庁 - To provide a method of filling control in high pressure hydrogen test equipment and high pressure hydrogen filling equipment capable of applying pressure at a constant pressure rising rate without an excessive rise in temperature of an object to be tested, with a simple structure.
簡単な構成で、試験体の温度が過度に上昇することがなく、一定の昇圧率で圧力を印加することの出来る高圧水素試験設備や高圧水素充填設備での充填制御方法を提供する。 - 特許庁 - The work station 10 is always operated making analysis host process as damon object of sever process, when analysis processing is required from the test processor 20, the work station 10 performs directly analysis processing in accordance with the request.
ワークステーション１０は、解析ホストプロセスをサーバプロセスのデーモンオブジェクトとして常時起動しており、テスタプロセッサ２０から解析処理の要求があった場合、ワークステーション１０は直ちにその要求に応じた解析処理を実行する。 - 特許庁 - To provide an apparatus and a method for efficiently testing a semiconductor integrated circuit by eliminating a loss time occurring whenever signals of address and data are output to an object under test having an automatic program function.
自動プログラム機能を有する被試験対象に対してアドレス及びデータを出力する度に生ずる無駄時間を無くすことで効率的に試験を行うことができる半導体集積回路試験装置及び方法を提供する。 - 特許庁 - The piston 3 can occupy two visualization position corresponding to a pressure level of the test object circuit larger than the force of a calibration spring 5 applied thereon and a pressure level smaller than the force of the calibration spring.
また、ピストン（３）は、その上に加えられる較正ばね（５）の力よりも大きいテスト対象回路の圧力レベル及びこの較正ばねの力よりも小さい圧力レベルにそれぞれ対応する２つの視覚化位置を占めることができる。 - 特許庁 - The tester includes a plurality of cards testing the object under test without combination between cards and including a diagnosis means for performing self-diagnosis and a tester controller for controlling the cards.
本装置は、カード間の組み合わせなく、被試験対象を試験すると共に、自身の診断を行う診断手段を有する複数のカードと、これらのカードの制御を行うテスタコントローラとを備えたことを特徴とする装置である。 - 特許庁 - A control part 111 detects the posture of the ultrasonic probe 200 with respect to the test object by comparing reflected ultrasonic signals received respectively by at least some of a plurality of ultrasonic oscillators 202a.
制御部１１１は、複数の超音波振動子２０２ａの少なくとも一部の超音波振動子２０２ａがそれぞれ受信した反射超音波信号を比較してテスト物体に対する超音波プローブ２００の姿勢を検出する。 - 特許庁 - In the device pick/place apparatus, a pick/place operation is performed to a device as a test object, a pressure supply path between a position-fixed pressure supply means and a turned and moved suction pad is connected by the rotary joint.
検査対象のデバイスに対してピック・アンド・プレイス動作を行うデバイスのピック・プレイス装置において、位置固定された圧力供給手段と回転移動する吸着パッドとの間の圧力供給経路をロータリージョイントで連結する。 - 特許庁 - The image forming apparatus 1 forms an image of a test pattern in a printer 3, before forming the image of an object to be imaged and outputs the image after a fixer 5 applies a fixing treatment according to fixing condition for confirming the fixing properties.
画像形成装置１では、対象画像の画像形成を行うに先だって、プリンタ部３においてテストパターンの画像形成を行い、定着器５が定着性確認用の定着条件により定着処理を施して出力する。 - 特許庁 - To provide an FRP molded object constituted so as to be able to properly vent internal gas to be prevented from deformation or damage not only in a fire resistance test but also in a case receiving heating action by the direct sunlight and capable of keeping a stable configuration.
内部ガスを適切に抜くことができるようにして、耐火試験に対しても、直射日光等による加熱作用を受ける場合においても、変形や破損を防止し、安定した形態を維持可能なＦＲＰ成形体を提供する。 - 特許庁 - To provide an appearance inspecting device of chaind and an appearance inspecting method using it, while extracting external defect and surface defect correctly, and detecting faulty defect with a high degree of accuracy and attempting to miniaturize well the dimensions against a test object.
外形不良及び表面不良を正確に抽出し、欠陥不良を高精度に検出するとともに、被検査物の大きさに対して十分に小型化を図ったチェーンの外観検査装置及びそれを用いた外観検査方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a polymerizable composition giving a crosslinked body being excellent in high frequency characteristic, heat-resistance and anti-crack property at cold heat impact test and a crosslinked resin composite, and a crosslinked body and a crosslinked resin composite object obtained by using this.
高周波特性、耐熱性および冷熱衝撃試験での耐クラック性に優れた架橋体および架橋樹脂複合体を与える重合性組成物、ならびに、これを用いて得られる架橋体および架橋樹脂複合体を提供すること。 - 特許庁 - A frame 11 for loading a test object LSI 1 on a mother board 10 is provided, and a through hole 13 is provided on a spot where a contact point 12 for connecting to the LSI 1 inside the frame 11 is not formed.
【解決手段】マザーボード１０上にテスト対象のＬＳＩ１を搭載するための枠１１を設けると共に、この枠１１の内側でＬＳＩ１との接続を行う接点１２が形成されていない箇所に、貫通孔１３を設ける。 - 特許庁 - A data inversion circuit 16 stores an effect that ECC bit inversion data which can specify inversion of write ECC data generated by an ECC generation circuit 12 bit by bit are set up by write data to a test object address and an ECC section 14 by the CPU.
データ反転回路16はＣＰＵにより検査対象アドレスとＥＣＣ部14への書込みデータによりＥＣＣ生成回路12が生成した書込みＥＣＣデータのビット毎に反転を指定できるＥＣＣビット反転データとが設定されると記憶する。 - 特許庁 - To check in a short time and with high reliability whether a chamfering dimension of a chamfered part falls into a specified range, where a cylindrical part with a through-hole opening edge in a radial direction chamfered is a test object.
径方向貫通孔の開口縁に面取り部が施された筒状部品を検査対象にして、前記面取り部の面取り寸法が規定範囲内にあるか否かの検査を短時間で信頼性良く行えるようにすることを課題としている。 - 特許庁 - In Figure 1(a), the data (graph a) on the depth and the phase of the flaw of the flaw signal is acquired, which is obtained by performing flaw detection of an object for inspection of the artificial flaw by a test frequency by which saturated depth becomes shallower than that of the actual flaw for correction to be used as a reference.
図１（ａ）において、基準として使用する補正用実キズよりも飽和深さが浅くなる試験周波数により人工キズの被検査体を探傷して得られたキズ信号のキズの深さ・位相のデータ（グラフａ）を取得する。 - 特許庁 - The sensor chip is such that even in the case of any patient or potential patient, the concentration of a test object in an unmeasured blood specimen can be relatively easily determined by himself and a judgement can be yielded quickly and accurately.
また色変化の場合は、その反応が生じ完了するまでの、あまり一定しない長い待機時間が必要であり、且つ酵素反応程度、色素生成程度、蛍光強度等の判定の為の時間と特定測定機器が必要となる。 - 特許庁 - To provide an optical image capturing method capable of measuring the stable wavefront aberration if an optical system using the center of a lens to acquire the optical image of a test object is used in capturing the optical image using a compensation optical system.
補償光学系を用いた光画像の撮像において、被検査物の光画像を取得するときにはレンズの中心部分を利用する光学系を用いても、安定した波面収差の測定が可能となる光画像の撮像方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a device for generating a piece database of a scale, according to the storage capacity and processing capability of an object speech synthesizer, by effectively determining a speech piece to be deleted from a large scale piece data base, using less test text.
少ない試験テキストで、大規模な素片データベースから削除する音声素片を効果的に決定し、対象とする音声合成装置の記憶容量や処理能力に応じた規模の素片データベースを生成する装置を提供する。 - 特許庁 - To provide a cooling device for an endoscope and an endoscope apparatus capable of safely and stably observing a test object in a high temperature environment by effectively cooling the insertion part of the endoscope apparatus according to an environmental change in temperature.
温度環境の変化に対応して内視鏡装置の挿入部を効果的に冷却して、高温環境下において安全かつ安定的に被検体を観察することが可能な内視鏡用冷却装置及び内視鏡装置を提供する。 - 特許庁 - In a self discharge defect detection device 10 for a secondary battery 1, charging means 2 charges the secondary battery 1 as a test object, and determination means 5 calculates an input capacity of charged current required to reach charge finish current.
二次電池１の自己放電不良検出装置１０において、充電手段２は、検査対象である二次電池１を充電し、判定手段５は、電流が充電終了電流に到達するまでに要した投入容量を計算する。 - 特許庁 - To provide a sand mold for casting with which even in the case of having a complicated inner surface in the shape of a casting object, a manufacture of the mold is easily performed in a short time and particularly, this sand mold can efficiently cope with the change of spatial shape and dimension in a test manufacturing step.
鋳造対象が形状的に複雑な内空間を有するものであっても、型製作を容易に短時間で行え、特に試作段階での空間形状・寸法の変更に効率よく対処し得る鋳造用砂型を提供する。 - 特許庁
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