「testing」を含む例文一覧(14414)

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  • To provide a semiconductor integrated circuit and its test method for preventing the deterioration of reliability due to any pad crack, by changing a test method for testing a wafer and the layers of pads to be connected at the time of test and the layers of pads to be used at the time of completing all processes in the middle of a metal diffusion process.
    メタル拡散工程の途中段階で、ウェハを試験するテスト手法及びテスト時に接続するパッドと全ての工程完了時に使用するパッドの層を変更し、パッドクラックによる信頼性劣化を防ぐ半導体集積回路およびそのテスト方法を提供する。 - 特許庁
  • To set the test condition of a material strength test reduced in the error of a test time by enabling setting a wide range of a well-balanced test condition without damaging the material characteristics due to an excessive temperature/stress test to perform correction, based on a short-time test result under the testing condition.
    過剰な温度・応力試験による材料特性を損なわないで、かつ広範囲でバランスの良い試験条件設定が可能となり、その試験条件で短時間試験結果により補正することで、試験時間の誤差が少ない材料強度試験の試験条件設定が可能となる。 - 特許庁
  • The roll of newsprint paper is produced by winding the newsprint paper having a basis weight of 46 to 38 g/m^2 and the hardness (R) of the rolled paper is 40 to 60 according to JAPAN TAPPI paper pulp testing method No. 37.
    米坪が４６〜３８ｇ／ｍ^2の新聞用紙を巻き取ってロール状にした新聞印刷用巻取紙であって、ＪＡＰＡＮ ＴＡＰＰＩ紙パルプ試験方法Ｎｏ．３７に基づいて測定された巻取紙の硬さ（Ｒ）が４０〜６０である新聞印刷用巻取紙により解決される。 - 特許庁
  • To provide a test method not causing a security hole for a random number generating circuit in the case of testing/verifying the circuit with a constant initial value in a specific mode where the circuit using an initial value has not a constant value at application of power and after reset for the encryption and authentication processing.
    暗号、認証処理を行うため、電源投入やリセット後の初期値が一定でない値を使った乱数発生の回路において、特別なモードを設けて、初期値を一定にして回路のテスト/検証を行う際に、セキュリティホールにならないようなテスト方法を実現する。 - 特許庁
  • To provide a simple assay method capable of simply and rapidly specifying a substance to be detected showing positive reaction by testing a plurality of substances to be detected by one assay device in an examination method of a specimen using a flow-through type membrane enzyme immunoassay method and having good user's convenience and high reliability.
    フロースルー式メンブランエンザイムイムノアッセイ法を用いた検体の検査方法において、一つのアッセイ装置で複数の被検出物質種を同時に試験して陽性反応を示す被検出物質を簡便・迅速に特定でき、使い勝手のよい信頼性の高いアッセイ方法の提供。 - 特許庁
  • A special-purpose water sprinkler for spraying water to a vehicle body of an automobile is provided to a car washing machine body 1 so as to execute a water-spray testing action for spraying water from a water sprinkler to test leakage of water of an automobile separately from car washing operation with a car washing processing unit.
    洗車機本体１に自動車の車体に向けて水を吹き付ける専用の散水装置を備え、洗車処理装置による洗車動作とは別に、散水装置から散水して自動車の水漏れ検査を行う散水検査動作を実行可能にしたものである。 - 特許庁
  • In a temperature range lower than a combustion temperature of an actual machine, CO_2 having a change in a ratio of specific heat proximate to a change in a ratio of specific heat of steam as working fluid of a rocket motor is used as a testing gas, and is passed to a nozzle model 1 at a temperature lower than the combustion temperature of the actual machine.
    実機の燃焼温度よりも低い温度範囲において、ロケットモータの作動流体である水蒸気の比熱比変化と近似する比熱比変化を持つＣＯ_２を試験用気体として使用し、実機の燃焼温度よりも低い温度でノズルモデル１に通過させる。 - 特許庁
  • To provide an environmental testing apparatus in which, even if adhesion between a dew condensation sensor and an object to be tested is slightly deteriorated, a change of a dew condensation amount on the surface of a tested object is hardly caused before and after the deterioration of adhesion, that is, the dew condensation state of the surface of the tested object can be stabilized.
    結露量センサと被試験物との間の密着性がある程度悪化しても、密着性悪化前と悪化後とで被試験物表面の結露量の変化が生じにくい、すなわち被試験物表面の結露状態を安定させることができる環境試験装置を提供する。 - 特許庁
  • To provide a running testing apparatus for a vehicle to continuously perform running test with fixed accuracy, by surely holding the tester at a lever part of a shape having a curved surface, a spherical surface, etc., while preventing an operating means from loosening with time, being displaced, being disconnected, etc.
    曲面や球面等を有する形状のレバー部に対して、操作手段の経時的な緩み、位置ずれ及び連結のはずれ等を防止して確実に保持し、一定精度で継続して走行試験を行うことができる車両用走行試験装置を提供する。 - 特許庁
  • In a method for dividing the semiconductor integrated circuit device (corresponding to S1 and S2) into a plurality of groups and testing them simultaneously, in at least one group, the semiconductor integrated circuit device is made to operate by a clock signal (corresponding to CLK1 and CLK2) of a frequency that differs from those of the other groups.
    半導体集積回路装置（Ｓ１とＳ２に対応）を複数のグループに分けて同時に試験する方法であって、少なくとも１つのグループにおいて、他のグループとは異なる周波数のクロック信号（ＣＬＫ１とＣＬＫ２に対応）で半導体集積回路装置を動作させる。 - 特許庁
  • The electronic component mounting apparatus (10) images a reference mark (16) arranged on an electronic component mounting apparatus body for recognizing a component mounting position (31) by a first imaging means (40), and images an electronic component (20) for testing, absorbed by a nozzle (12) by a second imaging means (50).
    本発明にかかる電子部品実装装置（１０）が、部品搭載位置（３１）を認識するため電子部品実装装置本体に配設される基準マーク（１６）を第１撮像手段（４０）により撮像し、ノズル（１２）が吸着したテスト用電子部品（２０）を第２撮像手段（５０）により撮像する。 - 特許庁
  • When a hold switch is in an on-state, a play key 11 is turned on, a power source Vdd of a microcomputer is turned on by linking, after an initial setting period elapses, as it is confirmed that the play key is turned off by testing the play key 11, after the prescribed period Tw, a control output 1A of the microcomputer is about to be started.
    ホールドスイッチがオンである場合、プレイキー１１がオンになると、連動してマイコン電源Ｖｄｄがオンし、初期設定期間経過後にはプレイキー検査をすると、すでにプレイキー１１はオフとなっているので、所定期間Ｔｗ待って、マイコン制御出力１Ａを立ち上げようとする。 - 特許庁
  • To provide a fiber/urethane resin laminate which has such excellent durability as to exert sufficient flame-retardancy without halogen type flame retardants and retain the flame-retardancy after washing, accelerated testing, etc., and is good in appearance and touch and a manufacturing method of the laminate.
    ハロゲン系防炎剤を含まなくても充分な防炎性を有し、しかも、洗たく処理後、促進試験後などにおいてもその防炎性が維持される優れた耐久性を有し、かつ外観・触感も良好な繊維・ウレタン樹脂積層物およびその製造方法を提供する。 - 特許庁
  • This penetration testing machine is provided with the sound detecting means 10 capable of detecting a sound which is propagated via a penetration rod 7 along with the penetration of the penetration rod 7 into ground; and the acoustic signal detected by the means 10 is transmitted to a signal processing part 12.
    地中に貫入ロッド７を貫入するのにともなって当該貫入ロッド７を伝播されてくる音を検出可能な音検出手段１０が設けられ、この音検出手段１０によって検出された音響信号は信号処理部１２に送られる。 - 特許庁
  • Series connection between the first winding 13a and the third winding 13c in diagonal positions, and series connection between the second winding 13b and the fourth winding 13d in diagonal positions are electrified alternately, or electrified with alternating currents different in phases by π/2 to magnetize the testing body.
    対角位置の第１の巻線１３ａと第３の巻線１３ｃとの直列接続と、第２の巻線１３ｂと第４の巻線１３ｄとの直列接続とに、交互に通電したり、π／２位相が異なる交流電流を通電したりして、試験体の磁化を行う。 - 特許庁
  • In the dispenser wherein the liquid in a reservoir 12 is sucked by a dispensing head to be discharged to a testing plate, a liquid supply part 18 equipped with a liquid supply stage on which only one reservoir 12 can be placed is arranged at a position separated from a reservoir stage on which a plurality of the reservoirs 12 are placed.
    リザーバ１２内の液体を分注ヘッドによって吸引して試験用のプレートに吐出する分注装置において、複数のリザーバ１２を載置するリザーバステージから離れた位置にリザーバ１２を１つだけ載置できる液体供給ステージを備えた液体供給部１８を配置する。 - 特許庁
  • To prevent damage to semiconductor elements and socket, by pressing leads and balls of the semiconductor elements to the connecting pins of the socket at a fixed depth, without changing carriers, even if the thickness of the semiconductor element is varied, and to provide a socket assembly for a semiconductor element test capable of improving the testing reliability.
    半導体素子の厚さが変わってもキャリア等を交替せず、半導体素子のリード又はボールをソケットの接続ピンに一定の深さで押圧して、半導体素子及びソケットの損傷を防止し、テスト信頼性を向上させる半導体素子テスト用のソケットアセンブリを提供する。 - 特許庁
  • When the film is loaded by aligning the perforation of the film with the index of the frame 15a, the offset amount of the picture of the film with respect to the window of the stereoscopic slide mount is fixed at the position relatively equal to the offset amount of the picture projected with respect to the focusing screens tested by the testing device.
    べースフレーム５１ａの指標とフィルムのパーフォレーションを位置合わせしてフィルムを装着すれば、ステレオスライドマウントの窓に対するフィルムの画面のオフセット量が、検定装置により検定した焦点板に対する投影画面のオフセット量と相対的に等しい位置に固定される。 - 特許庁
  • The inspection device for ISPs is provided with a placing unit for placing an ISP on for testing, an inspection portion which performs an electric and image test of the ISP, with a lens and a light source arranged above the ISP, and a controlling and processing unit, having a tester module for performing the electric and image test of the ISP.
    ＩＳＰの検査装置は、ＩＳＰがテストのために載置される載置ユニットと、ＩＳＰの上部にレンズ及び光源を設けて前記ISPを電気及びイメージテストする検査部と、ＩＳＰの電気及びイメージテストを行うテスターモジュールを有する制御及び処理ユニットと、を備える。 - 特許庁
  • To provide a durability testing apparatus for a vehicle seat and a seat attachment, which can attain automatic durability test of a movable part of the vehicle seat without depending on manual operation of an operator, save energy, shorten test time and obtain appropriate test results.
    車両用のシートにおける可動部の耐久試験を、作業者の手作業によることなく自動的に行うことができて、省力化、試験時間の短縮及び試験結果の適正化を図ることができる車両用シート及びシート取付部の耐久試験装置を提供する。 - 特許庁
  • When a command (positions of SW1-SW4) acquired at the time of switching on a power source is 1110, a sound source substrate is set in a test mode, and when the switches SW1-SW4 are made ON after commanded to start testing, they start to pronounce a scale corresponding to them.
    電源投入時に取得したコマンド（スイッチＳＷ１〜４のポジション）が１１１０であるとテストモードになり（Ｓ１０１：ＹＥＳ）、テスト開始のコマンド（Ｓ１０２：ＹＥＳ）の後、スイッチＳＷ１〜４がオンにされると（Ｓ１０３：ＹＥＳ）、それに対応する音階の発音を開始する（Ｓ１０４）。 - 特許庁
  • To allow easy eddy current examination of high senstivity as to the presence of a defect generated on a surface of a testing body having a circular cross section, in a hot condition, and reduce the possibility of damage of a flaw detection coil in the eddy current examination to a small extent.
    円形断面を有する試験体の表面に発生した欠陥の有無を、熱間において、高感度かつ簡便に渦流探傷することができ、しかも、渦流探傷の際に探傷コイルが破損するおそれの少ない熱間渦流探傷プローブを提供すること。 - 特許庁
  • The ink-jet recording method includes the image recording process for recording an image by giving a pigment-containing ink to a recording medium and the fixing process in which a pressure-sticking giving means is pressure-contacted with the image part to fix the image part when the tackiness of the image part by a ball tack testing method is at least 20 mm.
    記録媒体に顔料を含むインクを付与して画像を記録する画像記録工程と、画像部のタック性がボールタック試験法にて２０ｍｍ以上となったときに、圧着付与手段を前記画像部に圧接して画像部を固定化する固定化工程と、を有している。 - 特許庁
  • To provide an apparatus for determining an optimal operating condition in order that focused operation related values can satisfy predetermined conditions while focusing on the operation related values such as Power saving and Low noise in an electro-dynamic vibration testing apparatus, and considering the operation limit of a vibration generator.
    動電式振動試験装置における省電力、静音などの運転関連値に注目し、振動発生機の動作限界を考慮しつつ、注目した運転関連値が所定の条件を満足するために最適な運転条件を決定する装置を提供する。 - 特許庁
  • This device surely can perform endurance testing for any crack initiation on face material or inner filler of a side section 3 even if an occupant forcedly gets into a car from a door opening only a little to take a seat, because a loader 11 shifts lengthwise while pressing the top of the side section 3.
    負荷子１１がサイド部３の頂部を押しながら長手方向に移動するため、乗員が少ししか開かないドアから無理に乗り込んでシートに腰を下ろす場合においても、サイド部３の表皮材や内部充填材の亀裂発生に関する耐久試験を確実に行うことができる。 - 特許庁
  • To provide a means by which wiring channel regions relating to signal distribution, quantity of buffers, FF, or the like, and the number of LSI pins can be reduced, and mounting to a chip can be facilitated, in a built-in type self test circuit (BIST) for testing a CAM-macro.
    ＣＡＭマクロをテストするための組み込み型自己テスト回路（ＢＩＳＴ）回路において、信号分配にかかわる配線チャネル領域、バッファ、ＦＦなどの物量およびＬＳＩピン数の削減を可能とし、チップへの実装を容易化する手段を提供するものである。 - 特許庁
  • In the configuration where an input buffer section 111 and an output buffer section 121 of interest are sandwiched by FFs 133, 143 of testing common circuit sections 131, 141 and FFs 103, 104 of the local clock section 101, diagnoses/tests are performed using an RAGR 161 and an MISR 162.
    テスト用共通回路部１３１，１４１のＦＦ１３３，１４３と、ローカルクロック部１０１の内部のＦＦ１０３，１０４とにより、対象となる入力バッファ部１１１や出力バッファ部１２１を挟み込んだ構成において、ＲＡＧＲ１６１及びＭＩＳＲ１６２を用いて、診断・テストを実施する。 - 特許庁
  • In this counter test circuit for testing counters 3, 4 constituted by connecting two four-bit counters longitudinally, a load pulse generating part 2 generates a load pulse of the counters 3, 4 from a test mode signal for showing a test mode of the counters and a counter load pulse test input signal inputted from an external terminal.
    ４ビットのカウンタを２個縦列接続して構成したカウンタ３，４をテストするカウンタテスト回路で、ロードパルス生成部２は、カウンタのテストモードを示すテストモード信号と外部端子により入力されるカウンタロードパルステスト入力信号とからカウンタ３，４のロードパルスを生成する。 - 特許庁
  • This testing device comprises a timing generation part 3 for generating a timing of outputting a chap signal and a Doppler generation part 4 for changing the frequency on the basis of the Doppler frequency change, so that a signal is imitated as a relative movement is generated between a platform 12 and a target 13.
    チャープ信号を出力するタイミングを生成するタイミング生成部３及びドップラ周波数変化にもとづき周波数を変化させるドップラ生成部４を設けることにより、プラットフォーム１２と目標１３との間に相対運動が生じているように信号を模擬する。 - 特許庁
  • This tester, used for testing the position indicator 100 for the control rod drive mechanism comprising a plurality of reed switches 201 provided at prescribed spaces, is equipped with a position indicator placing stand 300 for placing thereon the position indicator 100 in an operation checking test for the position indicator 100.
    所定間隔を置いて設けられた複数のリードスイッチ２０１を有する制御棒駆動機構用位置指示装置１００を試験する本発明の試験装置は、位置指示装置１００の動作確認試験時に、位置指示装置１００を設置する位置指示装置設置架台３００を備える。 - 特許庁
  • To provide a health management support system and a health management support method, capable of facilitating support of health management and a medical examination at home, exhaustively testing health condition of a person taking a test over a lot of items without exception, and performing it at low cost.
    在宅での健康管理、健康診断の支援を容易ならしめ、テストを受ける者の健康状態を網羅的に多数の項目にわたってもれなくテストし、しかもこれを低廉な費用で行うことのできる健康管理支援システム及び健康管理支援方法を提供する。 - 特許庁
  • The electrical tester (1) of the invention for testing the electrical test piece (2) preferably a wafer (3) has a contact region (12) in which the electrical test piece (2) directly contacts the contact apparatus (5), and is provided with an electrical connection mechanism (7) associated with a support mechanism (8).
    本発明は、電気試験片(2)と接触可能な接触装置(5)を直接接触させるための接触領域(12)を有しかつ支持機構(8)が関連付けられている電気接続機構(7)を備えた、電気試験片(2)、好ましくはウェハ(3)を試験するための電気試験装置(1)に関する。 - 特許庁
  • Local magnetic characteristics of a core in the rotary machine are calculated based on material property and design specification of a predetermined core, and the local magnetic characteristics of the core in a testing rotary machine manufactured by the core material and design specification as the material characteristics are measured.
    予め決めた鉄心の材料特性及び設計仕様に基づき回転機における鉄心部の局所的な磁気特性を計算すると共に、上記材料特性とされる鉄心材料及び設計仕様にて作製した試験回転機における鉄心部の局所的な磁気特性を測定する。 - 特許庁
  • The composite deterioration testing apparatus 1 for performing the deterioration test of a test target is equipped with an expansion and contraction control unit 3 for imparting expansion and contraction force to the test target 2 and a weather factor control unit for imparting the deterioration factor caused by the weather to the test target 2.
    試験対象物の劣化試験を行う複合劣化試験装置において、試験対象物に伸縮力を付与する伸縮制御装置と、試験対象物に天候に起因する劣化因子を付与する天候因子制御装置と、を備えている、複合劣化試験装置 - 特許庁
  • To provide a probe card for electrically testing a semiconductor integrated circuit in a wafer state that enables a probe card terminal for a pad on a wafer to be manufactured collectively, can correspond with a plane arrangement, can be suspended independently, and can cope with a test under high- temperature conditions as the probe card.
    半導体集積回路をウエハ状態で電気的に試験するためのプローブカードにおいて、ウエハ上のパッドに対するプローブカード端子が一括で作製でき、平面配列に対応でき、独立懸架であり、なおかつプローブカードとして高温条件下の試験に対応できるものを提供する。 - 特許庁
  • To provide a surge current discharge method, a discharge testing device, and a discharge monitoring method for inspecting defect in which reinforcement embedded in a foundation part of a building or concrete of each floor is broken and dissolved due to lightning before ready-mixed concrete placing.
    建物の基礎部分や各フロアのコンクリート内に埋設されている鉄筋が落雷により破壊あるいは溶解してしまうような瑕疵を生コンクリート打設前に検査することができるサージ電流放電工法及び放電試験器並びに放電監視方法を提供する。 - 特許庁
  • By an operation PC, condition values of a plurality of testing conditions for evaluation test against the virtual vehicle composed of the simulator and a frame car which is the actual machine are set in the simulator (S200), and the value of the control parameter for controlling actuation of the virtual vehicle is set in an ECU of the frame car (S202).
    オペレーションＰＣは、シミュレータと実機部であるフレームカーとからなる仮想車両に対する評価試験用の複数の試験条件の条件値をシミュレータに設定し（Ｓ２００）、仮想車両の作動を制御するための制御パラメータの値をフレームカーのＥＣＵに設定する（Ｓ２０２）。 - 特許庁
  • The buildup agent for the model material is composed of a polyol (A), an organic polyisocyanate (B), hollow fine spheres (C) and a dehydrating agent (D) and contains an organic lubricant (W) with a melting point (JIS K0064-1992, 3.2 melting point testing method) of 50-90°C.
    ポリオール（Ａ）、有機ポリイソシアネート（Ｂ）、中空微小球（Ｃ）及び脱水剤（Ｄ）からなる模型素材用盛り付け剤において、融点（ＪＩＳ Ｋ００６４−１９９２，３．２融点試験方法）が５０〜９０℃の有機滑剤（Ｗ）を含有することを特徴とする模型素材用盛り付け剤を用いる。 - 特許庁
  • A key mounting part allowing installation of a weight holding key is arranged in the weight of the shock testing machine, while in the vicinity of the lower end of a guide rail, a key supporting part supporting the weight holding key mounted in the key mounting part of the weigh is arranged in the upper part of a test piece housing box.
    衝撃試験機の重錘に、重錘保持キーを装着可能なキー装着部を設けるとともに、ガイドレールの下端近くで、かつ、試験片収納箱の上部に、重錘のキー装着部に装着した状態の重錘保持キーを支持するキー支持部を設ける。 - 特許庁
  • The testing machine comprises a support section 1 for fixing and supporting at least one end of a specimen, and a vibration generator 5 that is fixed only to the specimen 2 and vibrates the specimen 2 in the direction orthogonal to a predetermined axis based on inertia force generated by rotation about the predetermined axis.
    試験体の少なくとも一端を固定支持する支持部１と、試験体２のみに固定され、所定軸回りに回転することにより発生する慣性力に基づき試験体２を所定軸に直交する方向に振動させる振動発生器５とを備える。 - 特許庁
  • To provide a method of adjusting a tester by which the excessive pressure of a probe needle can be prevented from being given to a specific area on a semiconductor substrate when a probe needle is brought into contact with an electrode pad, and to provide a method of testing a semiconductor device.
    電極パッドに対してプローブ針を接触させる際に、半導体基板上の特定領域にあるチップに対してプローブ針の過大な針圧が付与されることを抑制することができる検査装置の調整方法および半導体装置の検査方法を提供する。 - 特許庁
  • To provide a nonvolatile semiconductor memory device capable of accurately detecting abnormalities during an EW operation and accurately testing an error process by outputting an operation state information indicating which of a plurality of operation stages is executed according to the progress of the operation stages.
    複数の操作段階の何れを実行中かを示す操作状態情報を、操作段階の進行に合わせて出力することにより、ＥＷ操作中の異常検出を精度良く行うことや、エラー処理の試験を的確に実行することができる不揮発性半導体記憶装置を提供する。 - 特許庁
  • To provide a redundancy relieving circuit and a method therefor, and semiconductor device in which the test time for testing a defective memory cell is shortened, the test device is made inexpensive by dispensing with fail memories having extensive capacity accumulating defective bits, and the device can easily cope with the increase and decrease of the number of IO.
    不良メモリセルをテストするテスト時間を短縮し、不良ビットを蓄積する膨大な容量を有するフェイルメモリを不要としてテスト装置を安価とし、ＩＯ数の増減に対しても容易に対応することができる冗長救済回路、方法および半導体装置を提供する。 - 特許庁
  • The monitor/method has: a storage part for storing reflected light intensities from the plurality of terminal devices to light signals emitted from the terminal devices under the condition where the trouble is not generated in the optical path; and a control part for emitting the light signal applied with the first condition from the testing device.
    光線路に障害が発生していない状態において試験装置が出射する光信号に対する複数の終端装置からの反射光強度を記憶する記憶部と、第１の条件を適用した光信号を試験装置から出射する制御部を有する。 - 特許庁
  • A heat generation speed by internal short-circuiting and/or thermal decomposition is converted into a function, based on a test result using a device for testing, a coefficient value contributing to a heat transfer speed is specified, and a heat balance expression is solved by using the heat generation speed converted into a function and the coefficient value, thus obtaining the temperature distribution.
    内部短絡及び／又は熱分解による発熱速度を試験用デバイスを用いた試験結果に基づいて関数化し、熱移動速度に寄与する係数値を特定し、関数化した発熱速度及び係数値を用いて熱収支式を解いて温度分布を求める。 - 特許庁
  • Article 15 (1) A person who intends to use a Class I Specified Chemical Substance on a regular basis shall notify the competent minister of the following matters, in advance, for each place of business; provided, however, that this shall not apply to the case where a person intends to use a Class I Specified Chemical Substance on a regular basis for testing and research purposes:
    第十五条　第一種特定化学物質を業として使用しようとする者は、事業所ごとに、あらかじめ、次の事項を主務大臣に届け出なければならない。ただし、試験研究のため第一種特定化学物質を業として使用しようとするときは、この限りでない。 - 日本法令外国語訳データベースシステム
  • The testing machine with the pressure-resistant chamber is constituted so that a flexible partition wall for isolating the space around a test piece and the space in another pressure-resistant chamber under a hermetic closure is provided and the fluid, which constitutes the special environment, is injected in the space around the test piece within the partition wall.
    耐圧室付き試験機は、試験片周囲の空間と他の耐圧室内の空間とを密封状態で隔絶する可撓性隔壁を設け、当該隔壁内の試験片周囲の空間に特殊環境を構成する流体を注入してあることを特徴とする構成を採用した。 - 特許庁
  • This method for evaluating or screening the sensitizing substance in vitro is characterized by incubating a cell expressing CCR7, IL-23 and/or ATF-3 and a testing sample predicted to contain the sensitizing substance and detecting the expression of the CCR7, IL-23 and/or ATF-3 due to the cell.
    本発明は、CCR7、IL-23及び／又はATF-3を発現する細胞と、感作性物質を含有すると予想される被験試料とをインキュベートし、該細胞によるCCR7、IL-23及び／又はATF-3の発現を検出することを特徴とする感作性物質のインビトロ評価方法またはスクリーニング方法を提供する。 - 特許庁
  • An environment testing device 1 includes a test chamber 5, an air conditioner 7, a capacity changing member 10 removably provided in the test chamber 5, and a controller 100 which controls an output of the air conditioner 7 so as to control air in the test chamber 5 into prescribed temperature and humidity.
    環境試験装置１は、試験室５と、空調機器７と、試験室５内に着脱可能に設けられる容量変更部材１０と、試験室５内の空気を所定の温湿度に調節するように、空調機器７の出力を制御する制御装置１００とを含んでいる。 - 特許庁
  • The tester 36 measures corresponding to each test item in accordance with a test pattern in which a plurality of test items are set in the given order, and determines by a measured result determination part 60 whether the measured result is succeeded or failed, thereby testing the presence or absence of the failure of the solid-state imaging device.
    テスタ３６は、複数の検査項目が所定の順序で設定されたテストパターンに従って各検査項目に応じた測定を行い、その測定結果の良否を測定結果判定部６０で判定することによって、固体撮像素子の不良の有無を検査する。 - 特許庁
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