「testing」を含む例文一覧(14405)

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  • An apparatus 100 for testing the semiconductor makes blank test signals transmit mutually through transmission path T1 to be output simultaneously from drivers DR1, DR2, and measures output timings t1, t2 when the signals are output from the drivers DR1, DR2, and attainment timings t4, t3 when the signals reach the drivers DR1, DR2.
    半導体試験装置100は、ドライバDR1,DR2から試験信号を互いに伝送経路T1を伝送させて同時に出力させ、ドライバDR1,DR2から出力した出力タイミングt1,t2と、ドライバDR1,DR2に到達した到達タイミングt4,t3を測定する。 - 特許庁
  • The position of the perforation projected image of the film with respect to a pair of focusing screens at the time of obtaining proper perspective is measured by a testing device capable of adjusting the perspective by projecting the picture of the film on a pair of left and right focusing screens and adjusting an interval between the left and the right projected pictures.
    左右一対の焦点板にフィルムの画面を投影し、左右の投影画面の間隔を調節して遠近感を調節できる検定装置により、適切な遠近感となったときの焦点板に対するフィルムのパーフォレーション投影像の位置を測定する。 - 特許庁
  • The material testing machine photographs the fracture surface 100a of a broken test piece 100, calculates the cross-section area of the fracture surface from the image by using an image processing method, and computes the contraction value of the test piece, based on both the cross-sectional area of the fracture surface and a cross-sectional area of the test piece before applied under loads.
    材料試験機は、破断させた試験片100の破断面100aを撮像し、その画像から画像処理によって破断面の断面積を算出し、破断面の断面積と負荷前の試験片の断面積とに基づいて試験片の絞り値を算出する。 - 特許庁
  • In the method for testing the surface state of the measuring object, a nib-shaped chip 11 formed of a circular cone or pyramid disposed at the tip of a hammer 12 is collided with the measuring object 16, and the surface state of the measuring object 16 is evaluated based on the repulsion constant of the hammer 12 after the collision.
    測定物の表面状態試験方法は、ハンマ12の先端部に設けられた円錐又は角錐で構成される尖端形状のチップ11を、測定物16に衝突させ、衝突後のハンマ12の反発定数によって、測定物16の表面状況を評価する。 - 特許庁
  • The lead wire 1 for measuring and testing circuit breakers is provided with a cable part 2; a first connector 3 for connecting the cable part 2 to a switch gear 10; a second connector 4 for connecting the cable part 2 to a circuit breaker 20; and a connection means for connecting the cable part 2 to a circuit breaker measuring device 40.
    遮断器測定試験リード線1は、ケーブル部2と、ケーブル部2をスイッチギヤ10に接続するための第1のコネクタ3と、ケーブル部2を遮断器20に接続するための第2のコネクタ4と、ケーブル部2を遮断器測定器40に接続するための接続手段とを具備する。 - 特許庁
  • In a drive circuit IC3 of an FET3 which becomes an output switch for testing, a voltage is detected by means of a Zener diode ZD and a resistor R1, and when insufficient voltage is detected from the voltage detection by means of a comparison circuit COM, the FET3 is forcibly turned off by dropping the voltage across the gate and source of the FET3 to zero volt.
    試験用出力スイッチとなるFET3のドライブ回路IC3において、ツェナーダイオードZDと抵抗R_1で電圧を検出し、この電圧検出で比較回路COMで電圧不足を検出したときにFET3のゲートソース間を0ボルトにしてその強制オフを行う。 - 特許庁
  • In the testing system for radios for inspecting the performance of radios by using a tester for radios, a baseband signal generator for inspecting at least interfering waves and radio reception functions, including television reception function and GPS reception function have been incorporated into the tester for radios.
    無線機用テスタを用いて無線装置の性能を検査する無線機用テストシステムにおいて、前記無線機用テスタに、少なくとも妨害波、テレビ受信機能およびGPS受信機能を含む無線受信機能の検査を行うためのベースバンド信号発生器を組み込んだ。 - 特許庁
  • To provide a method for testing the durability of concrete capable of accurately grasping the durability of the concrete by determining the relation of strength between an unaltered section and an altered section in concrete specimens, the size of the altered section, and the degree of its alteration.
    コンクリート供試体における非変質部位と変質部位の強度の関係及び変質部位の大きさとその変質程度を求めることで、コンクリートの耐久性を正確に把握することができるコンクリートの耐久性試験方法を提供することを課題としている。 - 特許庁
  • A reference pellet marking prober 1 is provided independently of the wafer-testing device, a reference pellet that becomes the position reference of each pellet is arranged at the wafer by a reference pellet marking prober 1, and the position coordinates of each pellet are successively set in reference with the reference pellet to create a common wafer map.
    ウェハテスト装置に独立して基準ペレットマ−キングプロ−バ1を設け、基準ペレットマ−キングプロ−バ1により各ペレットの位置基準となる基準ペレットをウェハに配置させ、基準ペレットを基準にし各ペレットの位置座標を順次設定し共通のウェハマップを作成する。 - 特許庁
  • To provide a non-adhesive bond type package adapter, capable of interrupting air infiltration from a join part by adhesive bond between a test vessel orifice and a package adapter, without the use of adhesive bond, and making possible testing, in gas barrier tests for PET bottles and pouches with stopper (pouched container).
    ペットボトルや口栓付きパウチ(袋状容器)に対するガスバリア性試験において、試験容器口とパッケージアダプター間の接着剤による接合箇所からの大気侵入を、接着剤を使用することなく遮断させ、試験できるようにするため、無接着剤式のパッケージアダプターを提供する。 - 特許庁
  • The electric double-layer capacitor polarized electrode is manufactured by using a carbonaceous material in which a raw material is for example activated with non-baked coke originating from coal or oil, in which the thermal coefficient of expansion measured by an artificial graphite electrode testing method is adjusted within 0.8-2 as the raw material.
    人造黒鉛電極試験法によって測定される熱膨張係数を0.8〜2の範囲内に調整した石炭または石油由来の未か焼コークスを原料として、この原料を例えば賦活処理した炭素材を用いて電気二重層キャパシタ分極性電極を製造する。 - 特許庁
  • The terminal that is used in a test set and attachable to a load substrate of a testing device has a first end part for forming a large number of contact positions, and connects at least one lead of a tested device electrically to a corresponding metal conductive wire on the load substrate.
    テストセットにおいて使用され、試験装置のロード基盤に取付け可能な端子は、多数の接触位置を形成する第1の端部を有し、試験される装置の少なくとも1つのリードを、ロード基板上の対応する金属製の導電線に電気的に接続する。 - 特許庁
  • To provide a capacitor circuit equipped with a test circuit that can reduce a test time without capacitance test, when an abnormal connection is found, a variable capacitance circuit which uses the capacitor circuit, a resonance circuit which uses the variable capacitance circuit, and a testing method for the capacitor circuit.
    接続不良を見つけた場合は、容量検査を行わないようにして検査時間を短縮させることができる検査回路を備えたコンデンサ回路、そのコンデンサ回路を使用した可変容量回路、その可変容量回路を使用した発振回路及びコンデンサ回路の検査方法を得る。 - 特許庁
  • To provide a component testing device for improving a throughput on a test of an electronic component by shortening a time required for replacement into a test socket of the electronic component, even when a plurality of test sockets having the same function are arrayed along a moving direction of a conveyance hand.
    同一機能のテストソケットが搬送ハンドの移動方向に沿って複数配列される場合であれ、電子部品のテストソケットへの入れ替えに伴う時間の短縮化によって電子部品の試験にかかるスループットの向上を図ることのできる部品試験装置を提供する。 - 特許庁
  • To obtain a method by which an operation test of radio parts is enabled, without measuring instruments by improving problem of the conventional technology that a large number of measuring instruments are required in the case of mass production in a method for testing the radio parts of a master station device or a slave station device, in a radio data communication system.
    無線データ通信システムにおける親局装置または子局装置の無線部テスト方法において、大量生産時に、大量の測定器が必要となるという従来技術の課題を改善し、測定器無しで無線部の動作テストが可能となる方法を提供する。 - 特許庁
  • Then each component that is taken out of the tray Tr is subjected to image recognition based on the imaging of the component, recognition camera 34, and the control means of a component-testing apparatus 1 is composed so that the operation of a head 23 and the like are controlled for transferring the component to a fixed position of the table 32 based on the recognition result.
    そして、トレイTrから取出した各部品を部品認識カメラ34の撮像に基づき画像認識し、この認識結果に基づいてテーブル32の定められた位置に部品を移載すべくヘッド23等の動作を制御するように部品試験装置1の制御手段を構成した。 - 特許庁
  • A non-volatile memory 10 is constituted of plural flip-flop connected to each other end of each bit line other than a first register 11 consisting of plural flip-flop connected to each one end of each bit line 2 of a memory cell array 1, and is provided with a second register 12 for testing the discontinuity of each bit line 2.
    不揮発性メモリ10は、メモリセル・アレイ1の各ビット線2の各一端と接続される複数のフリップ・フロップからなる第1レジスタ11の他に、各ビット線2の各他端と接続される複数のフリップ・フロップからなり、各ビット線2の断線検査用の第2レジスタ12を備えている。 - 特許庁
  • To realize cost reduction, application to various kinds of LSI testing devices, facilitation of application to various kinds of LSIs to be measured, facilitation of device quality control, improvement of LSI design quality, inexpensive LSI design evaluation, facilitation of development to an analytical system, and standardization of a test analytical system.
    コストの低廉化、多種LSI試験装置ヘの適用化、被測定LSI多品種への適用の容易化、装置品質管理の容易化、LSI設計品質の向上、安価なLSI設計評価、解析システムヘの展開の容易化、テスト解析システムの標準化を図る。 - 特許庁
  • Then, by allocating test items for testing the function of the program to be released to the respective determined test periods on the basis of the function indicated by a function ID included in test item information read from a test item information storage device 20, the test plan is prepared.
    次に、リリースされるプログラムの機能をテストするテスト項目を、テスト項目情報記憶装置20から読み出したテスト項目情報に含まれる機能IDが示す機能に基づいて、前記決定された各テスト期間に割り当てることによって、テスト計画を作成する。 - 特許庁
  • (a) a chemical interaction, or physico-chemical interaction, with a human physiological system; or (b) action on an infectious agent, or on a toxin or other poison, in a human body; but does not include a substance that is solely for use in in vitro diagnosis or in vitro testing.
    (a) 人間の生理学的組織を対象とする化学的相互作用若しくは物理化学的相互作用,又は (b) 人体における感染性因子に又は毒素若しくはその他の毒物に対する作用。 ただし,生体外での診断又は生体外での検査のみに使用される物質は含まれない。 - 特許庁
  • (a) preventing, diagnosing, curing or alleviating a disease, ailment, defect or injury in persons; or (b) influencing, inhibiting or modifying a physiological process in persons; or (c) testing the susceptibility of persons to a disease or ailment.
    (a) 人における疾病,軽い慢性的疾患,欠損又は傷害の予防,診断,治療又は緩和,又は (b) 人における生理学的過程について,影響を与え,抑制し又は変更を加えること,又は (c) 病気又は軽い慢性的疾患に対する人の羅病性を試験すること - 特許庁
  • To provide a material testing machine by which the material characteristic of a specimen can be found with good reliability by a method wherein an operating program and a parameter with reference to a measurement controller and an analyzer as well as their measured data can be controlled in a centralized manner and the analytical processing operation of the measured data can be executed accurately.
    計測制御装置および解析装置に対する動作プログラムやパラメータ、更にはその計測データを一元管理することができ、計測データの解析処理を的確に実行して試験体の材料特性を信頼性良く求め得る材料試験機を提供する。 - 特許庁
  • In this material testing machine 100, a changing speed of a stress or strain in a specimen is detected by a load cell 105 or an extensometer 106, and a pulse number P is determined based on a value of a deviation ΔV between a set target changing speed and a detected actual changing speed to control a rotating speed of a motor 1.
    材料試験機100は、供試体の応力または歪みの変化速度をロードセル105や伸び計106により検出し、設定された目標変化速度と検出した実変化速度との偏差ΔVの値によりパルス数Pを決定して、モータ1の回転速度を制御する。 - 特許庁
  • The disintegration testing device includes, a rod 1 (a first loading means) for applying a load to the center of the upper surface of the tablet 4, a hollow cylinder (a second loading means) 2 for applying a load to the periphery part of the tablet, and a supply means for delivering a test solution to the tablet.
    崩壊試験装置は、錠剤4の上面の中央部に荷重を負荷するためのロッド(第1の負荷手段)1と、前記錠剤の周辺部に荷重を負荷するための中空筒体(第2の負荷手段)2と、前記錠剤に試験液を付与するための供給手段とを備えている。 - 特許庁
  • In the case that the specified information is of an output processing mode for testing, a service man executes trial use in the normal use mode at the maintenance time by using the image information to which the specified information is added without being managed by the managing device such as the copy vender and the key counter.
    特定情報がテスト用出力処理モードの情報である場合は、メンテナンス時にサービスマンは、特定情報の付加された画像情報の使用により、コピーベンダーやキーカウンタ等の管理装置で管理されることなく、通常使用モードでテスト使用を行うことができる。 - 特許庁
  • To provide a weather resistance testing apparatus having an exhaust processor capable of removing ash powder in exhaust in a carbon arc lamp type weather/light resistance test, stably sucking ash powder while preventing damping and variation of capture force of an air filter, and automatically removing ash powder adhering to the air filter.
    カーボンアーク灯式の耐候光試験の排気中の灰粉を除去し、エアフィルタの捕捉力の減衰やバラツキを防ぎながら、灰粉を安定して吸着でき、且つ自動にエアフィルタに付着の灰粉の除去を行うことができる排気処理装置を備えた耐候性試験装置の提供。 - 特許庁
  • A rate signal is outputted based on a cycle information stored in a rate memory, the rate signal is delayed to output edges based on timing information of an edge memory, and the IC tester for testing a device under test is improved, using the edges.
    本発明は、レートメモリに格納された周期情報に基づいて、レート信号を出力し、このレート信号を、エッジメモリのタイミング情報に基づいて、遅延し、エッジを出力させ、このエッジを用いて、被試験対象の試験を行うICテスタに改良を加えたものである。 - 特許庁
  • This sequence monitor for semiconductor testing device indicates on a screen a pin group of a plurality of pins as one sequence waveform, as well as variation in each transition position of the pin group obtained through simulation in the same sequence condition, on the screen so that the transition deviation of the pin group is indicated clearly.
    複数ピンのピングループを1つのシーケンス波形として画面上に表示し、且つシミュレーションで得られたピングループの同一シーケンス条件における各遷移位置のばらつきに対して、ピングループの遷移偏差が明示可能に画面表示する、半導体試験装置のシーケンスモニタ。 - 特許庁
  • The resinous phase has a covalently bonded halogen component based on the total weight of resin solids present in the resinous phase such that when the composition is electrodeposited and cured, the cured film passes burning resistance testing in accordance with IPC-TM-650, and has a dielectric constant of ≤3.50.
    樹脂相は、組成物が電着され、かつ硬化される場合に、硬化フィルムがIPC−TM−650に従った燃焼耐性試験に合格し、かつ3.50以下の誘電定数を有するように、樹脂相中に存在する樹脂固体の総量に基いて共有結合性ハロゲン成分を有する。 - 特許庁
  • A base station test apparatus 3 receives the voice signal for testing the downlink voice channel arrived via a telephone switch network 1 and a radio base station 4, converts the voice signal into PCM data, and transmits the PCM data to a maintenance console apparatus 5 via a PCM communication channel 6.
    基地局試験装置3は電話交換網1と無線基地局4とを経由して到来する下り音声回線試験用の音声信号を受信し、この音声信号をPCMデータに変換し、このPCMデータをPCM通信回線6経由で、保守卓装置5に送信する。 - 特許庁
  • To display, at the real time, a scanning electron microscope image of the state of an interface between the side where a load is given and the opposite side or the like, by making inclinable a surface dynamics characteristic test device for testing a surface dynamics characteristic of composite material, and by arranging it in a sample chamber of the scanning microscope.
    複合材料の界面力学特性の試験を行う界面力学特性試験装置を傾斜可能にして走査型顕微鏡の試料室に配置し、荷重をかけた側と反対側の界面などの状態の走査型電子顕微鏡像をリアルタイムに表示する。 - 特許庁
  • The testing carrier 10A comprises: a base board 21A for supporting a die 90; a cover board 31A stacked on the base board 21A so as to cover the die 90; and a sealing member 24 which is interposed between the base board 21A and the cover board 31A and surrounds the die 90.
    ダイ90を保持するベース基板21Aと、ダイ90を覆うように、ベース基板21Aに重ねられたカバー基板31Aと、を備えた試験用キャリア10Aは、ベース基板21Aとカバー基板31Aとの間に介在すると共にダイ90を取り囲むシール部材24を備えている。 - 特許庁
  • The method includes a step (102) of providing a substrate article having a surface; a step (104) of thermally spraying a coating material onto the surface of the substrate article, wherein a surface of contact between the coating material and the substrate article is a bond section; and a step (106) of nondestructively testing the coated article.
    本方法は、表面を有する基体物品を準備する段階(102)と、皮膜材料を該皮膜材料と基体物品との間の密着面がボンド部となるように該基体物品の表面上に溶射する段階(104)と、被覆物品を非破壊検査する段階(106)とを含む。 - 特許庁
  • Since the testing method sequentially measures test items in a communication test mode and displays the result of measurement, this method can save time and trouble of the person measuring and avoid the occurrence of a defective facsimile measurement device FS, due to misoperations by the person measuring, so as to provide high user-friendliness to the measurer.
    通信テストモードにおける複数のテスト項目の測定が順次行われ、結果が表示されるので、測定者の手間が大幅に軽減されるとともに、測定者の操作ミス等によりファクシミリ測定装置FSが破損するような事態を回避することができ、非常に便利である。 - 特許庁
  • A testing device 1 in the fault information tracing device 10 is constituted of an execution format program 11, an execution history collection part 12 for forming history information, a trace memory 13 for storing the history information, and a debugging monitor 14 for making the contents stored in the memory 13 dumped to a device to be tested 2.
    本発明に係る障害情報トレーサ装置100の試験装置1は、実行形式のプログラム11、履歴情報を編成する実行履歴収集部12、履歴情報を記憶させるトレースメモリ13、その記憶内容を被試験装置2にダンプさせるデバッグモニタ14から構成した。 - 特許庁
  • To provide an artificial flame testing apparatus for a polymer insulator preventing a great loss of resources, protecting lives of human bodies and preventing damage to assets beforehand by preventing an accident by predicting the performance and load of the polymer insulator which can be generated in a forest fire and appropriately exchanging or maintaining the polymer insulator.
    山火事時に発生しうるポリマー碍子の性能及び負荷を予測し、ポリマー碍子を適宜取替えまたは保守することによって、事故を未然に防止し、莫大な資源損失と人名及び財産被害を事前に防止することができるポリマー碍子の人工火炎試験装置を提供すること。 - 特許庁
  • Since the game information output means includes a game information output circuit part 347, a conversion circuit part 341 and a connector 342, a third-party inspection facility, etc., can easily inspect (test) the game machine by simply connecting a signal wire from an outside testing device to the connector, etc.
    この遊技情報出力手段は、遊技情報出力回路部347、変換回路部341、コネクタ342を含むため、第三者検査機関等において、外部試験装置からの信号線をコネクタ等に簡便に接続させて容易に遊技機を検査(試験)することが可能となり得る。 - 特許庁
  • A test coil 12 for testing the performance of a main coil 11 is mounted near the main coil 11 in advance, a test signal is transmitted to the test coil 12, and a test control part 33A determines the quality by measuring a detection level of the main circuit receiving the test signal.
    主コイル11の性能を試験するための試験用コイル12を主コイル11の近傍に予め配置し、試験用コイル12に試験用信号を送り、これを受信した主回路の検知レベルを測定することによって試験制御部33Aが良否判定を行う。 - 特許庁
  • In the environment testing apparatus 1, work feed pallets 2, on which works are placed, are stacked to form a pallet stack 20 and the pallet stack 20 is fed along the pallet feed passage 4 through the temperature tank 3 in this state to allow the respective works placed on the respective work feed pallets 2 to reach a predetermined temperature.
    環境試験装置1では、ワークを載せたワーク搬送パレット2を積み重ねてパレット積層体20とし、この状態で温度槽3を経由するパレット搬送路4に沿って搬送し、各ワーク搬送パレット2に載せられている各ワークを所定の温度に到達させる。 - 特許庁
  • To execute operation of machining and testing of an inner surface of joint end parts which are mutually welded by a remote controlling program from inside of the pipe 8, positioning is performed by introducing a means for operation from the components 3, 4 of the primary circulation system 2 to inside the pipe 8.
    配管(8)の内部から、互いに溶接された結合端部の内面の機械加工と検査との作業を遠隔制御のプログラムによって実行するために、一次循環系(2)の構成要素(3,4)から配管(8)の内部へ作業のための手段を導入して位置決めする。 - 特許庁
  • An intermittent energization testing device 1 comprises heat radiation plates 5 and 6 which contact with a semiconductor package 2 to radiate the heat of the semiconductor package 2; and a bimetal 7 which is provided between the heat radiation plates 5 and 6, and expanded/contracted on the basis of a heat generating state of the semiconductor package 2.
    断続通電試験装置1は、半導体パッケージ2に接触することによって、この半導体パッケージ2の放熱を行う放熱板5,6と、これら放熱板5,6の間に設けられ、半導体パッケージ2の発熱状態に基づいて伸縮変形するバイメタル7とを備えている。 - 特許庁
  • Each of various glass face materials 3 supposed as the window glass is provided between an artificial light source 1 in a light resistance testing machine and a sample installation part 2, and a plurality of samples 4, 4, etc. installed on the sample installation part 2 are irradiated with light from the artificial light source 1 transmitted through the glass face material 3.
    耐光性試験機における人工光源1とサンプル設置部2との間に、窓ガラスを想定した各種ガラス面材3を設けて、そのガラス面材3を透過した人工光源1からの光を、サンプル設置部2に設置したサンプル4,4…に照射させる。 - 特許庁
  • In a method based on a read-back signal for in-situ measuring of absolute head-medium spacing, a pre-encoded pattern in the magnetic medium on a disk has at least two harmonics with amplitudes such that a linear function of the logarithmic ratio of the spacing loss-term is formed in relation to testing frequencies.
    ヘッド・媒体間隔そのものの測定のためのリードバック信号に基づく方法において、ディスク上の磁気媒体に設けられたプリエンコードパターンが少なくとも2個の高調波とその振幅を有し、テスト周波数に関して間隔損失の項の対数比の線形関数が形成される。 - 特許庁
  • A life of the dropping weight body 11 is prolonged because the collision part 13 constituting the dropping weight body 11 and colliding with the body 10 to be tested is arranged separately in the lower part, an impact test cost is thereby restrained from getting high, and an operation rate of the dropping weight type impact testing machine is also restrained thereby from getting low.
    落錘体11を構成する、被試験体10に衝突する衝突部13を、支持部12の下部に分けて配置するので、落錘体11の延命を図ることができ、これにより、衝撃試験コストの上昇や落錘衝撃試験機の稼働率の低下をいずれも抑制できる。 - 特許庁
  • When testing the braking force, the transmission is shifted to a range N, and the right and the left rear wheels are rotated by a test device, and the electric parking brake is operated by the operating force of the test time with operation of the PKB switch, and the braking force is detected based on the counter torque to be applied to the electric motor of the test device (S13).
    制動力テスト時にはトランスミッションをNレンジとし、テスト装置により左右後輪を回転させ、PKBスイッチの操作により電動パーキングブレーキをテスト時作動力で作用させ、テスト装置の電動モータが受ける反トルクに基づいて制動力を検出する(S13)。 - 特許庁
  • The filler containing the dry powder includes 100-400 pts.mass of water and 50-200 pts.mass of cement on the basis of 100 pts.mass of the dry powder, in particular, preferably giving a flow-down time of 8-18 seconds by P-funnel testing, thereby.
    このセメントスラッジ脱水ケーキ乾燥粉末を含有する充填材は、水及びセメントを含有し、特にセメントスラッジ脱水ケーキ乾燥粉末100質量部に対し、水100〜400質量部及びセメント50〜200質量部を含有し、Pロート試験で流下時間が8〜18秒であることが好ましい。 - 特許庁
  • The equipment storage chamber 25 is provided in a partitioned state in a stage next to a discharge pump tank chamber 8 within the storage tank 2 and has a space in which various types of equipment 30 necessary for use, for example, in the operation, construction, inspection and testing of a wastewater treatment tank 1 can be stored and installed.
    この機器格納室25は、貯留タンク2の内部における放流ポンプ槽室8の次段に画設されており、排水処理槽1の稼働、工事、点検及び検査等において使用が必要となる各種機器30を格納設置可能なスペースを備えている。 - 特許庁
  • To provide a producing method and a machine for test data, and a wiring testing machine that perform a wiring test of printed-wiring boards and semiconductor package substrates with various kinds and small quantity, very fine designs, and low prices.
    多品種少量、高精細、低価格のプリント配線板や各種半導体パッケージ基板等の布線検査を効率的な検査スピードと低いランニングコストで布線検査を行うための検査データの作製方法、検査データ作製機及び布線検査機を提供することを目的とする。 - 特許庁
  • The overwriting means 23 overwrites the test condition parameter in an area for storing the test condition parameter in correspondence to a register of a semiconductor testing device out of a memory in a computer, based on the input intermediate file 4, flow information and an output condition 2.
    上書き手段23は、入力された中間ファイル4とフロー情報と出力条件2とに基づき、計算機内のメモリのうち半導体試験装置のレジスタに対応してテスト条件パラメータを記憶する領域において、テスト条件パラメータの上書きを行うものである。 - 特許庁
  • The method for testing chemical sensitivity of metallo-β- lactamase producing strain comprises a microliquid dilution method (MIC measurement) using the combination of a liquid culture medium containing a β- lactam drug and a liquid culture medium containing a β-lactam drug/a metallo-β- lactamase inhibitor.
    本発明の課題は、β−ラクタム薬含有液体培地とβ−ラクタム薬/メタロ−β−ラクタマーゼ阻害剤含有液体培地の組合せを用いた微量液体希釈法(MIC測定)によるメタロ−β−ラクタマーゼ産生菌の薬剤感受性試験方法により達成された。 - 特許庁
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